цiaльних способах впли- способах воздействия на
ву на нього него
- 9 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4.3.4 Прямі методи до-
сліджень
4.3.4.1 свiтлофоновий метод de Sonderforschungmethode
досліджень cn bright-field analysis
method
fr m[e2]thode d'[e2]tude de
champ,claire
ru светлопольный метод ис-
следований
Метод вивчення об'єкта Метод изучения обЬекта в
у прохідному пучку елек- проходящем пучке электро-
тронів, визначення роз- нов, определения размеров
мірів і форми мікрочас- и формы микрочастиц и суб-
тинок і субмікрокрис- микрокристаллов
талів
4.3.4.2 метод Муара dу Moiremethode
еn Moire's method
fr m[e2]thode de Moire
ru метод Муара
Метод визначення між- Метод определения меж-
площинних відстаней поскостных расстояний
крисалічних граток і кристаллических решеток и
наявності в них дис- наличия в них дислокаций.
локацій. Для криста- Для кристаллических реше-
лічних граток з міжпло- ток с межплоскостным рас-
щинною вiдстанню, мен- стоянием менее 0,2 нм
шою від 0,2 нм
4.3.4.3 дислокації de Versetzung
en dislocations
fr dislocation
ru дислокации
Дефекти кристалічних Дефекты кристаллической
граток у вигляді ліній з решетки, представляющие
порушенням правильно- собой линии с нарушением
го чергування атомних правильного чередования
площин атомних плоскостей
4.3.4.4 темнофоновий метод de Dunkellichtforschungsver-
досліджень fahren
en dark-field analysis method
fr m[e2]thode d'[e2]tude de *
champ sombre
ru темнопольный метод исследо-
ваний
Метод підвищення кон- Метод повышения контрас-
трасту при одержанні та изображения при получе-
зображення розсіяним нии его рассеянным пуч-
пучком електронів ком электронов
4.3.4.5 метод мікродифракції de Вeugungsyerfahren
en diffraction method
- 10 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
fг m[e2]thode de diffraction
ru метод микродифракции
Метод одержання диф- Метод получения дифракци-
ракційної картини діля- онной картины участков
нок об'єкта (діаметром обЬекта (диаметром 1-2
1-2 мкм) для ідентифі- мкм) для идентификации
кації кристалічних фаз, кристаллических фаз,
визначення їх тонких определения их тонких
структурних особливос- структурных особенностей
тей
4.3.4.6 метод ультратонких dе D[u1]nnschnittverfahren *
зрізів еn method оf ultra fine cut-
offa
fr m[e2]thode dе сouрes *
ultraminces
ru метод ультратонких срезов
Метод безпосередніх до- Метод непосредственных СЛ
сліджень ультратонких исследований ультратонких
зрізів зразка (не біль- срезов оразца (не более
ше 2000 нм завтовшки), 2000 нм толщиной), получе-
одержаних на ультра- нных на ультрамикротоме
мікротомі
4.3.4.7 ультрамікротом dе Ultramikrotom
еn ultramicrotome
fr ultramicrotome
ru ультрамикротом
Прилад для одержання Прибор для получения тон-
тонких зрізів спеціа- ких срезов специально под-
льно підготовлених готовленых обЬектов (тол-
об'єктів (завтовшки до щиной до 1000 нм) для эле-
1000 нm) для електрон- ктронной микроскпии
ної мікроскопії
4.3.5 Непрямі мето-
ди дослiджень
4.3.5.1 репліка de Transmissionsgitter
en replica
fr r[e2]pligue *
ru реплика
Копiя, злiпок з рельєфу Копия, слепок с рельефа
досліджуваного об'єкта исследуемого обЬекта
4.3.5.2 метод реплік de Transmissionsgitterver-
fahren
en method of replica
fr m[e2]thode de r[e2]pligues *
ru метод реплик
Метод дослiдження Метод исследования обЬекта
об'єкта в електронному в электронном микрос-
мiкроскопі за допомогою копе при помощи отпечат-
- 11 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
відбитків, зліпків з його ков, cлепков с его рельефа
рельєфу
4.3.5.3 одноступінчаста реплі- de Finstufentransmissionsgitter
ка en one stage replica
fr r[e2]plique mono[e2]ta- *
g[e2]e *
ru одноступенчатая реплика
Репліка, яка знята без- Реплика снятая непосред-
посередньо з поверхні ственно с поверхности об-
зразка і одержана окис- разца и получаемая окисле-
ленням поверхні, або нием поверхности, или на-
нанесенням шару пласти- несением слоя пластика или
ка чи напиленням мета- напылением металла на эту
лу на цю поверхню поверхность
4.3.5.4 двоступінчата репліка de Zweistufentransmissionsgi-
tter
en two-stage replica
fr r[e2]plique [a4] deux *
[e2]tages *
ru двухступенчатая реплика
Pепліка, знята з контак- Реплика, снятая с контакт-
ного боку промiжного ной стороны промежуточного
вiдбитка отпечатка
4.3.5.5 репліка з екстракцією de Extraktionstransmissiosgit-
ter
еn replica with ехtraction
fr r[e2]plique avec extrac- *
tion
ru реплика с экстракцией
Репліка, яка містить у Реплика, содержащая в себе
coбi вкраплення дослід- вкрапления исследуемого
жуваного матеріалу материала
4.3.5.6 псевдореплiка dе Pseudotransmissionsgitter
en pseudoreplica
fr pseudo-r[e2]plique *
ru псевдореплика
Репліка, одержана відша- Реплика, получаемая путем
руванням тонкої плів- отслаивания тонкой плен-
ки досліджуваного мате- ки исследуемого материала
рiалу за допомогою на- с помощью нанесения рас-
несення розчину плас- твора пластика или пленки
тика або плівки металу металла
4.3.5.6 псевдореплiка dе Pseudotransmissionsgitter
en pseudoreplica
fr pseudo-r[e2]plique *
ru псевдореплика
Репліка, одержана відша- Реплика, получаемая путем
руванням тонкої плів- отслаивания тонкой плен-
- 12 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
ки досліджуваного мате- ки исследуемого материалла
рiалу за допомогою на- с помощью нанесения рас-
несення розчину плас- твора пластика или пленки
тика або плівки металу металла
4.3.5.7 метод збільшення dе Kontrastanhebungsverfahren
контрастності об'єкта en method of object contrast
range amplification
fr m[e2]thode d'accentuation *
des соntrastes d'un objet
ru метод усиления контрас-
тности обЬекта
Метод відтінення по- Метод оттенения повер-
верхні об'єкта шаром ме- хности объекта слоем ме-
талу, напиленням його у талла, напылением его в
вакуумі на досліджуваний вакууме на поверхность обЬ-
об'єкт або репліку під екта или реплику под неко-
деяким кутом до по- рым углом к поверхности
верхнi
4.3.5.8 розпилювальна вакуум- de Vakuumbedampfungsanlage
на установка en vacuum spraying device
fr dispositif de pulv[e2]ri- *
sation, [a4] vide *
ru распылительная вакуумная
установка
Спецiальна вакуумна ус- Специальный вакуумный
тановка для розпилюван- прибор для распыления при
ня при нагріванні у ва- нагревании в вакууме угле-
куумі вуглецю, кварцу, рода, кварца, различных
різних металів та інших металлов и др. веществ
речовин
4.3.6 Спеціальнi методи
дослiджень
4.3.6.1 панорамне знімання dе Рanoramaaufnahme
en раnoramic survеу
fr prise de vue panoramique
ru панорамная съемка
Метод виконання вели- Метод выполнения большо-
кої кількості знімків го числа снимков различ-
різних частин одного ных участков одного обьек-
об'єкта за постійних та при постоянных усло-
умов виях
4.3.6.2 стереомікроскопічний de Stereomikroskopverfahren
метод еn stereoscopie microscope
method
fr m[e2]thode st[e2]r[e2]o- *
microscopique
ru стереомикроскопический
метод
Метод визначення струк- Метод определения струк-
- 13 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
тури поверхні об'єкта, туры поверхности объекта,
розмірів і орієнтації фаз, размеров и ориентировки
характеру розміщення фаз, характера расположе-
кристалів шляхом одер- ния кристаллов путем полу-
жання стереоскопічних чения стереоскопических
знімкiв снимков
4.3.6.3 метод фазовоконтраст- de Phasenkontrastmikroskopi-
ної мікроскопії everfahren
en phase-contrast microscopy
fr m[e2]thode de microscopie *
dе соntraste dе phase
ru метод фазовоконтрастной
микроскопии
Метод підвищення конт- Метод повышения контрас-
расту окремих фаз об'є- та отдельных фаз обЬекта
кта шляхом напилення путем напыления слоя ме-
шару металу з великим талла с большим атомным
атомним номером або номером или введения в
введення в об'єкт ме- объект металлов, дающих
талів, які дають інше иное рассеяние электронов,
розсіювання електронів, чем сама фаза
ніж сама фаза
4.3.6.4 метод іонного тривлен- dе Ionen[a1]tzungverfahren *
ня en ionic etching method
fr m[e2]thode d'attaque *
ionique
ru метод ионного травления
Метод бомбардування у Метод бомбардировки в ва-
вакуумі полірованої по- кууме полированной повер-
верхні об'єкта позитив- хности образца положитель-
ними іонами ными ионами
4.3.6.5 метод декорування de Objektdekorierungsverfahren
об'єкта en ohject decorating method
fr m[e2]thode de d[e2]cora- *
tion d'un objet
ru метод декорирования объ-
екта
Метод дослідження Метод исследования обьек-
об'єкта шляхом напи- та путем напыления на его
лення на його поверхню поверхность вещества, об-
речовини, яка утворює разующего на активных
на активних делянках участках поверхности заро-
поверхні зародки крис- дыши кристаллов, что дела-
талів і робить ці діля- ет эти участки видимыми
нки видимими
4.3.6.6 метод охолодження de Objektk[u1]hlungsverfahren *
об'єкта еn object cooling methode
fr mithode dе refroidissement
d'un objet
ru метод охлаждения объекта
- 14 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
Метод дослідження охо- Метод исследования охлаж-
лоджених у камері об'єк- денных в камере обЬектов
тів препаратів, які руй- препаратов, разрушающих-
нуютъся під дією елек- ся под действием электрон-
тронного опромінення ного облучения (биологи-
(бiологічні, органічні) ческие, органические)
4.3.6.7 метод нагрiвання de Objektw[a1]rnungsverfahren *
об'єкта en object heating method
fr m[e2]thode de chauffement
d'un objet
ru метод нагревания обьекта
Метод дослідження пе- Метод исследования превра-
ретворень об'єкта при щений в обЬекте при его
його нагріванні до зада- нагревании до заданной тем-
ної температури в камері пературы в камере обьектов
об'єктів електронного электронного микроскопа
мікроскопа
4.3.6.8 метод газової камери de Gaskammerverfahren
en method of gaz chamber
fr m[e2]thode de chambre [а1] *
gaz
ru метод газовой камеры
Метод дослідження пе- Метод исследования превра-
ретворень в об'єкті в ат- щений в обьекте в атмосфе-
мосфері газу, введеного в ре газа, введенного в камеру
камеру об'єктів елек- объектов электронного мик-
тронного мікроскопа роскопа
4.3.7 Методи растрової
електронної мiкро-
скопії
4.3.7.1 метод вторинних de Sekund[a1]relektronver- *
електронів fahren
en method оf secondary
electrons
fr m[e2]thode des [e2]lect- *
rons secondaires
ru метод вторичных электро-
нов
Метод дослідження Метод исследования обьек-
об'єкта у вторинних та во вторичных электронах
електронах
4.3.7.2 метод відбитих елек- de Refrexionselektronverfahren
тронів en method оf reflected
elecirons
fr m[e2]thode des [e2]lec- *
trons r[e2]fl[e2]chis *
ru метод отраженных элек-
тронов
Метод дослідження Метод исследования обьєк-
- 15 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
об'єкта у відбитих та в отраженных от него
від нього електронів электронах
4.3.7.3 метод yвiбpaниx елек- de Absorbierelektronverfahren
тронів еn method ot absorbed
electrons
fr m[e2]thode des [e2]lec- *
trons absorb[e2]s *
ru метод поглощенных элек-
тронов
Метод дослiдження Метод исследования обьек-
обЬекта за допомогою та при помощи электронов,
електронів, увібраних поглощенных при сканиро-
при проходженні елек- вании электронного зонда
тронного зонда по по- по поверхности объекта
верхні об'єкта
4.3.7.4 метод катодолюмі- de Katodenlumineszenz
несценції en method of cathod luminis-
cence
fr m[e2]thode dе luminiscence
cathodique
ru метод катодолюминесцен-
ции
Метод дослiдження Метод исследования обьек-
об'єкта з використанням та с использованием опти-
оптичного випроміню- ческого излучения, возбуж-
вання, яке збуджується вдаемого в обьекте электрон-
в об'єкті електронним ным зондом
зондом
4.3.7.5 метод каналювання de Elektronenkanalverfahren
електpoнів еn method of electron chan-
neling
fr methode de canalisation
des electrone
ru метод каналирования элек-
тронов
Метод дослідження об'є- Метод исследования обьек-
кта за допомогою ефекту та при помощи эффекта ка-
каналювання електрон- налирования электронных
них пучків в об'єкті пучков в объекте
4.3.7.6 метод наведеного de Influensttromverfahren
струму еn method оf induced current
fr methode de courant induit
ru метод наведенного тока
Метод дослiдження Метод исследования обьек-
об'єкта з використанням та с использованием тока,
струму, який виникає в возникающего в цепи с по-
колі з напiвпровiднико- лупроводниковым объектом
вим об'єктом під впли- при воздействии нижнего
вом електронного зонда электронного зонда
- 16 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
4.3.7.7 метод прохідних de Durchgangselektronverfahren
електронів еn method of passed electrons
fr m[e2]thode des electrons *
pass[e2]s *
ru метод прошедших электро-
нов
Метод дослідження Метод исследования обЬек-
об'єкта електронами, які та электронами, прошедшими
пройшли через нього через него
4.3.7.8 метод рентгенівського dе R[o1]ntgenstrahlmethode *
випромінювання еn Х-rау radiation method
fr m[e2]thode de radiation Х
ru метод рентгеновского из-
лучения
Метод дослiдження об'є- Метод исследования обьек-
кта за допомогою харак- та при помощи характерис-
теристичного рентге- тического рентгеновского
нівського випроміню- излучения, возбуждаемого в
вання, яке збуджується в объекте электронным зон-
об'єктi електронним дом
зондом
4.3.7.9 метод модуляції de -Modulationsverfahren
еn -modulation method
fr m[e2]thode de modulation
ru метод модуляции
Метод дослідження об'є- Метод исследования обьек-
кта при складанні відео- та при сложении видеосиг-
сигналу iз струмом (на- нала с током (напряжени-
пругою) кадрової розгор- ем) кадровой развертки
тки
- 17 -
ДСТУ Б А.1.1-9-94
АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК УКРАЇНСЬКИХ ТЕРМІНІВ
аберації електронно-оптичні ............................ 4.2.8
дислокації ............................................. 4.3.4.3
електронограф .......................................... 4.1.7
знімання панорамне ..................................... 4.3.6.1
зображення у вторинних електронах
