---

ru метод отраженных элек-

тронов

Метод дослідження Метод исследования обьєк-

- 15 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

об'єкта у відбитих та в отраженных от него

від нього електронів электронах

4.3.7.3 метод yвiбpaниx елек- de Absorbierelektronverfahren

тронів еn method ot absorbed

electrons

fr m[e2]thode des [e2]lec- *

trons absorb[e2]s *

ru метод поглощенных элек-

тронов

Метод дослiдження Метод исследования обьек-

обЬекта за допомогою та при помощи электронов,

електронів увібраних поглощенных при сканиро-

при проходженні елек- вании электронного зонда

тронного зонда по по- по поверхности объекта

верхні об'єкта

4.3.7.4 метод катодолюмі- de Katodenlumineszenz

несценції en method of cathod luminis-

cence

fr m[e2]thode dе luminiscence

cathodique

ru метод катодолюминесцен-

ции

Метод дослiдження Метод исследования обьек-

об'єкта з використанням та с использованием опти-

оптичного випроміню- ческого излучения, возбуж-

вання, яке збуджується вдаемого в обьекте электрон-

в об'єкті електронним ным зондом

зондом

4.3.7.5 метод каналювання de Elektronenkanalverfahren

електpoнів еn method of electron chan-

neling

fr methode de canalisation

des electrone

ru метод каналирования элек-

тронов

Метод дослідження об'є- Метод исследования обьек-

кта за допомогою ефекту та при помощи эффекта ка-

каналювання електрон- налирования электронных

них пучків в об'єкті пучков в объекте

4.3.7.6 метод наведеного de Influensttromverfahren

струму еn method оf induced current

fr methode de courant induit

ru метод наведенного тока

Метод дослiдження Метод исследования обьек-

об'єкта з використанням та с использованием тока,

струму, який виникає в возникающего в цепи с по-

колі з напiвпровiднико- лупроводниковым объектом

вим об'єктом під впли- при воздействии нижнего

вом електронного зонда электронного зонда

- 16 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

4.3.7.7 метод прохідних de Durchgangselektronverfahren

електронів еn method of passed electrons

fr m[e2]thode des electrons *

pass[e2]s *

ru метод прошедших электро-

нов

Метод дослідження Метод исследования обЬек-

об'єкта електронами, які та электронами, прошедшими

пройшли через нього через него

4.3.7.8 метод рентгенівського dе R[o1]ntgenstrahlmethode *

випромінювання еn Х-rау radiation method

fr m[e2]thode de radiation Х

ru метод рентгеновского из-

лучения

Метод дослiдження об'є- Метод исследования обьек-

кта за допомогою харак- та при помощи характерис-

теристичного рентге- тического рентгеновского

нівського випроміню- излучения возбуждаемого в

вання, яке збуджується в объекте электронным зон-

об'єктi електронним дом

зондом

4.3.7.9 метод модуляції de -Modulationsverfahren

еn -modulation method

fr m[e2]thode de modulation

ru метод модуляции

Метод дослідження об'є- Метод исследования обьек-

кта при складанні відео- та при сложении видеосиг-

сигналу iз струмом (на- нала с током (напряжени-

пругою) кадрової розгор- ем) кадровой развертки

тки

- 17 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК УКРАЇНСЬКИХ ТЕРМІНІВ

аберації електронно-оптичні ............................ 4.2.8

дислокації ............................................. 4.3.4.3

електронограф .......................................... 4.1.7

знімання панорамне ..................................... 4.3.6.1

зображення у вторинних електронах

при електронному бомбардуванні ......................... 4.2.5

зображення у вторинних електронах

при іонному бомбардуванні .............................. 4.2.4

зображення світлофонове ................................ 4.2.1

зображення темнофонове ................................. 4.2.2

зображення у термоелектронах ........................... 4.2.6

зображення у фотоелектронах ............................ 4.2.7

метод відбитих електронів .............................. 4.3.7.2

метод вторинних електронів ............................. 4.3.7.1

метод газової камери ................................... 4.3.6.8

метод декорування об'єкта .............................. 4.3.6.5

метод досліджень світлофоновий ......................... 4.3.4.1

метод досліджень темнофоновий .......................... 4.3.4.4

метод електронної мікроскопії .......................... 4.3.1

метод збільшення контрастності об'єкта ................. 4.3.5.7

метод іонного травлення ................................ 4.3.6.4

метод каналювання електронів ........................... 4.3.7.5

метод катодолюмінесценції .............................. 4.3.7.4

метод мікродифракції ................................... 4.3.4.5

метод Муара ............................................ 4.3.4.2

метод наведеного струму................................. 4.3.7.6

метод нагрівання об'єкта ............................... 4.3.6.7

метод охолодження об'єкта .............................. 4.3.6.6

метод увібраних електронів ............................. 4.3.7.3

метод прохідних енектронів ............................. 4.3.7.7

метод рентгенівського випромінювання ................... 4.3.7.8

метод реплік............................................ 4.3.5.2

метод стереомікроскопічний ............................. 4.3.6.2

метод ультратонких зрізів .............................. 4.3.4.6

метод модуляції .................................... 4.3.7.9

метод фазовоконтрастної мікроскопії..................... 4.3.6.3

методи досліджень непрямі .............................. 4.3.3

методи досліджень прямі ................................ 4.3.2

методи досліджень спеціальні ........................... 4.3.4

мікродифракція ......................................... 4.2.3

мікроскоп автоелектронний .............................. 4.1.6

мікроскоп електронний .................................. 4.1.1

мікроскоп електронний високотемпературний .............. 4.1.10

мікроскоп електронний відбивний ........................ 4.1.3

мікроскоп електронний дзеркальний ...................... 4.1.5

мікроскоп електронний емісійний ........................ 4.1.4

мікроскоп електронний невисокої напруги................. 4.1.9

мікроскоп електронний просвічувальний .................. 4.1.2

мікроскоп електронний растровий ........................ 4.1.11

мікроскоп електронний тіньовий ......................... 4.1.8

псевдорепліка .......................................... 4.3.5.6

репліка ................................................ 4.3.5.1

репліка двоступінчаста ................................. 4.3.5.4

репліка з екстракцією .................................. 4.3.5.5

репліка одноступінчаста ................................ 4.3.5.3

ультрамікротом ......................................... 4.3.4.7

установка вакуумна розпилювальна ....................... 4.3.5.8

- 18 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

AБETKOBИЙ ПOKAЖЧИК HІМЕЦЬКИХ TEPMIHIB

Absorbierelektronverfahren ............................. 4.3.7.3

Beugungsverfahren ...................................... 4.3.4.5

Durchgangselektronverfahren ............................ 4.3.7.7

Durchtrahlungselektronenmikroskop ...................... 4.1.2

Dunkellichtbild......................................... 4.2.2

Dunkellichtforschungsverfahren ......................... 4.3.4.4

D[u1]nnschnichttverfahren .............................. 4.3.4.6 *

Direkte Forschungsmethoden ............................. 4.3.2

Einstufentransmissionsgitter ........................... 4.3.5.3

Elektronenbeugundsapparat .............................. 4.1.7

Elektronenkanalverfahren ............................... 4.3.7.5

Flektronenmikroskop .................................... 4.1.1

Elektronenmikroskoppieverfahren ........................ 4.3.1

Fleklronenoptische Aberrationen......................... 4.2.8

Elektronenspiegelmikroskop ............................. 4.1.5

Emissionselektronenmikroskop ........................... 4.1.4

Extraktionstransmissionsgitter ......................... 4.3.5.5

Feldelektronenmikroskop ................................ 4.1.6

Fotoelektronenbild ..................................... 4.2.7

Gaskammerverfahren...................................... 4.3.6.8

Gl[u1]helektronenbild .................................. 4.2.6 *

Helllichtbild .......................................... 4.2.1

Helllichtforschungsmethode ............................. 4.3.4.1

H[o1]chstspannungelektronenmikroskop ................... 4.1.9 *

Hochtemsperaturelektronenmikroskop ..................... 4.1.10

Indirekte Forschungsmethoden ........................... 4.3.3

Influenstromverfahren .................................. 4.3.7.6

Ionen[a1]tzungverfahren ................................ 4.3.6.4 *

Katodenlumineszenz ..................................... 4.3.7.4

Kontrastanhebungsverfahren ............................. 4.3.5.7

Mihrobeugung ........................................... 4.2.3

Moiremethode ........................................... 4.3.4.2

Objektdekorierungsverfahren ............................ 4.3.6.5

Objektw[a1]rmungsverfahren ............................. 4.3.6.7 *

Objektk[u1]hlungsverfahren ............................. 4.3.6.6 *

Panoramaaufnahme ....................................... 4.3.6.1

Phasenkontrastmikroskopieverfahren ..................... 4.3.6.3

Pseudotransmissionsgitter .............................. 4.3.5.6

Rasterelektronenmikroskop .............................. 4.1.11

Reflexionselektronenmikroskop .......................... 4.1.3

Reflexionselektronverfahren ............................ 4.3.7.2

R[o1]ntgenstrahlmethode ................................ 4.3.7.8 *

Schattenmikroskop ...................................... 4.1.8

Sekund[a1]relektronenbild beim Elektronenbeschuss....... 4.2.5 *

Sekund[a1]relektronenbild beim Lonenbeschuss ........... 4.2.4 *

Sekund[a1]relektronverfahren ........................... 4.3.7.1

Sonderforschungsmethoden ............................... 4.3.4

Stereomikroskopverfahren ............................... 4.3.6 2

Transmissionsgitter .................................... 4.3.5.1

Transmissionsgitterverfahren ........................... 4.3.5.2

Ultramikrotom .......................................... 4.3.4.7

Vakuumbedampfungsanlage ................................ 4.3.5.8

Versetzung ............................................. 4.3.4.3

Zweistufentransmissionsgitter .......................... 4.3 5 4

(Y)-Modulationsverfahren ............................... 4.3.7.9

- 19 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

AЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК АНГЛІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ

bright-field analysis method ........................... 4.3.4.1

hright-field image ..................................... 4.2.1

dark-field analysis method ............................. 4.3.4.4

dark-field image ....................................... 4.2.2

diffraction method ..................................... 4.3.4.5

direct methods of analysis ............................. 4.3.2

dislocations ........................................... 4.3.4.3

electron diffractometer ................................ 4.1.7

electron microscope .................................... 4.1.1

electron-optical abberations ........................... 4.2.8

emission microscope .................................... 4.1.4

field-emission microscope .............................. 4.1.6

hight temperasture electron microscope ................. 4.1.10

mage in secondary at an eletro bombardement ............ 4.2.5

image in secondary electrons at an ion bombardement..... 4.2.4

image in thermoelectrons................................ 4.2.6

indirect methods of analysis ........................... 4.3.3

ionic etching method ................................... 4.3.6.4

method of absorbed electrons ........................... 4.3.7.3

method of cathod luminiscence .......................... 4.3.7.4

method of gaz chamber................................... 4.3.6.8

method of electron channeling .......................... 4.3.7.5

method of electron microscopy........................... 4.3.1

method of imduced current .............................. 4.3.7.6

method of object contrast range amplifcation ........... 4.3.5.7

method of passed electrons.............................. 4.3.7.7

method of reflected electrons........................... 4.3.7.2

method of replica ...................................... 4.3.5.2

method of secondary electrons .......................... 4.3.7.1

method of ultra fine cut-offs .......................... 4.3.4.6

microdefraction ........................................ 4.2.3

mirror electron microscope ............................. 4.1.5

Moire's methods ........................................ 4.3.4.2

object cooling method .................................. 4.3.6.6

object decorating method ............................... 4.3.6.5

object heating method .................................. 4.3.6.7

one stage replica ...................................... 4.3.5.3

panoramic survey........................................ 4.3.6.1

phase-contrast microscopy .............................. 4.3.6.3

photoimage.............................................. 4.2.7

pseudoreplica .......................................... 4.3.5.6

reflection electron microscope ......................... 4.1.3

replica ................................................ 4.3.5.1

replica with extraction ................................ 4.3.5.5

scanning electron microscope ........................... 4.1.11

shadow electron microscope.............................. 4.1.8

special methods of analysis ............................ 4.3.4

stereoscopie microscope method ......................... 4.3.6.2

transmission electron microscope........................ 4.1.2

two-stage replica ...................................... 4.3.5.4

ultrahigh voltage electron microscope .................. 4.1.9

ultramicrotome ......................................... 4.3.4.7

vacuum spraying ........................................ 4.3.5.8

X-ray radiation method.................................. 4.3.7.8

Y-modulation method .................................... 4.3.7.9

- 20 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК ФРАНЦУЗЬКИХ ТЕРМІНІВ

abberations [e2]lectrono-optiques ...................... 4.2.8 *

auto-[e2]lectron projecteur............................. 4.1.5 *

diffractom[e2]tre [e2]lectronique ...................... 4.1.7 *

dislocations ........................................... 4.3.4.3

dispositif de pulv[e2]rization [a4] vide ............... 4.3.5.8 *

image de champ claire .................................. 4.2.1

image de champ sombre .................................. 4.2.2

image en [e2]lectrons secondaires au bomhardement ...... 4.2.5 *

image en [e2]lectrons secondaires au bombardement *

ionique ................................................ 4.2.4

image en photo-[e2]lectrons ............................ 4.2.7 *

image en thermo-[e2]lectrons ........................... 4.2.6 *

m[e2]thode d'accentuation des contrastes d'un objet..... 4.3.5.7 *

m[e2]thode d'attaque ionique............................ 4.3.6.4 *

m[e2]thode de canalisation des [e2]lectrons ............ 4.3.7.5 *

m[e2]thode de chambre [a4] gas ......................... 4.3.6.8 *

m[e2]thode de chauffement d'un objet ................... 4.3.6.7 *

m[e2]thode de coupes ultraminces........................ 4.3.4.6 *

m[e2]thode de courant induit............................ 4.3.7.6 *

m[e2]thode de d[e2]coration d'un objet ................. 4.3.6.5 *

m[e2]thode de diffraction .............................. 4.3.4.5 *

m[e2]thode de luminiscence cathodique .................. 4.3.7.4 *

m[e2]thode de microscopie de contraste de phase ........ 4.3.6.3 *

m[e2]thode de microscopie [e2]lectronique .............. 4.3.1 *

m[e2]thode de modulation ............................ 4.3.7.9 *

m[e2]thode de Moire .................................... 4.3.4.2 *

m[e2]thode de radiation X............................... 4.3.7.8 *

m[e2]thode de retroidissement d un objet ............... 4.3.6.6 *

m[e2]thode de repliques ................................ 4.3.5.2 *

m[e2]thode des [e2]lectrons absorb[e2]s ................ 4.3.7.3 *

m[e2]thode des [e2]lectrons pass[e2]s .................. 4.3.7.7 *

m[e2]thode des [e2]lectrons r[e2]flechis ............... 4.3.7.2 *

m[e2]thode des [e2]lectrons secondaires ................ 4.3.7.1 *

m[e2]thode d'[e2]tude de champ claire .................. 4.3.4.1 *

m[e2]thode d'[e2]tude de champ sombre................... 4.3.4.4 *

m[e2]thodes d'[e2]tude directes ........................ 4.3.2 *

m[e2]thodes d'[e2]tude indirectes ...................... 4.3.3 *

m[e2]thodes d'[e2]tude speciales ....................... 4.3.4 *

m[e2]thode stereomicroscopique ......................... 4.3.6.2 *

microdiffraction ....................................... 4.2.3

microscope [a4] [e2]mission ............................ 4.1.4 *

microscope [e2]lectronique.............................. 4.1.1 *

microscope [e2]lectronique [a4] mirroir................. 4.1.5 *

microscope [e2]lectronique [a4] trame .................. 4.1.11 *

microscope [e2]lectronique de haute temp[e2]rature ..... 4.1.1 *

microscope [e2]lectronique de tres haute tension ....... 4.1.9 *

microscope [e2]lectronique d'ombre ..................... 4.1.8 *

microscope [e2]lectronique par reflexion................ 4.1.3 *

microscope [e2]lectronique par transmission ............ 4.1.2 *

prise de vue panoramique ............................... 4.3.6.1

pseudo-r[e2]plique ..................................... 4.3.5.6 *

r[e2]plique ............................................ 4.3.5.1 *

r[e2]plique [a4] deux [e2]tages ........................ 4.3.5.4 *

r[e2]plique avec extraction ............................ 4.3.5.5 *

r[e2]plique mono[e2]tage[e2] ........................... 4.3.5.3 *

ultramicrotome ......................................... 4.3.4.7

- 21 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК РОСІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ

аберрации электронно-оптические ....................... 4.2.8