УДК 621.383.8.083.86 Группа Э29





ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ

Метод измерения электронно-оптического


увеличения


гост
21815.10-86


















от 26 сен-

Взамен
ГОСТ 21815—76
в части п. 4.11


Image, intensifier and image converter tubes.
Method of measuring the electron optic
magnification

ОКП 63 4930

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам тября 1986 г. № 2908 срок действия установле

нс 01.01.88


до 01.01.93











Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт устанавливает метод измерения электрон* но-оптического увеличения электронно-оптических преобразова­телей (ЭОП), предназначенных для применения в приборах ви­дения.

Общие требования к проведению измерений и требования бе­зопасности по ГОСТ 21815.0—86.

  1. ПРИНЦИП ИЗМЕРЕНИЯ

    1. Принцип измерения электронно-оптического увеличения состоит в определении отношения диаметра изображения окруж­ности на экране к размеру диаметра окружности на фотокатоде эоп.

  2. ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА

    1. Для измерения электронно-оптического увеличения сле­дует применять измерительные приборы и вспомогательные уст­ройства, входящие в установку, функциональная схема которой приведена на чертеже.

    2. Элементы схемы должны удовлетворять следующим тре­бованиям: микроскоп должен иметь окулярную сетку со шкалой.

Перепечатка воспрещена


Издание официальное




цена деления которой, приведенная к плоскости экрана ЭОП, не более 0,05 мм, увеличение не менее 10х.

При измерении увеличения на краю рабочего поля ЭОП до­пускается использование микроскопа с увеличением не менее 5х.



М

і
'і,
L

I

ч

I’

I I

I ! і I

I

I 1

I

F ц

Г }

и

І

/—источник света; светозащитная диафрагма; 3—диафрагма с калиброванным отвер

стием; 4—ЭОП; 5—микроскоп; 6—фотокатод; 7—держатель ЭОП; 8—экран

икроскоп устанавливают на основание, имеющее горизон­тальное (поперечное и осевое) и вертикальное плавные микро­метрические перемещения и отсчетные шкалы.

Для измерения увеличения используют также проекционную систему, состоящую из коллимационного объектива, в фокусе ко­торого располагается сетка с окружностью соответствующего диаметра или диафрагма с калиброванным отверстием.

Диаметры изображений проектируемой окружности сетки или калиброванного отверстия диафрагмы указывают *в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа. • v

  1. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ

    1. Испытуемый ЭОП устанавливают в держатель и соеди­няют с источником питания.

    2. На ЭОП подают напряжения, указанные в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

    3. На минимальном расстоянии от входа ЭОП, допускаемом конструкцией ЭОП и измерительной аппаратурой, устанавливают диафрагму с калиброванным отверстием. Диаметр калиброван­ного отверстия указывают в стандартах или технических услови­ях на ЭОП конкретного типа. Центр калиброванного отверстия диафрагмы должен быть совмещен с центром базовой поверхно­сти фотокатодного узла. Точность совмещения центров указыва­ют в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

Примечание. При использовании проекционной системы проводят фо

  1. к

    «К

    отокатоде непытуемоіга

    усиро&ку и центрировку изображения окружности на ЭОП.Д ля исключения влияния на результаты измерений парал­лакса между плоскостью диафрагмы и плоскостью фотокатода и влияния размытия изображения за счет конечных размеров тела накала лампы необходимо, чтобы расстояние L между телом на­кала или апертурной диафрагмой осветителя и диафрагмой с ка­либрованным отверстием удовлетворяло условию

(1)

где dдиаметр калиброванного отверстия диафрагмы, мм;

а„ —максимальный поперечный размер тела накала лампы или апертурной диафрагмы осветителя, мім;

— составляющая погрешности в определении электронно­оптического увеличения, связанная с размытием изобра­жения калиброванного отверстия на фотокатоде и с па­раллаксом между плоскостью калиброванного отверстия диафрагмы и фотокатодом (устанавливают равной 2 %);

1Красстояние между диафрагмой с калиброванным отвер­стием и плоскостью фотокатода, мм

(1а)

/і — расстояние между диафрагмой и катодным стеклом, мм; Ас— толщина катодного стекла, мм;

пі показатель преломления катодного стекла.

  1. В схеме (см. чертеж) для освещения калиброванного от­верстия диафрагмы допускается применять источник света с кол­лимационным объективом. Фокусное расстояние коллимационно­го объектива должно удовлетворять условию


•100.


(2)


вн


  1. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

    1. На фотокатоде ЭОП устанавливают освещенность, обеспе­чивающую яркость экрана, достаточную для уверенных наблю­дений, если иная не указана в стандартах или технических усло­виях на ЭОП конкретного типа.

Микроскопом измеряют диаметры изображения калиброван­ного отверстия диафрагмы или изображения окружности сетки на экране в направлениях, указанных в стандартах или техни­ческих условиях на ЭОП конкретного типа.

    1. О БРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

      1. Электронно-оптическое увеличение из направлений вычисляют по формуле

    гу d3

    * эо~“Т* >

    г

    эо ) Для каждого

    (3)

    де d3 —диаметр изображения калиброванного отверстия диаф­рагмы или изображения окружности сетки на экране ЭОП, мй;

    d диаметр калиброванного отверстия диафрагмы или изображения окружности сетки на фотокатоде испыту­емого ЭОП, мм.

    1. Суммарная относительная погрешность измерения элек­тронно-оптического увеличения (ег90) при соблюдении требова­ний настоящего стандарта для отношения d/Dp >0,05, где Ор рабочий диаметр фотокатода, при доверительной вероятности Р=0,95 не более:

    3,0 % — для стеклянных ЭОП;

    2,0 % — Для ЭОП с волоконно-оптическим входом и выходом.

    1