Постоянные резисторы для электронной аппаратуры. Часть 8. Групповые технические условия на постоянные чип-резисторы

п — объем выборки;

с — критерий приемки групп (допустимое число дефектных изделий на группу или подгруппу);

t —общий критерий приемки, (допустимое число дефектных изделий на одну или несколько групп, например группа 0А+0В или группы 3; 3.1 — 3.5 включительно);

D — разрушающие испытания;

ND — неразрушающие испытания.

Всю выборку следует подвергнуть испытаниям группы 0, а за тем разделить на другие группы.

Образцы, ставшие дефектными во время испытаний группы 0,

для других групп не используют.

Если резистор не отвечает требованиям всех или части испы-

таний группы, то считается, что имеет место «одно дефектное из­делие». Результаты испытаний считаются положительными, есл

и

число дефектных чип-резисторов не превышает установленного до­

д

пустимого числа или подгруппы и

группы

ефектных чип-резисторов для каждой общего допустимого числа дефектных чип-резис­торов.

П

формированию выборки и допус-

римечание. Программа испытаний на выборке заданного объема при­

в

і»

едена в табл. 3. Она содержит данные по ти мое число дефектных чип-резисторов для разных испытаний или групп испы­таний и содержит наряду с порядком проведения испытаний, содержащихся в разд. 4 ГОСТ 28608 и разд. 2 настоящих¹ТУ, условия испытаний и требования.

В табл. 3 указано, какие методы испытаний, условия испыта­ний и (или) требования надо выбирать из ТУ на- чип-резисторы конкретных типов. Условия испытаний и требования для програм­мы испытаний на выборке заданного объема должны быть иден­тичны тем, которые предусмотрены в ТУ на чип-резисторы кон­кретных типов для контроля соответствия качества.

Контрольная партия должна состоять из конструктивно подоб­ных резисторов одного вида (см. п. 3.1). Она должна содержать крайние величины диапазона сопротивлений чип-резисторов, из­готовленных в течение контрольного периода. Виды чип-резисто­ров с разными температурными характеристиками сопротивления, изготовленные в течение данного периода, могут быть объедине­ны, за исключением подгрупп, содержащих проверку температур­ной характеристики сопротивления.

Н

тики сопротивления, которые допущены к сертификации, должны

ижние и верхние крайние значения или любое критическое значение диапазона сопротивлений и температурные характерне- 1 подвергаться контролю в течение периода, утвержденного в ус­тановленном порядке (см. примечание). Выборки групп С и D должны быть собраны за последние 13 недель контрольного пе­риода.

Примечание. «Нижние» крайние значения должны находиться между 0 и 200% наименьшего сертифицированного значения сопротивления (или са­мого меньшего изготовленного значения в пределах диапазона, представленного для сертификации). «Верхние» крайние значения должны находиться между ми­нус 30 и О % наибольшего сертифицированного значения сопротивления (или наибольшего изготовленного значения в пределах диапазона, представленного для сертификации).

«Критические» значения должны находиться между минус 20 и 0 % рас­четной величины.

Программа испытаний по партиям и периодических испытаний ’ПО контролю соответствия качества приведена в табл. 2 разд. 2 ГОСТ 29072.

Уровни качества

Уровни качества, приведенные в форме ТУ на чип-резисторы, следует предпочтительно выбирать из табл. 4А и 4В:

Таблица 4А

AQL

А1

А2

В1

В2 вз

С1

С2 СЗ

С4

С5

D1

D2

3

3

3

3

3

12

36

. 20

20

20

20

20

" 20

20

1

1

1

1

1

1

1

1,0

1,0-

1,-е

2,5

2,5

Обозначения: IL — уровень контроля;

AQL — приемлемый уровень качества.

Т а блица 4В-

Обозначения: р — периодичность в месяцах;

п — объем выборки; '•

с — допустимое число дефектных изделий.

Примечания к табл. 4А и 4В:

1. Уровни качества D, F, G, отмеченные знаком — на рассмотрении.

Состав контрольных подгрупп приведен в разд. 2| соответствующей фор­мы ТУ на чип-резисторы конкретных типов

.

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. ПОДГОТОВЛЕН И ВНЕСЕН Министерством электронной про­мышленности СССР

2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Го­сударственного комитета СССР по управлению качеством про­дукции и стандартам от 08.07.91 № 1226

Настоящий стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 115 — 8 — 89 «Постоянные ре­зисторы для электронной аппаратуры. Часть 8. Групповые тех­нические условия на постоянные чип-резисторы» и полностью ему соответствует

3. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕН ТЫ

Раздел, подраздел, пункт,
в котором приведена
ссылка




Обозначение
соответствующего стандарта




Обозначение отечественного
нормативно-технического
документа, на который дана
ссылка





1.2; 1.3; 1.4.2;

1.4.3; 1.4.5; 2.1.2;

2.1.3; 2.2.1; 2.3.1;

2.3.2; 3.2; 3.2.1;

3.2.2; примечание к табл. 3

1.3; 1.4.4.1

1.3; 2.1.1

2.1.1

3.3.2

1.3

1.3

1.3




СТ МЭК 115—1—83




СТ МЭК 63—63

СТ МЭК 68—1—88

СТ МЭК 68—2—74

СТ МЭК 115—8—1—89

СТ МЭК 410—73*

QC 00'1001*

QC 001002*




ГОСТ 28608—90




ГОСТ 28884—90

ГОСТ 28198—89

ГОСТ 28199—89

ГОСТ 29072—91





4. Замечания к внедрению настоящего стандарта

Стандарт МЭК 115—8—89 принимают для использования в со-
ответствии с областью распространения, указанной в разд. 1.

Стандартом следует руководствоваться без изменений при серти­фикации в рамках МСС ИЭТ МЭК >

* До прямого применения указанного стандарта МЭК в качестве государст­венного стандарта его рассылку на русском языке осуществляет ВНИИ «Элек- тронстандарт»Редактор Г* С. Шеко
Технический редактор Г. Л. Теребинкина
Корректор О. Я* Чернецова

Сдано в наб, Ов.08.91 Подп. в печ. 04,10.91 1,0 усл. п. л. 1,25 усл. кр).-атт, 1,06 уч.-изд. л.
Тир. 650 экз. Цена 29 р. 20 к.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, ГСП.
НовопресненскнЙ пер., 3.

Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 1571її і

* До прямого применения указанного стандарта МЭК в качестве государст­венного стандарта его рассылку на русском языке осуществляет ВНИИ «Элек- тронстандарт»