ГОСТ 20281-74. Микромодули этажерочной конструкции. Методы измерения электрических параметров (72897)

* Переиздание (май 1994 г.) с Изменением № 1, утвержденным в сентябре 1990 г. (ИУС 12—90)Измерительные установки должны обеспечивать электри­ческие режимы и погрешности измерения параметров микромо­дулей, установленные в стандартах на микромодули конкретных типов ¹.

В автоматизированных и полуавтоматизированных уста­новках допускается для контроля параметров применение изме­рительных приборов с отсчетом по принципу «годен — негоден».

Измерительные установки должны предусматривать за­щиту микромодулей от воздействия статического электричества и возникновения паразитной генерации.

Количество однотипных измерительных приборов, указан­ных в структурных схемах настоящего стандарта, может быть изменено путем соответствующей коммутации, при этом погреш­ность измерения или контроля параметров должна находиться в пределах, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов.

В целях автоматизации измерений в качестве переключа­ющих устройств могут применяться любые коммутирующие эле­менты, обеспечивающие измерение с погрешностью, не превыша­ющей значений, указанных в стандартах на микромодули конк­ретных типов.

Сопротивления нагрузки, указанные в структурных схе­мах, могут быть активными, реактивными и комплексными: конк­ретные значения их устанавливают в стандартах на микромоду­ли конкретных типов.

Если в настоящем стандарте приведено несколько мето­дов измерения данного параметра, то при выборе метода следует руководствоваться указаниями о точности и области применения каждого метода, а также соображениями удобства компоновки •общей схемы измерительной установки на основе приводимых в стандарте структурных схем измерения отдельных параметров.

Для измерения параметров микромодулей конкретных ти­пов структурные схемы, приведенные в настоящем стандарте, до­полняют необходимыми элементами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов. При этом разделительные кон­денсаторы во входной (С1) и выходной (С2) цепях применяют в случае, когда вход и выход микромодуля не должны иметь галь­ванического соединения с общим выводом.

Подготовка к измерению и проведение измерений

1. Подготавливают установку для измерения в соответст­вии со схемой черт. 1 и устанавливают режимы работы испытыва­емого микромодуля в соответствии СП. 1.13.

2. Амплитуду прямоугольного импульса измеряют по изо­бражению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напря­жение между начальным уровнем (установившееся значение по­тенциала в отсутствии импульса) и уровнем, проходящим через точку пересечения продолжения плоской вершины импульса с его •фронтом (точка А на черт. 2).

Метод 1805. Измерение средней амплитуды прямоугольного (/_Ср

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

   1. Среднюю амплитуду прямоугольного импульса изме­ряют по изображению выходного импульса на экране осциллогра­фа (черт. 2) как напряжение между начальным уровнем и уров­нем, проходящим через точку плоской вершины, соответствующую середине длительности импульса (точка В на черт. 2).

Метод 1810. Измерение выброса фронта пря­моугольного импульса (Уві

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

   1. Выброс фронта прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как на­пряжение между уровнем, проходящим через точку пересечения продолжения плоской вершины импульса с фронтом (точка А на черт. 2) и уровнем, проходящим через вершину выброса фронта импульса.

Метод 1815. Измерение выброса среза пря­моугольного импульса и_в2

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

   1. Выброс среза прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как на­пряжение между начальным уровнем и уровнем, проходящим через вершину выброса среза импульса.

Метод 1820. Измерение скола вершины пря­моугольного импульса — А (У

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

Метод 1825. Измерение минимальной ампли­туды запускающих импульсов—f/_3an. min

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

   1. На вход микромодуля подают импульсы, плавно увели­чивая их амплитуду от нуля. Наименьшее значение амплитуды импульсов на входе микромодуля, при котором на экране осцил­лографа, подключенного к выходу микромодуля, появится устой­чивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на мик­ромодули конкретных типов, будет являться минимальной ампли­тудой запускающих импульсов.

Метод 1830. Измерение максимальной ам­плитуды запускающих импульсов t/_3an. max.

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

   1. На входе микромодуля плавно увеличивают амплитуду запускающих импульсов от значения минимальной амплитуды. Наибольшее значение амплитуды импульсов на входе микромоду­ля, при котором на экране осциллографа, подключенного к выхо­ду микромодуля, наблюдается осциллограмма с искажением, не превышающим норм, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов, будет являться максимальной амплитудой за­пускающих импульсов.

Метод 1835. Проверка гарантируемой амп­литуды запускающих импульсов t/aan.r.

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.

2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

3. Проведение измерений

   1. При подаче на вход микромодуля наибольшего допу­стимого значения минимальной амплитуды запускающих импуль­сов, указываемого в стандартах на микромодули конкретных ти­пов, на экране осциллографа, подключенного к выходу микромо­дуля, должен наблюдаться устойчивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов.

Метод 1840. Проверка диапазона гаранти­руемых амплитуд запускающих импульсов Дш.г..

1. Аппаратура — по п. 2.1.1.Подготовка к измерениям — по 2.1.2.1.

2. Проведение измерений

   1. При подаче на вход микромодуля гарантируемой амп­литуды запускающих импульсов, указанной в стандартах на мик­ромодули конкретных типов, на экране осциллографа, подклю­ченного к выходу микромодуля, должен наблюдаться устойчивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на микромоду­ли конкретных типов.

   2. При подаче на вход микромодуля наименьшего допу­стимого значения максимальной амплитуды запускающих импуль­сов па экране осциллографа, подключенного к выходу микромо­дуля, должна наблюдаться осциллограмма с искажением, не пре­вышающим норм, указанных в стандартах на микромодули кон­кретных типов.

Метод 1845. Измерение допустимого уровня помехи без сигнала Г„ом

1. Аппаратура

   1. Измерение допустимого уровня помехи без сигнала производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 3.

Подготовка к измерению и проведение измерений

1. Подготавливают установку для измерения в соответ­ствии со схемой черт. 3.

Метод 1850. Измерение допустимого уровня помехи с сигналом £7_ПОм.с

1. Аппаратура — по п. 2.10.1.

2. Подготовка к измерению по — п. 2.10.2.1.

3. Проведение измерений

   1. На вход микромодуля одновременно с входным сиг­налом (в наихудшем сочетании) подают уровень помехи, плавно увеличивая его от нуля до наибольшего значения, при котором ис­кажение выходного сигнала не выходит за пределы допустимого значения, установленного в стандартах на микромодули конкрет­ных типов.

   2. Измеряют достигнутый наибольший уровень помехи на входе микромодуля, который является допустимым уровнем помехи с сигналом.

Метод 1855. Проверка гарантируемого уров­ня помехи без сигнала І7_пом.г

1. Аппаратура — по п. 2.10.1.

2. Подготовка к измерению — по п. 2.10.2.1.

3. Проведение измерений

   1. На вход микромодуля подают гарантируемый уровень помехи, указанный в стандартах на микромодули конкретных ти­пов, при этом схема микромодуля не должна запускаться или на ее выходе уровень помехи не должен выходить за пределы допу­стимого значения, указанного в стандартах на микромодули кон­кретных типов.

Метод 1860. Проверка гарантируемого УРОВНЯ ПОМеХИ С СИГНаЛОМ Unow.c.r

1. Аппаратура — по п. 2.10.1.

2. Подготовка к измерению — по п. 2.10.2.1.

3. Проведение измерений