Примечания:
Для диодов монолитной конструкции испытания по группам К-6 (9) иК-И не проводят.
Допускается при непрерывном цикле испытаний совмещать проверку электрических параметров перед каким-либо испытанием с такой же проверкой после предшествовавшего испытали;!.
Допускается по согласованию со службой технического контроля испытания по группе К-6 (5—13 или 10—13) проводить на самостоятельной выборке.
Испытания диодов по группам К-1—К-4 проводят последовательно на одной выборке или части ее. Диоды, выдержавшие испытания по группам К-1—К-4 и К-Ю, допускается использовать для комплектования выборок для других групп квалификационных испытаний.
Для проведения испытаний диодов применяют следующие планы контроля:
для групп испытаний К-1—К-4 — планы контроля, установленные для групп С-1—С-4 приемо-сдаточных испытаний соответственно;
для групп испытаний К-5; К-6 — планы контроля, установленные для групп П-1 и П-2 периодических испытаний, соответственно;
для группы испытаний К-8 (1) число транспортной тары, подвергаемой испытанию, определяют в соответствии с ГОСТ 23088—80. Число диодов, упакованных в транспортную тару, отбирают по двухступенчатому плану контроля и приемочным уровнем, равным 1,5%, и объемами выборок «1=20, п2=20. Приемочные и браковочные числа на первой ступени испытания Сі = 0, С2=2, приемочные и браковочные числа на второй ступени — Сз=1, С4=2 соответственно;
для группы испытаний К-8 (2) испытаниям подвергают 1 шт. потребительской и транспортной тары при приемочном числе, равном нулю;
для групп испытаний К-7, К-Ю и К-Н—план двухступенчатого контроля с приемочным уровнем дефектности, равным 1,5%, с объемами выборок «1=20, п2=20. Приемочные и браковочные числа на первой ступени испытания Сі=0, С2=2, на второй ступени— Сз=1, Сі=2 соответственно;
для группы испытаний К-12 испытаниям подвергают выборку п=3 при приемочном числе С=0;
для группы испытаний К-9 число изделий, подлежащих испытанию, Ид, и допустимое число отказов А определяют при доверительной вероятности Р* и пересчетном коэффициенте г, указанных в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов.
Испытания диодов на долговечность — по ГОСТ 25359—82.
При получении неудовлетворительных результатов испытаний по группе К-8 проводят доработку конструкции упаковки и (или) технологии упаковывания, после чего проводят новые испытания по этой группе диодов той же установочной серии.
Диоды, прошедшие испытания по группам К-1—К-5, К-8 и К-Ю и отвечающие требованиям стандартов или ТУ на диоды конкретных типов, допускается отгружать потребителю. Диоды, испытанные по другим группам, отгрузке не подлежат.
Приемо-сдаточные испытания
Состав испытаний диодов, деление состава на группы испытаний, последовательность испытаний в пределах группы и последовательность групп должны соответствовать указанным в табл. 4.
Таблица 4
|
Группа испытаний |
Наименование испытаний и последователь" кость их проведения |
Номер пункта |
|
|
требований |
методов испытаний и контроля |
||
|
С-1 |
Проверка внешнего вида и марки- |
2.2.2, |
4.1.1.2, |
|
|
ровки |
5.1 |
4.1.6 |
|
С-2 |
Проверка важнейших электрических параметров |
2.3.1 |
4.1.2.1 |
|
С-3 |
Проверка электрических параметров, не отнесенных к важнейшим или требующим осуществления сложных и трудоемких измерений |
2.3.1 |
4.1.2.1 |
|
С-4 |
Проверка габаритных, установочных и присоединительных размеров |
2.2.1 |
4.1.1.1 |
Диоды к приемке предъявляют партиями. Объем партий — до 35 000 шт.
В состав партии, предъявляемой к приемке, следует включать диоды одного типа. Проверку диодов проводят последовательно на одной выборке или части ее.
Приемо-сдаточные испытания проводят методом выборочного одноступенчатого контроля в соответствии в табл. 5 и 6. Сплошной контроль применяют для партий, равных или менее объема выборок, указанных в табл. 5 и 6 при соответствующих приемочных уровнях дефектности.
При выборочном одноступенчатом контроле для групп испытаний С-1 и С-3 планы контроля выбирают в соответствии с табл. 5 при приемочном уровне дефектности 2,5; для группы испытаний С-4 — в соответствии с табл. 6 при приемочном уровне дефектности 4,0.
При выборочном одноступенчатом контроле для группы испытаний С-2 план контроля выбирают в соответствии с табл. 5 при приемочном уровне дефектности, установленном в стандартах или ТУ на диоды конкретных типов из ряда: 0,1; 0,15; 0,25; 0,40; 0,65%.
Если в ходе нормального контроля четыре из десяти последовательных партий будут забракованы, переходят на усиленный контроль.Таблица 5
|
Нормальный контроль |
Усиленный контроль |
Приемочное ЧИСЛО С|, шт. |
Браковочное число С2, шт. |
Приемочный уровень дефектности, % |
|||
|
Объем партии, шт. |
Объем выборки, шт. |
Объем партии, шт. |
Объем выборки, шт. |
||||
|
151—10000 |
125 |
501—10000 |
200 |
0 |
1 |
0,1 |
|
|
10001—35000 |
500 |
10001—35000 |
800 |
1 |
2 |
||
|
91—3200 |
80 |
151—3200 |
125 |
0 |
1 |
0,15 |
|
|
3201—35000 |
315 |
3201—35000 |
500 |
1 |
2 |
||
|
51—1200 |
50 |
91—1200 |
80 |
0 |
1 |
|
|
|
1201—10000 |
200 |
1201—35000 |
315 |
1 |
2 |
0,25 |
|
|
10001—35000 |
315 |
— |
— |
2 |
3 |
|
|
|
51— 500 |
32 |
51—500 |
50 |
0 |
1 |
|
|
|
501—3200 |
125 |
501—10000 |
200 |
1 |
2 |
0,40 |
|
|
3201—10000 |
200 |
10001—35000 |
315 |
2 |
3 |
||
|
10001—35000 |
315 |
— |
— |
3 |
4 |
|
|
|
26—2$0 |
20 |
51—280 |
32 |
0 |
1 |
|
|
|
281—1200 |
80 |
281—3200 |
125 |
1 |
2 |
|
|
|
1201—320$ |
125 |
3201—10000 |
200 |
2 |
3 |
0,65 |
|
|
3201—ІОРОО |
200 |
10001—35000 |
315 |
3 |
4 |
|
|
|
10001—35000 |
315 |
— |
— |
5 |
6 |
|
|
|
91—50 |
5 |
9—50 |
8 |
0 |
1 |
|
|
|
51—160 |
20 |
51—280 |
32 |
1 |
2 |
|
|
|
151—280 |
32 |
281—500 |
50 |
2 |
3 |
|
|
|
281—500 |
50 |
501—1200 |
80 |
3 |
4 |
|
|
|
501—1200 |
80 |
1201—3200 |
125 |
5 |
6 |
2,5 |
|
|
1201—3200 |
125 |
— |
— |
7 |
8 |
||
|
|
— |
3201—10000 |
200 |
8 |
9 |
|
|
|
3201—10000 |
200 |
— |
— |
10 |
11 |
|
|
|
|
— |
10001—35000 |
315 |
12 |
13 |
|
|
|
10001—35000 |
315 |
— |
— |
14 |
15 |
|
|
При этом возврат партий по группам С-1 и С-4 не учитывают.
Если в ходе усиленного контроля четыре из десяти последовательных партий будут забракованы, то приемку прекращают, и принимают меры по улучшению качества продукции.
Если между приемкой и отгрузкой диодов от изготовителя проходит более 6 мес., то каждая партия диодов должнаТаблица 6
|
Нормальный контроль |
Усиленный контроль |
Приемочное ЧИСЛО С1, шт. |
Браковочное число С2, шт. |
Приемочный уровень дефектности, % |
||
|
Объем партии, шт. |
Объем выборки, шт. |
Объем партии, шт. |
Объем выборки, шт. |
|||
|
2—25 |
3 |
2—25 |
5 |
0 |
1 |
|
|
26—90 |
13 |
26—150 |
20 |
1 |
2 |
|
|
91—150 |
20 |
— |
— |
2 |
3 |
|
|
151—280 |
32 |
— |
3 |
4 |
|
|
|
— |
— |
151—280 |
32 |
2 |
3 |
|
|
281—500 |
50 |
— |
— |
5 |
6 |
|
|
— |
— |
281—500 |
50 |
3 |
4 |
4,0 |
|
501—1200 |
80 |
— |
—- |
7 |
8 |
|
|
.— |
' — |
501—1200 |
80 |
5 |
6 |
|
|
1201—3200 |
125 |
— |
|
10 |
И |
|
|
— |
|
1201—3200 |
125 |
8 |
9 |
|
|
3201—10000 |
200 |
— |
— |
14 |
15 |
|
|
— |
— |
3201—10000 |
200 |
12 |
13 |
|
|
10001—35000 |
315 |
21 |
22 |
|
||
|
•— ' |
1 *— |
10001—35000 |
315 |
18 |
19 |
|
быть выборочно перепроверена по группам С-1—С-3 в соответствии с требованиями настоящего стандарта и стандартов или ТУ на диоды конкретных типов.
Дату перепроверки указывают в сопроводительном документе.
Период ические испытания
Состав испытаний диодов, деление состава испытаний на группы испытаний и последовательность испытаний в пределах группы должны соответствовать указанным в табл. 7.
Таблица/
|
Группа испытаний |
Наименование испытаний и последовательность их проведения |
Нойер пункта |
|
|
требований |
методов испытаний и контроля |
||
|
П-1 |
Испытание на безотказность |
2.5 |
4.1.5.2 |
|
П-2 |
1, Контроль электрических параметров, отнесенных к категории периодических |
2.3.1 |
4.1.2.1 |
|
|
2. Проверка на отсутствие коротких замыканий и обрывов |
2.2.7 |
4.1.1.7 |
|
|
3, Испытание на вибропрочность, кратковременное |
2.4.1, 2.2.9 |
4.1.3.2 |
|
|
4. Испытание на воздействие одиночных ударов |
2.4.1 |
4.1.3.3 |
