---

методикою дике

4.2.15 кут відбору рентгенів- de Winkelstrahlungauswahlwinkel

ського випромінювання en angle of extraction of the

X-radiation

fr angle d'extraction дe lа

radiation Х

ru yгол отбора рентгеновского

излучения

Кут між площиною,до- Угол между плоскостью,

тичною до випроміню- касательной к излучающей

ючої поверхні, і напрям- поверхности, и направлени-

ком відбору рентгенів- ем отбора рентгеновского

ського випромінювання излучения

4.2.16 діапазон аналізуючих de Bereich der gepr[u1]tten *

хімічних елементів chemishen Elemente

en range of the analysed chemical

elements

fr gamme des [e2]lements chimi- *

gues [a4] analyser *

ru диапазон анализирующих

химических элементов

Ділпянка хiмчних еле- Область химических эле-

ментів із гранично мали- ментов с предельно малым

ми та гранично велики- и предельно большим атом-

ми атомними номерами, ными номерами, в которой

в якій вони можуть бути они могут быть определены

визначені

4.2.17 спектральна розділь- de Spektralaufteilung

нiсть en spectral resolution

fr r[e2]solution spectrale

ru спектральное расширение

Найменша відстань між Наименьшее расстояние

двома сумiжними мак- между двумя соседними мак-

симумами, якi спосте- симумами, наблюдаемыми

рігаються над фоном над фоном

- 9 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

4.2.18 мiнімальний крок de Mindestabtastungsschritt

сканування en minimum step of scanning

fr pas minimal de balayage

ru минимальный шаг скани-

рования

Найменший кут поворо- Наименьший угол поворота

ту або найменше лiнійне или наименьшее линейное

перемiщення елементів перемещение элементов

спектрометричного при- спектрометрирующего уст-

строю ройства

4.2.19 вибір випромінювання de Strahlungsauswahl

en radiation sampling

fr choix de radiation

ru выбор излучения

Вибір випромінювання Выбор излучения рентге-

рентгенівської трубки, новской трубки, при кото-

при якому відстань між ром расстояние между дву-

двома відбиттями, що мя регисгрируемыми отра-

реєструються, тим бiль- жениями тем больше, чем

ша, чим більша довжина больше длина волны излу-

хвилі випромінювання чения

4.3 СКЛАДОВІ ЧАСТИНИ ТА ПPИCTPOЇ

4.3.1 peнтгенівський спек- de R[o1]ntgenspektrometerkanal *

трометричний канал en spectrometric Х-rау channel

fr сanal spectrom[e2]trique *

[а4] rayons Х

ru рентгеновский спектромет-

рический канал

Частина пристрою, яка Часть устройства, обеспечи-

забезпечує вiдокрем- вающая выделение и регис-

лення i реєстрацію виб- трацию выбранного участ-

раної ділянки спектра ка спектра

4.3.2 фіксований pентгенів- de Fixierr[o1]ntgenspektrometer- *

ський спектрометрич- kanal

ний канал en fixed spectrometric Х-rау

channel

fr canal spectrom[e2]trique, *

fixe rауоns Х

ru фиксированный рентгенов-

ский спектрометрический

канал

Канал для відокремлен- Kанал для выделения и ре-

ня і pеєстрації заздале- гистрации заранее выбран-

гідь вибраної дiлянки ного участка рентгеновско-

рентгенівського спектра го спектра

4.3.3 сканувальний рентге- de Ahtastungsr[o1]ntgenspektro- *

нівський спектромет- meterkanal

ричний канал en scanning spectrometric X-ray

channel

- 10 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

fr canal de Ьalaуаge spectro-

m[e2]trique [а4] rауons Х *

ru сканирующий рентгеновс-

кий спектрометрический

канал

Канал з автоматичною Kанал с автоматической

передбудовою ділянок перестройкой участков

спектра і з можливістю спектра и с возможностью

його запису его записи

4.3.4 рентгенівська гоніо- de R[o1]ntgengoniometervorsatz- *

метрична приставка ger[a1]t *

en Х-rау goniometry adaptor

fr adapteur goniom[e2]trigue *

[a4] rayons X *

ru рентгеновская гониометри-

ческая приставка

Приставка, яка забезпе- Приставка, обеспечиваю-

чує усереднення кри- щая усреднение кристаллов

сталів обертанням зраз- вращением образца в со-

ка у власнiй площині бственной плоскости

4.3.5 рентгенівська камера de R[o1]ntgenkamera *

en Х-ray camera

fr chambre de diffraction

ru рентгеновская камера

Прилад для реєстрації на Прибор для регистрации на

рентгенівську плівку диф- рентгеновскую пленку диф-

рагованого рентгенів- рагированного рентгенов-

ського випромінювання ского излучения

4.3.6 детектор рентгенівсько- de R[o1]ntgenstrahlungsdetektor *

го випромінювання en Х-rау radiation detector

fr d[e2]tecteur de radiation Х

ru детектор рентгеновского

излучения

Пepeтворювач квантів Преобразователь квантов

рентгенівського випро- рентгеновского излучения в

мiнювання в імпупьси импульс напряжения или

напруги або струму тока

4.3.7 детектор телевізійного de Fernsehdetektor

типу еn television type detector

fr d[e2]tecteur de type-tele- *

vision

ru детектор телевизионного

типа

Прилад для одержання Прибор для получения дву-

двомiрної дифракцiйної мерной дифракционной

картини на телеекрані картины на телеэкране

4.3.8 кристал-аналізатор de Kristallanalysator

en crystal-analyser

- 11 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

fr cristal analyseur

ru кристалл-анализатор

Крістал - дифракційний Kpисталл-дифракционный

диспергувальний eлe- диспергирующий элемент

мент для розкладання в для разложения в спектр

спектр рентгенiвського рентгеновского излучения и

випромiнювання і відо- выделения заданного спек-

кремлення заданого трального интервала

спектрального iнтервалу

4.3.9 кристал-монохроматор de Kristallmonochromator

еn crystal-monochromator

fr cristal-monochromateur

ru кристалл-монохроматор

Елемент для монохрома- Элемент для монохромати-

тизації рентгенівського зации рентгеновского излу-

випромінювання чения

4.3.10 рентгевівський фільтр de R[o1]ntgenfilter *

еn Х-raу filter

fr filtre [а4] rayons Х *

ru peнтгеновский фильтр

Фільтр iз поглинального Фильтр из поглощающего

матеріалу, призначений материала, пpедназначен-

для послаблення або ный для ослабления или

зміни спектрального изменения спектрального

складу випромінювання состава излучения

4.3.11 джерело peнтгенів- de R[o1]ntgenstrahlungsquelle *

ського випромінювання en source оf Х-rау radiation

fr soyrce de rayonnement

ru источник рентгеновского

излучения

Сукупність пристроїв, які Совокупность устройств,

забезпечують одержання обеспечивающих получение

рентгенiвського вип- рентгеновского излучения с

ромінювання з задани- заданными параметрами

ми параметрами

4.3.12 комплекс керуючий de Difraktоmеtеrstеuerranlage

дифрактометричний en diffractometric control

complex-KYD

fr complexe dе commande diffrac-

tom[e2]trigue *

ru комплекс управляющий ди-

фрактометрический

Комплекс для програм- Комплекс для программно-

ного керування, збору, го управления, cборa, обра-

обробки і реєстрації ботки и регистрации инфор-

інформації мации

- 12 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

4.4 OCHOBНI МЕТОДИ

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІ3У

4.4.1 якісний pентгенівський de Qualitative R[o1]ntgenphase- *

фазовий аналіз nanalyse

en qualitative Х-raу phase

analysis

fr analyse de phases qualitative

[а4] rауоns X *

ru качественный рентгеновс-

кий фазовый анализ

Визначення природи Определение природы крис-

кристалічних фаз міне- таллических фаз минералов

ралів зразка за характер- образца по характерным для

ним для кожної фази каждой фазы набором ли-

набором ліній або піків - ний или пиков - набором

набором міжплощинних межплоскостных расстоя-

відстаней та iнтенсив- ний и интенсивностей

ностей

4.4.2 кількісний рентгенів- de Qualitative R[o1]ntgenphasen- *

ський фазовий аналіз analyse

en qualitative Х-rау phase

analysis

fr analyse de phase quantative

[a4] rауоns X

ru количесгвенный ренгенов-

ский фазовый анализ

Визначення залежності Определение зависимости

інтенсивностi дифрак- интенсивности дифракцион-

ційного відбиття від кіль- ного отражения от коли-

кocтi відповідної фази чества соответствующей

обчислення її процен- фазы и вычисление ее про-

тного вмісту з урахуван- центного содержания с уче-

ням масового коефі- том массового коэффици-

цiєнта вбирання речовин ента поглощения вещества

i кожної фази и каждой фазы

4.4.3 метод рентгенострук- de R[o1]ntgenstrukturanalyse *

турного аналізу en m[e2]thod of Х-rау *

(diffraction) analysis

fr methode d'analyse (structu-

rale) aux rayons Х

ru метод рентгеноструктурно-

го анализа

Визначення кристалiч- Определение кристалличес-

ної структури досліджу- кой структуры исследуемо-

ваної речовини, проце- го вещества, процессов, свя-

сів, які пов'язані з занных с перестройкой ато-

перебудовою атомів у мов в кристаллической ре-

кристалiчній гратці, за шетке, по дифракционной

дифракційною картиною, картине, возникающей при

що виникає при розсіюван- рассеивании pентгеновских

ні рентгенівських проме- лучей кристаллической ре-

нів кристалічною граткою шеткой

- 13 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

4.4.4 метод рентгеноспек- de R[o1]ntgenspektralanalyse *

трального аналізу en method of analysis by Х-ray

spectrometry

fr m[e2]thode d'analyse radio- *

spectrale

ru метод рентгеноспектраль-

ного анализа

Визначення хiмiчного Определение химического

складу речовини за селек- состава веществ по селек-

цією та реєстрацією рен- ции и регистрации pентге-

тгенівського характерис- новского характеристичес-

тичного спектра, який кого спектра, испускаемого

випромінюється атома- атомами при облучении их

ми при опромінюванні рентгеновскими лучами

їх рентгенівськими про-

менями

4.4.5 метод додавання фази, de Bestimmungsphasenzusatzver-

що визначається fahren

en method of addition of а

defined phase

fr m[e2]thode d'addition d'une *

phase [a4] d[e2]finir *

ru метод добавления опреде-

ляемой фазы

Визначення кiлькiсного Определение количествен-

складу шляхом вимірю- ного состава путем измере-

вання відношення інтен- ния отношений интенсив-

сивносей дифраційних ностей дифракционных ли-

ліній шуканої фази та ний искомой фазы и извест-

відомої ной

4.4.6 метод відношення de Methode des Verh[a1]ltnisses *

iнтенсивностей аналі- der Intensit[a1]t der

тичних ліній Analysenlinien

еn intensity relation method of

аnalytical lines

fr m[e2]thode des relations

d'intersite des lignes

analytiques

ru метод отношений интенсив-

ности аналитических линий

Визначення приблизно- Определение приблизитель-

го вмісту кpисталічних ного содержания кристал-

фаз шляхом вимірюван- лических фаз путем измере-

ня відношення iнтенсив- ния отношения интенсив-

ностей аналітичних ліній ностей аналитических ли-

зразка, який складається ний образца, состоящего

тільки з кристалічних фаз только из кристаллических фаз

4.4.7 метод прямого вимірю- de Methode der Direktmessung des

вання коефіцієнта Absortionskoeffizientes

вбирання en direct method of measurement

of the absortion factor

fr m[e2]thode dе mesurage direct *

- 14 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

du соefficient d'absorption

ru метод прямого измерения

коэффициента поглощения

Визначення відношення Определение отношения

коефіцієнтів вбирання коэффициента поглощения

досліджуваного зразка i исследуемого образца и чис-

чистої фази, що визнача- той определяемой фазы

ється

4.4.8 метод внутрішнього de Innenstandardverfahren

стандарту en method of an interior

standard

fr m[e2]thode d'un standard *

int[e2]rieur *

ru метод внутреннего стандар-

та

Встановлення співвід- Установление соотношения

ношення фази, що виз- определяемой фазы и вве-

начається, та введеної денной стандартной фазы

стандартної фази за по разности интенсивнос-

рiзницею інтенсивностей тей их дифракционных от-

дифракцiйних відбитків ражений

4.4.9 визначення напружень de Beanspruchungsbestimmung

еn voltage definition

fr d[e2]finition de tensions *

ru определение напряжений

Метод побудований на Метод основан на прецези-

прецезійному визначенні онном определении пара-

параметрів гратки метров решетки

4.4.10 метод дослідження de Method der Untersuchung der

поверхні і тонких Oberfl[a1]che und D[u1]nn- *

плівок filme

en testing method of the surface

and the fine films

fr m[e2]thod d'ectude de la *

surface et des films fins

ru метод исследования повер-

хности и тонких пленок

Метод, який дозволяє Метод, позволяющий изме-

зміною кута падіння пер- нением угла падения пер-

винного пучка змінюва- вичного пучка изменять глу-

ти глибину проникнен- бину проникновения рен-

ня рентгенівських про- тгеновских лучей в образец

менів у зразок

4.4.11 метод дослідження при de Method der Untersuchung bei

різних температурах Differenztemperaturen

en testing method at different

temperatures

fr m[e2]thod d'etude aux tempe- *

ratures diff[e2]rentes *

ru метод исследования при раз-

- 15 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

личных температурах

Спосiб вивчення кінети- Способ изучения кинетики

ки високо- i низькотем- высоко- и низкотемператур-

пературних реакцій в спе- ных реакций в специальных

ціальних високо- i низь- высоко- и низкотемператур-

котемпературних каме- ных камерах с последую-

рах з подальшою peєcтра- щей регистрацией отражен-

цiєю вiдбитків рент- ных рентгеновских лучей

генівських променів при при заданных температу-

заданих температурних рах

параметрах

4.4.12 метод дослідження при de Methode der Untersuchung bei

різних тисках Differenzdrucken

en testing method at different

рrеssions

fr m[e2]thode d'etude аих *

pressions diff[e2]r[e2]ntes *

ru метод исследования при pаз-

личных давлениях

Дослідження полімор- Исследование полиморф-

фних пepeтворень, виз- ных превращений, опреде-

начення стисливості ре- ление сжимаемости вещес-

човини, дослідження ре- тва, исследование реакций,

акцiй, які проходять у проходящих в гидротер-

гідротермальних умовах мальных условиях

4.4.13 метод Лауе de laue-Method

en Lower's method

fr m[e2]thode de Lower

ru метод Лауэ

Зйомка нерухомого мо- Съемка неподвижного мо-

нокристала у паралель- нокристалла в параллель-

ному поліхроматичному ном полихроматическом

променi луче

4.4.14 метод обертання i de Methode der Kristalldrehung

коливання кристала und Schwingung

en method of crystal rotation

and vibration

fr m[e2]thode de rotation et de *

vibration du crystal

ru метод вращения и колеба-