---

■ 'И п - ГОСТ 19799-74

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ
ИНТЕГРАЛЬНЫЕ АНАЛОГОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ
И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК

Издание официальное

БЗ 12-98

ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ

СТАНДАРТ

М

ГОСТ
19799-74

ИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ АНАЛОГОВЫЕ

Методы измерения электрических параметров
и определения характеристик

Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric
parameters and determination of responses

Дата введения 01.01.76

Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы (далее — микро­схемы) и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик.

Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители.

Настоящий стандарт должен применяться:

при разработке и пересмотре стандартов или технических условий на микросхемы конкретных типов;

при разработке установок для измерения электрических параметров микросхем;

при проведении научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ.

Степень соответствия настоящего стандарта СТ СЭВ 1622—79 приведена в приложении 4.

Общие требования к аппаратуре — в соответствии с ГОСТ 30350.

(Измененная редакция, Изм. № 1, 2, 3, 4, 5, 6).

Разд. 1. (Исключен, Изм. № 6).

2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ИМЕЮЩИХ
РАЗМЕРНОСТЬ НАПРЯЖЕНИЯ (класс 1000*)

Метод 1500. Измерение входного напряжения (U_m).

Измерение t/_x проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1. Измеряют напряже­ние на входе микросхемы при ее работе в заданном режиме, указанном в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Метод 1510. Измерение максимального входного напряжения (U_mmax) для микросхем с одним входом.

* Порядок нумерации методов измерения, применяемый в настоящем стандарте, приведен в приложе­нии 2.

П

Издание официальное ★

ерепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1974 © ИПК Издательство стандартов, 1999 Переиздание с ИзменениямиИзмерение (/_{х тах} проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1.

1 — генератор сигналов; 2 — измеритель переменного напря­жения; 3 — источник питания; 4 — микросхема; 5 — измери­тель переменного напряжения; 6 — измеритель нелинейных искажений; 7 — измеритель временных интервалов (осцил­лограф)

Черт. 1

На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или техни­ческих условиях на микросхемы конкретных типов.

Увеличивая напряжение входного сигнала, устанавливают напряжение выходного сигнала мик­росхемы равным значению, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конк­ретных типов. Измерителем напряжения измеряют U_mmm на входе микросхемы.

Метод 1511. Измерение максимального входного напряжения (t/_xтах) для микросхем с двумя входами на переменном токе.

ci С2 Структурная схема для измерения U_BXmax на переменном токе

п

1 — генератор переменного напря­жения; 2, 5 — измерители перемен­ного напряжения; 3 — микросхема;

4 — источник питания

риведена на черт. 2.

Значения чистоты и сопротивления нагрузки должны соответ­ствовать установленным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. В случае применения модулированно­го сигнала измерители 2 и 5 должны обеспечивать измерение эффек­тивного немодулированного напряжения. Конденсаторы С1 и С2 дол­жны являться короткозамкнутыми цепями при заданной частоте.

Д

Черт. 2

ля проведения измерения испытуемую микросхему (при необ­ходимости) балансируют в соответствии с условиями, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных ти­пов. Сигнал генератора 1 на заданной частоте устанавливают на уров­не, обеспечивающем значение напряжения на входе (выходе) испытуемой микросхемы, указанное в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Значения максимального входного напряжения измеряют измерителем 2.

Методы 150 0, 151 0, 1511. (Измененная редакция, Изм. № 2).

Метод 1512. Измерение максимального входного напряжения (t/_xmax) для микросхем с двумя входами на постоянном токе.

С труктурная схема измерения и_юта на постоянном токе приведена на черт. 2а.

1. — источник постоянного напряжения;

2. , 5 — измерители постоянного напряжения;

— микросхема; 4 — источник питания
Черт. 2

а

Для измерения U_Mmax на источнике 1 устанавливают напряжение U_m< U_mmsx и постепенно увели­чивают его до тех пор, пока U_bux не достигнет значения, указанного в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Значение U_mma измеряют измерителем 2.

(Введен дополнительно, Изм. № 2).

Метод 1520. Измерение минимального входного напряжения (17_йтіп) ДЛЯ микросхем с одним входом.

Измерение t^xmin проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1.

На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или техни­ческих условиях на микросхемы конкретных типов.

Уменьшая напряжение входного сигнала, устанавливают напряжение выходного сигнала микро­схемы равным значению, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкрет­ных типов.

Измерителем напряжения измеряют U_mmin на входе микросхемы.

Метод 1521. Измерение минимального входного напряжения (l/_BXmin) для микросхем с двумя входами.

Измерение U_BXmjn проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 2.

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять требованиям, ука­занным в методе 1511.

При необходимости микросхему балансируют с точностью, указанной в стандартах или техни­ческих условиях на микросхемы конкретных типов. На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Уменьшая напряжение входного сигнала, устанавливают напряжение на входе (выходе) испытуемой микросхемы равным значению, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. После этого измеряют U_minin измерителем 2.

Метод 153 0. Измерение чувствительности (5)

Измерение S проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1. На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Уменьшают входное напряжение до такого значения, при котором параметры микросхемы при­мут значения, указанные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, при этом измеряют напряжение входного сигнала, которое численно равно чувствительности.

Метод 154 0. Измерение диапазона входных напряжений

Для измерения А1/_х измеряют значение максимального входного напряжения U_Bxm№ (методы 1510 и 1511) и значение минимального входного напряжения t/_Bxmin (методы 1520 и 1521). Диапазон входных напряжений определяют по формуле

А17 вх




U вх.тах




и .

Bx.min







1 — микросхема; 2 — источник пи­тания; 3 — измеритель постоянного напря­жения




Метод 1550. Измерение входного напряжения покоя (17_0вх) и выходного напряжения покоя

Измерение U_Obx и 17_0вых микросхем с одним входом проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 3.

Емкость Cj конденсатора должна быть достаточной для того, чтобы исключить паразитные самовозбуждения, и должна соответствовать стандартам или техническим ус­ловиям на микросхемы конкретных типов.

Переключатель В1 устанавливают в положение 1 и измерителем 3 измеряют значение входного напряжения покоя U_Qm. Затем переключатель В1 переводят в положе­ние 2 и измерителем 3 измеряют значение выходного напряжения покоя 1/_Овых.

(Измененная редакция, Изм. № 2). Черт. 3

Метод 156 0. (Исключен, Изм. № 2).

Метод 1570. Измерение входного напряжения ограничения (U_Ompвх).

Измерение 17_{0гр вх} проводят согласно структурной схеме, выбранной для измерения коэффициента усиления напряжения А"_уи данной микросхемы

.




На вход микросхемы подают синусоидальный сигнал напряжением и_вх, указанным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, и измеряют переменное напряжение на выходе микросхемы и_вых■ Увеличивают входной сигнал до напряжения и_вх= 1,1 U_BX и измеряют Ї/_ВЬІХ . Дифференциальный коэффициент усиления определяют по формуле

И !

1/ — ^ВЫХ ~ ^вых

Изменяя входное напряжение и определяя К . находят такое значение U. при котором К _п

У-Д »х у.д

равен 0,1 К_уд. Входное напряжение ограничения Ц,_огрвх равно найденному значению U_m.

Метод 158 0. Измерение э. д. с. смещения (Е ) и напряжения смещения нуля (U_CM) для микросхем с двумя и одним входами.

Измерение Е , U_cu для микросхем с двумя входами проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 4, а для микросхем с одним входом — согласно структурной схеме, приведенной на черт. 4а.

Инвентирующий усилитель 4 применяется, если выходное напряжение испытуемой микросхемы не сдвинуто по фазе. Усилитель должен обеспечивать коэффициент усиления напряжения К_у1]~1 и иметь входное сопротивление 7?_вх»R_H-

Значения сопротивлений резисторов, входящих в структурные схемы черт. 4 и черт. 4а, должны удовлетворять следующим требованиям:

Ry> R₅> R10R_BBlx;

^<0,01/?₅ или .

^U’^1Ayt/min ’

= R^; R_BX»R₂<

^JR4 +R_S^bx2 50 ’

где R_Bx — входное сопротивление испытуемой микросхемы;

— выходное сопротивление испытуемой микросхемы;

K_yU — коэффициент усиления напряжения испытуемой микросхемы при условии, что цепь обрат- ¹™^п ной связи разомкнута.




1 — источник постоянного напряжения для ба­лансировки микросхемы; 2, 5 — измерители по­стоянного напряжения; 3 — микросхема; 4 — ис­точник питания




Черт. 4

1 — источник постоянного напряжения для балансировки мик­росхемы; 2, 5 — измерители постоянного напряжения; 3 — мик­росхема; 4 — усилитель, инвентирующий фазу; 6 — источник питания




Черт. 4

аИспытуемую микросхему балансируют, изменяют напряжение Е_{ источника 1 до тех пор, пока напряжение на измерителе 5 будет равно нулю или значению и_озых, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, и измеряют значение E_t измерителем 2.

Э. д. с. смещения и напряжения смещения нуля определяют по формуле

Ясм(^см) = Д +f/овых .

Метод 1581. Измерение э. д. с смещения (Е._м) и напряжения смещения нуля (Ц._м) для микросхем с двумя входами с автоматической балансировкой испытуемой микросхемы с помощью вспомогательного усилителя.

Измерение Е_см, U_CM проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 5.

Параметры вспомогательного дифференциального усилителя должны обеспечивать:

усиление при разомкнутой обратной связи более 60 дБ;

размах выходного напряжения, достаточный для обработки входного напряжения испытуемой микросхемы;

диапазон напряжений синфазного сигнала на входе не меньше диапазона выходного напряжения испытуемой микросхемы.

Значения сопротивлений резисторов, входящих в структурную схему, должны удовлетворять следующим требованиям:

R₃= R₄, 7?,«/^«^;

1 — измеритель постоянного напряжения; 2, 5 — источники питания;

3 — микросхема; 4 — вспомогательный дифференциальный усилитель;

6 — источник постоянного напряжения





Черт. 5

Значения сопротивлений резисторов R устанавливают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Переключатель ВЗ устанавливают в положение 1, когда выходное напряжение испытуемой мик­росхемы равно нулю, или в положение 2, когда выходное напряжение не равно нулю. Напряжение источника 6должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на микро­схемы конкретных типов. Для измерения Е_см переключатели В1 и В2 замыкают, а для измерения U_cu— размыкают.

Устанавливают напряжение источника 6 и положение переключателя ВЗ в соответствии со стан­дартами или техническими условиями на микросхемы конкретных типов и измеряют напряжение Ц измерителем 1. Э. д. с. смещения и напряжение смещения нуля определяют по формуле:

£’см(^см) = ^1_Т^-.

Л2 + Л4

Метод 159 0. Измерение синфазного входного напряжения (^_сфвх)-

Измерение £/_фвх проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 6.

Скачать бесплатно