ГО С У
АРСТВЕННЫ ■
APT
28 р. 80 к. БЗ 7—91/672
СОЮЗА ССР
ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ.
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ
ЧАСТЬ 1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
ГОСТ 29106-91
(МЭК 748-1-84)
Издание официальное
КОМИТЕТ СТАНДАРТИЗАЦИИ И МЕТРОЛОГИИ СССР
Москв
аПРЕДИСЛОВИЕ
Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с возможной точностью между* народную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.
Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.
В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы все национальные комитеты приняли настоящий стандарт МЭК в качестве своего национального стандарта, насколько это позволяют условия каждой сгпраны, Любое расхождение со стандартом МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.
ВВЕДЕНИЕ
Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК № 47 «Полупроводниковые приборы».
Публикация МЭК 748—1 представляет собой первую часть общего стандарта на интегральные схемы Публикации МЭК 748 и содержит общие положения. В каждой из последующих частей (в Публикациях МЭК 748—2, 748—3 и т. д.) рассматриваются отдельные группы приборов и связанная с ними информация.
На совещании в Лондоне (сентябрь 1982 г.) Технический комитет МЭК № 47 бдобрил переиздание публикации на основе нового принципа в зависимости от рассматриваемых приборов- 'Поскольку все части, составляющие новую публикацию, были ранее утверждены согласно Правилу шести или двух месяцев, дополнительное голосование было признано нецелесообразным-
Сведения относительно интегральных схем, содержащиеся в Публикациях МЭК 147 и МЭК 148, изложены в Публикации МЭК 747—1 и в Публикациях МЭК 748 (см. примечание 1)-
Сведения относительно механических и климатических испытаний, содержащиеся в Публикациях МЭК 147—5 и МЭК 147—5А, включены в Публикацию МЭК 749.
Соответствие данного стандарта современному уровню техники будет поддерживаться путем пересмотра и дополнения его по мере дальнейшей работы Технического комитета МЭК № 47 с учетом последних достижений в области интегральных схем.
Примечания: s
Хотя в Публикации МЭК 147 использовался термин «полупроводниковые приборы», она относилась только к дискретным приборам. Тем не менее, большая часть содержащегося в ней материала применима также и к интегральным схемам. Поэтому большинство содержащихся в ней пунктов было включено в Публикацию МЭК 747—1 без дополнительной проверки, относительно применения каждого пункта к интегральным схемам. В связи с этим специалист, пользующийся’настоящей Публикацией, должен убедиться, что каждый конкретный пункт применим к интегральным схемам.
Публикации МЭК 747, МЭК 748 и МЭК 749 аннулируют и заменяют, по мере выхода их отдельных частей, Публикации МЭК 147. и МЭК 148.Таблица соответствия новых и прежних пунктов
Номер нового пункта
Номер прежнего пункта
Документ или Публикация
Глава IV 1.11
*
*
Глава V
1
2
2.1.1
2.1.2
2.1.3
2.1.4
2.2.1
2.2.2 2.2.3 2.2.4
Глава VI 1—4 5
6.1
6.2 7—9
Глава VII
1 2
3.1
3.2: 1—36+39
37, 38, 40, 41 42—47
3.3
3.4
Глава VIII
Раздел первый* Раздел второй Раздел третий: 1 2 3
0—3.1 0—3.2 VI—1.4
VI—1.5
VI—1.1
VI—1.2
VI—1.3 0—2.1
VI—2.1
VI—2.2
VI—2.3
VI—2.4
X, 1.2.1
X, 1.2.2
X, 1.2.3
X, 1.2.4
X, 2.2.1
X, 2.2.2
X; 2.2.3
X, 3
VI—3.2
VI—3.1
VI—3.1.1
Приложение 1
Приложение 1 1—4 1—6
Примечание 1
Приложение 1 гл. 0
гл. 1
И, 1
И, 2, 4
И, 2, 5
147—0
147—0
147—0F 147—OF 147—OB 147—0D 147—0D
147—0
147—0B 147—0B 147—0B 147—OB
148 A 148 A 148A" 148A
148 A 148A
148B 148B
147—OD
147—OE
147—OD
147—2L
147—2L
47А (ЦБ)2 105
47А (ЦБ)** 125
147—2L
147—4 147—4
147—4
147—4
147—
4
Группа 300
Издание официальное
УДК 621.3.049.77:006.354
ГОСУДАРСТВЕН Н Ы Й СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ.
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ
Часть 1. Общие положения ГОСТ 29106—91
Semiconductor devices. (МЭК 748—1—84)
Integrated circuits.
Part tl. General
ОКП (ОКСТУ) 6230
ата введения 01.07.92
Глава I. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ И ПОРЯДОК ПРЕДСТАВЛЕНИЯ
СВЕДЕНИЙ О ГОСТ 29106—ГОСТ 29109 (МЭК 748)
Область применения
ГОСТ 29106—ГОСТ 29109 (МЭК 748) следует пользоваться совместно с МЭК 747—1.*
Данный государственный стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации-
. Представления сведений о стандартах
ГОСТ 29106—-ГОСТ 29109 (МЭК 748) состоит из нескольких частей, которые издаются в виде отдельных ГОСТ 29106 (МЭК 748—1), ГОСТ 29107 (МЭК 748—2) и т. д- Соответствие современным требованиям осуществляется путем издания дополнений, например МЭК 748—2А.
Глава II. НАЗНАЧЕНИЕ И ПРЕДСТАВЛЕНИЕ СВЕДЕНИЙ О
НАСТОЯЩЕМ СТАНДАРТЕ
Общие положения
Настоящий государственный стандарт представляет собой общую часть ГОСТ 29106—ГОСТ 29109 (МЭК 748).
* До прямого применения стандарта МЭК в качестве государственного стандарта раОсылку данного стандарта МЭК на русском языке осуществляет ВНИИ «Электронстандарт».
—І ■ ■
I© Издательство стандартов, 1992
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен,
тиражирован и распространен без разрешения Госстандарта СССРВместе с МЭК 747—1 он содержит общие сведения по интег' ральным схемам.
В связи с этим применимы все пункты МЭК 747—1 при уело-. ВИИ, что они не относятся только к дискретным приборам и применимы к интегральным схемам.
Примечание. Хотя в МЭК 147 использовался термин «полупроводниковые приборы», он относился только к дискретным приборам. Тем не менее, большая часть содержащегося в нем материала, применима также и к интегральным схемам. Поэтому большинство содержащихся в нем пунктов было включено в МЭК 747—1 без дополнительной проверки, относительно применения каждого пункта к интегральным схемам. В связи с этим специалист, пользующийся настоящим стандартом, должен убедиться, что каждый конкретный пункт применим к интегральным схемам.
Назначение
Представление общих сведений, касающихся применения и состава ГОСТ 29106—ГОСТ 29109 (МЭК 748) (см. главу 1).
Представление сведений по общим принципам или требованиям к ГОСТ 29107 (МЭК 748—2, ГОСТ 29108 (МЭК 748—3) ит.д., которые являются стандартами на различные классы или подклассы интегральных схем.
Представление сведений о стандартах
Сведения по общим принципам или требованиям приводятся в главах III—VIII настоящего стандарта.
Примечание. Содержание глав III—VIII настоящего стандарта:
Глава III. Назначение, представление сведений и требований к содержанию ГОСТ 29107 (МЭК 748—2), ГОСТ 29108 (МЭК 748—3) и т. д.
Г
747—1, глава IV.
лава IV. Терминология, общие положения. Содержит ряд основных терминов и определений для интегральных схем в дополнение к приведенным в МЭКГлава V. Буквенные .обозначения, общие положения. Приводится система
буквенных обозначенийк&Ля использования в области интегральных схем в дополнение к приведенным в МЭК 747—1, глава V.
Глава VI. Основные предельно допустимые значения параметров и характеристики, общие положения. Приводятся общие пункты, содержащие требования
К электрическим, механическим и тепловым параметрам (они отличаются от соответствующих пунктов МЭК 747—1, гл. VI касающихся дискретных приборов).
Глава-'VII. Методы измерений, общие положения. Поясняется система нумерации методов измерений и таблицы их применения. Приводится перечень всех методов измерений для интегральных схем.
Глава VIII. Приемка и надежность интегральных схем; Приводятся общие требования, а также устанавливаются конкретные требования, предъявляемые к
различным классам или подклассам интегральных схем.
Глава III. НАЗНАЧЕНИЕ, СВЕДЕНИЯ О СТАНДАРТАХ И
ТРЕБОВАНИЯ К СОДЕРЖАНИЮ ГОСТ 29107 (МЭК 748—2),
ГОСТ 29108 (МЭК 748—3) И ДР. — НА РАССМОТРЕНИИ.
Примечание. В настоящее время, по мере возможности, используется глава III МЭК 747—1.Глава IV. ТЕРМИНОЛОГИЯ. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
Используются соответствующие пункты главы IV (МЭК 747—1), применимые к интегральным схемам- Другие необходимые термины и определения, отсутствующие в МЭК 747—1, приводятся в пп. 1 и 2 настоящего стандарта. Для полноты картины некоторые основные термины и определения' из МЭК 747—1 повторяются, d ь
Общие терлгины *
Вывод полупроводникового прибора (МЭК 747—1, гл. IV, и 31)—определенная внешне доступная точка соединения.
Примечание. Определение пересматривается.
Электрод полупроводникового прибора (МЭК 747—1, гл. IV/ п. 3-2)—участок прибора, обеспечивающий электрический контакт между определенной областью полупроводникового прибора и выводом.
Примечание. Определение пересматривается.
47 1.3. Свободный вывод (NC) — вывод, не имеющий внутренне
го соединения, который может использоваться в качестве опорного контакта для внешнего монтажа, не влияя на работу схемы, при условии, что подаваемое на него напряжение (с внешнего - источника) не превышает напряжение питания, предельно допустимое для данной схемы.
Примечание. Если допустимо более высокое напряжение, то это должно быть оговорено,
V 1-4. Неиспользуемый вывод (NU)—вывод, который не используется при обычной эксплуатации прибора и может иметь или не иметь внутреннего соединения со схемой.
1.5. Микроэлектроника — область науки, охватывающая проблемы конструирования и применения электронных схем с . высокой степенью миниатюризации/
V 1-6- Интегральная электроника — методы разработки и проектирования, технологии изготовления и условйя применения ИН-" тегральных схем..
1.7. Условия наихудшего режима (для одной характеристики) — совокупность значений параметров, выбираемых из установленного диапазона независимо друг от друга, при которой рассматриваемая характеристика имеет наиболее неблагоприятное значение-
Примечание. Условия наихудшего режима для различных характеристик могут быть различными, ч ’
2. Типы приборов
2.1. Полупроводниковый прибор (МЭК 747—1, гл. IV, п. 4.1) — прибор, основные характеристики которого зависят от потока носителей заряда внутри полупроводника.
' 2.2. Микросхема — микроэлектронное устройство, рассматриваемое как единое изделие, имеющее высокую плотность расположения элементов и/или компонентов, эквивалентных элементам обычной схемы-
Примечание. Микросхема может быть мякроблоком или интегральной (микро) схемой. .
2.3. Интегральная схема — схема, ряд элементов которой нераздельно выполнен и электрически соединен между собой таким образом, что с точки зрения технических требований, испытаний, торговли и эксплуатации устройство рассматривается как единое целое-
Примечание. Определение предполагает, что элемент схемы не имеет ни корпуса, ни внешних выводов и его нельзя классифицировать или поставлять' как отдельное изделие.
24. Интегральная микросхема — микросхема, ряд элементов которой нераздельно выполнен и электрически соединен между собой таким образом, что с точки зрения технических требований, испытаний, торговли и эксплуатации устройство рассматривается как единое целое.
Примечания:
Определение предполагает, что элемент схемы не имеет ни корпуса, ни внешних выводов и его нельзя классифицировать или поставлять как отдельное изделие,
В тех случаях, когда исключена возможность ошибочного толкования, термин «интегральная микросхема» может быть заменен термином «интегральная схема». ■ " а- ' '■
Для описания технологии изготовления конкретных интегральных микросхем могут быть использованы дополнительные термины. (Например полупроводниковая монолитная интегральная схема; полупроводниковая .многокристальная интегральная схема; тонкопленочная интегральная схема; толстопленочная интегральная схема; гибридная интегральная схема).
2-5- Микроблок— микросхема, состоящая из различных компонентов и/или интегральных микросхем, которые имеют отдельное конструктивное оформление и могут быть испытаны до сборки и до установки в корпус.
Примечания: z
. 1. Определение предполагает, что компонент имеет внешние выводы, может иметь корпус, а также его можно классифицировать и поставлять как отдельное изделие.
Могут быть использованы дополнительные термины для описания формы компонентов и/или технологий сборки, используемой при конструировании конкретного микроблока (например полупроводниковый многокристальный микроблок; микроблок на дискретных компонентах),