Рисунок А.11 — Приклад MMR, застосованої до системи отворів та штирів, пов’язаних один з одним теоретично точними розмірами і позиційними допусками з базою


Розміри у міліметрах


4 х 015+ї!'1


Зображення на кресленику



і Іояснення



Пояснення базується на наступних правилах і визначеннях, наведених у цьому стандарті,

  1. Вибрані елементи нормованих елементів не повинні порушувати умови віртуального максимуму матеріалу, MMVCs, які передбачають діаметри MMVS = 7,5 мм (див. Правило С, 3.6, 3.7 і примітку 1 у 3.7).

  2. Вибрані елементи нормованих елементів повинні усюди мати місцевий діаметр, менший за LMS = 8,1 мм [див. Пра­вило В 2) і 3.5] та більший за MMS = 8 мм [див. Правило А 2) і З 3].

  3. Розташування MMVCs позиціонують (і орієнтують) з місцеположенням елементів системи приєднаних елементів (обме­ження незмінного розміру, що дорівнює MMS) відносно базових елементів (див. Правило D і примітку 2 у 3.7)

  4. Вибрані елементи базових елементів не повинні порушувати умови MMVCs, які є чотирма циліндрами з діаметром MMVS = MMS = 14,7 мм (див. Правило F, 3.6, 3.7 і примітку 1 у 3.7).

  5. Вибраний елемент базового елемента повинен усюди мати місцевий діаметр, менший за LMS = 15,1 мм [див Пра­вило В 2) і 3.5] та більший за MMS = 15 мм.

Рисунок А.12 — Приклад використання вимоги щодо максимуму матеріалу
із застосуванням спільної бази


ДОДАТОК В
(довідковий)

КОНЦЕПТУАЛЬНА ДІАГРАМА




Рисунок В.1 — Концептуальна діаграма термінів та понять стосовно вимог
щодо максимуму матеріалу і мінімуму матеріалу

ДОДА ГО К С
(довідковий)

ВІДНОШЕННЯ ДО МОДЕЛІ GPS МАТРИЦІ

С.1 Загальні положення

Детальніше про модель GPS матриці див. ISO/TR 14638.

С.2 Позиція в моделі GPS матриці

Цей стандарт є загальним GPS стандартом, який впливає на низку ланок 1, 2 і 3 із низки стандартів стосовно розміру, форми лінії і поверхні незалежних від бази, орієнтації, розташування і баз. у загальній GPS матриці, що графічно зображено на рисунку С.1.

Загальні GPS стандарти

Базові GPS стандарти


Номер ланки низки стандартів

1

2

3

4

5

6

Розмір

X

X

X




Відстань







Радіус







Кут







Форма лінії, незалежної від бази

X

X

X




Форма лінії, залежної від бази







Форма поверхні, незалежної від бази

X

X

X




Форма поверхні, залежної від бази







Орієнтація

X

X

X




Розташування

X

X

X




Колове биття







Повне биття







Бази

X

X

X




Шорсткість профілю







Хвилястість профілю







Основний профіль







Дефекти поверхні







Грані









Головні GPS стандарти

Рисунок С.1 — Позиція в моделі GPS матриці



С.З Взаємопов'язані стандарти — це ті стандарти з низки стандартів, що наведено на ри­сунку С.1.

БІБЛІОГРАФІЯ

  1. ISO 5458:1998 Geometrical product specifications (GPS) — Geometrical tolerancing — Positional tolerancing

  2. ISO/TR 5460:1985 Technical drawings — Geometrical tolerancing — Tolerancing of form, orien­tation, location and run-out — Verification principles and methods — Guidelines

  3. ISO 7083:1983 Technical drawings — Symbols for geometrical tolerancing — Proportions and dimensions

  4. ISO/TR 14638:1995 Geometrical product specifications (GPS) — Masterplan.

Код УКНД 01.100.20; 17.040.10

Ключові слова: вимога щодо взаємодії, вимога щодо максимуму матеріалу, вимога щодо мінімуму матеріалу, віртуальний розмір максимуму матеріалу, віртуальний розмір мінімуму мате­ріалу, максимальний розмір матеріалу, мінімальний розмір матеріалу, умова максимуму матеріалу, умова мінімуму матеріалу.Редактор М. Клименко

Технічний редактор О. Касіч

Коректор Т. Калита

Верстальник І. Барков

Підписано до друку 26.08.2014. Формат 60 х 84 1/8.

Ум. друк. арк. 4,65. Зам. М Ціна договірна.

Виконавець

Державне підприємство «Український науково-дослідний і навчальний центр
проблем стандартизації, сертифікації.та якості» (ДП «УкрНДНЦ»)
вул. Святошинська, 2, м. Київ, 03115

Свідоцтво про внесення видавця видавничої продукції до Державного реєстру видавців,
виготівників і розповсюджувачів видавничої продукції від 14.01.2006 серія ДК Ns 1647

1 Буде опубліковано (Перегляд ISO 5459'1981).

2 Буде опубліковано.