± 5 млн-1 » » » 400°С » ;
±10 млн-1 » » выше 400°С.
Погрешность измерения выходных сигналов тензорезисторов не должна выходить за пределы ±5 мкОм/Ом.
Тензорезисторы устанавливают на балку по п. 4.4.2.
Влияние дрейфа следует исключать введением поправки или методом схемной компенсации (с использованием компенсационных тензорезисторов, устанавливаемых на отдельные образцы, или попарным объединением в полумосты тензорезисторов, расположенных на противоположных сторонах балки) или другим способом.
Балку с тензорезисторами нагревают до максимальной температуры за время, установленное в ТУ.
Выполняют операции по пп. 4.1111.3—4.І1І1.5.
Определение воспроизводимости начального сопротивления
При определении воспроизводимости начального сопротивления по п. 7.1 табл. 1 тензорезисторы должны быть установлены на образец по п. 4.8.1. Требования к измерению выходных сигналов должны соответствовать п. 4.8.2.
Образец с установленными тензорезисторами нагревают со скоростью, указанной в ТУ, от температуры ^н=(23±10)сС до максимальной температуры, выдерживают при этой температуре в течение 1 ч и охлаждают до начальной температуры ta.
Для каждого тензорезистора воспроизводимость начального сопротивления определяют как значение выходного сигнала при температуре /и после выполнения операций по п. 4.13.2.
По’ полученным для отдельных тензорезисторов данным определяют выборочное среднее значение воспроизводимости начального сопротивления и выборочное СКО.
Допускается совмещать определение воспроизводимости начального сопротивления с определением воспроизводимости ТХС по подразд. 4.10 и дрейфа выходного сигнала тензорезистора по подразд. 4.14.
Если в ТУ предусмотрено дополнительное определение воспроизводимости начального сопротивления при нагреве до температуры или (и) при выдержке в течение промежутка времени, отличающихся от указанных в подразд. 4.13, то порядок определения воспроизводимости начального сопротивления должен соответствовать пп. 4.13.1—4.13.5.
Определение дрейфа выходного сигнала при максимальной температуре
При определении дрейфа выходного сигнала при максимальной температуре по п. 8.1 табл. 1 тензорезисторы должны быть установлены на образец по п. 4.8.1. Требования к измерению выходных сигналов должны соответствовать п. 4.8.2.
Образец с установленными тензорезисторами нагревают со скоростью, указанной в ТУ, до максимальной температуры и определяют начальные значения & (0) выходных сигналов тензорезисторов.
Затем значения выходных сигналов (ту) определяют по истечении промежутка времени т=1 ч, а также спустя другие промежутки времени, заданные в ТУ.
Для каждого тензорезистора дрейф выходного сигнала за промежуток времени т, рассчитывают по формуле
(И)
По полученным данным рассчитывают выборочные средние значения дрейфа выходного сигнала и выборочное СКО.
Допускается дополнительно определять дрейф выходного сигнала при других температурах (отличных от максимальной), указанных в ТУ.
Допускается совмещать огаределение дрейфа выходного сигнала с определением воспроизводимости ТХС по подразд. 4.10 и воспроизводимостью начального сопротивления по подразд. 4.13.
Определение сопротивления изоляции в рабочей области значений температуры
При определении сопротивления изоляции по п. 9.1 табл. 1 тензорезисторы должны быть установлены на заземленный металлический образец.
Допускается определять сопротивление изоляции на тензоре- зисторах, прошедших проверку других характеристик.
Для измерения сопротивления изоляции должен быть использован мегомметр постоянного тока с погрешностью измерений не более 10% и напряжением питания в измерительной цепи, указанным в ТУ.
Сопротивление изоляции тензорезисторов измеряют при температуре %= (23+;? )°С и максимальной температуре. При измерениях отдельные тензорезисторы не должны быть электрически соединены друг с другом. Продолжительность подключения мегомметра перед каждым измерением должна быть не менее 2 мин.
За сопротивление изоляции проверяемой партии тензо- резисторов принимают наименьшее из всех значений, полученных для отдельных тензорезисторов при температуре to и максимальной температуре.
О п р е д е л е н и е времени реакции на ступенчатый входной сигнал деформации
При определении времени реакции на ступенчатый входной сигнал деформации по п. 10.1 табл. 1 тензорезисторы устанавливают на стальной образец с выточкой, в котором должна создаваться ступенчатая волна деформации, вызванная хрупким разрушением образца в месте выточки гари его нагружении статической деформацией растяжения в нагружающем устройстве по п. 4.16.6.
Допускается использовать образец иной конструкции и соответственно иные способы возбуждения ступенчатой волны деформации в образце при его растяжении в устройстве по п. 4.16.6.
Погрешности измерений не должны выходить за пределы:
±20 мкОм/Ом — для определения выходных сигналов тензорезисторов при статических измерениях;
±0,05 А—для определения выходных сигналов тензорезисторов при динамических измерениях, где А — амплитуда выходного ступенчатого сигнала;
±0,2 мкс — для измерения временных интервалов при динамических измерениях.
Главные оси тензорезисторов должны быть направлены параллельно продольной оси образца.
Для исключения влияния изгиба образца тензорёзисто- ры рекомендуется устанавливать на образец попарно: тензорези- сторы, образующие пару, размещают друг напротив друга и включают в противоположные (активные) плечи измерительного моста. Допускается последовательно соединять тензорезисторы, образующие пару, и включать их в одно плечо измерительного моста.
На каждый образец устанавливают три пары тензорезисторов: одну пару — для определения деформации образца в момент разрушения (статические измерения);
две другие пары — для определения времени реакции тензорезисторов на ступенчатый входной сигнал (динамические измерения).
Для испытаний готовят не менее пяти образцов с тензорезисторами. Допускается устанавливать на образец одну пару тензорезисторов для динамических измерений; в этом случае для испытаний готовят не менее десяти образцов.
Допускается использовать одни и те же тензорезисторы как для статических, так и для динамических измерений.
Пример конструкции образца и рекомендуемые схемы размещения тензорезисторов на образце и включения тензорезисторов в измерительную цепь при динамических измерениях приведены на черт. 1 и 2 приложения 4.
Образец с тензорезисторами устанавливают в нагружающее устройство, обеспечивающее нагружение образца деформацией растяжения, и нагружают до тех пор, пока он не разрушится (разорвется) в месте выточки.
По зарегистрированному выходному сигналу первой пары тензорезисторов определяют значение деформации образца в момент его разрыва. Оно должно быть 800—1200 млн-1.По зарегистрированным выходным сигналам двух других пар тензорезисторов определяют для каждой пары тензорезисторов промежуток времени т,г в микросекундах, в течение которого выходной сигнал изменяется от 0,1 А до 0,9 А в соответствии с черт. 3 приложения 4.
Промежуток Tri принимают заиремя реакции тензорезистора на входной ступенчатый сигнал деформации.
Выполняют операции по пп. 4.16.6—4.16.8 для остальных образцов.
По данным, полученным по пп. 4.16.8, 4.16.9, вычисляют выборочное среднее значение времени реакции на ступенчатый входной сигнал деформации и выборочное СКО.
Испытания тензорезисторов на надежность по п. 2.15 проводят в соответствии с ТУ.
При этом для случая задания наработки числом циклов задан- пбй деформации испытуемые тензорезисторы устанавливают на изгибаемую балку, которую нагружают знакопеременной симметричной деформацией с амплитудой ±(1000±50) млн-1, если иное не указано в ТУ.
В качестве параметра, по которому определяют отказ тензорезистора, принимают изменение его выходного сигнала более чем на 100 "к мкОм/Ом при є=0 и е=±1000 млн-1 относительно соответствующего выходного сигнала при начальном цикле (выходной сигнал тензорезистора определяют относительно начального сопротивления в начальном цикле).
Испытания тензорезисторов в упаковке по п. 2.21 проводят в соответствии с ГОСТ 12997.
Обработка и представление результатов
Выборочное среднее значение (X) и выборочное СКО» (Sjr) случайной величины X (метрологической характеристики или выходного сигналаtтензорезистора) рассчитывают по формулам:
Л==_1_2Х;, (15)
п <=i
5Л=У • (16)
Оценку анормальности результатов измерения проводят в следующем порядке:
для выборки результатов наблюдений случайной величины ХиХ2,...,Хп
рассчитывают выборочное среднее значение по формуле (15) и выборочное СКО по формуле (16);определяют наибольшее отклонение (ДХМ) результата измерения от выборочного среднего значения
ДХм=тах| Хи-Л|,
где — максимальный (или минимальный) результат из числа произведенных наблюдений;
чтобы оценить принадлежность к данной нормальной со- зокупности, рассчитывают отношение
£/и=-^-; ' (17)
^х
UK сравнивают со значением ₽, выбранным в соответствии с табл. 3 для данного объема выборки и принятого уровня значимости 0,05;
если (4,^0, то рассматриваемый результат наблюдения является анормальным, в противном случае его считают нормальным.
Таблица 3
|
Объем выборки п |
Предельное значение Р при уровне значимости 0,05 |
Объем выборки п |
Предельное значение 3 при уровне значимости 0,05 |
|
10! |
2.18 |
16 |
2,44 |
|
11 |
2.23 |
17 |
2.48 |
|
12 |
2.29 |
48 |
2,50 |
|
13 |
2,33 |
19 |
2.53 |
|
14 |
2,37 |
20 |
2.56 |
|
15 |
2,41 |
|
|
СКО погрешности аппроксимации рассчитывают по формуле
(18)
где Z (Х}) — выборочное среднее значение метрологической характеристики;
Z (X) — расчетное значение метрологической характеристики; т — число ступеней температуры нагрева (охлаждения);
і—число коэффициентов полинома;
/ — номер ступени, ]'=■ 1, 2,..., т.
4J19.4. Блок-схема алгоритма расчета метрологической характеристики на ЭВМ. приведена в приложении 5.Результаты испытаний заносят в протокол (или журнал, испытаний) и в паспорт на партию тензорезисторов. В протоколе должны быть указанЦ
дата и год испытаний;
цель проведения испытаний;
тип испытуемых тензорезисторов, номер партии;
порядковые номера (по системе нумерации предприятия-изготовителя) используемых приборов и оборудования;
температура и влажность воздуха в помещении;
наименование связующего и номер инструкции по наклейке (установке) тензорезисторов;
результаты испытаний;
заключение по результатам испытаний, должность и фамилия лица, проводившего испытания.
Пример представления характеристик тензорезисторов в паспорте предприятия-изготорителя на партию тензорезисторов приведен в приложении 6. z
Рекомендуется проводить проверку характеристик тензорезисторов, поступающих с предприятия-изготовителя.
Методика проверки характеристик тензорезисторов потребителем приведена в приложении 7.
Эта же методика может быть использована потребителем для оценки пригодности к применению тензорезисторов, гарантийный срок хранения которых истек.
ТРАНСПОРТИРОВАНИЕ И ХРАНЕНИЕ
Тензорезисторы транспортируют любым видом транспорта при условии защиты их от атмосферных осадков и механических повреждений.
Хранение тензорезисторов в упаковке осуществляют при температуре от 5 до 35°С, относительной влажности до 80% и при отсутствии в атмосфере паров агрессивных веществ.
6; ГАРАНТИИ ИЗГОТОВИТЕЛЯ
Изготовитель гарантирует соответствие качества тензорезисторов требованиям настоящего стандарта и технической документации на тензорезисторы конкретного типа при соблюдении потребителем условий эксплуатации и хранения.
Гарантийный срок хранения тензорезисторов —18 мес © момента изготовления.ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное
ПРИМЕРЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЫБОРОЧНОГО СРЕДНЕГО ЗНАЧЕНИЯ И
ВЫБОРОЧНОГО СКО ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ
Пример 1. В ТУ заданы:
интервал средних значений чувствительности 1 ,90—2,10;
допускаемое СКО чувствительности 0,02.
