Продолжение табл. Т
|
Группа испытаний |
Наименование испытаний и последовательность их проведения |
Номер пункта |
|
|
требований |
методов испытаний и контроля |
||
|
П-2 |
5. Испытание на воздействие изменения температуры среды |
2.4.2, 2.2.9 |
4.1.4.4 |
|
|
6. Испытание на воздействие повышенной рабочей температуры среды |
2.4.2 |
4.1.4.2 |
|
|
7. Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды |
2.4.2 |
4.1.4.3 |
|
|
8. Испытание на воздействие повышенной влажности воздуха, кратковременное |
2.2.8, 2.2.9, 2.4.2 |
4.1.4.5 |
|
|
9. Испытание на герметичность |
2.2.4 |
4.1.1.4- |
|
|
10. Проверка качества и прочности маркировки |
5.1 |
4.1.6.1 |
|
|
11. Испытание на способность к пайке |
2.2.6 |
4.1.1.6 |
|
|
12. Испытание на теплостойкость при пайке |
2.2.6 |
4.1.1.6 |
|
|
13. Испытание внешних выводов на прочность |
2.2.5 |
4.1.1.5 |
Примечание. Допускается по согласованию со службой технического контроля испытания по группе П-2 (5—8, 10—13 или 11—13) проводить на отдельной выборке.
Периодические испытания диодов по группам П-1 и П-2 проводят в первый год их производства раз в 3 мес. (если производство этих диодов осваивают впервые) и при положительных результатах в дальнейшем испытания проводят раз в 6 мес.
При неудовлетворительных результатах испытаний по группам П-1 и П-2 периодичность их устанавливают раз в 3 мес. в течение года.
Периодические испытания проводят на диодах одного- любого типа, выпускаемого по одному стандарту или ТУ на диоды конкретных типов. Результаты испытаний распространяют на все типы диодов. Тип диодов, подлежащих периодическим испытаниям, определяет служба технического контроля совместно с руководством предприятия-изготовителя с учетом того, что очередные периодические испытания следует проводить на диодах одного типа.
Испытание диодов по группе П-1 — ГОСТ 25359—82.
Испытания проводят в течение 500 ч.
Значение интенсивности отказов Хи =10-4 1/ч. Для диодов с мощностью рассеяния более 1 Вт значение Ли устанавливают в: стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. Значение доверительной вероятности Р*=0,6.При неудовлетворительных результатах испытаний по группе П-1 приемку и отгрузку возобновляют по истечении 100 ч испытаний.
Испытания диодов по группе П-2 проводят по планам выборочного двухступенчатого контроля с приемочным уровнем дефектности, равным 1,5%, с объемами выборок «1=20, п2=20. Приемочные и браковочные числа не первой ступени испытания <ч=0, <2=2, на второй ступени <з=1, <4=2 соответственно.
Диоды, прошедшие испытания по группе П-1 и отвечающие требованиям стандартов или ТУ на диоды конкретных типов, допускается отгружать потребителю по согласованию со службой технического контроля.
Диоды, прошедшие испытания по группе П-2, отгрузке не подлежат.
Испытания диодов на сохраняемость — по ГОСТ 21493—76.
МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ И КОНТРОЛЯ
Испытания диодов проводят в нормальных климатических условиях по ГОСТ 20.57.406—81.
Проверка на соответствие требованиям к конструкции.
Габаритные, установочные и присоединительные размеры диодов (п. 2.2.1) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 404—1) сличением с чертежами и измерением размеров любыми средствами измерений, обеспечивающими требуемые чертежами предельные отклонения по ГОСТ 8.051—81.
Диоды считают годными, если контролируемые размеры соответствуют приведенным в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Внешний вид диодов (п. 2.2.2) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 405—1) внешним осмотром на соответствие требованиям, изложенным в описании внешнего вида и сличением с образцами внешнего вида. Диоды считают годными, если их внешний вид соответствует описанию и образцу внешнего вида.
Массу диодов (п. 2.2.3) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 406—1) взвешиванием на весах с погрешностью в пределах ±2%. Допускается определять массу взвешиванием группы диодов с последующим расчетом среднего значения массы.
Диоды считают годными, если масса не превышает значений, установленных в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Герметичность диодов (п. 2.2.4) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (методы 401—2.1, 401—4.1, 401—4.2 и 401—6). Конкретный метод указывают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Механическую прочность выводов (п. 2.2.5) проверяют: испытанием на воздействие растягивающей силы по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 109—1);
испытанием на воздействие сжимающей силы. При испытании диод помещают в специальное приспособление. Сжимающую силу плавно прикладывают к торцам диода. Время испытания устанавливают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов;
испытанием гибких ленточных, проволочных и лепестковых выводов на изгиб по ГОСТ 20.57.406—81 (методы НО—3 или 111—1). Расстояние от корпуса или от начала гибкой части составных выводов до места изгиба, направление изгибов и радиус изгиба указывают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. Приспособление для испытания на изгиб должно обеспечивать неподвижность участка вывода между корпусом и местом изгиба;
испытанием резьбовых выводов на воздействие крутящего момента по ГОСТ 20.57.406—81 (метод ИЗ—1).
Диоды считают выдержавшими испытание на воздействие растягивающей, сжимающей силы, на изгиб, если отсутствуют обрывы выводов и разрушение конструкции диода, а при испытании на воздействие крутящего момента не наблюдается проворачивания выводов в месте заделки и срыва резьбы.
Способность выводов к пайке (п. 2.2.6) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 402—1 или 402—2), проверку диодов на теплостойкость при пайке (п. 2.2.6) следует проводить по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 403—1 или 403—2). Конкретный метод указывают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Перед испытанием на паяемость диоды подвергают ускоренному старению по ГОСТ 20.57.406—81, методы 1, 2, 3. Конкретный метод указывают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Отсутствие в диодах коротких замыканий и обрывов (п. 2.2.7) как постоянных, так и кратковременных проверяют по методам, изложенным в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Коррозионную стойкость наружных металлических поверхностей или покрытий (п. 2.2.8) проверяют при испытании на воздействие повышенной влажности воздуха по п. 4.1.4.5.
Удельную материалоемкость диода Кум (п. 2.2.10) рассчитывают по формуле
ы т
Кум— — —,
*н’
где т — масса диода, г;
/н — наработка, ч.Невоспламеняемость и негорючесть диодов (п. 2.2.11) проверяют испытаниями на способность вызывать горение и на горючесть по методам, указанным в стандартах или ТУ на диодьі конкретных типов, в соответствии с нормативно-технической документацией, утвержденной в установленном порядке.
Проверка на соответствие требованиям к электрическим параметрам и режимам эксплуатации
Электрические параметры диодов (п. 2.3.1) контролируют в соответствии с ГОСТ 19656.0—74—ГОСТ 19656.7—74, ГОСТ 19656.9—79, ГОСТ 19656.10—75, ГОСТ 19656.11—75, ГОСТ 19656.12—76, ГОСТ 19656.13—76, ГОСТ 19656.14—79, а также методами, установленными в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Диоды считают выдержавшими испытание, если контролируемые электрические параметры соответствуют нормам, установленным в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Электрические параметры диодов в течение наработки (п. 2.3.2) контролируют измерением параметров — критериев годности при испытаниях на безотказность (п. 4.1.5.2) и долговечность (п. 4.1.5.3).
Электрические параметры диодов в течение срока сохраняемости (п. 2.3.3) контролируют измерением параметров — критериев годности при испытании на сохраняемость (п. 4.1.5.4).
Работоспособность диодов в предельно допустимых режимах эксплуатации (п. 2.3.4) контролируют совокупностью испытаний всех видов, проводимых по настоящему стандарту, а также стандартами или ТУ на диоды конкретных типов.
Удельную энергоемкость диода Ку.э (п. 2.3.5) рассчитывают по формуле где Р — мощность, Вт;
tH— наработка, ч.
Проверка на соответствие требованиям по стойкости при воздействии механических факторов.
Стойкость диодов к воздействию механических факторов (п. 2.4.1) проверяют испытаниями согласно ГОСТ 20.57.406—81 на вибропрочность и воздействие ударов одиночного действия.
Испытания диодов проводят в двух положениях — в любом направлении вдоль оси прибора и перпендикулярно оси прибора.
Испытания проводят без электрической нагрузки.
По окончании каждого вида механических испытаний проводят внешний осмотр и измеряют электрические параметры — критерии годности, указанные в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов для испытаний этих видов.
Если после испытания на вибропрочность следуют испытания на воздействие ударов одиночного действия, то параметры — критерии годности после испытаний на вибропрочность не контролируют.
Допускается по согласованию со службой технического контроля параметры — критерии годности измерять один раз в конце соответствующих групп испытаний.
Испытания диодов на вибропрочность проводят по ГОСТ 20.57.406—81 (методы 103—1.3 и 103—1.6). Диоды считают выдержавшими испытание, если после испытания отсутствуют нарушения конструкции, а электрические параметры — критерии годности для данного вида испытаний соответствуют нормам категории С и отсутствуют короткие замыкания и обрывы.
Испытание диодов на воздействие одиночных ударов (п. 2.4.1) — по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 106—1).
Проверка на соответствие требованиям к стойкости при воздействии климатических факторов
Стойкость диодов к воздействию климатических факторов (п. 2.4.2) проверяют испытаниями:
повышенной рабочей температуры среды;
пониженной рабочей температуры среды;
изменения температуры среды;
повышенной влажности воздуха (длительное и кратковременное) ;
пониженного атмосферного давления;
повышенного атмосферного давления.
Испытания на воздействие изменения температуры среды, повышенной влажности воздуха и повышенного атмосферного давления проводят без электрической нагрузки. По окончании каждого вида климатических испытаний проводят внешний осмотр и измеряют электрические параметры — критерии годности, установленные в стандартах или ТУ на приборы конкретных типов.
Допускается измерять параметры — критерии годности один раз — в конце испытаний данной группы.
Испытание диодов на воздействие повышенной рабочей температуры среды (п. 2.4.2) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (методы 201—1.1, 201—1.2 или 201—3). Конкретный метод испытания указывают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Температуру при испытаниях, характер и значение электрической нагрузки, порядок снятия нагрузки перед измерением параметров и режимы измерений устанавливают в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. Продолжительность выдержки диодов в камере тепла — не менее 30 мин, а в нормальных климатических условиях после испытаний — не менее 2 ч, если иная продолжительность не указана в стандартах или ТУ на дно- ды конкретных типов. Диоды считают выдержавшими испытания, если в процессе испытания электрические параметры — критерии годности соответствуют нормам, установленным в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов для данного вида испытания, а после испытания их внешний вид удовлетворяет требованиям стандартов или ТУ на диоды конкретных типов, а электрические параметры — критерии годности сохранились в пределах норм категории С.
Испытание диодов на воздействие пониженной рабочей температуры среды (п. 2.4.2) проводят по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 203—1). Продолжительность выдержки диодов в камере холода — 30 мин, если иная продолжительность не указана в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. Продолжительность выдержки диодов в нормальных климатических условиях после извлечения из камеры — не менее 2 ч, если иная продолжительность не указана в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. і
Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды (п. 2.4.2) проводят по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 204—1).
Диоды считают выдержавшими испытания, если в процессе испытания электрические параметры — критерии годности соответствуют нормам для данного вида испытаний, а после испытания их внешний вид удовлетворяет требованиям стандарта или ТУ на диоды конкретных типов, а электрические параметры — критерии годности сохранились в пределах норм категории С.
Устойчивость диодов на воздействие изменения температуры среды (п. 2.4.2) проверяют по ГОСТ 20.57.406—81 (метод 205—1).
Диоды подвергают воздействию 3 циклов. Продолжительность выдержки в камере холода и камере тепла при рабочих температурах, установленных в ТУ,— по 30 мин, если нет иных указаний в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. Выдержка диодов в нормальных климатических условиях должна быть не менее 2 ч, если нет иных указаний в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов. Время переноса из камеры в камеру не должно превышать 1 мин. Диоды считают выдержавшими испы- .тания, если после испытания внешний вид удовлетворяет требованиям стандартов или ТУ на диоды конкретных типов, а электрические параметры — критерии годности для данного вида испытаний сохранились в пределах норм категории С.
