д?:-, ” ■ ’ • - • - ’ ‘|' ’ <: '■

УДК «69.11—482.«».4:006.354 Группа В59

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПОРОШОК ЖЕЛЕЗНЫЙ

Метод фотоэлектрического спектрального анализа кремния, марганца и фосфора ГОСТ

Iron powder. 16412.9—91

Method of photoelectric spectral analysis of silicon,
manganese and phosphorus

ОКСТУ 0809 і

Дата введения 01.07.92

Настоящий стандарт устанавливает фотоэлектрический метод определения кремния от 0,01 до 0,12%. марганца от 0,02 до 0,30% и фосфора от 0,01 до 0,04% в железном порошке.

  1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

Общие требования к методу анализа — по ГОСТ 28473.

  1. СУЩНОСТЬ МЕТОДА

Метод основан на (возбуждении излучения атомов анализируемо­го образца электрическим разрядом, разложении излучения в спектр, измерений аналитических сигналов, пропорциональных ин­тенсивности спектральных линий, и последующем определении зна­чений массовой доли элементов с помощью градуировочных ха­рактеристик.

  1. АППАРАТУРА И МАТЕРИАЛЫ

Фотоэлектрические вакуумные и воздушные установки индиви­дуальной градуировки.

Аргон газообразный первого и высшего сорта по ГОСТ 10157.

Электропечь для сушки и очистки аргона типа СУОЛ-0,4,4/12- -Н2-У4.2.

Кондиционеры, обеспечивающие постоянную температуру и влажность воздуха в помещении. ' ,

Шлифовальный станок ЗЕ881.

Универсальный станок для заточки электродов КП-35.

Издание официальное

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен без разрешения Госстандарта СССРШкурка шлифовальная бумажная типа 2 на бумаге марки ШБ-200 (П7) из нормального электрокорунда зернистостью 40—60 по ГОСТ 6456 или другого типа, обеспечивающая необхо­димое качество заточки.

Для вакуумных фотоэлектрических установок используют по­стоянные электроды — медные, серебряные, вольфрамовые и тита­новые прутки диаметром 1—6 мм и графитовые стержни С-3, диа­метром 6 мм.

Для воздушных фотоэлектрических установок используют мед­ные прутки марки MOO, Ml, М2 по ГОСТ 858 и электроды графи­товые, спектрально чистые, марки С-3 по нормативіно-техиической документации диаметром 6 мім длиной не менее 50 мім,

Пресс, обеспечивающий усилие не менее 70 кН.

  1. ПОДГОТОВКА К АНАЛИЗУ

    1. Отбор проб проводят по ГОСТ 9849.

    2. Отобранную пробу тщательно перемешивают, отбирая мер­кой часть железного порошка массой 5—6 г.

    3. Брикеты прессуют в стальной пресс-форме с добавлением связки (порошок меди или графитовый порошок) без нее на прес­се в течение 20 с с давлением, обеспечивающим достаточную проч­ность. Диаметр таблетки и ее высота должны соответствовать кон­структивным параметрам фотоэлектрической установки.

    4. Брикеты стандартных образцов предприятия (СОП) хра­нят в закрытых стеклянных банках.

    5. Брикеты стандартных и анализируемых образцов перед анализом затачивают на шлифовальном станке. /

    6. Подготовку установки к выполнению измерений проводят в соответствии с инструкцией по эксплуатации.

    7. При фотоэлектрической регистрации спектра установление ■градуировочных характеристик осуществляют с помощью стандарт- -ных образцов (СО) , аттестованных в соответствии с ГОСТ 8.315.

При первичной градуировке выполняют не менее пяти се­рий измерений в разные дни работы фотоэлектрической установ­ки. В серии для каждого СО (пробы) проводят по две пары парал­лельных (выполняемых одно за другим на одной рабочей поверх­ности) измерений; при большом числе СО (проб) допускается вы­полнять по одной паре параллельных измерений. Порядок пар па­раллельных измерений рандомизируют. Вычисляют среднее ариф­метическое аналитического сигнала из всех 20 измерений для каж­дого СО (пробы). Для каждого анализируемого элемента уста­навливают градуировочную характеристику как зависимость сред­них значений аналитических сигналов элемента от значений его массовой доли в стандартных образцах (пробах) методом наимень-ших квадратов или графическим методом. Градуировочные харак­теристики выражают в виде графиков, таблиц, уравнений.

При использовании фотоэлектрической установки, управляемой компьютером, градуировку проводят в порядке, предусмотренном программой.

Допускается использовать градуировочные характеристики с введением поправок, корректирующих влияние химического., со­става. ■>

    1. Повторную градуировку выполняют в соответствии с п. 4.8, при этом допускается сокращение числа измерений.

    2. При оперативной градуировке (метод трех эталонов) вы­полняют два параллельных измерения каждого СО. Допускается увеличение числа параллельных измерений до четырех.

  1. ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА

    1. Условия проведения анализа приведены в приложении.

    2. Длины волн спектральных линий и диапазон значений мас­совой доли элементов приведены в приложении.

    3. Допускается применение других условий проведения ана­лиза и спектральных линий, обеспечивающих точность анализа, предусмотренную настоящим стандартом.

    4. Для каждого определяемого элемента выполняются три параллельных измерения. Допускается выполнение двух или четы­рех параллельных измерений.

    5. Значение массовой доли контролируемого элемента в про­бе, представленной тремя образцами, находят как среднее ариф­метическое результатов трех измерений, полученных по одному от каждого из трех образцов.

  2. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

    1. Если расхождения значений аналитических сигналов, вы­раженные в единицах массовой доли не более 1,10 dcx (см. табл. 3 приложения) — для четырех параллельных измерений, dcx для трех параллельных измерений и 0,84 dt.x — для двух параллельных измерений, вычисляют среднее арифметическое.

В случае превышения величины допускаемых расхождений между результатами параллельных измерений, анализ повторяют после новой заточки пробы. Расхождения не должны превышать величин, указанных в табл. 3 приложения.

    1. За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое двух, трех или четырех параллельных измерений, удовлетворяющих требованию п. 6.1.

    2. 48Если при повторных измерениях расхождения результатов первичного и повторного анализов превышают значения, указан­ные в табл. 3, делают дублирующую пробу.

    3. Если для дублирующей пробы расхождения результатов трех измерений превышают допускаемые значения dcx, выявляют и устраняют причины, вызвавшие повышенное рассеяние результа­тов измерений.

  1. КОНТРОЛЬ ТОЧНОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ АНАЛИЗА

    1. Контроль стабильности градуировочных характеристик ;

      1. Не реже чем через 4 ч работы фотоэлектрической уста­новки осуществляют контроль стабильности градуировочных ха­рактеристик для верхнего и нижнего пределов диапазона измере­ний. ,

Допускается выполнять контроль только для верхнего предела или только для середины диапазона измерений.

    1. Стабильность градуировочных характеристик контроли­руют с помощью СО или однородных проб, для чего проводят два параллельных измерения. Допускается увеличение числа парал­лельных измерений до четырех. Расхождения значений аналити­ческих сигналов, выраженных в единицах массовой доли, не долж­но превышать значений, указанных в и. 6.1 и табл. 3.

    2. Если расхождение результатов параллельных измерений превышает допускаемое значение (см. п. 7.1.2), проводят повтор­ные измерения аналитического сигнала для СО (пробы) в соответ­ствии с п. 7.1.2.

    3. Если расхождение результатов превышает допускаемое значение 0,5 dB (см. табл. 3), то измерение повторяют в соответст­вии с пп. 7.1.2 и 7.1.3. При повторном превышении расхождения допускаемого значения осуществляют восстановление градуировоч­ной характеристики регулировкой параметров установки или кор­рекцией результатов измерений введением поправок.

    4. Внеочередной контроль стабильности осуществляют пос­ле ремонта или планово-профилактического осмотра фотоэлектри­ческой установки.

  1. Контроль воспроизводимости результатов анализа

    1. Контроль воспроизводимости результатов анализа выпол­няют повторным определением массовой доли контролируемых элементов в проанализированных ранее пробах не реже одного раза в квартал.

    2. Число повторных определений должно быть не менее 0,3% общего числа определений.

    3. Вычисляют число расхождений результатов первичного и повторного анализов, превышающих допускаемое значение dB (см. табл. 3). Если расхождение результатов первичного и повтор­ного анализов превышает допускаемое значение не более чем на 5% случаев, то воспроизводимость измерений считают удовлетво­рительной.

  2. Контроль правильности результатов ана­лиза

    1. Контроль правильности проводят выборочным сравнением результатов спектрального анализа проб с результатами химичес­кого анализа, выполняемого стандартизованными или аттестован­ными в соответствии с ГОСТ 8.010 методиками, не реже одного раза в квартал.

    2. Число результатов спектрального анализа, контролируе­мых методами химического анализа, устанавливается в соответст­вии с п. 7.2.2.

    3. Вычисляют число расхождений результатов спектрально­го и химического анализов, превышающих допускаемое значение d„ (см. табл. 3). Если расхождение результатов спектрального и химического анализов превышает допускаемое значение не более чем в 5% случаев, то точность спектрального анализа считают со­гласованной с точностью химического анализа.

Допускается частично выполнять контроль правильности методом спектрального анализа на основе воспроизведения значе­ний массовой доли элемента в стандартном образце предприятия.ПРИЛОЖЕНИЕ

Рекомендуемое



Воздушные фотоэлектрические установки


Вакуумные фотоэлектрические установки

Контролируемые параметры

МФС-4

МФС-6

Контролируемые ч

параметры

> ДФС-41

. ДФС-51

генератор «Аркус»

генератор ИВС-28

ИВС-1, ИВС-2

ивс-6

Напряжение, В

Частота, Гц

Сила тока, А

Аналитический проме­жуток, мм

Время обжига, с

Время экспозиции, с

Электроды

220

50, 100

2,2

1,5

30

Угольный, усеченный кон диаметром 1,5

220

50, 100

4,0

1.5

30

заточенный на ус с площадкой мм

Напряжение, В

Емкость, мкФ Индуктивность, мкГн

Частота, Гц

Сопротивление, Ом

Ширина выходных щелей

Время продувки камеры аргоном, с

Аналитический промежу­

ток, мм

Время обжига, с

Время экспозиции, с

600-650 12—40 180—500 150

0,1—16,9- 0,04; 0,075

7—10

2—6 10—75 5-20

650 4—10 15—160 100—50 1—10 0,04; 0,075

7—10

2 10—75 5-20

Таблица 1/


Условия проведения анализа


ГОСТ 16412.9—91 С. 6





















Таблица 2

Длины волн спектральных линий и диапазоны значений массовой Доли элемента

Определяемый элемент

Длина волны определяе­мого элемента, нм

Диапазон значений массовой доли элементов, %

Фосфор

178,29

214,91

0,004—0,15

0,005—0,15

Кремний

251,6

288,16

0,01—1,50

0,01—2,00

Марганец

263,82

293,31

і 0,02—2,20

0,02—2,20

Железо*

241,33; <

259,9;

282,33


* Элемент сравнения.




Таблица 3

Допускаемые расхождения между результатами параллельных измерений

Контролируемый элемент

Массовая доля, %

Допускаемые расхождения между резуль­татами трех параллельных измерений dcx- %

{Допускаемые расхождения между резуль­татами первич­ного и> повтор­ного анализа dB. %

Фосфор

От 0,01 до 0,02 включ.

0,005

0,006


Св. 0,02 » 0.04 »

0,008

0,010

Кремний

От 0,01 » 0,02 »

0,008

0,010


Св. 0,02 » 0,05 »

0,013

0,016


» 0,05 » 0,10 »

0,0201

0,024


» 0,10 » 0,12 »

0,025

0,030

Марганец

От 0,02 » 0,05 »

0,007

0,008


Св. 0,05 » 0,10 »

0,010

0,011


» 0,10 > 0,20 »

0,016

0,018


» 0,20 > 0,30 »

0,025

0,030