ГОСУДАРСТВЕННЫЕ СТАНДАРТЫ
СОЮЗА ССР

ФОТОЭЛЕМЕНТЫ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

ГОСТ 21316.0-75-ГОСТ 21316.7-75

Издание официальное

(jce/n-iL- A/J-/O ■ — Л/Ж

... л- 31/S3 am <&/. /7. /7

Ozu @ / О/ д'/

/ Ш-Н I

J / / 9

Цена 11 коп.



ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СТАНДАРТОВ
СОВЕТА МИНИСТРОВ СССР
Москва



(ГОСі Н,0 3

d Tuv мілГ им ши UTp Г. со. и

©Издательство стандартов, 1976

ГОСТ
21316.0—75

Издание официальное


Перепечатка воспрещена


ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ФОТОЭЛЕМЕНТЫ

Методы измерения параметров/
Общие положения

Photocells. Methods of characteristics measurements.
General considerations

Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 2 декабря 1975 г. № 3747 срок действия установлен

с 01.01.79 до 01.01.84

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает общие положения для стандартов на метод измерения следующих параметров:

световой чувствительности;

нестабильности;

темнового тока;

сопротивления изоляции;

неравномерности чувствительности по фотокатоду;

предела линейности световой характеристики в непрерывном' режиме;

предела линейности световой характеристики в импульсном режиме.

  1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

    1. Измерение электрических и светотехнических параметров- фотоэлементов следует производить в нормальных климатических условиях по ГОСТ 16962—71, если иное не установлено в стан­дартах на фотоэлементы конкретных типов1 (далее—стандартах).

    2. Измерение электрических и светотехнических параметров фотоэлементов следует производить в режимах, установленных в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.

    3. Параметры фотоэлементов измеряют в светонепроницае­мой камере.

    4. При измерении световой чувствительности, нестабильно­сти, темнового тока, сопротивления изоляции, неравномерности чувствительности по фотокатоду, предела линейности световой ха­рактеристики в непрерывном и импульсном режиме необходимо облучать всю рабочую поверхность входного окна фотоэлемента.

Поверхность входного окйа фотоэлемента должна быть распо­ложена под углом 90±3° к направлению падения излучения, если иное не оговорено в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.

    1. Перед измерением параметров фотоэлементы должны быть выдержаны в течение времени и в условиях, указанных в стандар­тах на фотоэлементы конкретных типов.

  1. АППАРАТУРА

    1. Св етон еп р о н и ц а е м а я камера

      1. Светонепроницаемая камера должна обеспечивать пол­ную защиту фотоэлементов от внешних источников излучения, а также от воздействия магнитных, электрических полей и проника­ющей радиации в том случае, если они превышают естественный фон.

      2. Светонепроницаемая камера должна иметь электрическое соединение с общей точкой измерительной схемы (испытательной установки).

      3. В качестве изоляционного материала для проводных изо­ляторов не следует применять фторопласт и другие материалы с большим коэффициентом пропускания без специальной свето- защиты.

      4. Конструкция камеры должна исключать появление отра­жений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.

    2. И ст о чн и к и излучения

      1. При измерении параметров фотоэлементов следует при­менять источники излучения, указанные в стандартах на методы измерения конкретных параметров.

    3. И сточи и ки питания фотоэлементов

      1. В качестве источников питания фотоэлементов должны применяться источники постоянного напряжения с нестабильно­стью выходного напряжения не более 1% при изменении напря­жения питающей сети на ±10% и нестабильностью в течение вре­мени, необходимом для проведения измерения, не более 1%.

      2. Напряжение на выходе источника питания должно регулиро­ваться в пределах, необходимых для измерения конкретного пара­метра фотоэлемента.В случае применения маломощных источников питания при измерении параметров фотоэлементов, работающих в импуль­сном режиме, параллельно источнику питания должен быть вклю­чен накопительный конденсатор, емкость С в фарадах которого определяется из соотношения

Л ^<CU,

где /а — амплитуда импульса тока, А;

Ти — длительность импульса, с;

U допустимое изменение напряжения питания за время дей­ствия импульса, В.

Значение допустимого изменения напряжения питания должно быть указано в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.

    1. Падение напряжения на элементах защиты, включаемых в цепь фотоэлемента не должно превышать 1% заданного напря­жения питания.

  1. Источи ики питания источника излучения

    1. В качестве источников питания источника излучения дол­жны применяться источники постоянного или переменного напря­жения.

Нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на .±10% и в течение вре­мени, необходимого для проведения измерения, должна быть не более 0,2%—для питания светоизмерительных ламп накаливания и не более 0,5%—для питания остальных источников излучения.

  1. Измерительные приборы

    1. Напряжение питания фотоэлементов следует контролиро­вать прибором класса не ниже 1,0.

    2. Измерение токов до 10-7 А должно выполняться прибо­рами класса не ниже 1,5, а токов менее 10~7 А—электрическими усилителями, электрометрами и гальванометрами, приведенная погрешность которых не более 10%.

Предел измерения прибора должен выбираться таким, чтобы при измерении тока использовались последние 2/з шкалы, если иное не указано в стандартах на методы измерения конкретных параметров.

    1. Режим работы источников излучения следует контроли- эовать приборами класса не ниже 0,2 — для светоизмерительных іамп накаливания и класса не ниже 0,5 —для остальных источ- шков излучения.

  1. ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ

    1. Светонепроницаемая камера с фотоэлементом должна быть борудована блокировкой, исключающей возможность прикосно- ения оператора к токопроводящим частям, а также сигнализа­цией о включении высокого напряжения.

    2. Металлические корпуса измерительных приборов должны иметь надежное соединение с шиной заземления испытательной установки.

    3. Включение и отключение оборудования должны произво­диться с помощью выключателей, размещенных на пультах и па­нелях управления, и штепсельных разъемов.

    4. Приборы переносного типа размещают на рабочем столе, полках или выдвижных столиках оборудования.

Осциллографы и другие аналогичные приборы размещают на специальных тележках, рабочем столе, стеллажах или нишах обо­рудования.

До включения в электрическую сеть необходимо заземлить (за­нулить) металлические корпуса переносных измерительных прибо­ров.

  1. Персоналу, осуществляющему управление радиоэлектрон­ным оборудованием в процессе измерения параметров фотоэле­ментов разрешается:

  1. постановка (снятие) фотоэлемента на место измерения в светонепроницаемую камеру;

  2. соединение (отсоединение) фотоэлемента с электрической частью испытательной установки;

  3. выполнение вспомогательных операций, необходимых для проведения измерений;

  4. включение и отключение оборудования и манипуляции ор­ганами управления на наружных панелях и пультах испытатель­ных установок и измерительных приборов.

Выполнение операций по подпунктам а, б, в должно произво­диться при выключенном высоком напряжении.Изменение № Г ГОСТ 21316.0—75 Фотоэлементы. Методы измерения парамет­ров. Общие положения

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 02.12.83 № 5679 срок введения установлен

с 01,05.84

Наименование стандарта изложить в новой редакции: «Фотоэлементы.

Общие требования при измерении параметров»

(Продолжение см. стр. 66)Photocells. General requirements for characteristics measurements*.

Пункт 1.1. Заменить ссылку: ГОСТ 16962—71 на ГОСТ 20.57.406—61.

Пункт 1.4. Исключить слова: «темнового тока, сопротивления изоляции неравномерности чувствительности по фотокатоду*.

Пункт 2.1.3. Заменить слово: «проводных» на «проходных».

(ИУС Xs 3 1964 г.)

1 Здесь и далее при отсутствии стандартов на фотоэлементы конкретных типов, нормы, режимы и требования указываются в технической документации, утвержденной в установленном порядке.