1. Оптический толщиномер


Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий

Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глу­бины залегания дефектов


ОСВЕЩЕНИЕ ОБЪЕКТА КОНТРОЛЯ


  1. Световое сечение


  1. Темное поле


  1. Светлое поле


  1. Стробоскопическое облуче­ние*


  1. Когерентное облучение

  2. Монохроматическое облуче­ние

  3. Полихроматическое облуче­ние

  4. Сканирующее облучение

  5. Телецентрическое облучение

  6. Стигматическое облучение


Освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа

Освещение объекта контроля, при кото­ром яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены

Освещение объекта контроля, при кото­ром яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они находятся

Облучение объекта контроля модулизи- рованным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с дви­жением объекта контроля

Облучение объекта контроля когерентным излучением

Облучение объекта контроля полихрома­тическим оптическим излучением

Облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования

Облучение объекта контроля параллель­ным пучком оптического излучения

Облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения


АБЛЮДЕНИЕ ОБЪЕКТА КОНТРОЛЯ

О

  1. Наблюдение двойного изо­бражения

  2. Наблюдение сведенного изо­бражения

  3. Сравнительное наблюдение

дновременное наблюдение оптически совмещенных изображений объекта контро­ля и контрольного образца.

Одновременное наблюдение отдельных частей изображения объекта контроля, спроецированных на плоскость анализа

Наблюдение изображений объекта конт­роля и контрольного образца, разделенных пространственно

АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ

Видимость дефекта 3

Дефектоскоп оптический 40

Источник излучения 37

Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля 37

Контраст дефекта 2

Контроль неразрушающий оптический 1

Метод абсорбционный 19

Метод амплитудный 11

Метод визуально-оптический 20

Метод временной 12

Метод геометрический 13

Метод голографический 35

Метод дифракционный 17

Метод индуцированного излучения 8

Метод индуцированного оптического излучения 8

Метод интерференционный 16

Метод магнитооптический 25

Метод муаровых полос 31

Метод когерентный 10

Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный 32

Метод контроля геометрических размеров изделия фотокомпенсационный 33

Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий 34

Метод оптико-акустический 22

Метод оптического излучения абсорбционный 19

Метод оптического излучения амплитудный 11

Метод оптического излучения временной 12

Метод оптического излучения визуально-оптический 20

Метод оптического излучения геометрический 13

Метод оптического излучения дифракционный 17

Метод оптического излучения интерференционный 16

Метод оптического излучения когерентный 10

Метод оптического излучения магнитооптический 25

Метод оптического излучения оптико-акустический 22

Метод оптического излучения поляризационный 14

Метод оптического излучения рефракционный 18

Метод оптического излучения спектральный 9

Метод оптического излучения фазовый 15

Метод оптического излучения фотоалюминесцентный 23

Метод оптического излучения фотохимический 21

Метод оптического излучения электрооптический 24

Метод оптического неразрушающего контроля голографический 35

Метод отраженного излучения 5

Метод отраженного оптического излучения 5

Метод поляризационный 14

Метод прошедшего излучения 4

Метод прошедшего оптического излучения 4

Метод разностного изображения 27

Метод разностного оптического изображения 27

Метод рассеянного изображения 6

Метод рассеянного оптического изображения 6

Метод рефракционный 18

Метод согласованной фильтрации оптического излучения 26

Метод собственного излучения 7

Метод собственного оптического излучения 7

Метод согласованной фильтрации 26Метод спекл-интерферометрии 29

Метод спекл-интерферометрии оптического излучения 29

Метод спекл-структур 30

Метод спекл-структур оптического излучения 30

Метод спектральный 9

Метод фазовый 15

Метод фотоимпульсный 32

Метод фотокомпенсационный 33

Метод фотолюминесцентный 23

Метод фотоследящий 34

Метод фотохимический 21

Метод фотоэлектрического эффекта 28

Метод фотоэлектрического эффекта оптического излучения 28

Метод электрооптический 24

Наблюдение двойного изображения 54

Наблюдение сведенного изображения , 55

Наблюдение сравнительное 56

Облучение когерентное 48

Облучение монохроматическое 49

Облучение полихроматическое 50

Облучение сканирующее 51

Облучение стигматическое 53

Облучение стробоскопическое 47

Облучение телецентрическое 52

Поле светлое 46

Поле темное 45

Прибор неразрушающего контроля оптический 36

Сечение световое 44

Система оптическая 38

Структуроскоп оптический 42

Толщиномер оптический 43

Устройство приемное 39

Эллипсометр лазерный 4

1ПРИЛОЖЕНИЕ 1

Рекомендуемое

Термины общих физических понятий, применяемых
при оптическом неразрушающем контроле

Термин

Определение

1. Спекл-структура

Случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного из-

2. Сканирование

лучения

Анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при пере­движении мгновенного поля зрения по полю обзора



ПРИЛОЖЕНИЕ 2

Рекомендуемое

Термины оптических приборов, применяемых
при оптическом неразрушающем контроле

Термин

Определение

1. Эндоскоп

Оптический прибор, имеющий осветитель­ную систему и предназначенный для осмот­ра внутренних поверхностей объекта кон­троля

2. Оптический компаратор

Оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта кон­троля и контрольного образца

3. Субтрактивный видеоанализа­тор

Оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца

4. Оптический дисдрометр

Оптический прибор для анализа объем­ного распределения микрочастиц в контро­лируемой среде

Редактор В. С. Аверина
Технический редактор Э. В. Митяй
Корректор Г. И. Чуйко

Сдано D наб. 25.12.87 Подп. в печ. 08.02.88 0,75 усл. п. л. 0,75 усл. кр.-отт. 0,77 уч.-изд. л.
Тираде 10 000 Цена 5 коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123840, Москва, ГСП,
Новопресненский пер., д. 3.

Вильнюсская типография Издательства стандартов, ул. Миндауго, 12/14. Зак. 14.* При применении оптического излучения в видимом диапазоне — света допускается «облучение» заменять на «освещение».