ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СОЮЗАССР
ЛАМПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ
МАЛОМОЩНЫЕ
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ КРУТИЗНЫ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ГОСТ 19438.7—75
Издание официальное
і
Цена 5 коп.
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
Москв
а
У
Группа Э29
ДК 621.38S.083:006.354Г
ССР
ГОСТ
19438.7-75* *
Взамен
ГОСТ 8096—63
ЛАМПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ МАЛОМОЩНЫЕ
Методы измерения крутизны характеристики
Electron low power tubes; Measuring method
for steepuess of characteristic
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 3 сентября 1975 г. № 2324 срок действия установлен
с 01.01 1977 г.
Проверен в 1982 г. Постановлением Госстандарта от 17.03.82 № 1067 срок действия продлен до 01.01 1988 г.
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
Настоящий стандарт распространяется на электронные усилительные и генераторные лампы мощностью, продолжительно рассеиваемой анодом, до 25 Вт и устанавливает следующие методы измерения крутизны характеристики;
метод отношения напряжений;
метод отношения сопротивлений;
метод переменной составляющей тока анода.
Стандарт полностью соответствует рекомендации СЭВ по стандартизации PC 203—64.
ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ
Испытательные установки, предназначенные для измерения крутизны характеристики, а также общие правила испытаний должны соответствовать требованиям ГОСТ 19438.0—80.
Крутизну характеристики определяют по значению отношения изменения тока анода к соответствующему изменению напряжения управляющей сетки при неизменных напряжениях анода, дополнительных сеток и накала.
Для многоэлектрс^щыа иамп, в отдельных случаях, крутизну характеристики определяЙ^ьрак отношение приращения тока любого электрода и изменений' напряжения любого другого электрода.Измерение этой крутизны характеристики производят аналогично измерению основной крутизны характеристики.
Крутизну характеристики методом отношения напряжений определяют сравнением значения проводимости промежутка сетка—анода испытываемой лампы со значением проводимости известного сопротивления.
Относительная погрешность измерения крутизны характеристики этим методом не должна выходить за пределы ±2% с вероятностью 0,95.
Крутизну характеристики методом отношения сопротивлений определяют с помощью мостовой схемы по значению отношения сопротивлений измерительных резисторов при полном равновесии схемы.
Относительная погрешность измерения крутизны характеристики этим методом не должна выходить за пределы ±2% с вероятностью 0,95.
Крутизну характеристики методом измерения переменной составляющей тока анода определяют по значению отношения переменной составляющей тока анода к переменной составляющей напряжения управляющей сетки.
Относительная погрешность измерения крутизны характеристики этим методом не должна выходить за пределы ±8% с вероятностью 0,95.
1.5. (Измененная редакция, Изм. № 1). ;
МЕТОД ОТНОШЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ
Аппаратура
Функциональная электрическая схема испытательной установки для измерения крутизны характеристики методом отношения напряжений должна соответствовать указанной на черт. 1 (в качестве примера приведена функциональная электрическая схема измерения крутизны характеристики триода при фиксированном напряжении смещения управляющей сетки).
Разность коэффициентов трансформации трансформа- • торов Т1 и Т2 не должна быть более 1%. Обмотки трансформатора следует подсоединить к аттенюаторам Е1 и ЕЗ в противофазе.
Емкость конденсаторов С2 должна быть такой, чтобы первичная обмотка выходного трансформатора ТЗ была настроена на частоту генератора;
Настройка трансформатора с подключенным милливольтметром производится при токе подмагничивания, равном номинальному значению тока анода испытываемой лампы.
. El, ЕЗ, Е4—аттенюаторы; £2—делитель напряжения; VL—испытуемая лампа;
Gl, G2— источники постоянного напряжения; G3—генератор синусоидального напряжения; PVl, PV2—вольтметры; PV3—милливольтметр; Ті, Т2, ТЗ, Т4—трансформаторы; Я—безындукционный резистор; С/—дифференциальный конденсатор; С2—конденсатор.
Черт. її
Значение емкости дифференциального конденсатора С1 и число витков соответствующей вторичной обмотки трансформатора Т2 должны быть такими, чтобы была обеспечена компенсация тока, проходящего через междуэлектродные емкости ламп и паразитные емкости схемы.
2.1.4. (Измененная редакция, Изм. № 1).
Резистор R должен быть безындукционным. Допускаемое отклонение сопротивления резистора от его номинального значения не должно превышать ±0,2%.
Выходные сопротивления делителя напряжения Е2 и аттенюатора Е4 должны быть равны. Точность деления напряжения каждого аттенюатора Е1, ЕЗ, Е4 и делителя Е2 должна быть не хуже 0,2 %.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Генератор синусоидального напряжения должен иметь регулируемый выход и фиксируемую частоту в диапазоне 400— 1500 Гц. Коэффициент нелинейных искажений генератора не должен превышать 5%.
Чувствительность милливольтметра должна быть такой; чтобы при нарушении баланса на значение погрешности измерения отклонение Стрелки индикатора было не менее 1 % длины шкалы прибора. Усилитель милливольтметра должен быть настроен на частоту; равную резонансной частоте выходного трансформатора ТЗ. Разрешается применение автоматического регулирования усиления.
(Измененная редакция, Изм. № 1);
Значения переменного напряжения управляющей сетки испытываемой лампы не должны превышать указанных в табл. 1>
Таблица 1
Пределы измерения крутизны характеристики, мА/В |
Переменные напряжения управляющей сетки, мВ |
До 0,1 включ. |
500 |
Св. 0,1 »1,0 » |
50 |
» 1,0 |
5 |
Подготовка и проведение измерений
Устанавливают электрический режим измерения, указанный в стандартах или другой технической документации, утвержденной в установленном порядке, на лампы конкретных типов.
С помощью аттенюаторов Е1, ЕЗ, Е4 и конденсатора С1 попеременно регулируют значения напряжений ~(7і и ~£/2 и фазу напряжения ~ £73 до получения наименьшего отклонения стрелки милливольтметра.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Обработка результатов
Крутизну характеристики S в мА/B вычисляют по формуле г
с ~ и2 1
' - ~ и. ' R ’
~ U2„
где— &— отношение напряжении, отсчитываемое по положению аттенюаторов Е1, Е2, Е4 с учетом коэффициента деления делителя напряжения ЕЗ при наименьшем показании милливольтметра.
Допускается производить отечет крутизны. характеристики по шкалам аттенюаторов, проградуированным в единицах измерения крутизны характеристики.
МЕТОД ОТНОШЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЙ
Аппаратура
Электрическая функциональная схема испытательной установки для измерения крутизны характеристики методом отношения сопротивлений должна соответствовать указанной на черт. 2. (в качестве примера приведена электрическая функцио^ нальная схема измерения крутизны характеристики пентода при фиксированном смещении управляющей сетки).
С/ ■■ R1
С4, С2, СЗ—разделительные конденсаторы; L—дроссель; VL—испытуемая лампа;
Gl, G3, G4—источники постоянного напряжения; 02—генератор синусоидального напряжения; ТІ, Т2—трансформаторы; RI, R2, R3—безындукционные резисторы; PV1, PV2, РИЛ—вольтметры; РV4-—милливольтметр; PAI, РА2—миллиамперметры постоянного тока.
Черт. 2
Примечание. Допускается как параллельное, так и последовательное включение источников переменного . и постоянного напряжения в’ цепи первой сетки.
(Измененная редакция, Изм. № 1). _
Генератор синусоидального напряжения должен удовлетворять требованиям п. 2.1.7. >Измерительные резисторы RI, R2, R3 должны быть безындукционными. Допускаемое отклонение сопротивления резисторов от номинальных значений не должно превышать 0,2%.
Полное сопротивление дросселя L при выбранной частоте генератора должно удовлетворять условию •
Zl^10/?3-
Полное входное сопротивление трансформатора Т2 с подключенным электронным милливольтметром при выбранной частоте генератора должно быть не менее 15 кОм.
3.1.5. (Измененная редакция, Изм. № 1).
Емкости разделительных конденсаторов Cl, С2 и СЗ должны быть такими, чтобы их емкостные сопротивления при выбранной частоте генератора удовлетворяли условиям:
Хсі^О.ОІЯь
X Rs>
X сз^0,01 Ria,
где Ria — сопротивление миллиамперметра анодному току.
Значения-переменных напряжений управляющей сетки испытываемой лампы не должны превышать значений, указанных в табл. 1.
Электронный милливольтметр должен удовлетворять требованиям п. 2.1.8.
Для непосредственного отсчета крутизны характеристики в мА/B сопротивление резистора R2 должно быть выполнено в виде декадного магазина сопротивлений; разрешается пользоваться значениями сопротивлений резисторов RI, R2, R3, указан- , ными в табл. 2. '
Таблица 2
Крутизна характеристики, мА/В |
Значения сопротивлений резисторов, кОм |
|||
R1 |
■ R2 |
|
||
От 0,01 ДО 0,11 . » 0,00 » 0,33 » 0,10» 1,10 » 0,30 » 3,30 » 1,00 і 111,00 » 3,00. » 33,00 » 10,00 » 110,00 |
1:00,0000 33,3300 10,0000 3,3300 1,0000 0,3333 0,1000 |
1 (3 декады) |
0,1 |
Подготовка и проведение измерений
Устанавливают электрический режим измерения, ука- ' занный в стандартах на лампы конкретных типов
.С помощью переменного резистора R2 регулируют значение напряжения, подаваемого на сетку испытываемой лампы, до получения наименьшего отклонения стрелки милливольтметра.
О б р а б о т к а результатов
Крутизну характеристики S в мА/B вычисляют по формуле
с
Я; + /?з '
МЕТОД ПЕРЕМЕННОЙ СОСТАВЛЯЮЩЕЙ ТОКА АНОДА
Аппаратура
Электрическая функциональная схема испытательной установки для измерения крутизны характеристики методом, переменной составляющей тока анода должна соответствовать одной из указанных на черт. 3, 4 или 5.
В качестве примера приведены электрические функциональные схемы измерения крутизны характеристики тетрода:
черт. 3 — при фиксированном напряжении смещения управляющей сетки;
01, ОЗ, 04—источники постоянного напряжения; 02—генератор синусоидального напряжения; RI, R2, Ra—измерительные резисторы; Cl, С2—разделительные конденсаторы; /?с/—резистор; Яд—сопротивление делителя; VL—испытуемая лампа; S—переключатель калибровки'прибора; PV2; PV1, PV3, PV4—вольтметры постоянного тока; PV2—милливольтметр; /—одна из возможных схем электронного стабилизатора, обеспечивающего стабилизацию заданного постоянного напряжения непосредственно на аноде испытуемой лампы; II—одна из возможных схем делителя, пред- - назначенного для калибровки прибора PV2.
черт. 4 и 5 — при автоматическом смещении управляющей
G1—генератор синусоидального напряжения; 02, ОЗ—источники постоянного напряжения; $2—переключатели калибровки прибора PV2; VL—испытуемая лампа; Ск—конденсатор; RK—резистор; Г—трансформатор; PV2—милливольтметр; PV1, PV3—вольтметры; Ла, RI, R2— измерительные резисторы; //—одна из возможных схем делителя, предназначенного для калибровки прибора PV2.
Черт. 4
01—генератор синусоидального напряжения; 02, ОЗ—источники постоянного напряжения; RI, R2, /?а—измерительные резисторы; Ск—конденсатор; С/, С2—конденсаторы; Rcl—резистор; L—дроссель; PV2—милливольтметр; PV1, PV3—вольтметры; S'—переключатель калибровки прибора PV2; //—одна из возможных схем делителя, предназначенного для калибровки прибора PV2; VL—испытуемая лампа; RK—резистор.Примечание. Допускается применять электрические функциональные схемы с калиброванным источником напряжения смещения управляющей сетки.'
(Измененная редакция, Изм. № 1).