---

випромінюються об'єк- мыми объектом при нагре-

том при нагріванні ве

4.2.7 зображення у фото- de Fotoeleltronenbild

електронах en photoimage

fr image en photo-[e2]lectrons*

ru изображение в фотоэлек-

тронах

Зображення, сформова- Изображение, сформиро-

не в емісійному елек- ванное в эмиссионном элек-

тронному мікроскопi тронном микроскопе фото-

фотоелектронами, що электронами, испускаемы-

випромінюються об'єк- ми обьектом под действием

том під дією оптичного оптического излучения

випромінювання

4.2.8 електронно-оптичнi de Elektronenoptische Aberra-

аберації tionen

еn electron-optical abbera-

tions

fr ahbcrations [e2]lectrono- *

optiques

ru электронно-оптические

аберрации

Викривлення електрон- Искажения электронно-оп-

но-оптичних зображень тических изображений

- 8 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

4.3 МЕТОДИ ДОСЛІДЖЕНЬ У ПРОСВІЧУВАЛЬНІЙ

ЕЛЕКТРОННІЙ МІКРОСКОПІЇ

4.3.1 метод електронної de Elektronenmikroskoppiever

мікроскопії fahren

еn method оf еleсtron micros-

copy

fr m[e2]thode dе microscopie

[e2]lectronique

ru метод электронной мик-

роскопии

Метод досліджень мате- Метод исследований мате-

ріалів за допомогою елек- риалов с помощью элек-

тронних мiкроскопів тронных микроскопов

4.3.2 прямі методи до- de Direkte Forschungsme-

сліжень thoden

en direct methods оf ana-

lysis

fr m[e2]thodes d'[e2]tude *

directes

ru прямые методы исследований

Методи вивчення об'є- Методы изучения обЬекта в

кта у виглядi дрiбних час- виде мелких частиц или уль-

тинок або ультратонких тратонких срезов

зрізів

4.3.3 невпрямі методи до- de Indirekte Forschungsme

сліджень thoden

en indirect niethods of analy-

sis

fr methodes d'[e2]tude indi- *

rectes

ru косвенные методы исследо-

ваний

Методи вивчення відбит- Методы изучения отпечат-

ків об'єкта у вигляді ков обЬекта в виде реплик

реплік

4.3.4 спеціальні методи dn Sonderforschungsmethoden

досліджень en special methods оf analy-

sis

fr m[e2]thodes d'[e2]tude *

sp[2]eciales *

ru специальные методы иссле-

дований

Методи вивчення об'єк- Методы изучения обЬекта,

та що базуються на спе- основанные на специальных

цiaльних способах впли- способах воздействия на

ву на нього него

- 9 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

4.3.4 Прямі методи до-

сліджень

4.3.4.1 свiтлофоновий метод de Sonderforschungmethode

досліджень cn bright-field analysis

method

fr m[e2]thode d'[e2]tude de

champ claire

ru светлопольный метод ис-

следований

Метод вивчення об'єкта Метод изучения обЬекта в

у прохідному пучку елек- проходящем пучке электро-

тронів, визначення роз- нов, определения размеров

мірів і форми мікрочас- и формы микрочастиц и суб-

тинок і субмікрокрис- микрокристаллов

талів

4.3.4.2 метод Муара dу Moiremethode

еn Moire's method

fr m[e2]thode de Moire

ru метод Муара

Метод визначення між- Метод определения меж-

площинних відстаней поскостных расстояний

крисалічних граток і кристаллических решеток и

наявності в них дис- наличия в них дислокаций.

локацій. Для криста- Для кристаллических реше-

лічних граток з міжпло- ток с межплоскостным рас-

щинною вiдстанню, мен- стоянием менее 0 2 нм

шою від 0 2 нм

4.3.4.3 дислокації de Versetzung

en dislocations

fr dislocation

ru дислокации

Дефекти кристалічних Дефекты кристаллической

граток у вигляді ліній з решетки, представляющие

порушенням правильно- собой линии с нарушением

го чергування атомних правильного чередования

площин атомних плоскостей

4.3.4.4 темнофоновий метод de Dunkellichtforschungsver-

досліджень fahren

en dark-field analysis method

fr m[e2]thode d [e2]tude de *

champ sombre

ru темнопольный метод исследо-

ваний

Метод підвищення кон- Метод повышения контрас-

трасту при одержанні та изображения при получе-

зображення розсіяним нии его рассеянным пуч-

пучком електронів ком электронов

4.3.4.5 метод мікродифракції de Вeugungsyerfahren

en diffraction method

- 10 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

fг m[e2]thode de diffraction

ru метод микродифракции

Метод одержання диф- Метод получения дифракци-

ракційної картини діля- онной картины участков

нок об'єкта (діаметром обЬекта (диаметром 1-2

1-2 мкм) для ідентифі- мкм) для идентификации

кації кристалічних фаз, кристаллических фаз

визначення їх тонких определения их тонких

структурних особливос- структурных особенностей

тей

4.3.4.6 метод ультратонких dе D[u1]nnschnittverfahren *

зрізів еn method оf ultra fine cut-

offa

fr m[e2]thode dе сouрes *

ultraminces

ru метод ультратонких срезов

Метод безпосередніх до- Метод непосредственных СЛ

сліджень ультратонких исследований ультратонких

зрізів зразка (не біль- срезов оразца (не более

ше 2000 нм завтовшки , 2000 нм толщиной), получе-

одержаних на ультра- нных на ультрамикротоме

мікротомі

4.3.4.7 ультрамікротом dе Ultramikrotom

еn ultramicrotome

fr ultramicrotome

ru ультрамикротом

Прилад для одержання Прибор для получения тон-

тонких зрізів спеціа- ких срезов специально под-

льно підготовлених готовленых обЬектов (тол-

об єктів (завтовшки до щиной до 1000 нм) для эле-

1000 нm) для електрон- ктронной микроскпии

ної мікроскопії

4.3.5 Непрямі мето-

ди дослiджень

4.3.5.1 репліка de Transmissionsgitter

en replica

fr r[e2]pligue *

ru реплика

Копiя, злiпок з рельєфу Копия, слепок с рельефа

досліджуваного об'єкта исследуемого обЬекта

4.3.5.2 метод реплік de Transmissionsgitterver-

fahren

en method of replica

fr m[e2]thode de r[e2]pligues *

ru метод реплик

Метод дослiдження Метод исследования обЬекта

об'єкта в електронному в электронном микрос-

мiкроскопі за допомогою копе при помощи отпечат-

- 11 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

відбитків, зліпків з його ков, cлепков с его рельефа

рельєфу

4.3.5.3 одноступінчаста реплі- de Finstufentransmissionsgitter

ка en one stage replica

fr r[e2]plique mono[e2]ta- *

g[e2]e *

ru одноступенчатая реплика

Репліка яка знята без- Реплика снятая непосред-

посередньо з поверхні ственно с поверхности об-

зразка і одержана окис- разца и получаемая окисле-

ленням поверхні, або нием поверхности или на-

нанесенням шару пласти- несением слоя пластика или

ка чи напиленням мета- напылением металла на эту

лу на цю поверхню поверхность

4.3.5.4 двоступінчата репліка de Zweistufentransmissionsgi-

tter

en two-stage replica

fr r[e2]plique [a4] deux *

[e2]tages *

ru двухступенчатая реплика

Pепліка знята з контак- Реплика, снятая с контакт-

ного боку промiжного ной стороны промежуточного

вiдбитка отпечатка

4.3.5.5 репліка з екстракцією de Extraktionstransmissiosgit-

ter

еn replica with ехtraction

fr r[e2]plique avec extrac- *

tion

ru реплика с экстракцией

Репліка яка містить у Реплика, содержащая в себе

coбi вкраплення дослід- вкрапления исследуемого

жуваного матеріалу материала

4.3.5.6 псевдореплiка dе Pseudotransmissionsgitter

en pseudoreplica

fr pseudo-r[e2]plique *

ru псевдореплика

Репліка одержана відша- Реплика, получаемая путем

руванням тонкої плів- отслаивания тонкой плен-

ки досліджуваного мате- ки исследуемого материала

рiалу за допомогою на- с помощью нанесения рас-

несення розчину плас- твора пластика или пленки

тика або плівки металу металла

4.3.5.6 псевдореплiка dе Pseudotransmissionsgitter

en pseudoreplica

fr pseudo-r[e2]plique

ru псевдореплика

Репліка одержана відша- Реплика, получаемая путем

руванням тонкої плів- отслаивания тонкой плен-

- 12 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

ки досліджуваного мате- ки исследуемого материалла

рiалу за допомогою на- с помощью нанесения рас-

несення розчину плас- твора пластика или пленки

тика або плівки металу металла

4.3.5.7 метод збільшення dе Kontrastanhebungsverfahren

контрастності об'єкта en method of object contrast

range amplification

fr m[e2]thode d accentuation *

des соntrastes d'un objet

ru метод усиления контрас-

тности обЬекта

Метод відтінення по- Метод оттенения повер-

верхні об'єкта шаром ме- хности объекта слоем ме-

талу, напиленням його у талла, напылением его в

вакуумі на досліджуваний вакууме на поверхность обЬ-

об'єкт або репліку під екта или реплику под неко-

деяким кутом до по- рым углом к поверхности

верхнi

4.3.5.8 розпилювальна вакуум- de Vakuumbedampfungsanlage

на установка en vacuum spraying device

fr dispositif de pulv[e2]ri- *

sation [a4] vide *

ru распылительная вакуумная

установка

Спецiальна вакуумна ус- Специальный вакуумный

тановка для розпилюван- прибор для распыления при

ня при нагріванні у ва- нагревании в вакууме угле-

куумі вуглецю, кварцу, рода, кварца, различных

різних металів та інших металлов и др. веществ

речовин

4.3.6 Спеціальнi методи

дослiджень

4.3.6.1 панорамне знімання dе Рanoramaaufnahme

en раnoramic survеу

fr prise de vue panoramique

ru панорамная съемка

Метод виконання вели- Метод выполнения большо-

кої кількості знімків го числа снимков различ-

різних частин одного ных участков одного обьек-

об'єкта за постійних та при постоянных усло-

умов виях

4.3.6.2 стереомікроскопічний de Stereomikroskopverfahren

метод еn stereoscopie microscope

method

fr m[e2]thode st[e2]r[e2]o- *

microscopique

ru стереомикроскопический

метод

Метод визначення струк- Метод определения струк-

- 13 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

тури поверхні об'єкта, туры поверхности объекта,

розмірів і орієнтації фаз, размеров и ориентировки

характеру розміщення фаз, характера расположе-

кристалів шляхом одер- ния кристаллов путем полу-

жання стереоскопічних чения стереоскопических

знімкiв снимков

4.3.6.3 метод фазовоконтраст- de Phasenkontrastmikroskopi-

ної мікроскопії everfahren

en phase-contrast microscopy

fr m[e2]thode de microscopie *

dе соntraste dе phase

ru метод фазовоконтрастной

микроскопии

Метод підвищення конт- Метод повышения контрас-

расту окремих фаз об'є- та отдельных фаз обЬекта

кта шляхом напилення путем напыления слоя ме-

шару металу з великим талла с большим атомным

атомним номером або номером или введения в

введення в об єкт ме- объект металлов, дающих

талів, які дають інше иное рассеяние электронов,

розсіювання електронів, чем сама фаза

ніж сама фаза

4.3.6.4 метод іонного тривлен- dе Ionen[a1]tzungverfahren *

ня en ionic etching method

fr m[e2]thode d attaque *

ionique

ru метод ионного травления

Метод бомбардування у Метод бомбардировки в ва-

вакуумі полірованої по- кууме полированной повер-

верхні об'єкта позитив- хности образца положитель-

ними іонами ными ионами

4.3.6.5 метод декорування de Objektdekorierungsverfahren

об'єкта en ohject decorating method

fr m[e2]thode de d[e2]cora- *

tion d'un objet

ru метод декорирования объ-

екта

Метод дослідження Метод исследования обьек-

об'єкта шляхом напи- та путем напыления на его

лення на його поверхню поверхность вещества, об-

речовини, яка утворює разующего на активных

на активних делянках участках поверхности заро-

поверхні зародки крис- дыши кристаллов, что дела-

талів і робить ці діля- ет эти участки видимыми

нки видимими

4.3.6.6 метод охолодження de Objektk[u1]hlungsverfahren *

об'єкта еn object cooling methode

fr mithode dе refroidissement

d'un objet

ru метод охлаждения объекта

- 14 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

Метод дослідження охо- Метод исследования охлаж-

лоджених у камері об'єк- денных в камере обЬектов

тів препаратів, які руй- препаратов, разрушающих-

нуютъся під дією елек- ся под действием электрон-

тронного опромінення ного облучения (биологи-

(бiологічні, органічні ческие органические

4.3.6.7 метод нагрiвання de Objektw[a1]rnungsverfahren *

об'єкта en object heating method

fr m[e2]thode de chauffement

d'un objet

ru метод нагревания обьекта

Метод дослідження пе- Метод исследования превра-

ретворень об'єкта при щений в обЬекте при его

його нагріванні до зада- нагревании до заданной тем-

ної температури в камері пературы в камере обьектов

об'єктів електронного электронного микроскопа

мікроскопа

4.3.6.8 метод газової камери de Gaskammerverfahren

en method of gaz chamber

fr m[e2]thode de chambre [а1] *

gaz

ru метод газовой камеры

Метод дослідження пе- Метод исследования превра-

ретворень в об'єкті в ат- щений в обьекте в атмосфе-

мосфері газу, введеного в ре газа, введенного в камеру

камеру об'єктів елек- объектов электронного мик-

тронного мікроскопа роскопа

4.3.7 Методи растрової

електронної мiкро-

скопії

4.3.7.1 метод вторинних de Sekund[a1]relektronver- *

електронів fahren

en method оf secondary

electrons

fr m[e2]thode des [e2]lect- *

rons secondaires

ru метод вторичных электро-

нов

Метод дослідження Метод исследования обьек-

об'єкта у вторинних та во вторичных электронах

електронах

4.3.7.2 метод відбитих елек- de Refrexionselektronverfahren

тронів en method оf reflected

elecirons

fr m[e2]thode des [e2]lec- *

trons r[e2]fl[e2]chis *