Отгрузку принятых партий, изготовленных после начала предшествующих испытаний на безотказность, приостанавливают до завершения повторных испытаний. Приемку микросхем текущего производства продолжают без'права отгрузки потребителю.
Оценку результатов повторных испытаний производят по правилам, установленным для первичных испытаний. При этом отказы не допускаются.
Для микросхем, требующих первоочередных мероприятий но повышению надежности, номенклатура которых согласована с основным потребителем, изготовитель вместо испытаний по группе П-1 должен проводить испытания на безотказность в течение 1000 ч на выборке п = 306 шт., при приемочном числе С=0 два раза в год.
Допускается проводить испытания в течение 2000 или 3000 ч на выборке 153 шт. или 102 шт. соответственно.
В этом случае испытания по группе П-6 не проводят.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Для планирования испытаний по группам П-2, П-3 и П-5 применяют план выборочного двухступенчатого контроля, установленного в табл. 7.
Испытания по группам П-2 и П-3 допускается проводить на одной выборке.
Таблица 7
|
Степень интеграции микросхем по ГОСТ 17021-88 |
Обозначение выборки |
Объем выборки, шт. |
Приемочное число С, шт. |
|
ИС1, ИС2 |
Я| |
20 |
0 |
|
|
П2 |
40 |
0 |
|
ИСЗ (цифровые) |
»1 |
15 |
0 |
|
|
И2 |
30 |
0 |
|
ИСЗ (аналоговые) |
Пі |
10 |
0 |
|
ИС4 (цифровые) |
«2 |
20 |
0 |
|
ИС4 (аналоговые) |
«1 |
5 |
0 |
|
ИС5, ИС6 |
п2 |
10 |
0 |
При двухступенчатом контроле испытания начинают с проверки ВЫбОрКИ Пь
Если при испытании выборки число дефектных микросхем, обнаруженных в выборке, не превышает приемочное число G плана контроля, то результаты испытаний по данной группе испытаний считают положительными и испытание выборки п2 не проводят.
Если ЧИСЛО дефектных микросхем, обнаруженных В выборке П1 превышает число Ci+1, то результаты испытаний по данной группе испытаний считают отрицательными и испытания выборки п2 не проводят.
Если при испытании выборки Пі число дефектных микросхем, обнаруженных в выборке, равно числу Ci+1, то результаты испытаний по данной группе испытаний считают неопределенными и испытывают выборку п2.
Если при испытании выборки п2 число дефектных микросхем, обнаруженных в выборке, не превышает приемочного числа С2, то результаты испытаний по данной группе считают положительными.
Если при испытании выборки п2 число дефектных микросхем, обнаруженных в выборке, превышает приемочное число С2, то результаты испытаний по данной группе испытаний считают отрицательными.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Для планирования испытания по группе П-4 применяют план выборочного одноступенчатого контроля, установленного в табл. 8.
Таблица 8
|
Степень интеграции микросхем по ГОСТ 17021—88 |
Объем выборки, шт. |
Приемочное число С, шт. |
|
ИС1, ИС2, ИСЗ |
10 |
0 |
|
ИС4, ИС5, ИС6 |
5 |
0 |
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Если по одной из групп испытаний были получены неопределенные результаты, то отгрузку принятых партий, изготовленных после начала предшествующих испытаний, приостанавливают до завершения испытаний. При этом приемку текущей продукции продолжают без права отгрузки потребителю.
До проведения новых периодических испытаний приемку микросхем и их отгрузку, а также отгрузку ранее принятых микросхем допускается производить при условии 100%-ной перепроверки их предприятием-изготовителем по специальной программе, согласованной техническим контролем с дополнительным проведением техническим контролем периодических испытаний микросхем от каждой партии по тем видам испытаний, по которым были получены отрицательные результаты. Испытания проводят по правилам и критериям, установленным для периодических испытаний. При этом предприятия-изготовители совместно с техническим контролем анализируют причины ухудшения качества и принимают меры для их устранения.
Примечание. Допускается по согласованию с техническим контролем проводить периодические испытания на отдельных типах микросхем группы типов, по которой получены отрицательные результаты испытаний. Отгрузку производят по положительным результатам испытаний, проведенных на этом типе микросхем.
При отрицательных результатах испытаний, проводимых с периодичностью, равной 12 мес, изготовитель в месячный срок совместно с техническим контролем анализирует причины отрицательных результатов испытаний, разрабатывает и согласовывает с техническим контролем мероприятия по повышению качества микросхем.
На основе анализа технический контроль и изготовитель принимают совместное решение о порядке приемки текущей продукции.
До принятия этого решения приемку текущей продукции и отгрузку ранее принятых микросхем временно приостанавливают.
После внедрения мероприятий в производство проводят новые испытания. До окончания этих испытаний приемку текущей продукции производят на основании совместного решения.
При отрицательных результатах новых испытаний приемку и отгрузку приостанавливают до приведения качества микросхем в соответствии с требованиями настоящего стандарта.
Результаты периодических испытаний оформляют протоколом.
При положительных результатах испытаний протокол утверждает начальник технического контроля, при этом устанавливается пятидневный срок его оформления и утверждения.
При отрицательных результатах испытаний, после проведения анализа дефектов, обнаруженных при испытаниях, протокол утверждает руководство изготовителя и начальник технического контроля (или лица на то уполномоченные).
2.4.12—2.4.14. (Измененная редакция, Изм. № 1).
Срок действия протокола испытаний равен периодичности испытаний. При этом датой начала срока действия протокола очередных периодических испытаний устанавливают (при положительных результатах испытаний) дату окончания срока действия протокола предыдущих испытаний.
Периодические испытания должны быть окончены в течение срока действия протокола предыдущих испытаний.
До получения результатов очередных периодических испытаний, проводимых в соответствии с графиком, микросхемы принимают и отгружают по положительным результатам предыдущих испытаний.
Все дефектные микросхемы, обнаруженные при испытаниях (независимо от результатов испытаний), анализирует изготовитель совместно с техническим контролем.
На основании анализа, при необходимости, изготовитель разрабатывает и согласовывает с техническим контролем мероприятия по устранению причин появления дефектов и внедряет их в производство.
Если для проведения периодических испытаний микросхемы распаивают на печатные платы, то измерение электрических параметров производят до и после распайки микросхем.
Микросхемы, отказавшие при распайке их на платы из-за ошибки оператора, из выборки исключают, заменяют годными и при оценке периодических испытаний не учитывают.
Микросхемы, прошедшие испытания по группам П-1, П-2 и П-6 и отвечающие требованиям стандартов или технических условий на микросхемы конкретных типов, могут быть отгружены, потребителю по согласованию с техническим контролем.
Испытания на долговечность при квалификационных испытаниях проводят по ГОСТ 25359—82, а при периодических испытаниях по стандартам, утвержденным в установленном порядке.
Выборку испытаний рассчитывают по формуле
Л1= К°Л
Ь-Т ’
где К— интенсивность отказов в течение наработки (п. 1.6.1.2), 1/ч;
Т — длительность испытаний, ч;
Ко,6—коэффициент-, значения которого выбирают из табл. 9 в зависимости от числа А отказавших при испытаниях микросхем.
Таблица 9
|
1 1 А |
0 |
1 |
2 |
3 |
4 ' |
5 |
6 |
|
Кол |
0,92 |
J 2,0 |
3,1 |
4,2 |
5,2 |
6,3 |
1 7,3 |
2.2.4.16—2.2.5. (Измененная редакция, Изм. № 1).
Испытания на сохраняемость проводят по ГОСТ 21493—76.
Параметры — критерии годности микросхем в течение срока сохраняемости должны оставаться в пределах норм, установленных в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов для данной категории испытаний.
Испытания проводят на одном (любом) типе микросхем от данной серии и в результаты испытаний распространяют на все микросхемы данной серии.
Число микросхем, отбираемых на длительное хранение, должно соответствовать указанным в табл. 10.
Таблица 10
|
Степень интеграции микросхем по ГОСТ 17021-88 |
Объем выборки, шт. |
Объем частей выборки и периодичность их отбора |
|
|
шт. |
периодичность |
||
|
ИС1, ИС2 |
80 |
10 |
|
|
ИСЗ |
64 |
8 |
Ежеквартально |
|
ИС4 |
48 |
6 |
два года подряд |
|
ИС5 и более |
40 |
5 |
|
Если состав типовых испытаний совпадает с полным составом испытаний одной или нескольких групп периодических испытаний- и испытуемые микросхемы изготовлены на том же участке (цехе), где должно осуществляться их дальнейшее производство, то при положительных результатах типовые испытания могут быть засчитаны как очередные периодические испытания по соответствующим группам микросхем, изготовленных с изменениями, принятыми по результатам типовых испытаний.
Методы контроля
Методы испытаний микросхем должны соответствовать ГОСТ 20.57.406—81 и стандартам, утвержденным в установленном порядке.
Схема включения и электрические режимы, в соответствии с которыми осуществляют контроль электрических параметров — критериев годности микросхем при испытаниях, указывают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.
Параметры, контролируемые до и после каждого вида испытаний, указывают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов из состава параметров категории С; параметры, контролируемые в процессе испытаний, — из состава параметров категорий С, П, К, Т, Д, Сх для соответствующих видов испытаний.
Если в процессе испытаний невозможен контроль параметров непосредственным измерением параметра, то проводятся с установленной периодичностью контроль испытуемых микросхем по параметрам и методике, установленным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.
Для испытаний, по условиям проведения которых при нормальной температуре создается дополнительный перегрев микросхем (испытания по проверке устойчивости к пониженному давлению и др.), значения контролируемых параметров устанавливают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов с учетом температуры перегрева элементов микросхем, определяющих значения параметра.
Проверку электрических параметров микросхем проводят, как правило, на автоматизированном измерительном оборудовании. .
При этом схемы коммутации этого оборудования могут отличаться от схем коммутации, указанных в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.
При измерениях электрических параметров на автоматизированном оборудовании по всем категориям испытаний при получении результатов, не соответствующих нормам, указанным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, допускается по согласованию с техническим контролем повторение измерения электрических параметров микросхем.
. Перед испытанием на способность к пайке проводят ускоренное старение.
(Введен дополнительно, Изм. № 1).
Методы испытаний на надежность должны соответствовать ГОСТ 25359—82.
Испытание микросхем на безотказность проводят в течение 500 ч, а испытание на долговечность по группе П-6 в течение 1000 ч под максимальной электрической нагрузкой при повышенной рабочей температуре среды. Конкретный электрический режим и значение повышенной рабочей температуры среды указывают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
Конкретный электрический режим и значение повышенной рабочей температуры среды указывают в стандартах или технических условиях на микросхемы,конкретных типов.
