Маленькие капли клея следует наносить между проводниками подложки с помощью специального приспособления, обеспечивающего повторяемость результатов.
Конденсаторы-чипы помещают на эти капли с помощью пинцета. Во избежание попадания клея на проводники конденсаторы- чипы не следует сдвигать.
Подложку с конденсаторами-чипами следует нагревать в печи при температуре 100 °С в течение 15 мин.
Подложку следует паять в установке для пайки волной. Установку следует отрегулировать таким образом, чтобы температура предварительного нагрева была от 80 до 100 °С, температура паяльной ванны 250 °С и время пайки — 5 с.
Операцию пайки следует повторить еще раз (всего два цикла).
Подложку следует очистить в течение 3 мин в соответствующем растворителе (п. 3.1.1 ГОСТ 28229).
Если в ТУ установлена пайка расплавлением полуды, монтаж проводится по следующей методике.
Предварительно сформованный или пастообразный припой должен быть эвтектическим свинцово-оловянным (Sn/Pb), содержащим серебро (минимум 2 %), смешанным с неактивированным флюсом, как указано в ГОСТ 28211.
Для конденсаторов-чипов, конструкция которых предусматривает барьерный слой, предохраняющий от растворяющего действия припоя, можно использовать другие припои, такие как 60/40 или 63/37.
Затем конденсатор-чип следует поместить на металлизированные контактные площадки испытательной подложки таким образом, чтобы создать контакт между чипом и контактными площадками подложки.
Затем подложку следует поместить в (или на) соответствующую нагревательную систему (расплавленный припой, горячая плата, туннельная печь и т. д.). Температуру системы следует поддерживать в интервале от 215 до 260 °С до тех пор, пока припой не расплавится и не растечется, образуя однородное паяное соединение, но не более 10 с.
Флюс следует удалить соответствующим растворителем (п. 3.1.1 ГОСТ 28229). В дальнейшем с конденсатором следует обращаться так, чтобы избежать загрязнения. Необходимо принять меры для поддержания чистоты в испытательных камерах и во время измерений после испытаний.
В ТУ может быть установлен более узкий температурный интервал.
Если применяется пайка в паровой фазе, можно пользоваться тем же методом с корректировкой температур.
Подложки для испытаний показаны на черт. 16 и 17.
Подложка для механических и электрических испытаний
1 ~~ паяемые площадки; 2 — площадки, не подлежащие пайке (покрыты непаяемым лаком); 3 — проводник может быть исключен или использован ® качестве защитного электрода; W — размер, зависящий от конструкции испытательной аппаратуры
Черт. 4і6
Примечание. Материал — на основе стеклоткани, пропитанный эпоксидным связующим ER 4, толщина (1,6±0,1) мм.
Размеры, которые не приведены или не пригодны для указанного типа конденсаторов, должны быть установлены в ТУ на конденсаторы конкретных типов в соответствии с конструкцией и размерами конденсаторов, подлежащих испы- 'танию.
Подложка для электрических испытаний
1 — паяемые площадки; 2 — площадки, не подлежащие пайке (покрыты непаяемым лаком); 3 — проводник
может быть исключен или использован в качестве за
щитного электрода.
Черт. 17
Примечание.
Материал — окись алюминия (чистотой 98 %), номинальная толщина 0,635 мм.
Размеры, которые не приведены или не пригодны для указанного типа конденсаторов, должны быть установлены в ТУ на конденсаторы конкретных типов в соответствии с конструкцией и размерами конденсаторов, подлежащих испытанию.Адгезия
Условия испытания
Конденсаторы-чипы следует монтировать, как указано в п. 4.33.
Усилие, равное 5 Н, следует прикладывать к центру поверхности, перпендикулярной плоскости подложки и параллельной линии, соединяющей центры выводов. Направление усилия должно быть перпендикулярно поверхности приложения. Усилие следует прикладывать к корпусу конденсатора-чипа постепенно увеличивая, без толчков и сохранять в течение (10± 1) с.
Требования
Конденсаторы-чипы следует подвергнуть внешнему осмотру в смонтированном состоянии. Они не должны иметь видимых повреждений.
Сила сцепления поверхностного покрытия
Конденсатор-чип следует монтировать на печатной плате, как указано в п. 4.33.
Емкость конденсатора-чипа следует измерить, как указано в п. 4.7 и в соответствующих групповых ТУ.
Печатную плату с конденсаторами-чипами, расположенными на нижней стороне, следует поместить в изгибающее приспособление (черт. 18). Затем плату изгибают на 1 мм со скоростью 1 мм/с.
Изгибающее приспособление
спор - яип
Черт. 18
Опора
Припой
Печатная плота перед испытанием
Емкость конденсаторов-чипов следует измерить, как указано в п. 4.35.2, когда плата находится в изогнутом положении. Изменение емкости не должно превышать пределов, установленных в соответствующих ТУ.
Печатную плату следует вывести из изогнутого положения, затем вынуть ее из испытательного приспособления.
Заключительный контроль и требования
Конденсаторы-чипы следует подвергнуть внешнему осмотру и они не должны иметь видимых повреждений.
ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Рекомендуемое
РУКОВОДСТВО ПО ПРОВЕДЕНИЮ ИСПЫТАНИЙ
КОНДЕНСАТОРОВ В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИМЕ
Введение
Существующие методы испытания, на которые распространяется настоящий стандарт, пригодны для конденсаторов, работающих в электрических цепях, в которых подаваемое напряжение является преимущественно постоянным. В настоящее время растет использование конденсаторов там, где напряжение подается импульсами со сменой полярности или без нее. Эти импульсы могут быть длительными, прерывистыми или одиночными.
В
акторы, оказывающие влияние на
настоящем приложении установленыноминальные значения параметров импульса, и способ, с помощью которого эти
номинальные значения можно установить, проверить путем соответствующих испытаний на срок службы. Параметры импульса определены. Различные сочетания этих параметров могут служить причиной различных отказов, как указано в табл. 6.
Таблица 6
Тип конденсатора
Причина отказа
Испытание
Т
Электролитический
Металлизированные
Все остальные
Повышенное перенапряжение
Повышение напряжения обратной полярности
Перегрев (PR)
Амплитудный ток
dv
dt
Перегрев (PR)
Ионизация dv ~dl
Перегрев (PR)
Повышенное амплитудное напряжение Ионизация
Перенапряжение
Напряжение обратной полярности
Пульсирующее или переменное напряжение
Заряд/разряд (прерывистый)
Импульсный режим
Пульсирующее или переменное напряжение
Переменное напряжение
Импульсный режим
Пульсирующее или переменное напряжение
Перенапряжение
Переменное напряжение
Приведенные ниже данные по типичному применению конденсаторов пока* зывают, что технические требования к испытаниям, устанавливающие 100000 или 1 миллион импульсов, соответствуют эксплуатации только в течение 5—50 с.
Создать одну схему, которая воспроизводила бы все требуемые условия, невозможно. Однако, вероятно, можно собрать схемы, которые будут воспроизводить различные группы условий. В настоящее время не представляется возможным установить условия ускоренного испытания, которое соответствовало бы,, например, пятилетней эксплуатации.
Примеры применения в телевизорах
Коррекция S
Типичные значения амплитудного импульсно
го напряжения 25, 50, 180 В
Типичные значения амплитудного импульсно
го тока 5—15 А
п
dv di
риблизительно 5 В/мксЧастоты: 15—20 кГц
Реактивная мощность: до 250 вар
Настройка строк
Типичные значения амплитудного импульсного
напряжения до 1500 В
Типичные значения амплитудного импульсно
го тока 5 А
dv' 180 В/мкс
~dT
К
10 кВ пульсирующего напряжения
до 1000 В/мкс
преобразов ателях
60—100 в
40—100 А
онденсаторы в умножителях напряжения Типичное значение амплитудного импульсного напряженияdv
dT ъ
Типичное значение амплитудного импульсного тока
Примеры применения в ионных бо л ь щ о й мощности
Типичные значения амплитудного импульсного напряжения
Т
dv
di
1—20 В/мкс
Ч
50 Гц — 20 кГц до 500 вар
астоты:Реактивная мощность:
Примеры применения в преобразователях (постоянное напряжение в постоянное напряжение)
Типичное значение амплитудного импульсного
напряжения 30 В
Типичное значение амплитудного импульсного
тока 6 А
du 600 В/мко
dt
Частота: до 20 кГц
Примеры применения в источниках питания переключательного типа
Т
15—400 В
100 Гц —40 кГц
и импульсных не
1 —3 кВ
1000 А
приблизительно
500 В/мкс
ипичные значения амплитудного импульсного напряженияТипичные значения амплитудного импульсного тока
Частоты:
Примеры применения для лазеров точников света
типичные значения амплитудного импульсного напряжения
Типичные значения амплитудного импульсного тока
du dt
І
Частоты:
—5 кГцВлияние индуктивности на испытания в импульсном режиме
Предлагаемые методы испытания в импульсном режиме могут включать испытательные условия, при которых происходит повторная зарядка и разрядка конденсаторов в резистивных схемах. Это приводит к обычным экспоненциальных вольт-амперным характеристикам.
Однако во многих случаях индуктивность имеет большое значение и оказывает ^существенное влияние на пригодность конденсатора для данного применения.
du
Это особенно важно при больших значениях —. Если имеются уело- ( L
вия для критического затухания -g- j , то результатом является незначительное изменение формы кривой зарядки или разрядки, что оказывает небольшое влияние на степень жесткости испытания.
L
Однако, если , то может быть выброс с затухающими колеба
ниями или без них. Это может привести к перенапряжению и к увеличению мощности рассеяния.ПРИЛОЖЕНИЕ *
Рекомендуемое
ИЗМЕРЕНИЕ РАЗМЕРОВ ЦИЛИНДРИЧЕСКОГО ИЗДЕЛИЯ
С ДВУМЯ АКСИАЛЬНЫМИ ВЫВОДАМИ
1« Метод измерения длины корпуса и длины выводов
Джииу корпуса следует измерять, вставляя выводы в пазы (или отверстия)
двух одинаковых по размеру пластин и перемещая эти пластины параллельно
Друг другу до тех пор, пока корпус изделия не будет зажат, причем деформация корпуса или выводов не должна иметь места. Пластины считаются в достаточной степени параллельными, если погрешность измерения не превышает 0,2 мм с учетом размера пластины и расстояния между изделием и измерительным устройством.
Различают следующие типы мерительных пластин.
Мерительные пластины для изделий с аксиальными проволочными выводами (за исключением изделий, указанных в п. 1.2).
Длина корпуса равна измеренной длине Lb а длина вывода равна L2-
Ширина паза W (или диаметр отверстия) в пластине зависит от диаметра проволочного вывода, как показано в табл. 7.
Черт. 19
Ширина паза в пластине ±0,02*
0,80 1,00 1,20 1,50 1,80 3,00
Таблица 7
мм
Номинальный диаметр проволочных выводов
4
До 0,45 включ, >0,45 до 0,70 включ.
>0,70 » 0,90 »
>0,90 > 1,15 »
>1,15 » 1,32 >
>1,32 » 2,00 >Мерительные пластины для изделий диаметром 5 мм и более, имеющих аксиальные выводы с стеклянно-металлическими изоляторами и проволочные выводы различного диаметра.
Если проволочный вывод имеет диаметр, например, у изделий с припаянными снаружи корпуса выводами и у изделий с стеклянными изоляторами, то при измерении длины толщина пластины не имеет значения. За длину изделия следует принимать расстояние между внутренними поверхностями пластин причем длина выводов равна L2. Ширина паза (или диаметр отверстия) в пластине должна быть (4,00 ±0,02) мм*.
Черт. 20
Метод измерения максимальной длины вывода с покрытием
Когда выводы вставлены в пластины и изделие зажато, как указано в п. 1.1, покрытие не должно выступать за эти пластины.
Толщина пластины Т должна быть указана в справочном листе.
П р и м е ч а н и е. Рекомендуемыми величинами являются (1,50±0,05) мм для изделий, предназначенных для монтажа на односторонних печатных платах, (4,00±0,05) мм — для изделий иного назначения.
Метод проверки предельного диаметра
Для проверки предельного диаметра изделие следует пропустить через прямую г[ у0?:у, внутренний диаметр которой равен максимальному диаметру корпуса г:.;юс 0,1 мм с допуском 4-0,05 мм, и длина равна максимальной длине корпуса, установленной для этого изделия. Изделие должно пройти через трубку пел действием собственного веса.
В максимальном диаметре изделия, указанном изготовителем, должны быть' учтены неправильное!и формы корпуса, такие как изгиб, колпачки па резисторах, проволочная обмотка как часть выводов керамических конденсаторов и т. д. I ивчи——■ ■ ф
