В случае разногласия по результату испытаний толщину плас­тин и деталей измеряют в одной точке на каждые 10 см2 по­верхности, но не менее чем в двух точках на каждой пластине или детали.

  1. Толщину пластин щипаной слюды размера 05М проверя­ют следующим образом: надрешетный продукт, полученный по п. 2.3.6, рассортировывают по толщинам на подгруппы 5—45»

Система NormaCS® www.normacs.ru ■ 12.06.2007 17:17:5

745—80 и 80—100 мкм и взвешивают пластины в каждой под* группе.

    1. Разность толщины по недоснятию пластин и деталей определяют замером толщины в месте недоснятия и в месте без недоснятия на основной площади образца не ближе 2 мм от лю* бой из сторон пластины или детали.

  1. Обработка результатов

    1. і. Результат измерений толщины, разности толщины по не­доснятию при применении многооборотного индикатора должен быть вычислен в миллиметрах с точностью до третьего десятичного знака, при применении индикатора часового типа — до второго десятичного знака.

    2. Разность толщины по недоснятию (б) в миллиметрах вычисляют по формуле где fmin —минимальная толщина, мм;

—максимальная толщина, мм.

    1. За окончательный результат определения толщины плас­тин и деталей (кроме щипаной слюды условного размера 05М) и определения разности толщины по недоснятию принимают про­центное отношение количества пластин и деталей с заданной толщиной или разностью толщины по недоснятию к общему коли­честву пластин и деталей в пробе.

    2. За окончательный результат определения толщины плас­тин щипаной слюды условного размера 05М принимают процент­ное отношение массы пластин каждой подгруппы толщин к мас­се пробы.

  1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПРИРОДНЫХ ДЕФЕКТОВ
    И ДЕФЕКТОВ ОБРАБОТКИ ПЛАСТИН И ДЕТАЛЕЙ
    (ИСКЛЮЧАЯ НЕДОСНЯТИЯ)

    1. Аппаратура

Для определения дефектов применяют:

экран световой с рисками на расстоянии 0,5; 1,0; 1,5; 2,0; 3,0; 4,0 и 5,0 мм. Освещенность светового экрана должна быть не ме­нее 200 лк;

линейку измерительную металлическую с ценой деления 1 мм по ГОСТ 427—75;

лупу измерительную с десятикратным увеличением по ГОСТ 8309—75.

  1. Проведение определений

Наличие проколов, минеральных включений, морщини­стости, зажимистости, горбин, складок, пережатое™ определяют внешним осмотром.Стр. 8 ГОСТ ІО918—82

    1. Характер допустимой волнистости устанавливают по образцам, согласованным между изготовителем и потребителем.

    2. Проверку размеров трещин, проколов, отломов углов, надломов расслоений, завернутого края, выхватов производят на­ложением на световой экран. Заусеницы проверяют при опре­делении линейных размеров,

    3. Определение относительной площади, занятой газовыми включениями и минеральными пятнами, проводят измерительной лупой с десятикратным увеличением.

    4. Допускается определять площадь, занятую дефектами с помощью образцов, согласованных между изготовителем и по­требителем.

  1. Обработка результатов

    1. Относительную площадь пластин и деталей, занятую га­зовыми включениями, минеральными пятнами, загрязнениями, определяют следующим образом: клетку поверхности, занятую более чем на V2 ее площади, принимают за 1, менее Vs — за 0.

Количество клеток, занятых включениями, определяют как сумму условных единиц и затем вычисляют их процентное от­ношение от всего числа клеток, помещающихся в контуре плас­тины.

    1. За окончательный результат определения природных дефектов и дефектов обработки пластин и деталей принимают процентное отношение количества пластин и деталей с допусти­мыми дефектами к общему количеству пластин и деталей в пробе.

  1. ИСПЫТАНИЕ ДЕТАЛЕЙ НА НАЛИЧИЕ ТОКОПРОВОДЯЩИХ ВКЛЮЧЕНИЙ

    1. Аппаратура

Для проведения испытания применяют:

индукционную катушку или любое устройство, обеспечивающее получение искрового разряда длиной не менее 6 мм между электродами;

’ щуп из токопроводящего материала длиной не менее 100 мм с рабочей поверхностью в виде полусферы с радиусом не ме- j нее 2 мм.

    1. Проведение испытания

      1. Испытания проводят при температуре окружающей сре- ' ды (20±5) °С и относительной влажности воздуха (65± 15) %.

    2. Деталь помещают на заземленный электрод. При про­верке токопроводящих включений щуп устанавливают на расстоя­нии 6 мм от заземленного электрода. Наличие токопроводящих включений обнаруживают по появлению свечения или искрения.Обработка результатов

      1. За окончательный результат определения токопроводящих включений принимают процентное отношение количества дета­лей без токопроводящих включений к общему количеству дета­лей в пробе.

  1. ИЗМЕРЕНИЕ ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ |tg g)
    И ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
    (є)

    1. Аппаратура и материалы

Для проведения измерения применяют:

любой мост переменного тока или прибор, позволяющий из­мерять тангенс угла диэлектрических потерь на частоте 103 Гц величиной не менее 1-10 4;

диэлькометр или любой прибор, позволяющий измерять тан­генс угла диэлектрических потерь на частоте 106 Гц величи­ной 5Л0”4 и более;

установку вакуумную для напыления серебра на детали;

шкаф сушильный электрический с терморегулятором, обеспе­чивающий поддержание температуры не менее 140°С;

эксикатор по ГОСТ 25336—82 с прокаленным хлористым каль­цием по ГОСТ 4460—77 или силикагелем по ГОСТ 3956—76;

часы с ценой деления 1 мин;

спирт этиловый ректификованный по ГОСТ 5962—67;

серебро по ГОСТ 6836—80 марки Ср $99,9;

фольгу по ГОСТ 18394—73;

вазелин конденсаторный по ГОСТ 5774—76 или масло кон­денсаторное по ГОСТ 5775—68 или аналогичный материал, обла­дающий малыми диэлектрическими потерями (tg д не бо­лее 3*10~4);

бумагу по ГОСТ 3479—75;

церезин или парафин по ГОСТ 23683—79.

  1. Подготовка к измерениям

    1. Для измерения тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 103 и 106 Гц и определения диэлектрической прони­цаемости применяют двух- или трехэлектродную систему сборки конденсатора. Выбор системы электродов определяется применяе­мой аппаратурой.

    2. Детали для измерения тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 103 Гц и определения диэлектрической прони­цаемости должны иметь электроды, нанесенные напылением се­ребра в вакууме.

Детали для измерения тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 106 Гц должны иметь электроды, нанесенные на­пылением серебра в вакууме, или электроды из фольги, притер­тые к образцу.Стр. 10 ГОСТ 10918—82

  1. Измерение толщины деталей проводят в пяти точках, одна из которых расположена в центре, а остальные — на взаим» но перпендикулярных направлениях.

  2. Детали и фольгу перед нанесением электродов промы­вают спиртом. Промытые детали и фольгу сушат в сушильном шкафу при температуре 150—250 °С не менее 2 ч. При после­дующих операциях детали и фольгу берут пинцетом с эластичны­ми наконечниками.

  3. Электроды из серебра наносят после подготовки дета­лей по п. 6.2.5 методом напыления металла в вакууме в соот­ветствии с инструкцией на применяемую установку. Величина не- посеребреных закраин должна быть 0,2—0,3 см.

  4. После серебрения детали подвергают термотренировке при температуре (190±10)°С в течение 10 мин и проводят оцен­ку качества серебрения. Слой серебра считается удовлетворитель­ным, если он имеет светлый серебряный блеск, четко очерченные края и не просвечивает при просмотре.

  5. Электроды из фольги наносят после подготовки деталей по п. 6.2.5 с помощью конденсаторного вазелина, или конден­саторного масла, или аналогичной смазки. Излишний слой смаз­ки удаляют притиркой через бумагу и проводят оценку качества притирки. Удовлетворительная притирка не должна оставлять воздушных промежутков между деталью и фольгой. Притирку проводят вручную или резиновым валиком. Величина закраины должна быть (0,3 ±0,1) см. Измерения проводят не более чем через 5 мин после притирки. Детали с нанесенными электрода­ми хранят до проведения измерений в эксикаторе с влагопог* лотителем.

  6. Подготовка к измерению тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 103 Гциопре* делению относительной диэлектрической про* ницаемости с применением двухэлектродной системы

    1. Проводят подготовку деталей по пп. 6.2.4—6.2.7. Пло­щадь нанесенных электродов должна соответствовать активной площади испытуемой детали.

Детали, прошедшие термотренировку, собирают по схеме, при* веденной на черт. 3, и сушат в сушильном шкафу при темпер ату- ре 120—140 °С не менее 4 ч.

  1. После сушки конденсатор в горячем состоянии погру* жают в расплавленный церезин или парафин и выдерживают в течение 5 мин. Детали, не прошедшие испытания, хранят в эк­сикаторе с влагопоглотителем.

Подготовка к' измерению тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 106 1ц с применением двухэлектродной системы

/-—испытуемая пластинка слюды; 2—се­ребряные электроды; 3—фольга; 4—за< щитные пластинки слюды; 5—скрепки



• Черт. 3

  1. і. При применении электродов, нанесенных напылением* серебра в вакууме, проводят подготовку деталей по пп. 6.2.4—6.2.7. Площадь нанесенных электродов должна соот­ветствовать активной площади испытуемой детали.

Детали, прошедшие термотренировку, сушат в сушильном? шкафу при температуре 120—140 °С не менее 3 ч.

После сушки детали охлаждают в эксикаторе с влагопогло­тителем в течение 1 ч. Детали, не прошедшие испытания, хранят* в эксикаторе с влагопоглотителем.

    1. При применении электродов из фольги, притертых к образцу, проводят подготовку деталей по пп. 6.2.4 и 6.2.8. Пло­щадь электродов должна соответствовать активной площади ис­пытуемой детали.

  1. Подготовка к измерению тангенса уг­ла диэлектрических потерь на частоте 10а и 106 Гц и определению диэлектрической прони­цаемости с применением трехэлектродной сис­темы

При применении трехэлектродной системы электроды; должны иметь размеры, указанные в табл. З и на черт. 4.Стр. 12 ГОСТ 10918—82

Таблица 3

Размер элемента системы

Норма, см

1. Диаметр измерительного электрода

2,5 ±0,02

2. Диаметр потенциального электрода, не ме-


нее

’ 6—QtQ5

3. Ширина охранного кольца, не менее

$’7-0,02

4. Зазор между измерительным и охранным электродами q, не более

О,2+°’02



Примечания:

  1. Испытание деталей размером менее 4,0X5,0 см проводится на заго­товках большей площади перед их штамповкой.

  2. Размеры рабочей поверхности нажимных электродов должны соответ- ствовать размерам нанесенных (серебряных или фольговых) электродов. На­жимные электроды должны изготовляться из меди по ГОСТ 859—78 или ла­туни по ГОСТ 1020—77. Удельное давление нажимных электродов на ис­пытуемый образец должно быть не менее 0,10 кгс/см24 Па).

  3. Допускается применять прямоугольные нанесенные и нажимные электро­ды, площадь которых приведена к площади соответствующих круглых элект­родов.



1—измерительный электрод; 2—охран-

I ный электрод; 3—потенциальный элект­

род

Черт. 4

  1. При применении электродов, нанесенных напылением серебра в вакууме, проводят подготовку деталей по пп. 6.2.4—6.2.7 и 6.2.11.1.

После термотренировки слоя серебра детали сушат в сушиль­ном шкафу при 120—140 °С. После сушки детали охлаждают в эксикаторе с влагопоглотителем не менее 1 ч.

  1. При применении электродов из фольги, притертых к образцу, проводят подготовку деталей по пп. 6.2.4, 6.2.8 и 6.2.11.1.

  1. Проведение измерений

    1. Условия проведения измерений — по п. 5.2.1.

    2. Измерение тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 103 и 106 Гц и определение диэлектрической проницаемо­сти проводят в соответствии с инструкцией к измерительному прибору.

Измерение тангенса угла диэлектрических потерь на частоте 106 Гц с применением двухэлектродной системы проводят исполь­зуя нажимные электроды. Удельное давление нажимных элект­родов на испытуемый образец должно быть не менее 0,10. кгс/см24 Па).

Система NormaCS® www.normacs.ru _ - 12.06.2007 17:17:59



ГОСТ 10918—82 Стр,

    1. Диэлектрическую проницаемость определяют одновре­менно с измерением тангенса угла диэлектрически^ потерь по величине емкости, измеренной на частоте 103 Гц.

  1. Обработка результатов

    1. Относительную диэлектрическую проницаемость (е) детали в случае применения двухэлектродной системы вычисляют- по формуле

_

где Сх
Со

сх є—

емкость образца, измеренная на приборе, пФ.

межэлектродная емкость в вакууме, пФ, вычисляемая по* формуле

Со=О,088 4

где S —площадь нанесенных прямоугольных электродов, см2;

t —толщина детали, см.

  1. Относительную диэлектрическую проницаемость (е) дета­ли в случае применения трехэлектродной системы вычисляют по формуле