---

УДК 621.3.049.77.083:006.354 Группа Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

М

ГОСТ 18683.1-83
(СТ СЭВ 3197—81}
Взамен
ГОСТ 18683—76
(в части пп. 3.1—3.10)

ИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ

Методы измерения статических
электрических параметров

Digital integrated circuits.

Methods for measuring static
electrical parameters

ОКП 62 3100

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от II апреля 1983 г. № 1688 срок введения установлен

с 01.01.84 Проверен в 1988 г. Постановлением Госстандарта СССР от 28.06.88 № 2432 срок действия продлен

до 01.01.94

Настоящий стандарт распространяется на цифровые интеграль­ные микросхемы (далее — микросхемы) и устанавливает методы измерения статических электрических параметров микросхем.

Общие требования при измерении и требования безопаснос­ти — по ГОСТ 18683.0—83.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3197—81 в части измерения статических электрических параметров микросхем (см. приложе­ние).

1. ИЗМЕРЕНИЕ ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ, ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ ПРИ ВЫСОКОМ УРОВНЕ ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ

И ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ ПРИ НИЗКОМ УРОВНЕ
ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ

Издание официальное

★

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен,
тиражирован и распространен без разрешения Госстандарта СССРу становлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

Gl, G2 — источники постоянного на-
пряжения; РА — измеритель постоянного
тока; D — микросхема

Черт. 1

Примечание. Допускается к выходу микросхемы при измерении под­ключать нагрузку.

Конкретное значение доверительной вероятности устанавлива­ют в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

- 1.4.3. Границы интервала погрешности измерения тока потреб­ления (тока потребления при высоком уровне выходного напря­жения, тока потребления при низком уровне выходного напряже-t НИЯ) 61 определяют по формуле

где а і —относительный коэффициент влияния напряжения пита­ния на і-м выводе питания на измеряемый параметр;

Oj — относительный коэффициент влияния входного напря­жения на /-м входе на измеряемый параметр;

a_k—относительный коэффициент влияния параметра нагруз­ки на измеряемый параметр;ат — относительный коэффициент влияния температуры окру­жающей среды или температуры в заданной точке на кор­пусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр;

б/ —относительная погрешность установления и поддержа­ния напряжения питания на і-м выводе питания;

бу — относительная погрешность установления и поддержа­ния входного напряжения на /-м входе;

б_А —относительная погрешность установления и поддержа­ния параметра нагрузки на k-м. выходе;

і>ра —относительная погрешность измерителя постоянного то­ка;

бг —относительная погрешность установления и поддержа­ния температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы; К, Ki , Kj , Kk, Кра , Кт — коэффициенты, зависящие от за­кона распределения соответствующей погрешности б, б і , bj , 6_fe, 6рА, 6т и доверительной вероятности;

/ — число выводов питания;

m — число входов;

п—число выходов.

2. ИЗМЕРЕНИЕ ВХОДНОГО ТОКА НИЗКОГО УРОВНЯ И ВХОДНОГО тока высокого УРОВНЯ

   1. И змерения следует проводить на измерительной установ­ке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 2.

G/, G2, G3 — источники постоянного нап­ряжения; РА — измеритель постоянного то­ка; D — микросхема

Черт, 2

где обозначения — см. формулу (1).

3. ИЗМЕРЕНИЕ НАПРЯЖЕНИЯ БЛОКИРОВКИ

   1. Измерения следует проводить на измерительной установ­ке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 3.

PV — измеритель постоянного напряже­ния; G1 — генератор постоянного тока; G2, G3 — источники постоянного напря­жения; D — микросхема

Черт. 3

Погрешность измерения напряжения блокировки долж

­

где а/ — относительный коэффициент влияния тока в цепи про­веряемого входа на измеряемый параметр;

6z — относительная погрешность установления и поддер­жания тока в цепи проверяемого входа;

бру —относительная погрешность измерителя постоянного напряжения;

Kt , Kpv — коэффициенты, зависящие от закона распределения погрешности б/ , 8ру и доверительной вероятности;

' р — число входов, кроме проверяемого;

остальные обозначения — см. формулу (1).

4. ИЗМЕРЕНИЕ ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ НИЗКОГО УРОВНЯ
   И ВЫХОДНОГО напряжения высокого УРОВНЯ

   1. И змерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 4.

Gl, G2 — источники постоянного напря­жения; D — микросхема; G3 — генератор постоянного тока; PV — измеритель по­стоянного напряжения

Черт. 4

где а/ —относительный коэффициент влияния тока в цепи проверяемого выхода на измеряемый параметр;

6/ — относительная погрешность установления и поддер­жания тока в цепи проверяемого выхода;

Л/ —коэффициент, зависящий от закона распределения

<'/ , &pv и доверительной вероятности;

<bpv , Kpv — см. формулу (3);

остальные обозначения — см. формулу (1).

5. ИЗМЕРЕНИЕ ВЫХОДНОГО ТОКА ВЫСОКОГО УРОВНЯ
   И ТОКА ВЫКЛЮЧЕННОГО состояния

   1. Измерения следует проводить на измерительной установ­ке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

   2. Подготовка к измерениям — по п. 1.2.

   3. П р о в е д е н и е измерений

      1. На микросхему подают напряжения питания от источни­ка G2, входные напряжения от источника G1 и на проверяемый выход — напряжение от источника G3, значения которых уста­новлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

      2. Измеряют ток измерителем РА.

   4. П о к а з а т е л и точности измерения

Погрешность измерения выходного тока высокого уров­ня и тока выключенного состояния должна быть в пределах ±5 %'

и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микро­схемы конкретных типов.

G l, G2, G3 — источники постоянного на-
пряжения; D — микросхема; РА — из-
меритель постоянного тока

Черт. 5

8и — относительная погрешность установления и поддержа­ния напряжения на проверяемом выходе;

Ки —коэффициент, зависящий от закона распределения по­грешности би и доверительной вероятности;

остальные обозначения — см. формулу (1).

6. ИЗМЕРЕНИЕ ТОКА КОРОТКОГО ЗАМЫКАНИЯ

   1. Измерения следует проводить на измерительной установ­ке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

   2. Подготовка к измерениям — по п. 1.2.

   3. П р о в ед е и и е измерений

      1. На микросхему подают напряжения питания от источ­ника G2, входные напряжения от источника G1, значения кото­рых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкрет­ных типов.

      2. На проверяемом выходе создают короткое замыкание на общий вывод микросхемы, устанавливая напряжение источ­ника G3 равным нулю и измеряют ток, при этом продолжитель­ность короткого замыкания не должна превышать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

   4. П ок а з ате л и точности измерения

      1. Погрешность измерения тока короткого замыкания долж­на быть в пределах ±5% и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

      2. Доверительная вероятность погрешности измерения — по п. 1.4.2.

      3. Границы интервала погрешности измерения тока ко­роткого замыкания бе определяют по формуле

где аи,6и , Ки —см. формулу (5);

остальные обозначения — см. формулу (1).

ПРИЛОЖЕНИЕ

Справочное

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ О СООТВЕТСТВИИ
ГОСТ 18683.1—83 СТ СЭВ 3197—83

Разд. 1 ГОСТ 18683.1—83 соответствует разд. 1 СТ СЭВ 3197—81

Разд. 2 ГОСТ 18683.1—83 » разд. 2 СТ СЭВ 3197—81

Разд. 3 ГОСТ 18683.1—83 » разд. 3 СТ СЭВ 3197—81

Разд. 4 ГОСТ 18683.1—83 » разд. 4 СТ СЭВ 3197—81

Разд. 5 ГОСТ 18683.1—83 » разд. 5 СТ СЭВ 3197—81

Разд. 6 ГОСТ 18683.1—83 » разд. 6 СТ СЭВ 3197—81

1