---

АРСТВЕННЫЙ

СТАН

APT

45 коц. БЗ 6—89/472

ГОСУДАРСТВЕННЫ

КОМИТЕТ СССР

СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 10. ОБЩИЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ
НА ДИСКРЕТНЫЕ ПРИБОРЫ И

ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ

ГОСТ 28623-90

(МЭК 747-10—84)

Издание официальное

ПО УПРАВЛЕНИЮ КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ

Москв

аПРЕДИСЛОВИЕ

1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим во-

просам, подготовленные техническими комитетами, в которых представ­

лены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с воз­можной точностью международную согласованную точку зрения по рас­

сматриваемым вопросам.

2. Эти решения представляют собой рекомендации для международ­

ного пользования и в этом виде принимаются национальными комите­тами.

3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает

нежелание, чтобы национальные комитеты приняли за основу настоящий

стандарт МЭК в качестве своих национальных стандартов, насколько это

позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стан*

дартах.

ВВЕДЕНИЕ

Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».

Настоящий стандарт устанавливает общие технические усло­вия полупроводниковых приборов: дискретных приборов и инте­гральных микросхем (исключая оптоэлектронные приборы и гиб­ридные микросхемы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ),

Текст настоящего стандарта основан на следующих докумен­тах:

По правилу шести месяцев

Отчет о голосовании

47 (Центральное бюро) 816

47А (Центральное бюро) 108

47 (Центральное бюро) 893

47А (Центральное бюро) 128

47 (Центральное бюро) 894

47А (Центральное бюро) 129

47 (Центральное бюро) 818 47А (Центральное бюро) 111

47 (Центральное бюро) 928

47А (Центральное бюро) 139

47 (Центральное бюро) 929

47А (Центральное бюро) 140

По правилу двух месяцев Отчет о голосовании

■Г. ■- " ,■■■ — — - — Ы—■■ ■ ■ Г7=

47 (Центральное бюро) 826 47 (Центральное бюро) 867

47А (Центральное бюро) 112 47А (Центральное бюро) 119

Более подробную информацию можно найти в отчетах о голо­совании, указанных выше.

Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Пуб­ликации, являются номером технических условий в Системе сер­тификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

П

ГОСТ

28623—90

(МЭК 747—10—84)

РИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 10. Общие технические условия на
дискретные приборы и интегральные микросхемы

Semiconductor devices.

Part 10. Generic specification for
discrete devices and integrated circuits

ОКСТУ 6331, 6341

Дата введения 01.01.91

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия (далее — ТУ) на полупроводниковые приборы (далее — приборы), дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая много-

к

ооров и интегральных микросхем.

ристалльные микросхемы, за исключении оптоэлектронных при-

Настоящий стандарт устанавливает общий порядок сертифи­

кации, применяемый в Системе сертификации изделий электрон­ной техники (далее — НЭТ), а также общие принципы методов

измерения электрических характеристик, климатических и меха­нических испытаний, испытаний на срок службы.

Л р и меч а ни е. Настоящий стандарт должен применяться совместно с групповыми ТУ, ТУ на семейство и стандартами «форма ТУ», если таковые .имеются, на приборы конкретного типа или типов.

2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

   1. Порядок приоритетности нормативно-тех­нических документов (далее — НТД)

При наличии в НТД противоречивых требований устанавли­вается следующий порядок приоритетности:

1. ТУ на приборы конкретных типов;

2. ТУ на семейство приборов, если таковые имеются;

3. форма ТУ на приборы конкретных типов;

4. групповые ТУ;

5. общие ТУ;

6. основополагающие ТУ;

7. правила процедуры системы сертификации ИЭТ МЭК;

Издание официальное

8. любой другой международный НТД (например, СТ МЭК)_? на который дается ссылка;

9. национальный НТД.

Аналогичный приоритет должен быть установлен для соответ­ствующих национальных НТД.

При разработке ТУ на изделия конкретного типа следует ука­зывать применяемые документы:

Публикация МЭК:

Публикация 27

Публикация 50

Публикация 68

Публикация 68-1 (1982)

Публикация 68-2 или

Публикация 147

Публикация 147-0 (1966) и дополнения

Публикация 147-1 (1972) и дополнения

Публикация 147-2 (1963) и дополнения

Публикация 147-4 (1976)

Публикация 148 (1969) и дополнения

Публикация 147-5 (1977) и дополнения или

Публикация 747

Публикация 747-1 (1983)

Публикация 748

«Буквенные обозначения, при­меняемые в электротехнике». «Международный электротех­нический словарь (МЭС)».

«Основные методы испытаний на воздействие внешних фак­торов».

«Часть 1. Общие положения и руководства».

«Часть 2. Испытания».

«Основные предельно допусти­мые величины параметров и характеристики полупроводни­ковых приборов и общие прин­ципы измерений».

«Часть 0. Общие сведения и терминология».

«Часть 1. Основные предель­но допустимые величины па­раметров и характеристики».

«Часть 2. Общие принципы ме­тодов измерений».

«Приемка и надежность».

«Буквенные обозначения для полупроводниковых приборов и интегральных схем».

«Часть 5. Механические и кли­матические испытания».

«Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и инте­гральные схемы».

«Часть 1. Общие положения». «Полупроводниковые приборы.. Интегральные схемы».

Публикация 749

Публикация 191 *

Публикация 191-1 (1966)

и дополнения

Публикация 191-2 (1966)

и дополнения

Публикация 191-3 (1974)

и дополнения

Публикация 410 (1973)

Публикация 617

Публикация QC 001002 (1981)

Публикация ИСО:

Стандарт ИСО 1000 (1973)

Стандарт ИСО 2015 (1976)

Стандарт ИСО 2859 (1974)

«Механические и климатиче­ские испытания».

«Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов». «Часть 1. Подготовка чертежей полупроводниковых приборов». «Часть 2. Размеры».

«Часть 3. Общие правила под­готовки габаритных чертежей интегральных схем».

«Правила и планы выборочно­го контроля по качественным признакам».

«Графические обозначения для схем».

«Правила процедуры Системы сертификации ИЭТ МЭК (МСС ИЭТ)».

«Единицы системы СИ и реко­мендации по использованию их кратных чисел и других еди­ниц».

«Нумерация недель».

«Порядок и таблицы выбо­рочного контроля по качест­венным признакам».

2.3. Единицы обозначения

физических величин,

термины и

Единицы физических величин, термины, графические и бук­венные обозначения должны соответствовать следующим НТД:

ИСО 1000;

МЭК 27;

МЭК 50;

МЭК 617.

Любые дополнительные единицы физических величин, термины и обозначения, относящиеся к одному из полупроводниковых при­боров, на которые распространяются настоящие общие ТУ, долж­ны соответствовать МЭК или ИСО (указанным в п. 2.2. настоя­щего стандарта) или же могут быть образованы (построены) в соответствии с принципами, изложенными в указанных выше НТД.

Предпочтительные значения напряжений, токов и температур для измерения характеристик, испытаний и рабочих режимов уста­новлены в МЭК 747-1¹, МЭК 748-1*.

2;5. Маркировка

а) Если позволяет площадь, то на прибор должны быть нане­сены следующие данные:

1. обозначение выводов (п. 2.5.1);

2. обозначение типа прибора (п. 2.5.2.), категории качества (п. 2.6) и, при необходимости, обозначение программы отбрако­вочных испытаний (п. 2.7);

3. наименование изготовителя (сокращенное или товарный знак) и, при необходимости, код завода-изготовителя (п. 2.5.3);

4. код контролируемой партии (п. 2.5.4);

5. знак соответствия, если не используется сертификат соот­ветствия;

6. знаки предосторожности при обращении с прибором (при необходимости).

Если площадь поверхности прибора не позволяет нанести всю маркировку полностью, то в ТУ на приборы конкретных типов должна быть приведена сокращенная маркировка в соот­ветствии с приведенной выше последовательностью.

б) На первичной упаковке, в которую непосредственно упако­ван поставляемый прибор, должны быть нанесены следующие данные:

1. вся информация по п. 2.5 (перечисление а), за исключением обозначения выводов;

2. обозначение ТУ на приборы конкретных типов;

3. указания на предосторожность при обращении, например, предупредительные знаки.

Если по наименованию или товарному знаку изготовителя не­возможно установить конкретный завод, то в состав маркировки должно быть включено кодовое обозначение завода-изготовителя.

Если место для маркировки на приборе ограничено, то пер­вая цифра года опускается (например, 345=45-я неделя 1983 г.), что устанавливается в ТУ на приборы конкретных типов. Код контролируемой партии обозначает дату представления приборов на контроль. Если в течение недели контролю подвергаются не­сколько партий приборов, то вводится дополнительное обозначе­ние в виде буквы для каждой последующей партии.

Стандарт устанавливает 3 категории качества сертифицирован­ных приборов. Приборы группируют в контролируемые партии, промаркированные с учетом даты выпуска и проверенные на со­ответствие установленной категории качества. Приемлемый уро­вень качества AQL (Acceptable Quality Level) или допустимый процент дефектных приборов партии LTPD (Lot Tolerance Percent Defective), относящиеся к одной и той же группе испытаний, могут быть различными для каждой категории и должны указываться в ТУ на приборы конкретных типов.

К категориям предъявляются следующие минимальные тре­бования:

Категория I — тип приборов соответствует квалификационным

требованиям категории II или III. Каждая партия проходит контроль по группе А, включающий проверку работоспособности. Каждые три месяца одна партия проверяется на соответствие тре­бованиям к контролю паяемости. Ежегодно одна партия проверя­ется на соответствие требованиям к контролю по группам В и С.

Категория II — каждая партия подвергается испытаниям по группам А и В при контроле по партиям и испытаниям по груп­пе С при периодическом контроле.

Категория III — каждая партия подвергается 100%-ным отбра­ковочным испытаниям и испытаниям по группам А и В. Испыта­ния по группе С проводятся периодически.

В групповых ТУ устанавливаются минимальные требования для каждой категории качества. ТУ на приборы , конкретных ти­пов могут содержать дополнительные требования включая отбра­ковочные испытания, в дополнение к требованиям, установлен­ным в общие ТУ, групповые ТУ или формы ТУ на приборы кон­кретных типов.

Отбраковочное испытание — это проверка или испытание, ко­торому подвергаются все приборы в партии. ,

Если отбраковочные испытания предусмотрены ТУ на приборы конкретных типов, то они проводятся на всех приборах партии по одной из программ, установленных в соответствующих группо­вых ТУ. Дефектные приборы изымаются.

Если установленные групповыми ТУ программы отбраковоч­ных испытаний не согласуются или находятся в противоречии с известными механизмами отказов, то применяются любые иные программы отбраковочных испытаний, не установленные в соот­ветствующих групповых ТУ.

Если часть отбраковочных испытаний, установленных в соот­ветствующих групповых ТУ, является составной частью произ­водственного процесса с указанной программой, то ее повторно можно не проводить.

В настоящем стандарте электротермотренировка определяется как тепловое и электрическое воздействие, которому подвергают­ся все приборы партии в течение определенного периода времени для выявления и изъятия потенциально ненадежных приборов.

3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ПРИБОРОВ