---

Вначале проводится измерение напряжения U1 при замкнутом ключе П и записывается значение U1*. Затем ключ размыкается, напряжение генератора повышается до получения U2=U1’ и записывается значение U1”

Входное сопротивление на данной частоте вычисляют по формуле:

gi-j/r

С7' ‘47'

Затухание несогласованности входа и выхода прибора может быть вычислено по формуле:

ГИС - генератор испытательного сигнала

Рисунок 3 - Схема измерения выходного сопротивления прибора

Рисунок 4 - Измерение входного сопротивления прибора

Проверка частоты сигнала на выходе ГИС (5 4.1) осуществляется с помощью частотомера (рисунок 5), подключаемого к выходу тактовой частоты прибора

Осуществляя регулировку расстройки частоты в приборе в пределах, оговоренных в технической документации, проверяют, укладывается ли в допуск измеренное значение тактовой частоты сигнала. Погрешность частотомера должна быть не более ±1 - 10 ⁴ * f

Рисунок 5 - Схема для измерения частоты сигнала

Правильность структуры измерительного сигнала проверяется путем совместной работы с заведомо исправным ИО того же назначения, тип которого внесен в Госреестр При соединении испытываемого ГИС и исправного ИО и установке аналогичных режимов работы не должно наблюдаться появления ошибок и должен осуществляться адекватный счет ошибок при ручном введении их на ЛИС.

Проверка работы ГИС от внешнего тактового сигнала (5.4.1) проводится по схеме, приведенной на рисунке 5, с помощью генератора синусоидальных сигналов, от которого подаются сигналы с необходимой частотой и амплитудой (с допусками согласно технической документации). Частота тактового сигнала контролируется частотомером. Работа ГИС контролируется путем измерения правильности формирования испытательных последовательностей в соответствии с 6.5.

Форма импульса (5.2.3) цифрового сигнала (амплитуда, длительность, время нарастания и спада импульса) на выходе ГИС проверяется с помощью осциллографа по схеме, приведенной на рисунке 6, в режиме бесциклового измерительного сигнала. Устанавливаются испытательные последовательности в виде одних единиц или одних нулей (могут быть и другие периодические последовательности, где отчетливо видны импульсы, соответствующие двоичным "I^й и ”0”).

Применяемый осциллограф должен иметь время нарастания переходной характеристики не более 0,2 нс, а точность измерения по оси X и Y - не хуже ±3% Вход осциллографа должен быть или высокоомным (тогда генератор нагружается на 75 Ом ± 5%), или низкоомным. При необходимости, если входное сопротивление осциллографа равно 50 Ом, осциллограф должен подключаться к ГИС через согласующую схему.

Если имеющиеся в осциллографе способы синхронизации развертки не позволяют увидеть импульс, на осциллограф должен быть подан синхросигнал. Способ и сигнал синхронизации при наблюдении сигналов зависят от типа применяемого осциллографа, а также от имеющихся дополнительных выходов ГИС.

При использовании осциллографа с внешней синхронизацией для деления тактовой

частоты, что требуется для просмотра сигнала в коде CMI, может потребоваться использование вспомогательного ГИС, показанного на рисунке б пунктиром. Последний синхронизируется от тактового сигнала проверяемого ГИС, а выходной сигнал в виде импульсов, соответствующих двоичным "I^м в коде CMI, используется для синхронизации осциллографа при наблюдении импульсов, соответствующих двоичным ‘Т* и ^н0". При необходимости наблюдения других комбинаций "1” и ”0¹’ на осциллограф должен подаваться синхросигнал соответствующей частоты.

Гтжгт О'

Согласующая схема

Вход сэдхр.

Осциллограф
1 МОм
(50 Ом)

Вход

Вспомогательный

Рисунок 6 - Схема для измерения параметров импульсов

Форма сигнала может быть проверена с помощью диаграммы. Для этого испытательная последовательность в режиме бесциклового измерительного сигнала устанавливается в виде ПСП (2²³- 1]. На осциллографе наблюдается диаграмма, которая должна находиться в пределах шаблона, показанного на рисунке 7. Амплитуда импульса на маске приведена к единице, а шкала времени размечена в долях периода повторения импульсов (Т).

+1

-0,5 -0,4 -0,3 -0,2 -0,1 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5

Рисунок 7 - Шаблон диаграммы сигнала для цифрового стыка 155520 кбит/с

Правильность формирования кода выходного сигнала ГИС (5.2.3) проверяется при наличии неструктурированного бесциклового сигнала с помощью осциллографа по схеме, приведенной на рисунке 6. Для удобства наблюдения кода на экране устанавливается структура испытательной последовательности в виде 1 с одним или несколькими нулями.

При отсутствии неструктурированного бесциклового сигнала или осциллографа, позволяющего видеть кодированный сигнал, проверка проводится по методике 6.5.

Правильность введения ошибок (5.4.2) в выходной сигнал ГИС (значение калиброванных ошибок) может проверяться по методике 6.5 путем измерения количества ошибок в измерительном сигнале эталонным ИО при введенных вручную ошибках.

6Л0 Проверка собственного фазового дрожания сигнала на выходе ГИС

Собственное фазовое дрожание сигнала на выходе ГИС в режиме без введения фазового дрожания (5.2.5) проверяется при помощи анализатора спектра, подключаемого к выходу генератора по схеме, приведенной на рисунке 8. Проверка проводится при установлении структуры выходного сигнала в виде последовательности нулей. На экране анализатора наблюдается спектр исследуемого сигнала.

Принимая во внимание то, что размах собственного фазового дрожания много меньше тактового интервала (ТИ), его можно определить в ТИ по формуле

у » 0,32 • р/а,

где а - амплитуда основной спектральной составляющей;

р - наибольшая амплитуда паразитных составляющих в диапазоне частот, отстоящих от частоты основной спектральной составляющей до ± (5-10)%.

Полоса обзора анализатора спектра устанавливается шириной до 15-20% от частоты основной спектральной составляющей, полоса пропускания 10-30 Гц. При необходимости должна применяться согласующая схема.

Рисунок 8 - Схема проверки собственного фазового дрожания

6.12

Проверка погре

ности счета ошибок, проверка измерения коэффициента

6,11 Проверка устойчивости ИО к фазовому дрожанию входного сигнала

Устойчивость ИО к фазовому дрожанию входного сигнала (5.2.5) проверяется по схеме, приведенной на рисунке 9, путем подачи от эталонного ГИС сигнала с введенным фазовым дрожанием, соответствующим максимально допустимому значению, указанному в 5.2.5.

ИО

Рисунок 9 - Схема проверки устойчивости ИО к фазовому дрожанию

ошибок и чувствительности входа

Проверка погрешности счета ошибок, проверка измерения коэффициента ошибок (5.5.3-5,5.4) и чувствительности входа прибора (5.2.2) проводится по схеме, приведенной на рисунке 10, с помощью эталонного ГИС (можно использовать ГИС испытываемого прибора после проверки его параметров), по сигналу с калиброванной ошибкой. Проверка проводится как при внутренней, так и при внешней синхронизации ИО от сигнала с заданными допусками по частоте и амплитуде.

Измерения проводятся в зависимости от цели испытаний в различных режимах работы, за фиксированный интервал времени или путем ввода заданного коэффициента ошибок или при ручном вводе ошибок. Проверка должна проводиться при введении затухания во входной сигнал со значением, обеспечивающим подачу на вход сигнала с уровнем, минимально допустимым согласно технической документации.

Измеренные значения коэффициента ошибок и количества ошибок сравниваются с расчетными для заданных условий измерения.

Проверка индикации дефектов (аварийных сигналов) проводится путем ввода этих состояний вручную от эталонного генератора (допускается проверка индикации некоторых состояний при линейных испытаниях).

Рисунок 10 - Схема проверки измерения ошибок И

ОПРИЛОЖЕНИЕ A
(справочное)

ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ОШИБОК И ДРУГИХ ПОНЯТИИ,

ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ПРИ АНАЛИЗЕ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЯ

А1. Критерии для входа в состояние неготовности и выхода из него (Рекомендации МСЭ-Т G.826, М.2101.1 [8,9])

Al 1 Период времени неготовности - количество секунд неготовности (unavailable seconds US)¹- время в секундах, которое начинается с началом 10 последовательных секунд, пораженных ошибками (SES) Эти десять секунд считаются частью времени неготовности Новый период времени готовности начинается с началом десяти последовательных событий, не являющихся SES Эти 10 секунд считаются частью времени готовности

А1 2 Время готовности (available seconds AS) - время в секундах, равное разности периода измерений Тизм и периода времени неготовности

AS = Тизм- US

А2 Показатели ошибок, нормируемые в долговременных нормах на цифровые сетевые тракты первого и более высоких порядков (Рекомендация МСЭ-Т G^826 [8])

А2.1 Коэффициент ошибок по секундам с ошибками (ESR)

Отношение секунд с ошибками (ES) к общему количеству секунд в течение времени готовности за фиксированный интервал измерения

Секунда с ошибками (ES)

Односекундный интервал с одним или более блоками с ошибками.

Блок с ошибками (ЕВ)

Блок, в котором один или более бит являются ошибочными

Примечание - Рекомендуемые значения величины блоков для трактов синхронной иерархии указаны в

таблице! наст

юго стандарта.

А2.2 Коэффициент ошибок по секундам, пораженным ошибками (SESR)

Отношение секунд, пораженных ошибками, (SES) к общему количеству секунд в течение времени готовности за фиксированный интервал измерения.

Секунда, пораженная ошибками (SES)

Односекундный интервал, содержащий £30% блоков с ошибками или, по меньшей мере, один дефект SES входит в совокупность ES. Перечень дефектов для STM-1 - по А3.2

A2.3 Коэффициент фоновых ошибок по блокам (BBER)

Отношение фоновых ошибок по блокам (ВВЕ) ко всему количеству блоков, в течение времени готовности за фиксированный интервал измерения При счете общего количества блоков исключаются все блоки в течение SES.

Фоновая ошибка по блокам (ВВЕ)

Блок с ошибками, не являющийся частью SES.

АЗ Параметры, используемые для оценки показателей ошибок, критерии их оценки

А3.1 Аномалии, относящиеся к измерению качественных показателей

Потеря циклового синхронизма (OOF)

Критерий для обнаружения аномалии OOF должен соответствовать критерию, определенному в Рекомендации G.783 [6].

Ошибки В1

Должны контролироваться ошибки проверки на четность, оцениваемые с помощью байта Bl (ВІР-8) сигнала STM-1. Если любая из восьми проверок на четность покажет ошибку, считается, что соответствующий блок имеет ошибку.

Ошибки В2

Должны контролироваться ошибки проверки на четность, оцениваемые с помощью байтов В2 (ВІР-24 х N) сигнала STM-N. Если любая из 24 проверок на четность N раз покажет ошибку, считается, что соответствующий блок имеет ошибку.

Ошибки ВЗ

Должны контролироваться ошибки проверки на четность, оцениваемые с помощью байта ВЗ (ВІР-8) сигнала VC-n (п=3,4). Если любая из восьми проверок на четность покажет ошибку, считается, что соответствующий блок имеет ошибку.

Индикация ошибки дальнего конца мультиплексной секции (MS-REI)

Должна контролироваться индикация об ошибке MS-REI, если она поддерживается измеряемым объектом, содержащаяся в битах от 1 до 8 байта Ml в контролируемом MSON (заголовке мультиплексной секции).

Индикация ошибки дальнего конца тракта высшего порядка (HP-REI)

Должна контролироваться индикация об ошибке HP-REI, содержащаяся в битах от 1 до 4 байта G1 сигнала VC-n (п=3,4),

И

его порядка (LP-REI)

ндикация ошибки дальнего конца тракта низ

Должна контролироваться индикация об ошибке LP-REI, содержащаяся в бигах от 1 до 4 байта G1 сигнала VC-З.

Должна контролироваться индикация об ошибке LP-REI, содержащаяся в бите 3 байта V5 сигнала VC-12.

Ошибки BIP*2

Должны контролироваться ошибки по четности в битах 1 и 2 (ВЇР-2; чередующаяся четность битов-2) байта V5 сигнала VC-12). Если любая из двух проверок на четность покажет ошибку, считается, что соответствующий блок имеет ошибку.

Ошибка испытательной последовательности (TSE)

TSE возникает, когда обнаруживается одна или более ошибок по битам в

испытательной последовательности в группе последовательных бит, связанных с трактом, и соответствующих одному блоку, контролируемому соответствующей ВІР

А3.2 Дефекты, относящиеся к измерению качественных показателей

Пропадание сигнала (LOS)

Дефект LOS (для электрического стыка) имеет место, когда у приходящего сигнала нет переходов через нуль в течение периода времени, эквивалентного N импульсов (значение N подлежит дальнейшему изучению).