1. В случае необходимости, подсоединяется источник постоян­ного напряжения G2.

  2. Источник переменного обратного напряжения G и резис­тор /?2 регулируются или предварительно настраиваются таким образом, чтобы получить заданное значение рассеиваемой мощ­ности путем установки значений Vbr(rm) и I(br)rm (см. п. 3.1 примечание).

  3. Выключатель Si замыкается, чтобы разрядить конденса­тор С через первичную обмотку трансформатора 77. Конденса­тор С регулируется до получения заданной длительности им­пульса tw. Выключатель Si замыкается, с тем чтобы получить единичный импульс с целью проверки МОЩНОСТИ Prsm или ряд повторяющихся импульсов для проверки МОЩНОСТИ Prrm.

  4. Обратная рассеиваемая мощность вычисляется из показа­ний измерительных приборов и М2; для вычисления средней обратной рассеиваемой мощности необходимо учитывать дли­тельность импульса и частоту повторения.

Метод С

Схема измерения

Схема для проверки предельно допустимого
значения обратной рассеиваемой мощности
лавинных выпрямительных диодов и

выпрямительных диодов с управляемым

лавинным пробоем (метод с использованием

обратного тока с прямоугольной формой волны).

D — .испытуемый диод; Gi - регулируемый генератор импульсов с формой волны, близкой к прямоугольной, как показано на черт. 27; R^ токоограничиваюший ие- зистор; Ri —- переменный резистор для регулировки об­ратного тока; Ri — безындуктивный резистор для изме­рения тока; Л1] — прибор для измерения импульсного напряжения лавинного пробоя (например, осциллограф); Mi ~~ прибор для измерения импульсного обратного тока (например, осциллограф)

Примечание. Вместо ЛІ] и М2 может быть использован один прибор (например, двухлучевой осциллограф).

В случае необходимости:

Р] — блокирующий диод с быстрым восстановлением; V — вольтметр пос­тоянного тока; /?4 — токоограничивающий резистор; G2 источник постоян-

яого напряжения.


Форма волны

— средняя длительность

импульса; tr... 0,2 tw;

tf ... 0,2 tw

Черт. 27


Методика испытания

  1. В случае необходимости, подсоединяется источник пос­тоянного напряжения О2.

  2. Генератор импульсов Gi регулируется до получения задан­ной длительности импульса tw, числа импульсов и частоты пов­торения.

  3. Амплитуда импульса регулируется до получения заданно­го значения.

  4. Обратная рассеиваемая мощность вычисляется из показа­ний измерительных приборов и Л42; для определения средней обратной рассеиваемой мощности необходимо знать длитель­ность импульса и частоту повторения.

Заданные условия (для методов А, В и С)

  1. Импульсная (неповторяющаяся) обратная рассеиваемая мощность, повторяющаяся импульсная обратная рассеиваемая мощность или средняя обратная рассеиваемая мощность.

  2. Длительность импульса tw.

  3. Число импульсов и частота повторения.

  4. Температура окружающей среды, корпуса или в контроль­ной точке испытуемого прибора.

  5. Постоянное обратное напряжение, при необходимости.

Примечание. Если разброс напряжения лавинного пробоя велик, то регулировка амплитуды импульса обратного напряжения может быть зат­руднительна. Как правило, общее полное сопротивление настолько велико, что при измерениях, проводимых на различных приборах, имеет место сущест- 3

8



венное различие в обратной рассеиваемой мощности. Значение импульсного напряжения схемы в режиме холостого хода удобно устанавливать в завися* мости от суммы минимального и максимального значений напряжения лавин*

н

/?2> может

схемы, включающей /?і и

ого пробоя. Общее сопротивление быть вычислено по формуле

V(BR)RM ' ^(^)^mln обратная мощность

4. Термоциклическое испытание

Цель

Определение в результате испытания на срок службы способ­ности определенного типа диодов выдерживать колебания тем­пературы перехода.

Испытательная схема и форма испытательного сигнала


t

D испытуемый диод

Черт. 28


Методика испытания %

Диод следует нагревать заданным током, величину которого предпочтительно выбирать близкой к значению максимального среднего прямого тока до тех пор, пока не будет достигнута температура перехода, лежащая в диапазоне между эффективной температурой перехода и — 20 °С.

Примечание. При испытании приборов, включенных последовательно, температура может находиться между t(vj) и t(Vj) 30 °С.

Затем выключатель размыкается и диод охлаждается до эффективной температуры перехода, не превышающей 40 °G

Время нагрева не должно превышать 6 мин, а время охлаж­дения — 8 мин.

Испытание проводится в течение "Заданного числа циклов.

Параметры, на которые может повлиять испытание, следует измерять до и после испытания.Глава V. ПРИЕМКА И НАДЕЖНОСТЬ

РАЗДЕЛ ПЕРВЫЙ. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

НА СРОК СЛУЖБЫ

  1. Общие требования

См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2, имеющий анало­гичное название.

  1. Специальные требования

    1. Перечень испытаний на срок службы

Для выпрямительных диодов перечень испытаний на срок службы приводится в табл. 2.

  1. Условия проведения испытаний на срок службы

Условия проведения испытаний и испытательные схемы приве­дены в табл. 2. Проводимые испытания устанавливаются в част­ных технических условиях.

  1. Критерии отказов и параметры-критерии годности при приемо-сдаточных испытаниях

Параметры-критерии годности, их критерии отказов и условия измерений приведены в табл. I.

Примечание. Параметры следует измерять в той последовательности, в которой они приводятся в табл. 1, так как изменения параметров, выз­ванные определенным механизмом отказов, могут быть полностью или частич­но скрыты из-за воздействия других измерений.

Таблица 1

Параметры-критерии годности при приемо-сдаточных испытаниях,
проводимых после испытаний на срок службы

Параметре-критерии
годности


Критерии отказов
(примечание)


Условия измерений



1r Z>2-USL При верхнем значении Vr (Vr=

= Vrrm) и наивысшей температуре, за­данных для Ir

Vf При верхнем значении Л-, заданном

для VF

' Примечание. (—) (JSL оговоренное верхнее предельное значение.

  1. Параметры-критерии годности и крите­рии отказов при ис п ытайи я х на надежность

На рассмотрении.

  1. Процедура, которой следуют в случае ошибки во время испытаний

Если отказ прибора произошел в результате ошибки во вре­мя испытания (неисправности испытательного или измерительно­го оборудования или ошибки оператора), то он должен быть за­регистрирован в протоколе испытания с указанием причины от­каза.Таблица 2


Условия проведения испытаний на срок службы


Температура


Пояснения


Условия испытания


Наименование

испытания


Долго­вечность (при актив­ной наг­рузке)


Долго­вечность (при ем­костной нагрузке)


Обратное смещение по пере­менному току при высо­кой темпе­ратуре


Ток


Напряжение


Испытательная схема


(См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, тре­тий, п. 2.1.5)

Эквива­лентен предель­но допус­тимому значению среднего прямого тока при емкостно л нагрузке


Синусоидаль­ное напряжение на частоте 50 или 60 Гц.

Пиковое зна­чение равно 100 % Vhwm

Синусоидаль­ное напряжение па частоте 50 или 60 Гц.

Пиковое значе­ние равно 100 %


Синусоидаль­ное напряжение на-.частоте 50 или 60 Гц.'

Пиковое значе­ние равно 100 %


Наивысшая температура, при которой задает­ся V.RWM


(См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2.1.3)


(См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2.1.3)


Rl нагрузочный ре­зистор*


' Cl должен иметь наи­большее значение ем­кости, заданное в ТУ;

Rs токоограничи­вающий резистор, соп­ротивление которого должно быть задано в соответствующих ТУ*;

Rl нагрузочный ре­зистор

Rs токоограничи­вающий резистор*;

D блокирующий диод


ГОСТ 29209—91 С. 39
















































































Условия испытания


Продолжение табл. 2


Наименование
испытания


Напряжение


Температура


Испытательная схема


Пояснения


t case = 25 °С


Rl сопротивление


этого резистора долж­


Термо­цикличе­ское испы­тание


If (ПО- лусинусо- идальной


}юрмы


частотой 50 или 60 Тц) должен быть до­статочен для нагре­вания до /ип**


Зависит от

If и Rl


* Может быть также ** См. гл. IV, п. 4.


использована


схема так называемой «фиктивной мощности».


но
но


быть
равно


приблизитель-


пін


ективно-


му сопротивлению ис­


пытуемого диода


С. 40 ГОСТ 29209—91
























































ИНФОРМАЦИОННЫЕ


АННЫЕ








  1. ВНЕСЕН Министерством электронной промышленности СССР

  2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Ко­

митета стандартизации и метрологии СССР от 26.12,91 № 2128

Настоящий стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 747—2—83 «Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2.

Выпрямительные диоды» и полностью ему соответствует

  1. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕН­ТЫ

Г

МЭК 747—1—83

Обозначение международного стандарта

лава, раздел, пункт, в котором
приведена ссылка

Гл. I, п. 1;

гл. II, п. 3.1, 3.2, 3.2.1, 3.2.2; гл. III, л. 9; гл. V, разд, первый, п. I; табл.

2

1

3

3

3

<

4

4

7

10

10

10 и

13

13

14

14

17

17

17

18

18

27

31

39

40

40

40

40

43

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА I. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ

  1. Введение

  2. Область применения

ГЛАВА II. ТЕРМИНОЛОГИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ .

  1. Общие положения

  2. Термины, относящиеся к предельно допустимым значениям пара­метров и характеристикам

  3. Буквенные обозначения .

ГЛАВА III. ОСНОВНЫЕ ПРЕДЕЛЬНО ДОПУСТИМЫЕ ЗНАЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ И ХАРАКТЕРИСТИКИ .

  1. Общие сведения .

  2. Условия для предельно допустимых значений параметров

  3. Предельно допустимые значения напряжения и тока

  4. Предельно допустимые значения частоты

  5. Предельно допустимые значения рассеиваемой мощности

  6. Предельно допустимые значения температуры ....

  7. Электрические характеристики . . . .

  8. Тепловые характеристики

  9. Механические характеристики и другие данные ....

  10. Данные по применению

ГЛАВА IV. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

  1. Электрические характеристики

  2. Тепловые измерения .........

  3. Проверка предельно допустимых значений параметров .

  4. Термоциклическое испытание . . .

ГЛАВА V. ПРИЕМКА И НАДЕЖНОСТЬ

РАЗДЕЛ ПЕРВЫЙ. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ НА СРОК СЛУЖБЫ

  1. Общие требования

  2. Специальные требования . . . . . . . .

Информационные данные

Редактор В. /7. Огурцов
Технический редактор О. И. Никитина
Корректор Н. Д. Чехотина.

Сдано в наб. 10.02.92. Подп. в печ. 22.06.92. Усл. йеч. л. 2,75. Усл. кр.-отт. 3,0. Уч.-изд. лі. 2,70
Тир. 787 экз.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, ГСП, Новопресненский пер., 3.

Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 463

1 Для отдельных типов диодов разрешается выбирать иное значение уров­ня1 отсчета.