---

/ —стабилизированный источник оптического излучения; 2—измери­тельный ослабитель; 3—камера с

исследуемым ФЭУ и делителем на­пряжения питания; 4—стабилизи­рованный источник питания ФЭУ; 5—устройство для регистрации зна­чений анодного фототока.

Черт. 7

Напряжение питания и анодный фототок устанавливают в со­ответствии с нормативно-технической документацией на ФЭУ.кон­кретных типов.

При измерении анодный фототок ФЭУ регистрируют в течение времени, указанного в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.

Нестабильность ФЭУ 6ь %, рассчитывают по формуле

61 = . _100j ( 14)

/а max~i~^a min

где /_а max и /_а тш— наибольший и наименьший анодный фотото­ки ФЭУ соответственно за время испыта­ния, А.

Среднее значение нестабильности 6 определяют по формуле

6= -Ч₆₁ (15)

^п i=i

и принимают его за результат измерений.

/—стабилизированный источник импульсов оптического излучения; 2—измерительный ослабитель; 3— камера с исследуемым ФЭУ и де­лителем напряжения; 4—стабилизи­рованный источник питания ФЭУ; 5—импульсный вольтметр или ос­циллограф.

d=/S(7) • 100, (16)

где t — коэффициент Стьюдента, определяемый по ГОСТ 8.207—76;

S(I) — оценка среднего квадратического отклонения резуль­татов измерения анодного фототока согласно ГОСТ 8.207—76, определяют по формуле

S(7) = ]Z , (17)

V n(n—1)

где її— і-й результат наблюдения; _х

1. — результат измерения (среднее арифметическое неисп­равленных результатов наблюдений);

п— число наблюдений (п^5).

3.9.4.2. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2.

При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности Р = 0,95 не должна превышать 2%.ПРИЛОЖЕНИЕ 1

Рекомендуемое

ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА И ОБОРУДОВАНИЕ

Примеча-
ние

Измерительная аппаратура,
оборудование

Типы и основные параметр

ы

Спектральный прибор

Контрольный прием­ник излучения при изме­рении относительной чув­ствительности фотокатода

Защитная камера

Источник питания нс-, . следуемого ФЭУ

Источники излучения

Продолжение

Примеча-
ние

Измерительная аппаратура,
оборудование

Типы и основные параметр

ы

Блок питания и уст­ройство контроля режима источника излучения

Измерительные прибо­ры

Вольтметр постоянного тока

Микроамперметр по­стоянного тока

Регистратор осцилло­графический

Импульсный вольтметр

Вольтметр переменного тока

Стробоскопический ос­циллограф

Оптический смеситель

Измерительные осла­бители

Источники постоянного тока типа СИП- -30, МКТС-35. Для контроля режима ис­точника излучения применять амперметр класса точности не ниже 0,2 для ламп на­каливания и класса точности не более 0,5 для газоразрядных ламп

По п. 1.6.6 настоящего стандарта

Класс точности не ниже 1,0. Предел из­мерений от 1—3000 В

Класс точности не ниже 1,0. Предел из­мерений 0,1—100^і мкА.

Тип 6ЛОР-04. Погрешность измерений по оси процесса 5і% •

Погрешность измерений по оси времени 5%.

Тип В-4-17. Для измерений амплитудных значений электрических сигналов с погреш­ностью не более 4%.

Динамический диапазон 10~³—100 В.

Длительность электрических импульсов Ю-io— ю-e _с

Класс точности не ниже 1,5. Предел из­мерений от 0,3 мВ до 300 В.

Тип С7-Г2. Полоса частот 5 ГГц; чувстви­тельность 5 мВ/см. Погрешность амплитуд­ных измерений не более 5%. Погрешность временных измерений не более 5%. —

Равномерно освещает фотокатод иссле­дуемого ФЭУ от обоих источников и не из­меняет спектрального состава оптического излучения

По п. 1.6.3 настоящего стандарта

Составляющая основной погрешности, об­условленная нестабильностью коэффициента ослабления измерительных ослабителей, не должна превышать погрешность остальных средств измерений за время измерений па­раметров ФЭУ.

Для измерений

ными или лучшими

могут применяться другие средства измерений с аналогич­

характеристиками.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2

Справочное

РАСЧЕТ ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ФЭУ

1. Основную относительную погрешность измерений параметров ФЭУ, %, согласно ГОСТ 8.207—76 определяют по формуле

Д=К 1/ s²+—2 ед (П

³ /-1

где К — коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешности и принятой доверительной вероятности, определяется по ГОСТ 8.207—76;

5 — оценка относительного среднего квадратического отклонения резуль­тата измерений, %;

0j — граница j-й составляющей неисключенной систематической погрешно­сти, %. • .

S² = S²a_?/ ; (2)

0² = ©f . + Є 2 , (3)

где Sa"^ — относительное среднее квадратическое отклонение результата изме­рений среднего значения спектральной анодной чувствительности, %, оценивают по результатам измерений, полученным в п. 3.2 настоя­щего стандарта, по формуле

1. і/ 2 ~^Ам )² <«)

где п — число измерений;

0,, 0₂—основные относительные погрешности источника излучения на основе светодиода 1 и регистрирующего устройства 3 (черт. 2).

Относительное среднее квадратическое отклонение 5 результата измерений темнового анодного тока оценивают по результатам измерений, полученным в п. 3.4 настоящего стандарта, по формуле (4), заменив в ней А л на /_т, a Aw на 7_Tj.

В качестве неисключенной систематической погрешности результата измере­ний 0 учитывают основную погрешность средства измерений 5 (черт. 3).

Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений предела линейности в статическом режиме оценивают по результатам измере­ний, полученным в п. 3.5 настоящего стандарта, по формуле (4), заменив в ней А на х, а Л _г на х,; неисключенную систематическую погрешность 0 опреде­ляют по формуле

0

(5)

²=0f +0 2 +^вз где 01, 02, 0з — основная относительная погрешность источников оптического излучения (/, 2) измерительного ослабителя 3 и регистрирую­щего устройства 7 соответственно (черт. 4).

Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений предела линейности в импульсном режиме оценивают по результатам измере­ний, полученным в п. 3.6 настоящего стандарта, по формуле (4), заменив в ней А к на и, а Лі, і на и,.

Неисключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле 0² = 0 2 4-е 2 +0 2 , ; (6)

где 01, 02, 0з — основная относительная погрешность источника импульсов оп­тического излучения 1, измерительного ослабителя 2 и реги­стрирующего устройства 5 соответственно (черт. 5).

Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений времени нарастания переходной характеристики оценивают по результатам, по­лученным. в п. 3.7 настоящего стандарта, по формуле (4) , заменив в ней А ^{на т} (0,1—0,9) > ^аАк і ^{на т} (0,1—0,9)і •

Неисключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле 0² = 0 2 ₊₀ 2 _f (7)

где 01 и 02 — основная относительная погрешность источника импульсов опти­ческого излучения 1 и средства измерений 5 (черт. 6).

Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений нестабильности оценивают по результатам измерений, полученным в пп. 3.8 и 3.9 настоящего стандарта, по формуле (4), заменив в ней А к на 6, а Акі на бі.

Неисключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле 0²=0 * +0 2 , (8)

где 01 и 02 — основная относительная погрешность источника излучения 1 и приемного устройства 5 (черт. 7 и 8).Редактор В. П. Огурцов
Технический редактор О. Н. Никитина
Корректор А. С. Черноусова

Сдано в наб. 18.08.82 Подп. в печ. 20.12.82 1,5 п. л. 1,37 уч.-изд. л. Тир. 10000 Цена 5 кон.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, Новопресненский пер., д. 3.
Вильнюсская типография Издательства стандартов, ул. Миндауго, 12/14. Зак. 3878Двойной хроматор типа ДМР-4. Рассеян­ный свет в измеряемом диапазоне спектра не должен превышать Г%. Погрешность из­мерения 4%

Тепловые приемники излучения-термоэле­менты типа РТН с отклонением от неселек- тивности не более 2% в используемом спек­тральном диапазоне или кремниевые фото­диоды типа ФД-24к, имеющие стабильную спектральную характеристику

По п. 6.1 настоящего стандарта

По п. 1.6.4 настоящего стандарта

Для работы в ультрафиолетовой части спектра (11—340 нм) применяют газораз­рядные лампы с водородным наполнени­ем — водородная лампа типа ВЛФ-25, ВЛФ-40 или газоразрядные лампы с дейте­риевым наполнением типов ДДС-30. ДДС- •400, с увиолевыми кварцевыми, сапфировы­ми или фторнстомагниевыми окнами в за­висимости от исследуемого спектрального диапазона. Для работы в длинно-волновом участке ультрафиолетового спектра (300— 380 нм), а также в видимой и ближней ИК- области (360—1500 нм) следует применять ленточную лампу накаливания типа СИ-10- •ЗООу, имеющую увиолевое, сапфировое или кварцевое окно.

В качестве источника оптического излу­чения могут использоваться: источник излу­чения по ГОСТ 8.198—76 и другие метро­логически аттестованные лазеры, работаю­щие в импульсно-модулированном режиме с аналогичными параметрами и с т_и<10~^{* 8} с, и источники оптического излучения на осно­ве светодиодов по ГОСТ 8.273—78.

Составляющая основной погрешности, об­условленная нестабильностью источников излучения, не должна превышать погрешно­сти остальных средств измерений за время измерений параметров ФЭУ