---

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ТЕХНІЧНІ ВИМОГИ
ДО ГЕОМЕТРІЇ ВИРОБІВ (GPS)

Структура поверхні. Профільний метод
Параметри структурних елементів

(

БЗ № 11-2001/349

ДСТУ ISO 12085-2001

ISO 12085:1996, IDT)

Видання офіційне

АА08872

Київ
ДЕРЖСТАНДАРТ УКРАЇНИ
200

2ПЕРЕДМОВА

1. ВНЕСЕНО ТК 47, Акціонерним товариством закритого типу Науково-дослідний інститут «Редуктор» (АТЗТ НДІ «Редуктор»)

2. НАДАНО ЧИННОСТІ наказом Держстандарту України від 28 грудня 2001 р. № 656 з 2003-01-01

З Стандарт відповідає ISO 12085:1996 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture — Profile method — Motif parameters (Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Параметри структурних елементів)

Ступінь відповідності — ідентичний (IDT)

Переклад з англійської (еп)

4. ВВЕДЕНО ВПЕРШЕ

5. ПЕРЕКЛАД І НАУКОВО-ТЕХНІЧНЕ РЕДАГУВАННЯ: В. Власенко, канд. техн, наук; В. Фей (науковий керівник); М. Осипенко; В. Галушко; О. Висоцький

Право власності на цей документ належить державі.

Відтворювати, тиражувати і розповсюджувати документ повністю чи частково
на будь-яких носіях інформації без офіційного дозволу Держстандарту України заборонено.

Стосовно врегулювання прав власності звертатися до Держстандарту України

Держстандарт України, 2002

ЗМІСТ

с.

Національний вступ IV

1. Сфера застосування 1

2. Нормативні посилання 1

3. Визначення понять 2

   1. Загальні визначення 2

   2. Параметричні визначення 4

4. Теоретично точний оператор методу структурних елементів 5

   1. Загальне положення 5

   2. Обумовлені межі структурних елементів 5

   3. Глибинна дискримінація 5

   4. Ідентифікація структурних елементів шорсткості і хвилястості за допомогою комбінування 6

   5. Процедура для параметричних розрахунків .' 9

5. Вимірювання умов параметрів 11

   1. Угода, що стосується перетину основного профілю 11

   2. Рекомендовані умови вимірювання 11

   3. Крок квантування профілю 11

   4. Правило приймання 11

   5. Використовування методу структурних елементів для аналізування багатооброблених поверхонь 11

   6. Позначення на кресленнях 11

Додаток А Метод розраховування комбінацій структурних елементів 12

Додаток В Відношення між параметрами структурних елементів і функціями поверхонь 14

Додаток С Відношення до моделі матриці GPS 15

Додаток D Бібліографія 16

НАЦІОНАЛЬНИЙ ВСТУП

Цей стандарт є ідентичний переклад ISO 12085:1996 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture — Profile method — Motif parameters (Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Параметри структурних елементів).

Технічний комітет, відповідальний за цей стандарт, — ТК47 «Механічні приводи».

Чинними є стандарти ДСТУ ISO 4287 і ДСТУ ISO 4288 ідентичні стандартам ISO 4287:1997 і ISO 4288:1996, вказаним у розділі 2.

Чинних державних стандартів відповідних ISO 1302:1992 і ISO 3274:1996, на які є посилан­ня в цьому стандарті, немає.

Копію вищезгаданих документів можна отримати у Національному фонді нормативних документів.

ISO 12085 є стандарт технічних вимог до геометрії виробів (GPS) якого вважають загальним стандартом GPS (див. ISO/TR 14638).

Він впливає на ланки 2, 3 і 4 низки стандартів структури поверхні із шорсткості і хвилястості профілю.

Детальніше про відношення ISO 12085 до інших стандартів GPS, див. додаток С.

Підхід, описаний в цьому стандарті, полегшує визначання параметрів шорсткості і хвилястості основного профілю, знаходження тих структурних елементів, які характеризують розглядувану поверхню. Цей метод незалежний від будь-якого профільного фільтра і приводить до параметрів, які основані на глибинних і крокових структурних елементів. Ці параметри є додаткові до тих, що визначені ISO 4287 і можуть бути застосовані до опису функціональних властивостей виробів, як зазначено в додатку В.

Додаток А є невід’ємна частина цього стандарту. Додатки В, С і D наведено тільки для інформації.

До стандарту внесено такі редакційні зміни:

• слова «цей міжнародний стандарт» замінено на «цей стандарт»;

• до розділу 2 долучено «Національне пояснення» щодо перекладу назв стандартів україн­ською мовою та виділено в тексті рамкою;

• змінено нумерацію сторінок;

• вилучено пусту сторінку;

структурні елементи цього стандарту: «Обкладинку», «Передмову», «Зміст», «Національ­ний вступ» — оформлено згідно з вимогами державної системи стандартизації України

.ДСТУ ISO 12085-2001

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ТЕХНІЧНІ ВИМОГИ ДО ГЕОМЕТРІЇ ВИРОБІВ (GPS)
Структура поверхні. Профільний метод
Параметри структурних елементів

ТЕХНИЧЕСКИЕ ТРЕБОВАНИЯ К ГЕОМЕТРИИ ИЗДЕЛИЙ (GPS)
Структура поверхности. Профильный метод
Параметры структурных элементов

GEOMETRICAL PRODUCT SPECIFICATIONS (GPS)
Surface texture — Profile method
Motif parameters

Чинний від 2003-01-01

1. СФЕРА ЗАСТОСУВАННЯ

Цей стандарт визначає терміни і параметри, що їх використовують для визначання структу­ри поверхні методом структурних елементів. Він також описує відповідного ідеального операто­ра і умови вимірювання.

2. НОРМАТИВНІ ПОСИЛАННЯ

Нижченаведені стандарти містять положення, які через посилання в цьому тексті становлять положення цього стандарту. На час опублікування цього стандарту зазначені видання були чинні. Усі стандарти підлягають перегляду і, учасникам угод, базованих на цьому стандарті, пропонується використовувати останні видання стандартів, зазначених нижче. Члени ІЕС та ISO впорядковують каталоги чинних міжнародних стандартів.

ISO 1302:1992 Technical drawings — Method of indicating surface texture

ISO 3274:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments

ISO 4287:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and parameters of surface texture

ISO 4288:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Rules and procedures for the assessment of surface texture

НАЦІОНАЛЬНЕ ПОЯСНЕННЯ

ISO 1302:1992 Технічне креслення. Метод вимірювання структури поверхні

ISO 3274:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Номінальні характеристики контактних (щупових) приладів

ISO 4287:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Терміни, визначення і параметри структури поверхні

ISO 4288:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Правила і процедури оцінювання структури поверхні

Видання офіційне

3. ВИЗНАЧЕННЯ ПОНЯТЬ

У цьому стандарті застосовані такі визначення понять:

Частина профілю між двома суміжними мінімумами профілю (див. рисунок 1).

Місцевий виступ профілю

Рисунок 1 — Місцевий виступ профілю

Частина профілю між двома суміжними максимумами профілю (див. рисунок 2).

Рисунок 2 — Місцева западина профілю

Частина основного профілю між найвищими точками двох місцевих виступів профілю, які не обов’язково суміжні.

Структурний елемент характеризують (див. рисунки 3 і 5):

• довжина, AR_t або A W_)t що її вимірюють паралельно загальному напряму профілю;

• дві глибини, H_j і /7_у+1 або HWj і Hw_j+V що їх вимірюють перпендикулярно загальному напряму основного профілю;

Т-характеристика, що є найменша глибина із двох глибин.

Рисунок 3 — Структурний елемент шорсткості

Структурний елемент, отриманий під час використовування ідеального оператора з гранич­ним значенням А (див. рисунок 3).

Примітка 1. Згідно з цим визначенням, структурний елемент шорсткості має довжину AR_t меншу або рівну А.

Прямі лінії, що з’єднують найвищі точки виступів основного профілю, з умовною дискриміна­цією виступів (див. рисунок 4).

Верхня огинальна лінія

Рисунок 4 — Верхня огинальна лінія

Структурний елемент, отриманий на верхній огинальній лінії під час використовування іде­ального оператора з граничним значенням В (див. рисунок 5).

Середнє арифметичне довжин AR, структурних елементів шорсткості, в межах оцінкової дов­жини (див. рисунок 6), тобто

AR = -SAR_I

Пм

де п — число структурних елементів (рівне числу значень AR).

Середнє арифметичне значення глибин Hj структурних елементів шорсткості, в межах оцін­кової довжини (див. рисунок 6), тобто

де т — число значень Hj.

Примітка 2. Число значень — вдвоє більше числа значень AR, (т = 2л).

Найбільша глибина, /7_у, в межах оцінкової довжини.

ПРИКЛАД

На рисунку 6. Rx = Н₃

Рисунок 6 — Параметри шорсткості

Середнє арифметичне значення довжин AW_t структурних елементів хвилястості в межах оцінкової довжини (див. рисунок 7), тобто

AW = -YAW_t

П ,' = 1

де п — число структурних елементів хвилястості (рівне числу значень AW;).

Середнє арифметичне значення глибин Hw_j структурних елементів хвилястості, в межах оцін­кової довжини (див. рисунок 7), тобто

W = — yHw.

де т — число значень Hwj.

Примітка 3. Число значень Hw_t— вдвоє більше числа значень AW,(m = 2л).

Найбільша глибина Hw^ в межах оцінкової довжини (див. рисунок 7).

Відстань, виміряна у перпендикулярному загальному напряму основного профіля, між найви­щою і найнижчою точками верхньої огинальної лінії основного профілю (див. рисунок 7).

Рисунок 7 — Параметри хвилястості

4 ТЕОРЕТИЧНО ТОЧНИЙ ОПЕРАТОР

МЕТОДУ СТРУКТУРНИХ ЕЛЕМЕНТІВ

Цей пункт описує умови, що ідентифікують структурні елементи (довжинну і глибинну диск­римінації) і представляє процес розраховування параметрів шорсткості і хвилястості.

Рекомендовані значення меж Д і В, як показано на рисунку 8, наведено в розділі 5.

Структурні елементи шорсткості Структурні елементи хвилястості

Рисунок 8 — Обумовлені межі структурних елементів

Глибинну дискримінацію застосовують до основного профілю для оцінювання шорсткості поверхні

.

Розділяють основний профіль на секції, шириною АІ2, і вимірюють висоту кожного прямокутника.

Місцеві виступи, взяті до уваги, це ті, в яких глибина більша ніж 5 % від середньої висоти цих прямокутників (див. рисунок 9).

АІ2

Місцевий виступ збережено (приклад)

Місцевий виступ відкинуто (приклад)

Висота цього прямокутника

Рисунок 9 — Глибинна дискримінація

Для структурних елементів шорсткості, глибина яких Hj, значення Hj (середнє значення /7_у) і aHj (стандартний відхил) розраховані. Будь-яка глибина місцевого виступу або западини, значен­ня якої більше ніж Н=Нj + 1,65 <т/7_у., нівельована рівною значенню Н (див. рисунок 10).