S_{(w) - спектральная плотность случайной составляющей погрешности средства измерений;}

М[D] - математическое ожидание погрешности средств измерений данного типа;

s[D] - среднее квадратическое отклонение погрешности средств измерений данного типа;

_{- среднее значений погрешности средства измерений в точке х диапазона измерений, полученных экспериментально при медленных непрерывных изменениях информативного параметра входного сигнала при подходах со стороны меньших значений;}

_{- среднее значений погрешности средства измерений в точке х диапазона измерений, полученных экспериментально при медленных непрерывных изменениях информативного параметра входного сигнала при подходах со стороны больших значений;}

_{H случайная составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений от гистерезиса;}

Н - вариация выходного сигнала конкретного экземпляра средства измерений;

H_p - предел допускаемой вариации выходного сигнала средств измерений данного типа;

y(x) - функция влияния влияющей величины x;

y_sf(x) - номинальная функция влияния;

y_*(x) - граничная функция влияния (нижняя);

y^*(x) - граничная функция влияния (верхняя);

e(x) - изменение метрологической характеристики конкретного экземпляра средства измерений, вызванное изменением влияющей величины x;

e_р(x) - наибольшее допускаемое изменение метрологической характеристики средства измерений данного типа, вызванное изменениями влияющей величины x;

h(t) - переходная характеристика средства измерений;

g(t) - импульсная переходная характеристика средства измерений;

G(jw) - амплитудно-фазовая характеристика средства измерений;

A(w) - амплитудно-частотная характеристика средства измерений;

G(S) - передаточная функция средства измерений;

t_r - время реакции средства измерений;

t_d - погрешность датирования отсчета АЦП или ЦИП;

А(w₀) - значение амплитудно-частотной характеристики средства измерений на резонансной частоте;

g_dam - коэффициент демпфирования средства измерений;

Т - постоянная времени средства измерений;

w₀ - значение резонансной круговой частоты средства измерений;

f_max^- максимальная частота (скорость) измерений;

_{- оценка систематической погрешности конкретного экземпляра средства измерений;}

_{- оценка систематической составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений, обладающего гистерезисом;}

_{[Ds] - оценка математического ожидания систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;}

_{[D] - оценка математического ожидания погрешности средств измерений данного типа;}

_{[Ds] - оценка среднего квадратического отклонения систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;}

_{[] - оценка среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;}

_{[] - оценка среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений, обладающего гистерезисом;}

_{[D] - оценка среднего квадратического отклонения погрешности средств измерений данного типа;}

_{- оценка вариации выходного сигнала конкретного экземпляра средства измерений;}

_{(t) - оценка нормализованной автокорреляционной функции случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;}

х - измеряемая величина (информативный параметр входного сигнала);

x - влияющая величина;

x_ref - нормальное значение влияющей величины.

СОДЕРЖАНИЕ

2. Номенклатура метрологических характеристик 2

3. Способы нормирования метрологических характеристик 4

4. Формы представления нормированных метрологических характеристик 7

Приложение 1 обязательное Комплексы mx, нормируемых в нтд на средства измерений конкретных типов 8

Приложение 2 обязательное Математические определения статистических характеристик погрешности средств измерений 20

Приложение 3 справочное Пояснения терминов, используемых в настоящем стандарте 23

Приложение 4 справочное Полные динамические характеристики 27

Приложение 5 справочное Примеры нормирования mx 28

Приложение 6 справочное Обозначения, принятые в настоящем стандарте 28