---

^УЗК _к—УЗК_тах к—УЗК_{т1п к} >
V I j К IJloA-jKi Щ ИЦ К

где к — /-й класс качества нанесения оттиска.

УЗК _тях а 6^95 %, УЗК_{тах в}^94 % — для черной подложки с отражав-

мостью 3 %;

^уЗК_т|п, а,б,В =° % — для чистой бумаги.

15. Дискретное значение контрастности p-элемента растра определяют по формуле

16ХУЗК_Р
Кр= —р —1,

^УЗК.К

0<К_р ^15 с округлением правой части до ближайшего целого.ПРИЛОЖЕНИЕ 5

Обязательное

МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ КАЧЕСТВА ПЕЧАТИ ОТТИСКОВ

1. На измерительных шаблонах символа, к которому относится оцениваемый оттиск, проводят подсчет п і — числа элементов дискретного изображения ог­

т

оне от­

иска, попавших в слой /, ^{и п} Фон— числа элементов на

тиска, значение дискретной контрастности которых больше некоторого значения Ер , ^15.

Оценка проводится в положении наилучшего совпадения измерительных шаблонов и дискретного изображения оттиска.

2. Для каждого Е_риз целочисленного ряда Ер — 1, 2 ... 14 вычисляют величину заполнения слоя (ВЗС)

взс^<5р⁾ =1—

n<V

N

где L N — ЧИСЛО элементов В 1V-M слое.

3. Для каждого К _р из целочисленного ряда К _р =1, 2 . . . 14 определяют наибольшее значение Л^^кр> , для которого достигается условие

п<Ер)

N ¹

4. Величину ИРШ для каждого целочисленного ряда =1, 2 . . . 14 оп­ределяют по формуле

—

Яфон 256

1 АГ ГОС

hpui⁽V = 2 B3C<V + 2 (і-взс^р’ )+
М ¹і=Л?_г4~1 ^;

5. СКО определяют как СКО^7<_Ор/, где E_opt^ ИРШ (Ер ) при усло­вии ИРШ (Ер К^р <15.

6. Найденное значение N , Kp~Eopt соответствует дискретному значе­нию СШШ. При этом СШШ определяют как

cmms(2W*^K°p^/) —i)xo,io мм.

7. ДДИК определяют как К max—К min , Е max >Ащіп, где К max ==Kpmax ^ПРИ УСЛОВИИ ИРШ (Ар )<Н_К;

A'min =tfpmin при условии ИРШ (/Ср)<йк

-

ПРИЛОЖЕНИЕ 6

Обязательное

МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕРЫ БЛИЗОСТИ СИМВОЛОВ ШРИФТА

1. Эталоном, состоящим из нескольких слоев, Ei , символа I алфавита из М

с

2. На черт. 8 показан пример слоистого эталона цифры 1 в алфавите сим-

имволов, служит поле представления изображения (растр), разделенное на за­данное число m-pl областей, являющихся дискретными представлениями равно­отстоящих от идеальной осевой линии символа слоев, ширина которых составляет 1 элемент дискретизации.

волов шрифта АЦПУ ЕС 7032 при шаге дискретизации 100 мкм и т=6.

Ц

с минимальной шириной

— идеализирован-

ифрами 1—6 пронумерованы элементы слоев £//, так что £ц

описывает идеализированное изображение цифры 1

ш

£17 фона оставлены нену-

триха, a U Ец— объединение слоев Е ц . . . Е ц , ное изображение с шириной штриха 2/—1. Элементы

мерованными.

3. Растр содержит 36 элементов изображения по вертикали на 28 элемен­

тов по горизонтали. Оцифрованное

уровнями квантования по яркости

X j=O или 1, где п — число

3. Мерой близости х и эталона

изображение идеального оттиска с двумя есть вектор х~ (Xi . . . X/ . . . Хп ), где элементов изображения оттиска.

Ei служит р(х, Е/), определяемая как

где Пі(х) — число элементов изображения оттиска, равных в слое Ец* пі — число элементов растра в слое Ец ;

— номер граничного слоя, определяемый из условия

Для идеализированных изображений символа I выполняется условие Р (* і > Е і 0.

Всегда т одинаково для всех символов алфавита т = Л^г_гос •

5. Меру межсимвольной близости определяют как 5 %-ную квантиль *0,05 (н) выборки, состоящей из М(М—1) величин

где Т — дискретная номинальная ширина штриха, выбираемая для данного

типоразмера из табл. 4, a k, I пробегают все символы алфавита.

Точка *о,о5 (И) ^{на оси} значений _г (Т) определяется тем свойством, что левее ее лежит 5 % всех значений ц (Г).

Чем х ₀ (ц) больше, тем слабее межсимвольная близость в рассматривае­мом алфавите.

5. Каждую величину j (Г), вычисляют в положении наилуч­

шего совпадения изображения x_kTc эталоном Ei , дающего минимум меры бли­зости по всем допустимым сдвигам х^по растру на целое число шагов дискре­тизации

.