СССР

Комитет стандартов, мер и измерительных приборов при

Совете Министров СССР

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ГОСТ 12491-67*

ПРИБОРЫ ЭЛЕКТРОННО­ЛУЧЕВЫЕ ПРИЕМНЫЕ Метод измерения яркости свечения экранов

Cathod-ray tubes for reception. Method of measurement of screen brilliancy


Группа Э29

Издание официальное


1. Настоящий стандарт распространяется на приемные электронно-лучевые приборы (ЭЛП) и устанавливает метод измерения яркости свечения экранов с погрешностью, не пре­вышающей ±110% •


Данный метод может быть использован также рении локальной яркости свечения экрана ЭЛП.

2. Блок-схема испытательной установки для яркости свечения экрана должна соответствовать на чертеже.


П — электронно-лучевой прибор; S — площадь раст­ра; Z — расстояние между растром и светочувстви­тельной поверхностью фотоэлемента; ФЭ — селеновый фотоэлемент, спектральная чувствительность которого должна соответствовать ГОСТ 11093—64; Г —гальва­нометр.


при изме-


измерения указанной


Перепечатка воспрещена


«S!£ ss: U’J


  1. Погрешность коррекции спектральной чувствительно­сти фотоэлемента под'кривую видности (ГОСТ 11093—64) не должна превышать ±5%.

  2. Отклонение от линейности световой характеристики фотоэлемента при максимальном мгновенном значении яр­кости пульсирующего светового потока растра или его участ­ка не должно превышать i±3%.

  3. Погрешность градуировки селенового фотоэлемента по освещенности не должна превышать ±15% •

  4. Центры ЭЛП и фотоэлемента должны находиться на одной оси. Смещение центров от оси не должно превышать ±5% от расстояния между центрами растра и светочувстви­тельной поверхности фотоэлемента.


Внесен Министерством
электронной
промышленности


Утвержден Комитетом стандартов,
мер и измерительных приборов
при Совете Министров СССР
3/1 1967 г.


Срок введения
1/1 1968 г.


* Переиздание (ноябрь 1968 г.) с изменением № 1, принятым в августе 1968 г.

































Приборы электронно-лучевые приемные. Метод
измерения яркости свечения экранов

  1. Расстояние между растром и светочувствительной по­верхностью фотоэлемента L должно составлять не -менее 5—7 диагоналей растра.

Погрешность измерения L не должна превышать ±'1%.

Допускается проведение измерений при L, меньших 5 диа­гоналей растра, при условии применения специальных уст­ройств, компенсирующих возникающую при этом погреш­ность.

  1. Величина засветки экрана от внешних и внутренних источников света не должна превышать 2,5% яркости свече­ния растра. Для устранения засветок от внешних источников света должны использоваться светонепроницаемые тубусы, удовлетворяющие требованиям п. 7.

  2. Измерение яркости должно производиться при опти­мальной фокусировке, которая устанавливается по минималь­ному току фотоэлемента.

  3. Нелинейность разверток растра по строке и кадру на испытательной установке не должна превышать 10%.

При измерении яркости всего экрана допускается нели­нейность разверток растра по строке и кадру не более 25%.

(Измененная редакция—«Информ, указатель стандартов» № 8 1968 г.).

  1. Погрешность установки размеров растра не должна превышать ±!2%.

  2. Электрический режим, размеры растра и режим раз­ложения при измерении яркости свечения экрана должны устанавливаться в стандартах или технических условиях на отдельные типы ЭЛП.

  3. Время разогрева ЭЛП должно быть в пределах 3—5 мин.

  4. Яркость свечения экранов ЭЛП (В) в нитах опреде­ляется отношением силы света, излучаемого поверхностью растра в направлении оси ЭЛП, к площади этой поверхности и должна вычисляться по формуле:

где:

Е — освещенность в лк;

L расстояние в м

S площадь растра в м2.

Издательство стандартов. Москва, К-l, ’ул. Щусева, 4
Сдано в наб. 10/IX 1968 г. Подп. к печ, 2/ХІІ 1968 ;г. 0,125 п. л. Тир, 3000

Тип, «Московский печатник». Москва, Лялиц пер.. 6. Зак. 1756