ВІДНОШЕННЯ ДО МОДЕЛІ МАТРИЦІ GPS
Детальніше відносно моделі матриці GPS див. ISO/TR 14638
С.1 Інформація про стандарт ISO 12085 та його використання
Цей стандарт установлює параметри шорсткості і хвилястості, які доповнюють параметри профільного методу, встановленого в ISO 4287. їх можна використовувати, коли виступи на поверхні значні для функції поверхні.
Примітка 5. Перехід від параметрів профільного методу до параметрів структурних елементів і навпаки, взагалі, не можливий.
С.2 Позиція в моделі матриці GPS.
ISO 12085 є загальний стандарт GPS, який впливає на ланки 2, З і 4 із низки стандартів шорсткості і хвилястості профілю в загальній GPS, як графічно показано на рисунку С.1.
Загальні стандарти GPS
Базові стандарти GPS
|
Головна матриця GPS |
|
|
|
|
||
|
Номер ланок низки |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
|
Розмір |
|
|
|
|
|
|
|
Відстань |
|
|
|
|
|
|
|
Радіус |
|
|
|
|
|
|
|
Кут |
|
|
|
|
|
|
|
Форма лінії незалежної від бази |
|
|
|
|
|
|
|
Форма лінії залежної від бази |
|
|
|
|
|
|
|
Форма поверхні незалежної від бази |
|
|
|
|
|
|
|
Форма поверхні залежної від бази |
|
|
|
|
|
|
|
Орієнтація |
|
|
|
|
|
|
|
Розташування |
|
|
|
|
|
|
|
Радіальне биття |
|
|
|
|
|
|
|
Повне биття |
|
|
|
|
|
|
|
Бази |
|
|
|
|
|
|
|
Шорсткість профілю |
|
|
|
|
|
|
|
Хвилястість профілю |
|
|
|
|
|
|
|
Основний профіль |
|
|
|
|
|
|
|
Дефекти поверхні |
|
|
|
|
|
|
|
Грані |
|
|
|
|
|
|
Рисунок С.1
С.З Взаємозв’язані міжнародні стандарти
Взаємозв’язані міжнародні стандарти є ті стандарти, що їх вказано на рисунку С.1.
ДОДАТОК D
(довідковий)
БІБЛІОГРАФІЯ
ISO 13565-1:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Surfaces having stratified functional properties — Part 1: Filtering and general measurement conditions
ISO 13565-2:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture; Profile method — Surfaces having stratified functional properties — Part 2: Height characterization using the linear material ratio curve
ISO/TR 14638:1995 Geometrical Product Specification (GPS) — Masterplan
VIM — International vocabulary of basic and general terms in metrology. BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML, 2nd edition, 1993
17.040.20
Ключові слова: стан поверхні, поверхнева хвилястість, шорсткість, вимірювання шорсткості, профілі, ідентифікаційні методи.
Редактор Ю. Холявко
Технічний редактор О. Касіч
Коректор С. Мельниченко
Комп'ютерна верстка І. Барков
Підписано до друку 28.10.2002. Формат 60 х 84 1/8.
Ум. друк. арк. 2,32. Зам. ZB93 Ціна договірна.
Редакційно-видавничий відділ УкрНДІССІ
03150, Київ-150, вул. Горького, 174
