---

контроль наклона контактной поверхности испытательного образца, предназначенного для рзботы с наклонными искателями обеспечивается на угол наклона. >

_ Контроль точности изготовления плоскодонных отрелйтелей должен проводиться не каядом (после переточки сперла) образ­це после их разрезки по оси образце. Контроль прямолинейности отражательной поверхности плоскодонного отражателя образца следует производить универсальным миіфоскопом Ж]-21 или УИМ-23.

Длд обеспечения прямолинейности отражающей поверхности і плоскодонного отражателя необхода/.о инструмент по п.2.4. прове­рить на микроскопе УЕМ-21 или УШ-23. » ■

Измерение не параллельности контажкной и отражающей поверх­ностей следует производить микрометром типа МК»

1. 4. Шероховатость поверхности отверстия должна определяться на профилографах или методом слепков на разрезанных образцах.

   5. Оценку геометрических размеров испытательных образцов следует производить штангенциркулем.

2. ПАСПОРТ

   1. В, паспорте приводится эскиз испытательного образца, отмечается его регистрационный номер, марка стали образца. Должен быть дан эскиз образца с искусственными отражателями. На эскизе образца указывают его геометрические размеры,шерохо­ватость рабочей поверхности, геометрические размеры отражате­лей,масштаб, в которой выполнен эскиз»

К паспорту прилагается аттестат измерений, ні полненный службой отдела главного метролога.

Паспорт утверждается руководителем службы контроля»-5. УЧЕТ И ХРАНЕНИЕ

Образцы должны храниться в специально отведенном месте

.пршютаж 2

Рекомендуемое

ЬЕТОдаКА настройки чувствиштаости джктоскопд

1. Контрольный и поисковый уровни чувствительности устанав­ливают по испытательным образцам. >

Дня настройки чувствительности можно пользоваться одним образцом с плоскодонным отражателем» расположенным на заданной глубине и АРД-диаграммами, например, испытательный образец с плоскодонным отражателем диаметром 3 мм на глубине 100 мм.

2. Настройка уровней чувствительности прямым искателем на частоте 2,5 МГц приведена в примерах I и 2*.

Пример I. Настройка поискового уровня чувствительности.

В испытательном образце имеется плоскодонный отражатель диаметром 3 мм-на глубине 100 мм. Диаметр минимального фиксируе­мого дефекта равен 2 мм. Коэффициент затухания ультразвука в сварном шве S' = 15 дБ/м. Толщина сварного шва составляет

150 мм. Настройку на поисковый уровень чувствительности для пря­мого. искателя производят по модернизированным АРД-диаграммем, построенным о учетом затухания ультразвука (черт.1). Дефектоскоп - настраивается по плоскодонному отражателю 0 3 мм таким образом, чтобы амплитуда эхо-сигнала оэ отражателя достигала метки на экране дефектоскопа. Измеряют амплитуду сигнала аттенюатором в дБ. Например, получается величина А ® 25 дБ по шкале ’’Ампли­туда сигнала". На АРД^диагрэмге (см.черт.1) находим опорную точку I. на пересечении прямой - расстояние до дефекта

2 = 100' мм и кривой-диаметр дефекта 3 мм. Далее находим точку пересечения прямой, соответствующей диаметру минимального фиксируемого отражателя 2 мм. По шкале "Изменение чувствитель- . ности" определяет на сколько необходимо увеличить чувстпитель-' І0ВД29ЛЗ-вІ Стр.39

МОдгрі:ипнро_вані_?г.я АГД-диаграмма для прямого преобразователя

<^РС7ССґГ)ОЯАШЄ - - -

изменение yy8c/rt^uroe^f^oc/nu

I - Недопустимо;

<?О Іо вО ІЇО М> &О /60 /во ООО 2 +——і—„.l——j,... -j : i..j—і—. .1,, .. _.i

2 - поисковая чувствительность;

5 - уровень опорного сигнала.кость дефектоскопа для обнаружения минимального фиксируемого дефекте с эквивалентным диаметром 2 мм на глубине 150 мм. Эта . величине равна 15 дБ, обозначим ее /Г . Берем разность вёлнянь Ли Jf , получаем: 25-ГІ5 - Ю дБ. Эта величина соот­ветствует контрольному уровню чувствительности для глубины

2 = 150 ж. После этого увеличивают чувствительность на 6 дБ, получают поисковую чувствительность (10-6 =5 4 дБ-точке 3) и устанавливают-это значение аттенюатором дефектоскопа (шкала "Амплитуда сигнала”).

Пример 2. Настройка контрольного уровня чувствительности. Врн контроле на поисковом уровне чувствительности, равном

4 дБ пример I о-бнаружилл дефект на глубине 2 ® 60 мм с ампли­тудой эхо-сигнала 35 дБ. Этот, дефект подлежит фиксации(точка Ч На модернизированной АРД-диаграмме (см.черт.1) по шкале "Амплитуда сигнала” определяем, в какое положение следует уста­новить аттенюатор дефектоскопа для обнаружения минимального фиксируемого дефекта с эквивалентным диаметром 2 мм не глубине ■80 мм. Эти величина равна,например 28 дБ по шкале "Амплитуда сигнала” (точка 5). Амплитуда сигнала от дефекта превышает кон­трольный уровень чувствительности, следовательно, дефект под­лежит фиксации. Определение условных размеров дефекта произво­дится на контрольном уровне чувствительности, равном 28 дБ, установленном на аттенюаторе дефектоскопа.

Методика настройки чувствительности при контроле наклон­ными преобразователями производится по аналогичной схеме. При этом используют кодфкимрованные АРД-диаграммы,'предназначенные для наклонных преобразователей (черт.2іЗ)*Модернизированная АРД-диаграмма для наклонного
30°-преобразователя

І-недопустимо;

2. поисковая чувствительность;

3. уровень опорного- сигнала.

Модернизированная АРД-'диаграмма для "наклонного
40°. преобразователя

сигнала

изменение ■ чубст&игпел&ыосгпи

Д - недопустимо?

2. - поисковая чувствительность;

- уровень опорного сигнала.шадж З

Рекомендуемое

МЕТОдал НАСТРОЙКИ БЛОКА ВРЕМЕННОЙ РЕГУЛИРОВКИ ЧУЕС'ОТЕЛЬ- НОСТИ (ВЕЧ) ДЕФЕКТОСКОПА

1. Настоящая методака регламентирует порядок настройки. блоков ВРЧ дефектоскопов ручного вснтроляУД-ЮП, УД-ЮУ А, и$н -да, usiP-u_t io-і.

2. Методика кокет быть использована при настройке. дефекте- скопов других типов, имеющих блок ВРЧ, амплитуднЕіі и временно а диапазон которых обеспечивает требуемые пределы регулировки, - 3. Методика не распространяется на настройку блоков 5F4 дефектоскопов автоматизированного контроля.

4. Методика .предназначена для выравнивания- ашиштуда А эхо-сигналов в дальней зоне дефектоскопа, изменяющееся с рас­стоянием Z до-формуле _о

где & - коэффициент затухания ультразвука в металле.

4. Применяется прямой способ настройки блока ЕРЧ по ясны-, тательным образцам с искусственными отражателями.

5. Применяется данемйческаа способ, при котором искатель перемещается по образцу, и на экране фиксируются опорные сиг­налы от плоскодонных отражателей различного размере, распо­ложенных на различной глубина.

При этом, настройку дефектоскопа производят по испытательному образцу , изображенному на черт.1.

7. Диаметр отражателей должен соответствовать ктшжальному фиксируемому дефекту и миаимальннк недопустимым отражателям, регламентированным/соотнетству’гщпми документами. Поэтому следует изготавливать по два образца каждого типа.

Образцы для настройки блока ВРЧ дефектоскопа

а * образец для настройки дефектоскопа при контроле пряиыы преобразователей;

б - образец для настройки дефектоскопа при контроле наклонны» преобразователем8. Для исключения ложных сигналов размеры образцов должны быть таковы, чтобы исключить интерференцию измеряемого сигнала с эхо-сигналами от стенок и других отражателей и учитывать расширение лучка о глубиной. Кинжальное расстояние между соседними отражателями иля между отражателем и боковыми поверх­ностями образца должно быть, не менее Ю мм для глубин др 100 мм и 30 мм для глубин 101-300 мм. Минимальное расстояние дна плоскодонного отверстия или бокового отверстия от донной по­верхности должно быть 15 км. В целях уменьшения веса образцы можно выполнять переменной толщины по высоте (трапециидальное •сечение)^

9,.Настройка блока ВРЧ по испытательным образцам произво­дится в следующей последовательности:

на экране дефектоскопа проводят вспомогательную горизон­тальную линию, параллельную линии развертки в на расстоянии от нее 10 мы (черт.2);

на контактной поверхности образца закрепляют ограничитель­ную планку (линейку) таким образом, чтобы плоскость падения УЗ луча совпала с плоскостью, в которой находятся отражатели;

устанавливают на искатель груз 0.3 - 0.5 кг;- последовательно устанавливают искатель в положения, при .которых фиксируется максимальный эхо-сигнал от каждого отража­теля и регуляторами блока BF4 устенавлпвсют его на уровне вспомогательной горизонтальной линии;

повторяют эту операцию многократно, пока не добьются по­лучения равных сигналов во всей зоне контроля.

‘Выравнивание на экране дефектоскопа эхо-сигнала
с помощы? блока БРЧ

I - эхо-сигналы, отраженные от одинаковых плоскодонных
отражателей> расположенных на различной глубине

Черт. 2ПРИЛОЖИ 4
Рекомендуемое

МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ЗАТУХАНИЯ УЛЬТРАЗВУКА

1. Определение коэффициента затухания производят с помощью приспособления типа ИЗЦ-І, схема которого представлена на . черт.1. Приспособление состоит из 2-х искателей боковых волн (угол ввода ультразвука'равен первому критическому), соединен­ных кронштейном. Измерителв ’затухания подключают к дефектоско­пу по 2-х щуповзй схеме. Измерение производят на частоте 2,5 шГц.

2. Искатели приспособления ИЗЦ-І располагают в диаметраль- - ной плоскостЕгротора на поверхности сварного шва и устанавли­вают амплитуду сигнала на экране дефектоскопа высотой 20 мм. Сдвигают ИЗЦ-І на основной металл и с помощью аттенюатора из­меряют отношение амплитуд сигналов jf в децибелах.

Зависимость /Г от 5/ представлена на черт.2. При ТУ"^7 дБ эквивалентный диаметр дефекта отличается от диаметра контрольного отражателя не более чем на + 17%. В этой случае можно пренебречь влиянием затухания ультразвука в наплавленном металле. При 7 дБ повышение коэффициента затухания обязатель­но учитывают с помощью номограмм (черт.З).

Последовательность ввода данных г_2/ диаметр контроль­ного отражателя в номограммы показана в качестве примера стрел­ками. Эквивалентный диаметр дефекта (0_экв,д_еф ) получают на левой оси абсцисс.Схема приспособления ИЗЦ-І для определения
коэффициента затухания

1,2 - УЗ-г.аклонные преобразователи;

3 - танга длиной 145 юг, шарнирно-соединенная с преобразователем⁴

График для определения коэффициента затухания

Разность амплитуд сигналов в гсвс и основном металле

График для определения эквивалентного диакетра дефектов при првыпеннок затухании в сварной хве

ОСТ 108.129.13-81 Стр.50

ПРИЛОЖЕНИЕ 5

Жекомгндуемое

МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ДЕФЕКТА

1. Определение условной протяженности

   1. О

      Г2Ма* sin Є>№

      ^Lan sin 6 J

      пределение условной протяженности прямым и наклонным преобразователями производится по графинам,, представленным на черт. 1-3, где

-•диаграмма направленности преобразователя.

J - функция Бесселя первого порядка, ’ - радиус пьезоэлемента,

А - волновое число,

б? - угол расхождения акустического пучка,

/_Гв - ширина акустического пучка прямого преобразователя на контрольном уровне чувствительности на одинаковой с дефектом глубине, ’

расстояние от точки ввода до отражателя (дефекта), Х_о - протяженность зоны перемещения наклонного преобра­зователя, соответствующая L_o,

X - протяженность зоны перемещения наклонного преобра­

зователя, соответствующая-максимальному размерузоны индикации дефекта на контрольном уровне чувствительности,

X протяженность зоны перемещении наклонного преобра-- зователи, соответствующая условной протяженности дефекта, высота дефекта,

у - гйубина залегания дефекта, . уЗ - угол преломления.

При обнаружении дефекта измеряют эквивалентный диаметр (0 _) и расстояние от преобразователя до дефекта ?_А (или глу- ЗКд /7График дія определения умовних протягекиости я высоты дефекте прямы** и наклоинеми лреоврааоыгеляиМ »9 глухне 15-50w

Черт. I

■ ОС? I08.I29.n~8I Стр. 5?

График для определения условнвоіЛіротяженности и высота дефекта прямыми и неклоннкми преобразователями на глубине 40-100 мм