. Аи=К-^, (5)
где Лх, — результат единичного наблюдения спектральной чувствительности;
' It—фототок (напряжение) в цепи (на выходе) фотоэлемента;
К — коэффициент деления делительной пластины.
Проводят серию из п наблюдений А и (п>5)._Среднее значение спектральной чувствительности фотоэлемента Лх определяют по формуле
- (6)
и принимают его за результат измерений.
Обработка результатов'
Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4'.
При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерения при принятой доверительной вероятности Р= 0,95 не должна превышать 15 %*. '
^3.3. Метод измерений темнового тока
Принцип измерений
При измерении темнового тока фотоэлемента измеряют ток в цепи фотоэлемента полностью защищенного от действия оптического излучения. ,
Аппаратура
Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать схеме приведенной на черт. 3. •
Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
Металлические заземленные детали защитной камеры не должны касаться баллона фотоэлемента на участке анод— охранное кольцо.
При измерений темнового тока фотоэлемента без охранного кольца допускается включение микроамперметра как в цепь анода, так и в цепь катода фотоэлемента. При этом заземляют либо положительный, .либо отрицательный полюс источника питания.
Ток утечки в измерительной цепи не должен превышать 0,1 от ожидаемого темнового тока фотоэлемента.
Подготовка и проведение измерений
Ф
Черт. 3
1—охранное кольцо фотоэлемента; 2—исследуемый фотоэлемент; 3—источник питания фотоэлемента; 4— вольтметр;
5—микроамперметр
/ 2
отоэлемент помещают в защитную - камеру й соединяют его электроды с источником питания и измерительными приборами по схеме, приведенной на черт. 3.На фотоэлемент подают напряжение питания в соответствии с нормативно-технической документацией на.фотоэлементы конкретных типов.
Измеряют ток в цепи фотоэлемента. Значение темнового тока - / гл отсчитывают непосредственно по шкале прибору.
Проводят серию из п наблюдений I т.с (л>5). Среднее значение темнового тока 1т определяют по формуле , п
/,-4-2/гл (7)
и принимают его за результат измерений.
Обработка результатов
Расчет погрешности йзмеренйй приведен в справочном приложении 4. -
При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности Р = 0,95 не должна превышать 1 %.
Метод - измерений соответствия х.аракте- ристики преобразования заданному пределу линейности в импульсном режиме Л
Принцип измерений
Метод заключается в определении соответствия между изменениями амплитуды импульса фототока в’цепи фотоэлемента и изменениями амплитуды импульса потока излучения.
Параметры рмпульсов оптического излучения, частота их следования, значение предела линейности в амперах должны быть , указаны в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов.
Аппаратура
Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать указанной на черт. 4 или 5.
Вид схемы включения должен быть указан в нормативно-технической .документации на фотоэлементы конкретных типов.
Перечень рекомендуемых, средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
Подготовка и проведение измерений
У станавливают напряжение питания фотоэлемента в соответствии с нормативно-технической документацией на фотоэлементы конкретных типов.
/—источник импульсов оптического излучения; '2—измерительный ослабитель; 3—диафрагмы; 4—исследуемый фотоэлемент; 5—резистор развязки; 6—накопительный раздели
тельный конденсатор; 7—вольтметр; 5—источник питания фотоэлемента; 9—резистор нагрузки; 10—импульсный вольт
метр или осциллограф.
П
Черт. 5
еред началом измерений фотоэлемент выдерживают включенным в течение времени и в условиях, указанных в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных . типов./—источник импульсов оптического излучения; 2—измерительный ослабитель; 3—диафрагмы; 4—исследуемый -фотоэлемент; 5—импульсный вольтметр или осциллограф; 6—резистор нагрузки; 7—накопительный конденсатор; 8—источник питания фотоэлемента;
5—вольтметр - *
С помощью измерительных ослабителей регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы значение- фототока в цепи фотоэлемента соответствовало пределу линейности, указанному в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. Фототок расчитывается по формуле
.’(8)
где U — напряжение на резисторе нагрузки, В;
R — сопротивление нагрузки, Ом.
Ослабляют импульс оптического излучения от 2 до 10 раз и измеряют фототок по формуле (8).
Обработка результатов
Отклонение от линейности х; в % определяют по формуле
= -^—100, ' (9)
где Р-—кратность изменения амплитуды импульсов потока излучения;
Р' — кратность изменения амплитуды импульсов фототока.
Проводят серию из п наблюдений х,- («>5) . определяют среднее значение х по формуле
* = (Ю)
и принимают его за результат измерений.
Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерений при принятой доверительной вероятности Р = 0,95 не должна превышать 10 %
.Стр. 10 ГОСТ 25369—82
Метод измерений длительности импульсной характеристики по уровню, 0,5
Принцип измерений
Измерения производят путем обработки осциллограммы сигнала на выходе исследуемого фотоэлемента.
Аппаратура
С
/—источник импульсов оптического излучения; 2—ослабитель потока излучения; 3—камера с исследуемым фотоэлементом; 4—источник питания фотоэлемента; 5— стробоскопический осциллограф
хема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт. 6.Черт. 6
Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
Подготовка и проведение измерений
Устанавливают напряжение питания фотоэлемента в соответствии с нормативно-технической документацией на фотоэлементы конкретных типов,-
С помспцью ослабителя регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы амплитуда импульса фототока не превышала предела линейности, указанного в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов; '
Получают на экране осциллографа изображение выходного сигнала фотоэлемента.
Измеряют длительность импульсной характеристики на уровне 0,5 от максимального значения выходного сигнала исследуемого фотоэлемента то,5/ .
Проводят серию из п наблюдений то,5і (л>5). Среднее значение длительности импульсной характеристики ^т о,5 определяют по формуле
— і п
Ч5 = -^—2*0,5 I (И)
и принимают его за результат измерений.
Обработка результатов
Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4.
При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерений при принятой доверительной вероятности Р = 0,95 не должна превышать 15 %.ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Рекомендуемое
ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА И ОБОРУДОВАНИЕ
|
Измерительная аппарату* ра, оборудование |
Типы и основные параметры |
Примечание |
|
Спектральный прибор Контрольный приемник излучения при измерении относительной чувствительности фотокатода Защитная камера Источник питания' исследуемого фотоэлемента Источники излучения |
Двойной . монохроматор типа ДМР-4. Рассеянный свет в измеряемом диапазоне спектра не должен превышать 1 %. Погрешность измерения 4% Теплдвые приемники излучения термоэлемента типа РТН с отклонением от неселективности не более 2% в используемом спектральном диапазоне или кремниевые фотодиоды типа ФД-24К, имеющие стабильную спектральную характеристику По п. 2.3.1 настоящего стандарта По п. 2.3.3 настоящего стандарта Для работы в ультрафиолетовой части спектра (ПО-340 нм) применяют газоразрядные лампы с водородным наполнением ■— водородная лампа типов ВЛФ-25, ВЛФ-40 или газоразрядные лампы с дейтериевым наполнением типов ДДС-30, ДДС-400 с увио- левыми, кварцевыми, сапфировыми или фтористо- магниевыми окнами в зависимости от исследуемого спектрального диапазона. Для работы в длинно-волновом участке ультрафиолетового спектра (300— —380 нм), а также в видимой и ближней ИК-облас- ти (360—1500 нм) следует |
|
Продолжение
|
Измерительная аппаратура, оборудование |
Типы и основные параметры |
Примечание |
|
|
применять ленточную лампу накаливания типа СИ-10—ЗООу, имеющую увиолевое, сапфировое или кварцевое окно |
|
|
Источник импудьсэв оптического излучения |
В качестве источника оптического излучения могут использоваться: источник излучения по ГОСТ- 8.198—76 и другие метрологические аттестованные лазеры, работающие’ в нм- пульсно-модулированном режиме с аналогичными параметрами и с тя <10~8 с . Составляющая основ ной погрешности, обусловленная нестабильностью источников излучения, не должна превышать погрешность остальных средств измерений за время измерений параметров фотоэлементов |
При измерении длительности импульсной характеристики необходимо выполнение условия: (3—5) т и<т05 где Ти — длительность импульса источника излучения; т05 — длительность импульсной характерис тики по уровню 0,5 исследуемого фотоэле мента |
|
Блок питания и контроля режима источника излучения |
По п. 2.3 настоящего стандарта, а также рекомендуется применять источники постоянного тока типа СИП-30, МКТС-35. Для контроля режима источника излучения применять амперметр класса точности не ниже 0,2 для ламп накаливания и класса точности не ниже 0,5 для газоразрядных ламп |
|
|
Измерительные приборы |
По п. 2.3.5 настоящего стандарта |
|
|
Вольтметр постоянного тока |
Класс точности 1.0 Диапазон 1—1000 В |
• - |
|
Микроамперметр постоянного тока |
Класс точности 1,0 Диапазон 0,1—100 мкА |
|
Продолжение
|
Измерительная аппаратура, оборудование |
Типы и основные параметры |
Примечание / |
|
Регистратор осциллографический |
Типа 6ЛОР-04 Погрешность измерений по оси процесса 5% Погрешность измерений по оси времени 5% |
|
|
Импульсный вольт метр |
Типа В-4—17 Для измерений амплитудных значений электрических сигналов с погрешностью не более 4% Динамический диапа зон Ї0-3—100 В Длительность • электрических импульсов 1О~10— —10-6^с |
|
|
Стробоскопический осциллограф |
Типа С7—12 Полоса частот 5 ГГц, чувствительность 5 мВ/ем. Погрешность амплитудных измерений не более 5%, погрешность временных' измерений не более 5% |
|
|
Средство измерения максимальной мощности однократного импульса оптического излучения, аттестован ное или прошедшее поверку (СИ ММ с известными параметрами) |
Динамический- диапазон 103—105 Вт Рабочая длина волны в диапазоне 0,53—1,06 мкм Основная погрешность не более 15% |
/ |
|
Контрольное средство измерений |
К СИ ММ, используемому 'в качестве контрольного, предъявляется требование к стабильности спектральной чувствительности за время измерений, определяемой допустимой погрешностью измерений |
|
|
Диафрагма из асбоцемента |
|
См. приложение 2 |
|
Делительная пластина из стекла БСЗ |
ГОСТ 94111— 81 Толщина 5 мм |
См. приложение 3 |
|
Измерительная аппаратура, оборудование |
Типы и основные параметры |
Примечание |
