Погрешность поддержания температуры Д0 в °С в термостатируемом объеме в процессе измерения должна быть не более Ае= I I - І а.,ел I .Гст(Д/стх+А/стг)) (10>
СТ2 иСТ
где U„2—значение напряжения стабилизации при токе стабилизации /ст2 , В;
аст —температурный коэффициент напряжения стабилиза-' ции, %/°С.
Относительные погрешности средств измерения могут отличаться от указанных в настоящем разделе, при этом погрешность измерения должна быть в пределах, указанных в п. 2.5.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Подготовка и проведение измерений
Стабилитрон помещают в термостатируемый объем, в- котором устанавливают заданную температуру.
Генератором постоянного тока О устанавливают ток стабилизации /ст1 .
После установления теплового равновесия стабилитрона с термостатируемым объемом по истечении времени, указанного- в стандартах или технических условиях на конкретные типы ста
билитронов, производят измерение напряжения стабилизации С7ст1 .
Генератором постоянного тока G устанавливают ток стабилизации /СТ2 .
2.3.4. (Измененная редакция, Изм. № 1).
После установления теплового равновесия стабилитрона, с термостатируемым объемом по истечении времени, указанно-, го в нормативно-технической документации на конкретные типы стабилитронов, производят измерение напряжения стабилизации U СТ2 *
О б р а б о т к а результатов
Дифференциальное сопротивление вычисляют по формуле
П
ГСт
^СТ2 — ^СТ1
/СТ2 Дт1
(11)
Погрешность измерения дифференциального сопротивления стабилитронов с током стабилизации более 0,25 мА должна находиться в пределах плюс 10 % с доверительной вероятностью У3 = 0,997; минус 10 °/о с доверительной вероятностью Р = 0,95.
П
$нел
5ш.ст Vbf iooa
ГсттІпНст2 ст1) /
огрешность измерения дифференциального сопротивления стабилитронов с током стабилизации 6,25 мА и менее с доверительной вероятностью Р = 0,95 должна находиться в пределах.$02
■
17+28?,зм2+2(
(12>
$111. ст 100г CTtninH СТ2 — Аті)
где 6ИЗМ2 — погрешность измерения напряжения стабилизации^ %.
Конкретное значение общей погрешности измерения дифференциального сопротивления стабилитронов с током стабилизации 0,25 мА и менее указывается в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов.
2.5.2. (Измененная редакция, Изм. № 1).
ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Рекомендуемое
МЕТОД ОЦЕНКИ ПОГРЕШНОСТИ ИЗ-ЗА ВЛИЯНИЯ
НЕЛИНЕЙНОСТИ В. А. X. СТАБИЛИТРОНА
(Исключен, Изм. № 1).
Для стабилитронов с током стабилизации 0,25 мА и менее при условии отсутствия дополнительных погрешностей измеряют дифференциальное сопротивление при выбранном максимальном значении переменного тока (приращениях тока стабилизации) — г стз и при вдвое большем значении — г ст4. Погрешность из-за влияния нелинейности в. а. х. стабилитрона определяется по формуле
Погрешность определения б Нел должна быть в пределах ±30%.
ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Обязательное
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ГРАНИЧНОЙ ЧАСТОТЫ СТАТИЧЕСКОГО
РЕЖИМА
Граничная частота статического режима fr— максимальное значение частоты переменного тока, при котором в каждый момент времени температура р—п перехода стабилитрона определяется мгновенным значением тока, протекающего через р—п переход (определяется из зависимости rCT=rcr(f), приведенной на черетеже).
Граничная частота статического режима определяется для заданных условий внешней среды, способа закрепления измеряемого прибора, тока стабилизации и максимального значения переменного тока.
ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ О СООТВЕТСТВИИ ГОСТ 18986.22—78
СТ СЭВ 3200—81
ГОСТ 18986.22—78 соответствует разделу 4 СТ СЭВ 3200—81.
(Введен дополнительно, Изм. № 1)
.СОДЕРЖАНИЕ
ГОСТ 18986.0—74 Диоды полупроводниковые. Методы измерений (СТ СЭВ 1622—79) электрических параметров. Общие положения . 1
ГОСТ 18986.1—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения по- (СТ СЭВ 2769—80) стоянного обратного тока 4
ГОСТ 18986.2—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения по-
(СТ СЭВ 2769—80) стоянного обратного напряжения .... 6-
ГОСТ 18986.3—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения по- (СТ СЭВ 2769—80) стоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока . 8
ГОСТ 18986.4—73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения
(СТ СЭВ 2769—80) емкости 11
ГОСТ 18986.5—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения 18
ГОСТ 18986.6—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения за-
(СТ СЭВ 3198—81) ряда восстановления 23
ГОСТ 18986.7—73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения
эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда . 31
ГОСТ 18986.8—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения
(СТ СЭВ 3198—81) времени обратного восстановления . ... 36
ГОСТ 18986.9—73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения
(СТ СЭВ 3198—81) импульсного прямого напряжения . ... 41
ГОСТ 18986.10—74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения
индуктивности 44
ГОСТ 18986.11—74 Диоды полупроводниковые. Метод измерения со-
(СТ СЭВ 2769—80, противления потерь ... . . ... 49
СТ СЭВ 3199—81)
ГОСТ 18986.12—74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод
измерения отрицательной проводимости перехода 59
ГОСТ 18986.13—74 .Диоды полупроводниковые туннельные. Методы
измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора 64
ГОСТ 18986.14—75 Диоды полупроводниковые. Метод измерения
дифференциального сопротивления . . . . 70
ГОСТ 18986.15—75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод изме-
(СТ СЭВ 3200—81) рения напряжения стабилизации . . . . 74
ГОСТ 18986.16—72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока . 78
ГОСТ 18986.17—76 Стабилитроны полупроводниковые. Метод изме-
(СТ СЭВ 3200—81) рения температурного коэффициента напряже^
ния стабилизации 81
ГОСТ 18986.18—76 Варикапы. Метод измерения температурного ко-
(СТ СЭВ 3198—81) эффициента емкости . . . . . * . . .85
ГОСТ 18986.19—76 Варикапы. Методы измерения добротности . . 88
(СТ СЭВ 3199—81)
ГОСТ 18986.20—77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные.
Метод измерения времени выхода на режим . 95
ГОСТ 18986.21—78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые.
Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации 104
ГОСТ 18986.22—78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы из- (СТ СЭВ 3200—81) мерения дифференциального сопротивления . .110Редактор Т. П. Шашина
Технический редактор О. Н. Никитина
Корректор Н. Д. Чехотина
-Сдано в наб. 14.03.83 Подп. к печ. 12.05.83 7,5 п. л. 6,99 уч.-изд. л. Тир. 12000 Цена 35 коп.
■Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, Новопресненский пер., 3.
Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 752
НО
