От источников постоянного напряжения G1—G3 и от генератора синусоидального напряжения G4 подают напряжения»., значения которых указаны в ТУ на микросхемы конкретных типов*.
Схема измерения емкости между аналоговым входом и выходом
DA
DA — измеряемая микросхема; S/, S2, ... , S — аналоговые входы;. DI, D2, ... , Dп— аналоговые выходы; U — вывод питания; INI, IN2, ... , — управляющие входы; OV — общий вывод; G1—G3 — источ
ники постоянного напряжения; G4 — генератор синусоидального напряжения; SA1 — коммутационное устройство, обеспечивающее подключение источников постоянного напряжения Gl, G2 к управляющим входам INI, IN2, ... , SA2, S43 — переключатели; С1 — разделительный конденсатор; С2 — блокировочный конденсатор; R — токосъемный резистор; PV ~ измеритель синусоидального напряжения
Черт. 14
Измерителем PV измеряют значение напряжения Uх*
Измерение напряжения Ux проводят по каждому каналу. Допускается проводить измерение по одному или нескольким каналам, указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов.
Измеряемую емкость (Сх ) в пикофарадах рассчитывают
по формуле
(8к>
где Ux— напряжение на резисторе R при измерении, мВ;
UKJl—напряжение на резисторе R при калибровке, мВ,
10.5. Показатели точности измерения
Погрешность измерения емкости управляющего входа, аналогового входа и выхода, между аналоговым входом и выходом—*в пре делах ±10% с вероятностью 0,95. При значении измеряемого параметра ^3 пФ — в пределах ±15% с вероятностью 0,95.
Расчет показателей точности измерения приведен в приложении 4 (разд. 2).ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Рекомендуемое
ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ
в открытом состоянии И ОСТАТОЧНОГО НАПРЯЖЕНИЯ
П
(9)
огрешность вызванную погрешностью измерителя напряжения PV, рассчитывают по формуле«1—vpy,
где бру —относительная погрешность измерителя напряжения PV.
Погрешность (6г), вызванную неточностью соблюдения неравенства (5) настоящего стандарта, рассчитывают по формуле
*
(Ю)
СОСТОЯНИИ,
^отк max . р*Оз— р “Г«вх ру>
*отк max
где Rотитах —максимальное значение сопротивления в открытом указанное в ТУ на микросхемы конкретных типов;
7?вхру —входное сопротивление измерителя напряжения PV.
Погрешность ,(6з), вызванную неточностью ния напряжения питания микросхемы, рассчитывают
установления и 1 _
под держа-
по формуле
(II)
где ах— коэффициент влияния напряжения питания том состоянии;
6г/ — погрешность установления и поддержания Л
кросхемы.
Погрешность 464), вызванную неточностью
на сопротивление в откры-
напряжения питания ми-
установления и поддержа
ния постоянного
тока, рассчитывают по формуле
(12)
где а2— коэффициент влияния генератора тока на состоянии;
сопротивление в открытом
6t — погрешность установления и поддержания постоянного тока.
Погрешность (65), вызванную неточностью установления и поддержания микросхемы в открытом состоянии управляющими напряжениями, рас- 1
считывают по формуле
упр
(13)
где п3— коэффициент влияния управляющего напряжения на сопротивление в
открытом состоянии;
— погрешность установления и поддержания управляющих
упробеспечивающих открытое состояние канала.
Погрешность (6б), обусловленную влиянием температуры среды на сопротивление в открытом состоянии, рассчитывают по
напряжений,
окружающей
формуле
II
(14)
на сопротив-
ЬТ
^отк min
где b—коэффициент влияния температуры окружающей среды .ление в открытом состоянии
;
AT —диапазон отклонений температуры от номинального значения, закланный в ТУ на микросхемы конкретных типов;
^отктіп —минимальное значение сопротивления в открытом состоянии, указанное в ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.7. Погрешность (67), обусловленную наличием сопротивления контактов
переключателей и контактного устройства, рассчитыв-ают по
p op муле
II
^KS-r^KD
*7“ О . ♦
■f'OTK min
где — сопротивления контактов переключателей и контактного
ройства соответственно на аналоговом входе и выходе кросхемы.
(15)
уст-
ми-
1.8. Погрешность измерения (бу ) рассчитывают по формуле
(16>
где 61 —погрешность і-го источника погрешности.
ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ТОКА УТЕЧКИ
АНАЛОГОВОГО ВХОДА
Погрешность (61)
, вызванную погрешностью измерителя тока РА1,
рас-
считывают по формуле
(17>
где брд! —погрешность измерителя тока РА1.
Погрешность (62), вызванную конечным значением мерителя тока РА1, рассчитывают по формуле
в
ут.вхтах V0x
Us
сопротивления из-
(18)
где
— максимальное значение тока утечки аналогового входа, ука* Г * о
A 11А ’ *занное в ТУ на микросхемы конкретных типов;
— в.ходное сопротивление измерителя тока
РА1 Us— напряжение на аналоговом входе микросхемы.2 3. Погрешность (63), вызванную неточностью установления и поддержа-
ния
напряжения питания микросхемы, рассчитывают по формуле
(19)
где
fl] — коэффициент влияния
напряжения питания на ток утечки аналого
—погрешность установления и поддержания напряжения питания микро- п
схемы.
Погрешность (64), вызванную неточностью установления и поддержания управляющих напряжений, обеспечивающих закрытое состояние измеряемого
канала, рассчитывают по формуле
(
упр
20>где а? — коэффициент влияния управляющего напряжения на ток утечки аналогового входа
;
Оц —погрешность установления и поддержания управляющих напряжений микросхемы.
П
(21)
огрешность (65), вызванную влиянием температуры окружающей среды на ток утечки аналогового входа, рассчитывают по формуле4 ут.вх mln
где bi — коэффициент влияния температуры окружающей среды на ток утечки аналогового входа;
АТ — диапазон отклонений температуры, указанный в ТУ на микросхемы конкретных типов;
/yTtвхmin — мйнимальное значение тока утечки аналогового входа, указанное в ТУ на микросхемы конкретных типов.
Погрешность (6б), обусловленную влиянием влажности воздуха на токи утечки между точками S1, 52,..., Smи общей шиной, рассчитывают по формуле
(22)
ут.вхтіп
где bi—коэффициент влияния влажности воздуха на токи утечки между точками SI, 52,..., Smи общей шиной;
Дф — диапазон отклонений влажности воздуха от номинального значения, указанный в ТУ на микросхемы конкретных типов.
П
между
(23)
шиной
огрешность (67), обусловленную паразитными токами утечки точками S1, 52,..., 5т и общей шиной, рассчитывают по формулел,= -] — ,
ут.вх min
где Is—паразитный ток утечки между точками 5/, 52, ...,5т и общей
при отсутствии микросхемы.
Погрешность измерения (65* ) рассчитывают по формуле
где 61 — погрешность ї-го источника погрешности.
ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ТОКА УТЕЧКИ
АНАЛОГОВОГО ВЫХОДА
Погрешность (61), вызванную погрешностью измерителя тока РА 2, рас
считывают по формуле
(
брЛ2»
25)где 6р42— погрешность измерителя тока РА2.
Погрешность (62), вызванную конечным значением сопротивления измерителя тока РА2, рассчитывают по формуле
1 ут.вых max 'вх РД2
(26)
где
/ут. вых max максимальное значение тока утечки аналогового выхода, ука-
занное в ТУ на микросхемы конкретных типов;
/?вхрд2 — входное сопротивление измерителя тока РА2
Us — напряжение на аналоговом выходе микросхемы.
3.3.
Погрешность (бз)і вызванную неточностью установления и поддержа-
НИЯ
напряжения питания микросхемы, рассчитывают по формуле
А^ут.вЫХ
3— /
* ут. вых min
(27)
где
Д/у,.вых — изменение тока утечки аналогового выхода, обусловленное неточностью установления напряжения питания микросхемы;
ут. вых min—минимальное значение тока утечки налогового выхода.
Погрешность (64), вызванную неточностью установления и поддержа- обеспечивающих закрытое состояние канала,
«ия управляющих напряжении,
рассчитывают по формуле
64=62^//
УПР
(28)
где а2 — коэффициент влияния управляющего напряжения на ток утечки аналогового выхода;
—погрешность установления и поддержания управляющего напряжения У Р
микросхемы.
Погрешность (6Б), вызванную влиянием температуры окружающей сре-
ды на ток утечки аналогового выхода, рассчитывают по формуле
Л Ь^Т
О5— г ут.вых min
(29)
где bi — коэффициент влияния температуры окружающей среды на ток утечки аналогового выхода;
ЛТ— диапазон отклонений температуры, указанный в ТУ на микросхемы конкретных типов;
/ут.вых min— минимальное значение тока утечки аналогового выхода, указанное в ТУ на микросхемы конкретных типов.
Погрешность (бе), обусловленную влиянием влажности воздуха на токи утечки между точками SI, S2y...,Sm и общей шиной, рассчитывают по
-формуле
у
ЬхД(р
9 ут.вх mln
(30)
где — коэффициент влияния влажности воздуха на токи утечки между точками SI, S2, ..., Sm и общей шиной;
Д<₽ — диапазон отклонений влажности воздуха от номинального значения,
указанный в ТУ
Погрешность (б7), точками DI, D2, ..., Dn и
на микросхемы конкретных типов.
обусловленную паразитными токами утечки
общей шиной, рассчитывают по формуле
между
г
(31)
де /р — паразитный ток утечки между точками DI, D2,..., Dn и общей ши-3.8. Погрешность измерения (6S) рассчитывают по формуле
±1,13
6; 6
/ + S д?+д
4 1J—*> I 1
(32 >
где 6| —погрешность 1-го источника погрешности.
4. ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ВХОДНОГО ТОКА ВЫСОКОГО
И НИЗКОГО УРОВНЕЙ УПРАВЛЯЮЩЕГО НАПРЯЖЕНИЯ
4.1. Погрешность (61), вызванную погрешностью измерителя тока РА, рас- « *
считывают по формуле
(33>
где брд—погрешность измерителя тока РА.
4.2, Погрешность (62), вызванную конечным значением
мерителя тока
РА, рассчитывают по формулам:
сопротивления из-
где 7ВХ# в тах,
у
Тир. в »
^упр.в
р
вх.н max ^вх
^упр.н
(34>
(35>
’вх.
н т?х—максимальное значение входного тока высокого и низкого уровней управляющего напряжения, указанное в ТУ на микросхемы конкретных типов;/?вх — входное сопротивление измерителя тока РА;
^упр. н — значения управляющего напряжения высокого и низкого уровней, указанные в ТУ на микросхемы конфетных типов.
4.3. Погрешность (63), вызванную неточностью установления и поддержания
напряжения питания микросхемы, рассчитывают по формуле
дз-Оід
(36>
п
где — коэффициент влияния напряжения питания на входной ток высокого (низкого) уровня управляющего напряжения;
6 и — погрешность установления и поддержания напряжения питания микро-