Страница 3: ГОСТ 11630-84. Приборы полупроводниковые. Общие технические условия (72170)

для групп испытаний К-1 — К-4 — планы контроля, установлен­ные для групп С-1 — С-4 соответственно;

для групп испытаний К-5 — К-8 — планы контроля, установлен­ные для групп П-1 — П-4 соответственно;

для группы испытаний К-9 — план контроля, установленный для группы П-3;

для группы К-10 по последовательности 1 испытаниям подверга­ют по 1 шт. потребительской, дополнительной (при ее наличии) и транспортной тары при приемочном числе, равном нулю;

по последовательностям 2 и 3 испытаниям подвергают 1 шт. транспортной тары с упакованными приборами, контролируемыми по плану, установленному для группы П-2;

для группы испытаний К-11 — по плану контроля, установлен­ному в стандартах или технических условиях на приборы конкрет­ных типов, необходимому для подтверждения заданного значе­ния интенсивности отказов.

Допустимое число отказов А и число приборов, подлежащих испытанию По, определяют при доверительной вероятности Р*=0,6.

Объем выборки определяют по формуле где По — число испытуемых приборов;

Ко 6 — коэффициент, значение которого выбирают по ГОСТ 25359—82;

Х_э — значение интенсивности отказов, установленное в стан­дартах или ТУ на приборы конкретных типов;

г — коэффициент ускорения, определяемый по стандартам, утвержденным в установленном порядке;

t — время проведения испытаний.Если для данного типа прибора не представляется возможным определить коэффициент ускорения, ТО Пг>= - ,

Лэ t

где t — время проведения испытаний, не превышающее время на­работки для данного типа прибора.

Для приборов с рассеиваемой мощностью более 1 Вт, требую­щих изготовления крупногабаритных стендов с отводом большого количества тепла, а также для приборов, выпускаемых малыми партиями, время испытаний допускается устанавливать в стандар­тах или ТУ на приборы конкретных типов равным или большим значения наработки /_н-

Конкретные значения fi_D, А, г и t указывают в стандартах или ТУ на приборы конкретных типов.

Допускается подтверждать заданную интенсивность отказов по результатам испытаний, суммарной выборки, накопленной за опре­деленный период, установленный в стандартах или ТУ на приборы конкретных типов:

для группы испытаний К-12 — план контроля, установленный для группы П-2;

для группы К-13 — план контроля, установленный для груп­пы П-4;

для группы К-14 испытаниям подвергают выборку п=3 шт. при приемочном числе С=0.

Таблица 4

Проверку приборов проводят последовательно на одной выбор­ке или на части ее для групп испытаний С-1, С-3, С-4.

Приемочный уровень дефектности устанавливают в стандаратах или ТУ на приборы конкретных типов из ряда:

для группы испытаний С-1:

1,50; 2,50;

для группы испытаний С-2:

0,10; 0,15; 0,25; 0,40;

для группы испытаний С-3

:

0,10; 0,15; 0,25; 0,40; 0,65; 1,0. Приемочные уровни дефектности 0,65 и 1,00 устанавливают в технически обоснованных случаях.

Таблица 5.

Продолжение табл. 5

Примечание. Если для установленного приемочного уровня дефектности объем выборки равен или больше объема партии, применяют сплошной конт­роль данной партии.

Таблица 6

Продолжение табл. 6