---

. (18>

Изменение выходного напряжения устройства выборки и хра­нения DS за время измерения не должно превышать значения

I.^_os|<0,001 - ■ l/|, (19>.

где U_DS— изменение выходного напряжения устройства DS;

U — напряжение или э. д. с. смещения нуля проверяемого* ОУ или КН.

£₅<0,02|£

см.тіп

(20>

121)

(

СМ

22)

I ^1Х5

1. .5.1. Показатели точности измерений напряжений э. д. с. и сме­щения нуля должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на ОУ или КН конкретных типов.

Границы интервала, в котором с доверительной вероятностью 0,997 находится погрешность измерения, определяют по формуле

где 6r — допустимое отклонение сопротивления резисторов и /?5;

&PV2 — погрешность измерения PV2}

61. — погрешность установления и поддержания напряжения питания проверяемого ОУ или КН;

62. — погрешность сигнала на выходе проверяемого ОУ или КН от наличия разности э. д. с. в трактах передачи сиг­нала 'низкого уровня;

бз — погрешность сигнала на выходе проверяемого ОУ или КН от наличия эквивалентного выходного напряжения шумов проверяемого ОУ или КН;

б₄ — погрешность установления и поддержания температуры окружающей среды;

—погрешность выделения Произведений /вх1'/?3 и ІвхЗ • £*4 при измерении параметра С7_см, определяют по формуле (25) или погрешность выделения произведений /вхі-/?

1и /вх2*/?2 при измерении параметра Е_с^, определяют по? формуле (26)

(25)

вх,гпах

|R1 Л2І • ^вх.ітіах

І^£см,min

(26).

&

6

где /вх, max — максимальное значение среднего входного тока про­веряемого ОУ или КН;

дб— погрешность установления и поддержания напряже­ния покоя на выходе проверяемого ОУ или КН;

а_і— коэффициент влияния напряжения питания прове­ряемого ОУ или КН на измеряемый параметр;

а₂— коэффициент влияния разности э. д. с в трактах пе­редачи сигнала низкого уровня на измеряемый па­раметр;

а₃— коэффициент влияния эффективного выходного нап­ряжения шумов проверяемого ОУ или КН на изме­ряемый параметр;

а₄ — коэффициент влияния температуры окружающей среды на измеряемый параметр;

— коэффициент влияния погрешностей произведений /вх-^з и /вх2-^4 или /_вхі • /?і и /_Вх2 • #2 на измеряе- мый параметр;

а₆— коэффициент влияния измерения напряжения покоя на выходе измеряемого ОУ или КН на измеряемый параметр.

От до Кб — предельные коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности от

di до бб

К_{1 =} К₂^Кз-К₄-Кб= 1,73,

Кб=3.

(Измененная редакция, Изм. № 1, 2).

ПРИЛОЖЕНИЕ 1

Справочное

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ О СООТВЕТСТВИИ ГОСТ 23089.3—8$
СТ СЭВ 3411—81

ГОСТ 23089.3—83 соответствует п, 1.3 СТ СЭВ 3411—81.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2. (Исключено, Изм. № 1)

.

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН

В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Го-

сударственного комитета №4165

СССР по стандартам от 09.09.85

2. Срок проверки — 1992 г.

3. Стандарт соответствует СТ СЭВ 3411—81 в части метода изме­рения напряжения смещения нуля

ВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

5. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУ­МЕНТЫ

Обозначение НТД.
на который дана ссылка

Номер пункта

ГОСТ 23089.0—78

Вводная часть

6. Переиздание (декабрь 1991 г.) с Изменениями № 1, № 2, утверж­

денными в феврале 1986 г., августе 1989 г. (ИУС 6—86, 12—89}

7. Проверен в 1988 г. Срок действия продлен до 01.01.94 (Постанов­ление Госстандарта СССР от 28.06.88 № 2428)

1 Применяют для измерения микросхем на установках, разработанных да» 01.01.82.

1