•Тема 5. Техника безопасности при контроле просвечиванием
. Г. Способы регистрации излучения (14 часов) ■ * * » » .
Тема I. Радиографический, способ *
Регистрация излучения на рентгеновскую пленку. Рентгеновская пленка. Строение рентгеновской пленки. Подложка, подслой, змульси- онный и защитный слой. Односторонние и двусторонние рентгеновские пленки. Оптическая плотность. Измерение оптической плотности.
. " ■ OCT 92-ШІ-74 Стр. ІГ7
Денситометры я микрофотометры. Фотографическая вуаль,■ Характеристическая кривая. Чувствительность» Контрастность. Резкость и зернистость. Характеристика рентгеновских лдеиок типа РТ и РШ, используемых при лромыглвкной дефектоскопии. ФотосбргбЕтза ре нт г е- яовскмх планок. Фотографические химикаты. Хврсвтерисюа химикатов. Растворимость хииякйтов. С-стсгрзфическяо растворы. Рецепта растворов. Приготовление растворов. Фотохимические реакции. процесс прх> явления скрытого жзобрахекия. Бремй аронвленмя, Процесс фиксировавши Время фиксирования. Промывка * сувка снимков. Контроль за качеством проявителя и фиксажа. Осйбжа при фотообрз’ьтке. Хранение ревтгвяовской пленки.
Тема 2. Методика радиографического контроля'
• . ♦
Подустила изделия я контроль. Требование я чистота зпхвврх- жостй изделия ж влияние поверхностных дефектов на выязляемссть внутренних дефектов. Разметка изделия из контролируемые участии, маркировка участков. Разметна я ^аркиривва участков при ІОО^-яод контроле объекте. Выбор эталонов чувствительности. Установка Лоо- сет, маркировочных знаков и источников излучения.
Д. Катоды контроля прпсавчивавиев (18 часов)
' Тема I. Радиографический швед. -Основа просвечивания «атеркэлов
■ . J ' ■ .. < :■ ,'г
Принципиальная схема радиографичаского -метода. Рвдиаграфичес- кая чувствительность. Чувствительность в направлении просвечивания (контрастная чувствительность)-. Чувствительность в направлений^ перпендикулярном просвечивание, раЗреяагадая способность (гехшетри- '' ( * чаевая чувствительность). Чувствительность абсолютная и отнекжтелъ- ная. Эталоны чувствительности.'Квневочныа, проволочныа/епгциаль- ныа эталоны. Измерение чретпгэльнэстн. Факторы, згаиндаэ -на
ТСТТЖТГТБрПГГ'
Стр, I6S UCT 924611-74
чувствительность и рззрегасдую способность. "Жесткость* лучейї • Рассеяннее излучение. Обратная и боковые подсветки. Фокусное пятно.
, Фокусное расстояние. Материал и толщина контролируемого изделия.
Положение дефекта и его ориентация в изделии. Геометрическая нарез- кость. собственная нерезкость рентгеновской планки» зернистость изображения. Геометрическое увеличение. Способы зарядки кассет.
Усиливающие экраны и фольги. Строение усиливающих вира нов типа "Старт" ж УФД. Усиливающие фольги. Взаимодействие фольги о рентге- 4невской пленкой. Коэффициенты усиления фольги. Влияние усиливающих экранов и фольг на чувствительность. Пути повышения чувствительности.
Е. Практические работы (12 часов)
'А
П
і I І І
рактические работы с рентгеновскими аппаратами» гамма-дефектоскопами, дозиметрической и радиометрической аппаратурой. Подготовка изделия к просвечиванию. Разметка я нумерация участков. Просвечивание простых изделий несложной конфигурации по заданным параметрам источника излучения и заданной экспозиции. Зарядка кассет. Проявление и фиксирование рентгеновской пленки.ПРОГРАММА
обучения дефектоскопистов рентгене- х гаммаграфироэания
. 3-го разряда .
Аі. ибщме сведения по металл сведению (12 часов)
Teun I. Кристаллическое строение металлов. Металл. Класоифи- . нация металлов. Кристаллические реиетки металлов. Реальное строение металлических кристаллов. Анизотропия свойств кристаллов.
ГбСТ I ■ .
OCT 92-1611-74 Стр,’169
і
I ї
і к £
•ч *
|
; Пода, м дата | |
|
|
£ * £ к а: |
<5 |
|
(Взамен ида..1^ |
|
|
ь я ш X с S с |
|
|
! Иип, S подл. I |
$ «а |
Тема I. Технология литья
' Тема 2. Кристаллизация
Три состояния вещества. Энергетические условия процесса крис-* таллнзации. Механизм процесса кристаллизации. Форма кристаллических образований, строение слитка. Превращения в твердом состоянии. Аллотропия. *
Тема 3. Строение сплавов (основные понятия)
Механическая смесь. Химическое соединение. Упорядоченные твердые растворы.
Тема 4« Стаи и, ее строеиие
Стаи как сплав углерода и железа. Строение стального слитка. Стали углеродистые и легированные.
Тама 5. Термическая обработка
г Температура и время. Классификация видов термической обработки. Основные виды термической обработки стали. Свойства стали посла разных видов термической обработки.
Тема 6. Структурное строение сварного шва
■ Строение наплавленного металла и зон влияния. Внутренние напряжения в сварных ивах. Влияние термообработки на структуру и механические свойства сварных ив ов.
!>. Технология литья, поковок и различных видов
сверки металлов (10 часов)
Общие сведения по технологии литья. Виды дефектов в литье.’
Поля, плата | Цзьмии »ив.>4 Инв.Мдубл.| Поди, м дат»
й.' 1 ■ госТ~37р5-7» Фор»*» 1~~ !
СТР> 170 ОСТ 92-1611-74
Тема 2. Краткие сведений по технологии производства
мовсяных заготовок. Дефекты в поковках
Оодие сведения по техн^дл'ик производства. Характер к природа
дефектов і них.
Тема 3. Обдие сведения об электрической сварке плавлением
1 , ’
Обшиє сведения о технологии ручной сварки, автоматической сварки под флюсом, сварки в среде зачитных газов.
Тема 4. Геометрические параметры сварных кромок
ж сварные ebob
Способы подготовки кромок по.” сварку. Виды разделок, отклонения в подготовке кромок, распределение металла ала. Технические приегы расчистки корня вва.
Тема 5. Дефекты сварных швов к.причины хх образования
Виды внутренних дефектов. Причины образования пор, шлаковых включений, непроваров, трецид, способы исправления дефектов. Наружные дефекты: надрезы, наплывы и т.п. Причины их образования. Требования, предъявляемые ж сварным квам ж изделиям.
В. Источники ионизирующих излучений
Тема I. Ускирителк (6 часов) .
Ускорители линейные, негатроны и микротроны. Принцип рабе гы ж устройство бетатрона, характеристика бетатронов. Электрический спектр, угловое распределение, интенсивность излучения. Регулировка рентгеновской и гаммаграфической аппаратуры. 3•
OCT 9?-I611-74 Стр, I71
Тема 2. Техника безопасности при контроле
просвечиванием
Г. Методы контроля просвечиванием
Тема I. Методика радиографического контроля (12 часов)
Выбор зталонов чувствительности. Выбор .рентгеновской пленки, способы зарядки кассет м источников излучения. Определение режимов просвечивания. Номограммы экспозиций. Установка кассет, маркировоч- ных знаков и источников излучения. Определение активности радиоактивного изотопа. Просмотр снимков с целью определения их качества. Приготовление растворов для обработки рентгенопленки. Основы дозиметрии.
Г * • ^еиа2. Ионизационный и сцинтилляционный методы
П
Иив. » поал. I Подп. млата | Взимая ЯЯВ..Ц Иев.Мдуб/.} Подп. и дата
ринципиальные схемы контроля. Чувствительность и разрезающая способность метода. Источники излучения и аппаратура, используемая при контроле. Ионизационные и сцинтилляционные счетчики. Типовые схемы регистрации. Автоматизация контроля. Область применения ионизационного и сцинтилляционного методов.Д. Практические работы (16 часов)
. Выбор источников излучения, рентгеновской пленки, способов зарядки кассет. Определение экспозиции на различные марки материалов и контролируемые толщины. Просвечивание литых изделий и корпусных конструкций з условиях цехе».. Практическое приготовление фото- растворов.- Ионизационный к сцинтилляционный контроль простых и средней сложности изделий.
Фйпылг —ЛіГОСТ Форм>Т~
' STP. 172 ОСТ 92-І6П-74
ЛТ0ГРАММ1
обучения дефектасмшкстпл рентгена- ж гаммаграфирования
4-го рааряда
1. Способы регистрации жзлучония (б часе»)
. Осиовы ксерографии. Устройство и получение ксерографических пластид, Проявление скрытого изображения. Устройство ксерографи- чесно! установки.
Тема 2« Дозиметрия
|
1 llrttu Млуб>> Lz Поди. • Д»ТМ 1 |
5 |
|
3F X « 1 3 о |
І |
Расчет допустимых доа излучения, расстояний от источников ж времени пребывания на заданных расстояниях от источников. Электрические схема дозиметрической аппаратуры» • ~ v- /Тема 3. Технике безопасности цря контроле просвечиванием
1. Электротехника (10 часи)
Теыа I» Электрические схемы аппаратуры, V
применяемой для контроля жроояечшшнием ж дозиметрии
Электрические схемы раязтеновсжхД, радиографической ж дозиметрической аппаратуры ж аппаратура для ионизационного ж сцкнтжж- ияцжовдого контроля. Элактржчясжая схема бетатрона.
3« Држитмчешше.работы (24 часа)
.
ЗІ
Просвечивание изделий средне! сложности. Ионизационный ж шшнтижляцжошшй контроль сложных изделий. Просвечивание изделий при помоги бетатрона» Работа ла ксерографических установках.♦сшит, -ЛІ
"
Ив*. * падл. Появ, в мата Взам*в *ж*Л Ив*. Мдубл. Подо, в дата >Ш4//74ІМ^Ш
1 " . 11 totT 2.1С5-7І Форм-Г”* • ' * - < • •<'?.' ОСТ 92-1 €11-74 Стр, 173
8аряджа к перезарядка.Источников излучения. Организация ремонта и наладим рентгеновской ж радиографической аппаратуры.
а*ог/1мал
обучения д ефект оси опис тої рентгене- и гаммаграфирования
5-го разряда-
Методы контроля просвечиванием (16 часов) . ■■■ • 'о
< Тем 1« Раскифровка снимков
*■"' Чувствительность глазе ж различи» оптических плотностей почернения. Восприятие деталей изображения при различной яркости наблюдаемого изображения. Подбор освещенности рентгеноснимка при расшифровке. Изображение дефектов сварки н литья на снимках. Изображение газовых пор» длаковых и других инородных включения, свидей, подрезов. Признаки, присущие их изображениям. Изображение продольных, поперечных' и радиальных трещин. Признаки, присущие изображениям
' трещин. Изображения непроваров силосного и.прерлвйстого характера.
Непровары о наличием шлаковых включений н газовых пор. Признаки, присущие изображениям непроваров. Изображение газовых, земляных и илаковых раковин. Признаки, присущие их изображениям. Изображение
п
- 7 .
ористости, усадочной рыхлоты, горячих трещин. Признаки, присущие их изображениям, просмотр снимков в проходящем и проходяще-отраженном света. Требования к качеству снимков. Чистота поверхности, отсутствие повреждения эмульсионного слоя,'наличие эталона чувствительности ж маркировочных знаков, качество фотообработки снимков. Требования-и оборудованию комнаты для расшифровки. Устройство не- гатоскопа. . .ТО(Л Форма t • 'Стр, 17» СУГ 92-16II-74
Тена 2. Дозиметрия
Расчет защиты от излучения, порядок получения к хранения ради ©активных источников, действугций на предприятии.
і
Тема 5. Техника безопасности при'контроле
просвечиванием
Б. Источники ионизирующих излучений (6 часов)
Тема I. Обзор по используемым видам излучения при
контроле просвечиванием
Принципы получения различных видов излучения и их взаимодействие с просвечиваемым веществом* '
Практические работы (24 часа)
П
Мив. > пол*.] (loan, и дата [Взамен инв.4 Ймв.Хдуб^ { Нойп, и дат>
росвечивание изделий сложной конфигурации при помощи стационарных и передвижных источников излучения. Раоцифровка снимков. Оценка годности проверяемых образцов, деталей и узлов в соответст- вии с техническими условиями. Наладка аппаратуры, применяемой для рентгено- и гаммадефеитосвопии, ионизационного и сцинтилляционного контроля и дозиметрической аппаратуры. ,