отверстие цилиндрическое боковое

605

регулирование развертки

отклонение луча от оси корпуса уг­

426,

регулирование усиления

ловое

427

регулирование чувствительности

отражатель

023

временное

отражатель контрольный

604

решетка фазированная

отражатель плоскодонный

602

С .

отражения многократные

308

сигнал

отсечка

П

516

сканирование

сканирование автоматическое

поверхность ввода

806

сканирование круговое

поверхность донная

801

сканирование поворотное

поглощение акустическое

001

сканирование ручное

поле акустическое

025

сканирование спиральное

потери в контактной среде

902

скорость звука

потеря обратного отражения

017

скорость распространения ультразву­

преобразователь

421

ковой волны

преобразователь иммерсионный

413

способ 6 дБ

преобразователь катящийся

434

способ 20 дБ

преобразователь наклонный

401

способ двух преобразователей

преобразователь первичный преобразователь поверхностных

429

способ иммерсионный способ контактный

волн

428

способ контрольного образца

преобразователь прямой преобразователь раздельно-

417

способ многократного отражения способ наклонного преобразователя

совмещенный

преобразователь с регулируемым

407

способность разрешающая способ одного преобразователя

углом ввода

431

способ одной десятой амплитуды

преобразователь фокусирующий преобразователь электромагнитно­

412

способ однократного отражения способ отраженного пучка

акустический

прибор неразрушающего контроля

409

способ половины амплитуды способ прямого пучка

ультразвуковой

522

способ реверберационный

прибор ультразвуковой

522

способ щелевой

призма

433

С-развертка

проекция длины пути

1002

среда контактная

прокладка

424

С-скан

протектор

432

строб

протяженность ближней зоны

019

Т

путь, пройденный в контактной среде

903

тень акустическая

пучок звуковой

028

точка ввода

пучок ультразвуковой р

028

точка выхода точка приема

развертка

518

точка схождения

развертка задержанная

503

трансформация волн

развертка типа А

3001

У

развертка типа В

3002

угол ввода номинальный

развертка типа С

3003

угол критический

размер преобразователя

416

угол наклона призмы

размер преобразователя номинальный

416

угол отражения

рассеяние

024

угол падения

расстояние однократного отражения

1003

угол преломления

расстояние схождения

403

угол расхождения

расстояние фокусное

410

Ф

расхождение пучка

010

фантом

519

508

505

420

303

716

702

714

719

710

718

026

026

2006 2006

705

708

703 2005

712

701

517

717

2007

706

709

2006

704

711

707

3003

901

3003

509

004

802

423 803

404 104

414

204 425

202

201

203

205

305





































фокус 411

форма импульса 515

форма пучка 009

фронт волновой 109

Ц

цуг волн 111

ч

частота контроля 027

частота максимума преобразования 418

частота номинальная 415

частота следования импульсов 514

частота средняя 402

число максимумов 419

чувствительность пороговая 507

Ш

шумы 306

ЭМАП 409

ЭМА-преобразователь 409

энергия импульса 512

эффект краевой 013

эхо-метод 715

эхо-сигнал ' 303

эхо-сигнал границы раздела 307

эхо-сигнал донный 301

эхо-сигнал запаздывающий 302

эхо-сигнал ложный 311

эхо-сигнал начальный 312

эхо-сигнал от боковой стенки 310

эхо-сигнал от дефекта 304

эхо-сигнал от несплошности 304

эхо-сигнал от отражателя 303

эхо-сигнал паразитный 311

эхо-сигнал фантомный 305Алфавитный указатель терминов на английском языке

А


D


focal point

411

acoustical absorption

001

DAC method

2001

focal range ■

406

acoustical anisotropy

002

dB control

508

focal zone

406

acoustical impedance

003

-6 dB drop method

2006

focus -

411

acoustic shadow

004

-20 dB drop method

2007

focussing probe

412

amplitude linearity

501

dead zone

502

Fresnel zone

018

angle beam probe

401

decibel, dB

011

G


angle beam search unit

401

defect

015

gain adjustment

508

angle beam technique

701

defect detection sensitivity

507

gain control

508

angle of incidence

201

defect echo

304

gap scanning

707

angle of reflection

202

delay path

405

gap testing technique

707

angle of refraction

203

delayed echo

302

gate

509

angle probe

401

delayed time base sweep

503

gate level

510

attenuation

005

depth of field

406

ghost echo

305

attenuation coefficient

006

DGS diagram

2002

grass

306

automatic scanning

702

DGS method

2003

grass cutting

516

AVG diagram

2002

diaphragm

432

H


AVG method

2003

direct scan technique

704

half-amplitude method

2006

А-scan display

3001

disc flaw

602

I


А-scan presentation

3001

discontinuity

012

immersion probe

413

В


discontinuity echo

304

Immersion technique

708

back reflection

301

disc shaped reflector

602

immersion testing

708

back surface

801

distance-amplitude


indirect scan

709

back surface echo

301

correction curve, DAC

2004

indirect scan technique

709

back wall

801

divergence angle

205

interface

016

back wall echo

301

double probe technique

705

interface echo

307

beam axis

007

double transducer probe

407

L


beam edge

008

double traverse technique

706

Lamb wave

105

beam index

802

dual search unit

407

longitudinal wave

101

beam profile

009

dynamic range

504

loss of back reflection

017

beam spread

010

E


M


bottom

801

echo

303

manual scanning

710

bottom echo

301

echo amplitude

511

mode conversion

104

В-scan display

3002

echo length

513

mode transformation

104

В-scan presentation

3002

echo receiving point

803

monitor level

510

C


edge effect

013

multiple echo

308

calibration block

601

effective transducer size

408

multiple-echo technique

711

centre frequency

402

electrodynamic transducer

409

multiple reflection

308

compressional wave

101

electro-magnetic transducer

409

multiple traverse


contact testing technique

703

electronic distance-


technique

712

continuous wave

102

amplitude-compensation,


N


convergence distance

403

EDAC

505

near field

018

convergence point

404

element

429

near field length

019

convergence zone

404

element size

416

near field point

020

correction of zero point

503

examination object

807

nominal angle of probe

414

couplant

901

examination volume

808

normal beam technique

713

couplant path

903

expanded time-base sweep

506

nominal frequency

415

coupling film

901

F


nominal transducer size

416

coupling losses

902

far field

014

norma! probe

417

coupling medium

901

flat bottom hole, FBH

' 602

0


creeping wave

103

flaw

015

orbital scanning

714

critical angle

204

flaw depth

1001

P


crystal

429

flaw detection sensitivity

507

parasitic echo

311

C-scan display

3003

flaw echo

304

peak frequency

418

C-scan presentation

3003

focal length

410

peak number

419



phantom echo

305

sound field

025

velocity of propagation

026

phased array probe

420

sound path length

1004

W


pitch and catch technique

705

sound velocity

026

wave conversion

104

plate wave

105

spherical wave

107

wave train

111

probe

421

spiral scanning

718

wavefront

109

probe damping factor

422

spurious echo

311

wavelength

110

probe index

423

squint angle

426,

wear plate

432

probe orientation

804


427

wedge

433

probe shoe

424

standard test block

601

wheel probe

434

projected path length

1002

straight beam probe

417

wheel search unit

434

propagation time

021

straight beam search unit

417

wrap-around

305

pulse

309

straight beam technique

713



pulse amplitude

511

structural echoes

306



pulse echo technique

715

suppression

516



pulse energy

512

surface echo

312



pulse length

513

surface wave

108



pulse repetition


surface wave probe

428



frequency, prf

514

sweep

518



pulse repetition rate

514

sweep control

519



pulse shape

515

swivel scanning

719



R


T




Rayleigh wave

108

tandem (scanning)




reference block

603

technique

720



reference block method

2005

test frequency

027



reference flaw (defect)

604

test object

807



reference reflector

604

test range

521



reflection

303

test surface

806



reflection coefficient

022

test volume

808



reflection (pulse)


time base

518



technique

715

time base control

519



reflector

023

time base linearity

520



reflector depth

1001

time base range

521



refracting prism

433

time gate

509



reject

516

time of flight

021



rejection

516

time-of-flight diffraction




resolution

517

technique, TOFD

721



roof angle

425

tip diffraction technique

723



S


tip echo technique

723



scale expansion

506

toe-in-semi-angle

425



scanning

716

transducer

429



scanning direction

805

transducer backing

430



scanning surface

806

transducer size

416



scattering

024

transfer correction

904



search unit

421

transmission pulse




shadow zone

004

indication

313



shear wave

106

transmission technique

722



side cylindrical hole

605

transmitter pulse

314



side drilled hole, SDH

605

transverse wave

106



side wall echo

310

twin transducer probe

407



signal amplitude

511

twenty (-20) dB drop method

2007



single probe technique

717

U




single traverse


ultrasonic beam

028



technique

704

ultrasonic test equipment

522



six (-6) dB drop method

2006

ultrasonic test instrument

523



skip distance

1003

ultrasonic wave

029



sound attenuation

005

V




sound beam

028

variable angle probe

431