Таблица &
|
' Наименование показателя |
Номер пункта стандарта |
Количество пленки |
|||
|
основных параметров и размеров и технических требований |
методов испытаний |
Объем выборки от партии, %( |
Количе« CTBO об" разцов |
||
|
1, Маркировка |
2.5 |
4.12 |
2 |
. |
|
|
2. Упаковка |
2.4 |
4.12 |
2 |
__ |
|
|
2.2.7 |
4.11 |
—. |
3 |
|
|
листах пленки |
1.4 |
4.3 |
2 |
|
|
|
5. Наличие дефектов |
2.2.6 |
4.10 |
3 |
||
|
6. Размеры |
1.2; 1.4 |
4.2 |
— |
3 |
|
|
7. Толщина приемного слоя |
2.2.2 |
4.5 |
|
2 |
|
|
8. Фотографические показатели |
2.2.3; |
4.5; |
— |
6 |
|
|
|
2.2.5 |
4.10 |
6 |
||
|
9. Физические показатели |
2.2.4; |
4.7— |
|
6 |
|
|
|
2.2.5 |
4.10 |
|
|
|
Примечания:
И. Объем выборки должен быть не менее одного рулона или одного пакета с листовой пленкой.
2. Отбор образцов следует проводить из выборки пленки,
При получении неудовлетворительных результатов, хотя бы по одному из показателей, проводят повторные испытания удвоенного количества пленки, взятой от той же партии.
Результаты повторных испытаний распространяют на всю партию.
МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ
Испытания пленок проводят при нормальных климатических условиях: температуре (25±10)°С и относительной влажности воздуха от 45 до 80% • -
Определение размеров пленок
Размеры рулонных пленок определяют по ГОСТ 4896. Длину рулонных пленок определяют по счетчикам, установленным на лентопротяжных механизмах.
Размеры листовых пленок определяют на 3 листах при помощи контактных или оптических измерительных приборов с погрешностью измерения не более 0,02 мм.
Наличие углового среза на листах пленки проверяют визуально.
Показатели ісветомодуляционной способности и глубины элемента изображения определяют при оптимальном режиме проявления.
Определение толщины рабочего слоя
Толщину слоев определяют на 2 листах листовой пленки или на двух образцах рулонной пленки длиной 150 мм каждый, взятых от начала или конца рулона.
Аппаратура
Микроинтерферометр типа МИИ-4 или аналогичный ему прибор.
Проведение измерений _ /
Образец пленки кладут на предметный столик микроинтерферометра рабочим слоем вниз и прижимают. В поле зрения микро- интерферометра видны три системы интерференционных полос, первая из которых соответствует отражению света от светочувствительного слоя, вторая — от полимерного подслоя, третья —от электропроводящей подложки.
Измеряют по шкале окуляра расстояние между центрами соответствующих систем интерференционных полос и ширину одной интерференционной полосы.
Измерения проводят не менее чем в 3 точках на образце пленки.
Обработка результатов л*
Толщину слоев (d), мкм, рассчитывают по формуле а=0,27-^—, Д N-n
где N—расстояние между центрами соответствующих систем интерференционных полос в делениях шкалы окуляра, мкм: ■ . -
&N—ширина одной интерференционной полосы в делениях шкалы окуляра;
п— коэффициент преломления материала слоя, равный- 1,6 для светочувствительного слоя и 1,0 для полимерного подслоя. '
Толщину рабочего слоя рассчитывают как сумму толщин светочувствительного слоя и полимерного подслоя.
За результат принимают среднее арифметическое значение полученных измерений.
Определение фотографических показателей
Метод отбора образцов
От края листовых пленок с электропроводящим слоем по их длине вырезают не менее 6 образцов шириной 35 мм, от рулонной пленки на расстоянии не менее 0,5 м от начала или конца рулона вырезают не менее 6 образцов длиной 150 мм каждый.
Аппаратура
Блок зарядного очувствления пленки
Блок зарядного очувствления пленки состоит из скоротрона, который должен обеспечивать достижение заданного значения потенциала на поверхности пленки за время не более 10 с, и устройства для измерения значения потенциала и его изменения в результате темнового и светового спадов заряда с погрешностью ±5%..
Устройство для экспонирования
Устройство для экспонирования пленки состоит из источника света в виде лампы накаливания с цветовой температурой 2850 К, набора теплозащитных и нейтральных светофильтров и фотозатвора.
Источник излучения должен обеспечивать в плоскости экспонирования освещенность (100±10) лк. Неравномерность средней освещенности должна быть не более 5%. Фотозапвор должен обеспечивать время экспонирования от 1 до 60 с погрешностью не более 0,1 с.
Кассетная часть должна обеспечивать контакт с электропроводящей подложкой образца пленки, его плоскостность и перемещение в положения, соответствующие проведению необходимых операций.
Устройство для впечатывания растров
Устройство для впечатывания растров должно состоять из двух контактных штриховых растров с пространственными частотами f=50'мм-1 и f—100 мм*1 и разностью плотностей прозрачных и непрозрачных штрихов -не менее 1,5 и контактной миры одиночной линии шириной Vz f.Устройство должно быть конструктивно совмещено с устройством для экспонирования и обеспечивать плотный контакт раст- ров с поверхностью рабочего слоя образца пленки.
46.2.4. Устройство для проявления
Устройство для сенситометрического проявления должно обеспечивать нагрев пленки с плавным распределением температуры по ширине образца от 70 до 120°С или без перепада температуры. Время проявления — от 1 до 3 с.
4.G.2.5. Устройство для измерения светомодуляционной .способности
Измерение светомодуляционной способности проводят с участка изображения площадью 1 мм2 на гониофотометре или фото- метрирующем устройстве со светоизмерительной сферой, имеющем апертуру измерительной диафрагмы, равную F/24 (для /=50 мм-1) и F/12 (для f=100 мм-1), где F— фокусное расстояние объектива.
Погрешность измерения должна быть не более 5%.
4.Є.2.6. Прибор для измерения глубины элемента изображения— интерференционный микроскоп типа МИИ-4 или аналогичный ему прибор с погрешностью измерения ±0,1 мкм.
Проведение испытания
Образец пленки вставляют в кассетное устройство и очувствляют до заданного значения потенциала (Vo)-. Необходимое значение, потенциала Vo задается напряжением, поданным на управляющую сетку зарядного устройства.
Образец в кассетном устройстве перемещают под зонд электрометра и измеряют значение потенциала Vo. Измеряют изменение потенциала в темноте за 10 мин (AVT).
Проводят очувствление образца пленки по п. 4.6.3.1» после чего его экспонируют при установленном значении освещенности (Е) и измеряют время полуспада потенциала (/од) •
Проводят впечатывание ' растра с f=50 мм*1 или f=100 мм*1 или миры одиночной линии шириной */г f. при значении экспозиции #=0,5 E-tQi5 (лк-с).
Экспонированный образец со скрытым изображением вынимают из кассетного устройства при цеактиничном освещении не позднее чем через 10 мин, приводят в контакт со стороны основы с- рабочей поверхностью барабана устройства для сенситометрического проявления. Время контакта образца пленки с поверхностью барабана устанавливают в интервале от 1 до 3 с.
Экспонированный образец со скрытым изображением .растра проявляют на барабане с перепадом температур.
Экспонированный образец со скрытым изображением миры одиночной линии проявляют на барабане при оптимальной температуре проявления
.Измерение светомодуляционной способности проводят на участке проявленного образца пленки с впечатанным растром, соответствующем оптимальному режиму проявления, гДе значения измеряемой величины максимальны.
Измерение глубины элемента изображения проводят на участке образца проявленной пленки с впечатанной одиночной линией.
Определение числа циклов дозаписи и перезаписи проводят на образце пленки с впечатанной одиночной линией. При дозаписи на свободном участке образца проводят повторные впечатывания одиночной линии по пп. 4.6.3.3—4.6.3.5. При этом после каждого цикла дозаписи измеряют глубину всех изображений одиночных ЛИНИЙҐПО п. 4.6.3.7.
При перезаписи первичное изображение на пленке стирается путем нагрева при температуре на 20°С превышающей температуру проявления. Затем проводят повторное впечатывание одиночной линии по пп. 4.6.3.3—4.6.3.5. При этом после каждого цикла перезаписи измеряют глубину изображения одиночной линии по п. 4.6.3.7.
Обработка результатов .
Электрофотографическую чувствительность (S)r (лк-с)-1, определяемую по полуспаду потенциала, рассчитывают по формуле
S= —,
£'^■0,5
где Б — освещенность, лк;
/о,5 — (Время полуспада потенциала, с.
За результат измерения принимают среднее арифметическое значение измерений 3 образцов.
Значение темнового спада потенциала (С) рассчитывают по формуле
‘ c=A^_.ioo%,
Vo
где AVT— изменение значения потенциала в темноте за 10 мин, В;
Vo—значение начального потенциала, В.
За результат принимают среднее арифметическое значение измерений 3 образцов.
Светомодуляционную способность (М) рассчитывают по формуле
М=-!=^,
где 7—значение тока фотоприемника, пропорциональное световому потоку в нулевом порядке дифракции на уча-
' стке образца без изображения, А;Іо—значение тока фотоприемника, пропорциональное световому потоку в нулевом порядке дифракции на участке Образца с изображением, полученным в' оптимальном режиме проявления, А.
За результат принимают среднее арифметическое значение измерений 3 образцов.
Глубину элемента изображения измеряют в микрометрах и за результат принимают среднее арифметическое значение измерений 3 образцов.
Числовые значения фотографических показателей рассчитывают с точностью 0,01 м округляют до 0,1.
Возможность дозаписи и перезаписи определяют по числу циклов, при котором глубина элемента изображения одиночной линии уменьшается не более чем на 10% ее первоначального значения.
4.7. Определение коэффициента св е т о п р о п ус к а- ни1? в видимой области спектра
Определение проводят на 3 образцах рулонной пленки длиной ~100 мм каждый или на 3 листах листовой пленки.
Измерение проводят при помощи микроденситометра типа ИФО-451 либо другого аналогичного прибора с точностью до 0,01.
На образце рулонной пленки отмечают не менее 3 участков, на листовой пленке не менее 5 участков размером ~1 см2 на разном расстоянии от краев образца. Измеряют оптическую плотность в пяти точках каждого отмеченного участка.
Определяют минимальное и максимальное значения оптической плотности (Anin и Z?max), рассчитывают соответствующие ИМ значения коэффициентов светопропускания (ттш и Ттах) ■
1 _ 1
Tmin- ]0Omin~:Хтах~ 10D max
и вычисляют среднее значение коэффициента оветопропускания
. JOO%.
За результат принимают среднее арифметическое значение полученных измерений и округляют до 1%.
4:8. Определение коэффициента светопропускания в’' интервале длин волн 400—450 нм проводят в соответствии с п. 4.7 с использованием спектрофотометров типов СФ-46, СФ-18 и СФ-20.
Определение плоскостности (стрелы прогиба) листовой пленки
Определение плоскостности проводят на 3 листах плейки.
Лист пленки старят вертикально на лист миллиметровой бумаги по ГОСТ 334'и определяют стрелу прогиба (в миллиметрах) стороны листа пленки, прилегающей к бумаге.
Затем меняют положение листа пленки и измеряют стрелу прогиба другой стороны.
За результат измерения принимают среднее арифметическое значение полученных измерений.
Определение светостойкости
Определение проводят на 6 образцах рулонной пленки длиной не менее 450 мм каждый или на 6 листах листовой -пленки.
Аппаратура
Читальный аппарат АЧМ-22.
Микроинтерферометр МИИ-4 или аналогичный прибор.
