МММ
IC *Э 92~0Ш 1Э0.1Продолжение 7абд. 3 мкм
|
Глохла отпсчатлл Л |
Размеры отпечатков |
Глубина отпечатке h |
Размеры отпСчітлов |
||||
|
d |
>г7 |
d |
|
||||
|
30.7 |
214.9 |
197.4 |
31.9 |
223.3 |
205.1 |
||
|
ЗОЛ |
215.6 |
198.0 |
32.0 |
224.0 |
205,8 |
||
|
30.9 |
216.3 |
198.7 |
32,1 |
224.7 |
206.4 |
||
|
31.0 |
2)7,0 |
199.3 |
32,2 |
225.4 |
207.0 |
||
|
31.1 |
217.7 |
200.0 |
323 |
226,1 |
207.7 |
||
|
31.2 |
218.4 |
200.6 |
32,4 |
226.8 |
2083 |
||
|
31.3 |
219.1 |
201,3 |
32,5 |
227.5 |
'209.0 |
||
|
31.4 |
219,8 |
201,9 |
32,6 |
228.2 |
209,6 |
||
|
31.5 |
220.5 |
202,5 |
32.7 |
228.9 |
2103 |
||
|
31,6 |
221.2 |
203.2 |
32.8 |
229,6 |
210.9 |
||
|
31.7 |
221.9 |
203.8 |
32.9 |
230.3 |
211.5 |
||
|
31.8 і |
222.6 |
204.5 |
33.0 |
231.0 |
2123 |
||
ПРИЛОЖЕНИЕ 4
Справочное
Минимальная толщина образца или изделия
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Академией наук СССР РАЗРАБОТЧИКИ:
Матвеевский Р. М., д-р техн, наук (руководитель темы); Беркович Е. С., канд. техн, наук; Рыньков Р. Н., канд. техн, наук
УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 1)9.01.76 г. № 68
Срок проверки — 1996 г.;
периодичность проверки — 5 лет
ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕН-
Обознкенке НТД. N3 который
ДЗИА ClUAX*
Номер петита. кохпуилта. перечвелелкя. придал см ня
Г
4.1
Приложение 2 3.1; 3.2; 34; 3.6
ОСТ 2789-73ГОСТ 9377—81
ТУ 3-3 1377—33
Проверен в 1991 г. Постановлением Госстандарта № 1665 от 29.10.91 снято ограничение срока действия
ПЕРЕИЗДАНИЕ (март 1993 г.) с Изменениями № 1, 2, утвержденными в сентябре 1981 г., октябре 1991 г. (ИУС 11—81, 1—92
)Редактор А. В. Цыганкова
Технический редактор В. Н. Малькова
Корректор О. Я. Чернецова
Сдааю в япб. OSO4S3. Полл, к net. 06.07.91 Усл. п. Л. 2.IU. Уся. кр. отт. 2.10.
Уч изд .1. 2.07 Тираж 776 эю. С 331.
Ордами «Знак Почата» Издательство стандартов. 107076. Москва. КололезимЛ пер.. 14.
Калужская типография стандартов, ул. Московская. 2Ь6. Зак. 827соответственно HV, и с указанием нагрузки
в кге и продолжительности ее приложения. Для микротвердости HV продолжительность приложения нагрузки не указывают, если она в пределах 10—15 с.
Примеры условных обозначений
Микротвердость, определенная четырехгранной пирамидой
с квадратным основанием при нагрузке 0,098 Н, приложенной в течение 15 с: HV 0,01.
Мнкротверность, определенная четырехгранной пирамидой с квадратным основанием при нагрузке 0.98 Н, приложенной в течение 30 с: HV 01/30.
Микротвердость, определенная трехгранной пирамидой с основанием в виде равностороннего треугольника при нагрузке
0,0491 Н, приложенной в течение 5 с: 0,005/5.
Мнкротвердость. определенная четырехгранной пирамидой с ромбическим основанием при нагрузке 0,098 Н, приложенной в
течение 10 с: 0,01/10.
ИСПЫТАНИЕ ПО МЕТОДУ НЕВОССТАНОВЛЕННОГО ОТПЕЧАТКА
Определение микротвердости вдавливанием по методу невосстановленного отпечатка заключается в нанесении на испытуемую поверхность изделия (образца) отпечатка под действием статической нагрузки, приложенной к алмазному наконечнику в течение определенного времени, с одновременным измерением глубины отпечатка. Число мнкротвердосги следует определять по формулам (5) —(8). -
Испытания по методу невосстановленного отпечатка следует проводить, когда требуются дополнительные характеристики материала (упругое восстановление, релаксация, ползучесть при нормальной температуре).
При испытании применяют алмазные наконечники с формой рабочей части, указанной в таблице.
Число микротвердости определяют делением приложенной к алмазному наконечнику нормальной нагрузки на условную площадь боковой поверхности отпечатка, соответствующую его измеренной глубине.
Для четырехгранной пирамиды с квадратным основанием число мнкротвердостн (HVh) вычисляют.по формуле
HVh=^- 0,00386 ~i> (5)
. 5 "о ■
если F выражена в ньютонах
(^yh=4=°-°3mТ? ’
О fl
о
если F выражена в килограмм-силах).
Для трехгранной пирамиды с основанием в виде равностороннего треугольника число мнкротвердостн (^<7/1) вычисляют по формуле
4’ 161
если F выражена в ньютонах
(Mv..,= I=«W797 Д'
если F выражена в килограмм-силах).
Для четырехгранной пирамиды с ромбическим основанием число мнкротвердостн (^Oh) вычисляют по формуле
если F выражена в ньютонах;
/м =4 = ^^ГЛ55~7л>
к 0Л5
если F выражена в килограмм-силах).Для бицилиндрического наконечника число микротвердо
сти ВЫЧИСЛЯЮТ по формуле
если F выражается в ньютонах;
("®л=ф ’
если F выражена в килограмм-силах).
В формулах (5) —(8) приняты следующие обозначения:
F— термальная нагрузка, приложенная к алмазному наконечнику, II (кге);
—условная площадь боковой поверхности полученного отпечатка, мм12;
ft —глубина отпечатка, мм.
Формулы (5), (6). (7) и (8) получены из соотношений между размерами d или I и высотой h жестких геометрических тел форм рабочей части алмазных наконечников (см. таблицу):
<fzJztg±ho«7,00ho; l^ltga ■ h*
l
Начмшовмно ашімых
макопсчннков
^Ztg^W.SI^ ; /ф=П
Форма оглечагг.09
Продолжение
Накчспозаяде длмамі<х
иашжсчнмкоа
Параметры аагх гр’.иия ал«вэиык
наконечнике*
Форма огпечаекоа
Трехгрампая пирамида с основанием в виде равностороннего треугольвюса
а = 65*. 0-77°,
а+р—142°
Четырехгранная пирамида £ ромбическим основанием
а—ПГЗО7;
0«13(Г
4. Бицнлмидрнчссккй наконечник
а-136°:
Я—2 мм — радиус цилиндра
Микротвердостъ, определенная по пп. 2.5—2 8, обознача- ется соответственно . Hvh > и с указанием нагрузки в кге и продолжительности ее приложения.
Примеры условных обозначений
Микротвердостъ, определенная по высоте невосстановленного отпечатка четырехгранной пирамидой с квадратным основанием при нагрузке 0,098 Н, приложенной в течение 15 c:HVh 0,01/15.
Микротвердость, определенная по высоте невосстановленного отпечатка бицилиндрическим наконечником при нагрузке
0,0491 Н, приложенной в течение 5 с: .
АППАРАТУРА
1 Для измерения микротвердости алмазными наконечниками применяют приборы по ТУ 3—3.1377—83.
2. Приборы комплектуют алмазными наконечниками в соответствии с требованиями, установленными в ТУ 3—3.1377—83.
В процессе испытаний прибор для измерения микротвер- достн должен обеспечивать соблюдения следующих условий:
плавное внедрение алмазного наконечника в испытуемый материал под действием приложенной к нему нормальной нагрузки F;
сохранение постоянства действия приложенной к алмазному наконечнику нагрузки в течение установленного времени;
допускаемые погрешности нагружения не должны превышать: для нагрузок 0,1 Н и менее —2% от номинального значения; для нагрузок более 0,1 Н — 1 % от номинального значения.
Прибор должен быть защищен от воздействия возможных вибраний, передаваемых через стены, пол зданий или через стол, на котором установлен прибор, амортизирующим устройством, предусмотренным в ТУ 3—3.1377—83.
Проверка приборов перед испытанием — по ТУ 3— -3.1377-83.
Прибор должен быть снабжен микроскопом для отсчета отпечатков Калибровочный коэффициент микроскопа должен быть установлен так, чтобы погрешность не превышала ±0,5% измеряемого значения.
Минимальное увеличение микроскопа должно быть:
200х —для отпечатков свыше 25 мкм;
300х — для отпечатков от 76 до 125 мкм;
400х—для отпечатков менее 76 мкм.
Примечание. Для измерения отпечатка при увеличении 200* применяют объектив с апертурой не менее 0.4.
ПОДГОТОВКА К ИСПЫТАНИЮ
Поверхность испытуемого изделия (образна) должна быть свободной от загрязнения на участке нанесения отпечатка. Шероховатость испытуемой поверхности изделия (образна) не должна быть грубее Ra = 0.32 мкм. определяемой по ГОСТ 2789—73.
При подготовке поверхности испытуемого изделия (образца) необходимо принять меры предосторожности, учитывая возможное изменение твердости испытуемой поверхности вследствие нагрева или наклепа при механической обработке.
Испытуемое изделие (образец) должно быть установлено на предметном столике прибора так. чтобы в процессе испытания оно не смещалось, не прогибалось н не поворачивалось.
Поверхность изделия (образна), подлежащая испытанию, должна быть установлена перпендикулярно к осн алмазного наконечника.
Рабочая поверхность алмазного наконечника и поверхность исйытуемого изделия должны быть сухими (без смазки).
ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЯ
При испытании материала изделия (образна) на микротвердость вдавливанием применяют нагрузки 0.049(0,005); 0,0981 (0,01); 0,1962(0,02); 0.4905(0.05): 0.981(0,1); 1.962(0.2) или 0.0491(0,005); 0.0981(0,01); 0.1962(0.02); 0.4905(0,05); 0.981(0.1); 1.962(0.2); 4.905(0.5) Н (кгс).
При определении микротвердости металлов четырехгранной пирамидой с квадратным основанием допускается применять нагрузки 0.0098(0,001); 0.0196(0,002) и 2,943(0.3) Н (кгс).
(Исключен, Изм. № 2).
Для получения наиболее точного результата измерения мнкрогвердости нагрузка F должна быть возможно большей.
На стороне изделия (образца), противоположной испытуемой, после нанесения отпечатка не должно быть следов деформации материала, заметных невооруженным глазом
При измерении микротвердости покрытий из однородного материала (гальванических, диффузионных, цементованных и др.) на металле или на других материалах нагрузка F должна быть тем меньше, чем тоньше слой покрытия. Если толщина испытуемого слоя неизвестна, то рекомендуется провести несколько измерений при различных нагрузках: 0.098; 0,196: 0.490; 0.981 Н и т. д.
1 Четырехгранная
пирамида с кваарэі-
2ным основанием
