Примечания:
Допускается контроль по группе С-2 проводить по результатам контроля технологической оснастки и инструмента. Порядок проведения контроля устанавливают по согласованию с техническим контролем и Госприемкой (при ее наличии).
Функциональный контроль проводят для микросхем третьей и более высокой степеней интеграции. В технически обоснованных случаях допускается совмещение функционального контроля с проверкой электрических параметров. Если функциональный контроль проводят на максимальной рабочей частоте, проверку динамических параметров исключают.
Допускается по согласованию с основным потребителем и Госприемкой (при наличии) вместо проверки статических параметров при повышенной и пониженной температурах среды (и функционального контроля для интегральных микросхем р-, n-канальных и КМОП-технологий) проводить проверку статических параметров и функциональный контроль при нормальных климатических условиях по нормам и режимам, обеспечивающим установленные значения параметров и функционирование при повышенной (пониженной) температуре среды.
В этом случае для подтверждения гарантий по электрическим параметрам в диапазоне температур испытания по группе П-2 проводят 2 раза в три месяца.
В состав партии, предъявляемой к приемке, должны включаться микросхемы одного типа (типономинала).
Объем партии микросхем, предъявляемых к приемке,— до 35000 шт. Проверку микросхем проводят последовательно на одной выборке, а для испытаний по группе С-2 на части этой выборки. I
Приемо-сдаточные испытания проводят методом выборочного одноступенчатого контроля.
Сплошной контроль для приемо-сдаточных испытаний применяют по группам С-1, С-3 для партий объемом от 2 до 90 шт.
Планы выборочного контроля качества для групп испытаний С-1 и С-3 — по TOQT 18242—72. Вид контроля — нормальный, тип плана контроля — одноступенчатый, уровень контроля — 11.
Для испытаний по группе С-3 приемочный уровень дефектности устанавливают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов из ряда: 0,10; 0,15; 0,25.
Приемочный уровень 1,00% устанавливают в технически обоснованных случаях.
Для испытаний по группе С-1 приемочный уровень дефектности не должен быть более 2,50% и устанавливается в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.
План контроля для группы С-2 приведен в табл. 4.
Таблица 4
|
Число микросхем в партии, шт. |
Число микросхем в выборке, шт. |
Допустимое число дефектных микросхем в выборке, шт. |
|
2—150 |
2 |
0 |
|
151—1200 |
5 |
0 |
|
1201—10000 |
10 |
0 |
|
10001—35000 |
20 |
0 |
Комплектование выборки для испытаний проводит технический контроль .
Анализ выявленных дефектов и выявление причин, вызвавших их появление, проводят совместно с техническим контролем.
Приемку микросхем приостанавливают в тех случаях, если из 10 последовательно предъявленных партий (включая повторно предъявленные) три партии были возвращены изготовителю, при этом возврат партий по внешнему виду и маркировке не учитывают. .Отсчет проверенных партий ведут от любой возвращенной партии.
Приемку возобновляют после анализа причин появления дефектов и принятия мер по устранению и производят по планам нормального контроля. При этом отсчет проверенных партий ведут от любой возвращенной патрии, предъявленной после внедрения мероприятия по устранению причин появления дефектов.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Микросхемы, принятые техническим контролем, до их отгрузки находятся на складе изготовителя. Отгрузку микросхем, прошедших приемо-сдаточные испытания, производят при наличии положительных результатов периодических испытаний.
Если между приемкой и отгрузкой микросхем изготовителем проходит более шести месяцев, то каждая партия микросхем должна быть выборочно перепроверена по группам С-1 и С-3 в соответствии с требованиями настоящего стандарта и стандартов или технических условий на микросхемы конкретных типов.
После перепроверки микросхемы подлежат упаковыванию в соответствии с п. 3.2.
Периодические испытания
Состав испытаний, деление состава на группы испытаний, последовательность испытаний в пределах группы и последовательность групп испытаний должны соответствовать указанным в табл. 5.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Таблица 5
|
Fpynrta испытания |
Вид и последовательность испытания |
Пункт настоящего стандарта |
|
|
технических требований |
методов испытаний |
||
|
П-1 |
Испытание на безотказность |
1.6.1 |
2.3.6 |
|
П-2 |
Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды |
1.5.1, а |
2.3.1 |
|
|
Испытание на воздействие повышенной рабочей температуры среды |
1.5.1, б |
2.3.1 |
|
|
Проверка • электрических параметров, отнесенных к категории П, при нормальных климатических условиях |
1.3.1 |
2.3.1 |
|
|
Функциональный контроль при: нормальных климатических уело- |
1.3.1 |
|
|
|
ВИЯХ |
Устанавливают |
|
|
|
|
|
в стандартах или ТУ на мик- |
|
|
|
|
росхемы конкретных типов |
|
|
повышенной рабочей температуре среды |
1.5.1 |
То же |
Продолжение табл. 5
|
Группа испытания |
Вид и последовательность испытания |
Пункт настоящего стандарта |
|
|
технических требований |
методов испытаний |
||
|
п-з |
Испытание на воздействие измене- |
1.5.1, в |
|
|
|
ния температуры среды Испытание на воздействие линей- |
2.3.1 |
|
|
|
ного ускорения Испытание на воздействие одиноч- |
1.4 |
2.3.1 |
|
|
ных ударов Испытание на воздействие повышенной влажности воздуха (кратко- |
1.4 |
2.3.1 |
|
|
временное) |
1.5.1, г 1.2.7 |
2.3.1 2.3.8 |
|
П-4 |
Проверка качества и прочности на- |
|
|
|
|
несения маркировки Проверка прочности внешних вы- |
3.1.1 1.2.9 |
2.3.8.1 2.3.8.2 |
|
|
водов Испытание на способность к пай- |
1.2.5 |
2.3.1 |
|
|
ке Испытание на теплостойкость при |
1.2.6 |
2.3.1 |
|
|
пайке |
1.2.6 |
2.3.1 |
|
|
Испытание на герметичность |
1.2.4 |
2.3.1 |
|
П-5 |
Испытание на вибропрочность |
1.4 |
2.3.1 |
|
|
Испытание на виброустойчивость Испытание на ударную прочность |
1.4 |
2.3.1 |
|
|
(многократные удары) |
1.4 |
2.3.1 |
|
П-6 |
Испытание на долговечность |
1.6.1 |
2.3.6 |
Примечания:
Испытания по группе П-5 проводят в течение двух лет с начала серийного производства. При положительных результатах в дальнейшем эти испытания не проводят. При этом, если в дальнейшем при испытаниях по группе П-3 возникнут отказы при воздействии линейных нагрузок, то дополнительно проводят испытания по группе П-5.
Для микросхем в корпусах типа 2 по ГОСТ 17467—88 проверку прочности внешних выводов группы П-4 не проводят.
Для микросхем монолитной конструкции испытание на герметичность группы П-4 и испытания на вибропрочно.сть и виброустойчивость группы П-5 не проводят. Вместо испытаний на герметичность проводят испытание на воздействие повышенной влажности воздуха (кратковременное).
Допускается при непрерывном цикле испытаний совмещать проверку электрических параметров перед каким-либо испытанием с такой же проверкой после предшествовавшего испытания.
Функциональный контроль проводят для микросхем третьей и более высоких степеней интеграции. В технически обоснованных случаях совмещают функциональный контроль с проверкой электрических параметров. Если функциональный контроль проводят на максимальной рабочей частоте, проверку динамических параметров исключают.
Проверку герметичности после проверки прочности внешних выводов по группе П-4 не проводят, а совмещают с проверкой герметичности в конце группы П-4.
Периодические испытания микросхем по группам П-1— П-4 проводят один раз в 3 мес.
Испытания по группам П-5 и П-6 проводят один раз в 12 мес, а по группе П-1 для микросхем, поставляемых для комплектации телевизионных приемников,— один раз в 6 мес.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Испытания по группе П-6 являются продолжением испытаний по группе П-1. За начало испытаний по группе П-6 принимают начало испытаний по группе П-1.
При получении положительных результатов трех последовательно проведенных испытаний по группе П-6 в дальнейшем проводят испытания один раз в три года.
При получении отрицательных результатов очередных испытаний по группе П-6 или увеличении признанных рекламаций осуществляют переход на испытания с прежней периодичностью.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Если в технических условиях проведено разделение совокупности микросхем, входящих в данную серию, на группы типов, комплектование выборок по группам П-1, П-2 и П-6 проводят в отдельности от каждой группы типов микросхем одного (любого) типа. Тип микросхем, подлежащий периодическим испытаниям, определяет отдел технического контроля и Госприемка (при ее наличии) совместно с руководством предприятия-изготовителя с учетом того, что очередные периодические испытания следует проводить на микросхемах другого типа. Оценку результатов испытаний относят к каждой группе типов в отдельности.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Комплектование выборки для испытаний по группам П-3—П-5 проводят одним любым типом микросхем данной серии. Результаты испытаний распространяют на все типы микросхем данной серии.
Если в группу типов входят микросхемы с разными типами корпусов, то выборки для испытаний по группам П-З—П-5 комплектуют микросхемами от каждого типа корпуса в отдельности. Результаты испытаний в этом случае распространяют на микросхемы всех типов, выпускаемых в корпусах данного типа.
Объемы выборок, приемочные и браковочные числа периодических испытаний — по ГОСТ 25360—82. Объемы выборок и приемочные числа, указанные в табл. 6—8, являются предпочтительными.
/
В технически обоснованных случаях объем выборки для мощных, уникальных и дорогостоящих микросхем устанавливают иным по согласованию между изготовителем и потребителем.
Для планирования испытаний по группам П-1 и П-6 применяют планы выборочного одноступенчатого контроля, установленного в табл. 6.
Таблица 6‘
|
Степень интеграции микросхем по ГОСТ 17021—75 |
Объем выборки, шт. |
Приемочное число С, шт. |
||
|
Испытание на безотказность |
Испытание на долговечность |
|||
|
ИС1, ЙС2 |
50 |
20 |
0 |
|
|
ИСЗ (цифровые) ИСЗ (аналоговые) |
30 |
15 |
0 |
|
|
ИС4 (цифровые) |
20 |
12 |
0 |
|
|
ИС4 (аналоговые), ИС5 |
15 |
10 |
0 |
|
|
ИС6 и выше |
10 |
8 |
0 |
|
Допускается увеличение (уменьшение) количества микросхем,, подлежащих испытаниям, при пропорциональном уменьшении (увеличении) продолжительности испытаний.
При одноступенчатом контроле результаты испытаний по группам П-1 и П-6 считают положительными, если в выборке не было обнаружено ни одного отказа.
Результаты испытаний считают отрицательными, если в выборке обнаружено более одного отказа.
При обнаружении в выборке одного отказа сразу проводят повторные испытания на выборке того же объема. Одновременно изготовитель совместно с техническим контролем проводит анализ причин появления отказа.
