В случае необходимости, подсоединяется источник постоянного напряжения G2.
Источник переменного обратного напряжения G и резистор /?2 регулируются или предварительно настраиваются таким образом, чтобы получить заданное значение рассеиваемой мощности путем установки значений Vbr(rm) и I(br)rm (см. п. 3.1 примечание).
Выключатель Si замыкается, чтобы разрядить конденсатор С через первичную обмотку трансформатора 77. Конденсатор С регулируется до получения заданной длительности импульса tw. Выключатель Si замыкается, с тем чтобы получить единичный импульс с целью проверки МОЩНОСТИ Prsm или ряд повторяющихся импульсов для проверки МОЩНОСТИ Prrm.
Обратная рассеиваемая мощность вычисляется из показаний измерительных приборов и М2; для вычисления средней обратной рассеиваемой мощности необходимо учитывать длительность импульса и частоту повторения.
Метод С
Схема измерения
Схема для проверки предельно допустимого
значения обратной рассеиваемой мощности
лавинных выпрямительных диодов и
выпрямительных диодов с управляемым
лавинным пробоем (метод с использованием
обратного тока с прямоугольной формой волны).
D — .испытуемый диод; Gi - регулируемый генератор импульсов с формой волны, близкой к прямоугольной, как показано на черт. 27; R^ — токоограничиваюший ие- зистор; Ri —- переменный резистор для регулировки обратного тока; Ri — безындуктивный резистор для измерения тока; Л1] — прибор для измерения импульсного напряжения лавинного пробоя (например, осциллограф); Mi ~~ прибор для измерения импульсного обратного тока (например, осциллограф)
Примечание. Вместо ЛІ] и М2 может быть использован один прибор (например, двухлучевой осциллограф).
В случае необходимости:
Р] — блокирующий диод с быстрым восстановлением; V — вольтметр постоянного тока; /?4 — токоограничивающий резистор; G2— источник постоян-
яого напряжения.
Форма волны
— средняя длительность
импульса; tr... 0,2 tw;
tf ... 0,2 tw
Черт. 27
Методика испытания
В случае необходимости, подсоединяется источник постоянного напряжения О2.
Генератор импульсов Gi регулируется до получения заданной длительности импульса tw, числа импульсов и частоты повторения.
Амплитуда импульса регулируется до получения заданного значения.
Обратная рассеиваемая мощность вычисляется из показаний измерительных приборов и Л42; для определения средней обратной рассеиваемой мощности необходимо знать длительность импульса и частоту повторения.
Заданные условия (для методов А, В и С)
Импульсная (неповторяющаяся) обратная рассеиваемая мощность, повторяющаяся импульсная обратная рассеиваемая мощность или средняя обратная рассеиваемая мощность.
Длительность импульса tw.
Число импульсов и частота повторения.
Температура окружающей среды, корпуса или в контрольной точке испытуемого прибора.
Постоянное обратное напряжение, при необходимости.
Примечание. Если разброс напряжения лавинного пробоя велик, то регулировка амплитуды импульса обратного напряжения может быть затруднительна. Как правило, общее полное сопротивление настолько велико, что при измерениях, проводимых на различных приборах, имеет место сущест- 3
8
венное различие в обратной рассеиваемой мощности. Значение импульсного напряжения схемы в режиме холостого хода удобно устанавливать в завися* мости от суммы минимального и максимального значений напряжения лавин*
н
/?2> может
схемы, включающей /?і и
ого пробоя. Общее сопротивление быть вычислено по формулеV(BR)RM ' ^(^)^mln обратная мощность
4. Термоциклическое испытание
Цель
Определение в результате испытания на срок службы способности определенного типа диодов выдерживать колебания температуры перехода.
Испытательная схема и форма испытательного сигнала
t
D — испытуемый диод
Черт. 28
Методика испытания %
Диод следует нагревать заданным током, величину которого предпочтительно выбирать близкой к значению максимального среднего прямого тока до тех пор, пока не будет достигнута температура перехода, лежащая в диапазоне между эффективной температурой перехода и — 20 °С.
Примечание. При испытании приборов, включенных последовательно, температура может находиться между t(vj) и t(Vj) — 30 °С.
Затем выключатель размыкается и диод охлаждается до эффективной температуры перехода, не превышающей 40 °G
Время нагрева не должно превышать 6 мин, а время охлаждения — 8 мин.
Испытание проводится в течение "Заданного числа циклов.
Параметры, на которые может повлиять испытание, следует измерять до и после испытания.Глава V. ПРИЕМКА И НАДЕЖНОСТЬ
РАЗДЕЛ ПЕРВЫЙ. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ
НА СРОК СЛУЖБЫ
Общие требования
См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2, имеющий аналогичное название.
Специальные требования
Перечень испытаний на срок службы
Для выпрямительных диодов перечень испытаний на срок службы приводится в табл. 2.
Условия проведения испытаний на срок службы
Условия проведения испытаний и испытательные схемы приведены в табл. 2. Проводимые испытания устанавливаются в частных технических условиях.
Критерии отказов и параметры-критерии годности при приемо-сдаточных испытаниях
Параметры-критерии годности, их критерии отказов и условия измерений приведены в табл. I.
Примечание. Параметры следует измерять в той последовательности, в которой они приводятся в табл. 1, так как изменения параметров, вызванные определенным механизмом отказов, могут быть полностью или частично скрыты из-за воздействия других измерений.
Таблица 1
Параметры-критерии годности при приемо-сдаточных испытаниях,
проводимых после испытаний на срок службы
Параметре-критерии
годности
Критерии отказов
(примечание)
Условия измерений
1r Z>2-USL При верхнем значении Vr (Vr=
= Vrrm) и наивысшей температуре, заданных для Ir
Vf При верхнем значении Л-, заданном
для VF
' Примечание. (—) (JSL — оговоренное верхнее предельное значение.
Параметры-критерии годности и критерии отказов при ис п ытайи я х на надежность
На рассмотрении.
Процедура, которой следуют в случае ошибки во время испытаний
Если отказ прибора произошел в результате ошибки во время испытания (неисправности испытательного или измерительного оборудования или ошибки оператора), то он должен быть зарегистрирован в протоколе испытания с указанием причины отказа.Таблица 2
Условия проведения испытаний на срок службы
Температура
Пояснения
Условия испытания
Наименование
испытания
Долговечность (при активной нагрузке)
Долговечность (при емкостной нагрузке)
Обратное смещение по переменному току при высокой температуре
Ток
Напряжение
Испытательная схема
(См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2.1.5)
Эквивалентен предельно допустимому значению среднего прямого тока при емкостно л нагрузке
Синусоидальное напряжение на частоте 50 или 60 Гц.
Пиковое значение равно 100 % Vhwm
Синусоидальное напряжение па частоте 50 или 60 Гц.
Пиковое значение равно 100 %
Синусоидальное напряжение на-.частоте 50 или 60 Гц.'
Пиковое значение равно 100 %
Наивысшая температура, при которой задается V.RWM
(См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2.1.3)
(См. МЭК 747—1, гл. VIII, разд, третий, п. 2.1.3)
Rl — нагрузочный резистор*
' Cl должен иметь наибольшее значение емкости, заданное в ТУ;
Rs — токоограничивающий резистор, сопротивление которого должно быть задано в соответствующих ТУ*;
Rl — нагрузочный резистор
Rs — токоограничивающий резистор*;
D — блокирующий диод
ГОСТ 29209—91 С. 39
Условия испытания
Продолжение табл. 2
Наименование
испытания
Напряжение
Температура
Испытательная схема
Пояснения
t case = 25 °С
Rl — сопротивление
этого резистора долж
Термоциклическое испытание
If (ПО- лусинусо- идальной
}юрмы
частотой 50 или 60 Тц) должен быть достаточен для нагревания до /ип**
Зависит от
If и Rl
* Может быть также ** См. гл. IV, п. 4.
использована
схема так называемой «фиктивной мощности».
но
но
быть
равно
приблизитель-
пін
ективно-
му сопротивлению ис
пытуемого диода
С. 40 ГОСТ 29209—91
ИНФОРМАЦИОННЫЕ
АННЫЕ
ВНЕСЕН Министерством электронной промышленности СССР
УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Ко
митета стандартизации и метрологии СССР от 26.12,91 № 2128
Настоящий стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 747—2—83 «Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2.
Выпрямительные диоды» и полностью ему соответствует
ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
Г
МЭК 747—1—83
Обозначение международного стандарта
лава, раздел, пункт, в которомГл. I, п. 1;
гл. II, п. 3.1, 3.2, 3.2.1, 3.2.2; гл. III, л. 9; гл. V, разд, первый, п. I; табл.
2
1
3
3
3
<
4
4
7
10
10
10 и
13
13
14
14
17
17
17
18
18
27
31
39
40
40
40
40
43
СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА I. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ
Введение
Область применения
ГЛАВА II. ТЕРМИНОЛОГИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ .
Общие положения
Термины, относящиеся к предельно допустимым значениям параметров и характеристикам
Буквенные обозначения .
ГЛАВА III. ОСНОВНЫЕ ПРЕДЕЛЬНО ДОПУСТИМЫЕ ЗНАЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ И ХАРАКТЕРИСТИКИ .
Общие сведения .
Условия для предельно допустимых значений параметров
Предельно допустимые значения напряжения и тока
Предельно допустимые значения частоты
Предельно допустимые значения рассеиваемой мощности
Предельно допустимые значения температуры ....
Электрические характеристики . . . .
Тепловые характеристики
Механические характеристики и другие данные ....
Данные по применению
ГЛАВА IV. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ
Электрические характеристики
Тепловые измерения .........
Проверка предельно допустимых значений параметров .
Термоциклическое испытание . . .
ГЛАВА V. ПРИЕМКА И НАДЕЖНОСТЬ
РАЗДЕЛ ПЕРВЫЙ. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ НА СРОК СЛУЖБЫ
Общие требования
Специальные требования . . . . . . . .
Информационные данные
Редактор В. /7. Огурцов
Технический редактор О. И. Никитина
Корректор Н. Д. Чехотина.
Сдано в наб. 10.02.92. Подп. в печ. 22.06.92. Усл. йеч. л. 2,75. Усл. кр.-отт. 3,0. Уч.-изд. лі. 2,70
Тир. 787 экз.
Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, ГСП, Новопресненский пер., 3.
Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 463
1 Для отдельных типов диодов разрешается выбирать иное значение уровня1 отсчета.