Рисунок А.11 — Приклад MMR, застосованої до системи отворів та штирів, пов’язаних один з одним теоретично точними розмірами і позиційними допусками з базою
Розміри у міліметрах
4 х 015+ї!'1
Зображення на кресленику
і Іояснення
Пояснення базується на наступних правилах і визначеннях, наведених у цьому стандарті,
Вибрані елементи нормованих елементів не повинні порушувати умови віртуального максимуму матеріалу, MMVCs, які передбачають діаметри MMVS = 7,5 мм (див. Правило С, 3.6, 3.7 і примітку 1 у 3.7).
Вибрані елементи нормованих елементів повинні усюди мати місцевий діаметр, менший за LMS = 8,1 мм [див. Правило В 2) і 3.5] та більший за MMS = 8 мм [див. Правило А 2) і З 3].
Розташування MMVCs позиціонують (і орієнтують) з місцеположенням елементів системи приєднаних елементів (обмеження незмінного розміру, що дорівнює MMS) відносно базових елементів (див. Правило D і примітку 2 у 3.7)
Вибрані елементи базових елементів не повинні порушувати умови MMVCs, які є чотирма циліндрами з діаметром MMVS = MMS = 14,7 мм (див. Правило F, 3.6, 3.7 і примітку 1 у 3.7).
Вибраний елемент базового елемента повинен усюди мати місцевий діаметр, менший за LMS = 15,1 мм [див Правило В 2) і 3.5] та більший за MMS = 15 мм.
Рисунок А.12 — Приклад використання вимоги щодо максимуму матеріалу
із застосуванням спільної бази
ДОДАТОК В
(довідковий)
КОНЦЕПТУАЛЬНА ДІАГРАМА
Рисунок В.1 — Концептуальна діаграма термінів та понять стосовно вимог
щодо максимуму матеріалу і мінімуму матеріалу
ДОДА ГО К С
(довідковий)
ВІДНОШЕННЯ ДО МОДЕЛІ GPS МАТРИЦІ
С.1 Загальні положення
Детальніше про модель GPS матриці див. ISO/TR 14638.
С.2 Позиція в моделі GPS матриці
Цей стандарт є загальним GPS стандартом, який впливає на низку ланок 1, 2 і 3 із низки стандартів стосовно розміру, форми лінії і поверхні незалежних від бази, орієнтації, розташування і баз. у загальній GPS матриці, що графічно зображено на рисунку С.1.
Загальні GPS стандарти
Базові GPS стандарти
Номер ланки низки стандартів |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
Розмір |
X |
X |
X |
|
|
|
Відстань |
|
|
|
|
|
|
Радіус |
|
|
|
|
|
|
Кут |
|
|
|
|
|
|
Форма лінії, незалежної від бази |
X |
X |
X |
|
|
|
Форма лінії, залежної від бази |
|
|
|
|
|
|
Форма поверхні, незалежної від бази |
X |
X |
X |
|
|
|
Форма поверхні, залежної від бази |
|
|
|
|
|
|
Орієнтація |
X |
X |
X |
|
|
|
Розташування |
X |
X |
X |
|
|
|
Колове биття |
|
|
|
|
|
|
Повне биття |
|
|
|
|
|
|
Бази |
X |
X |
X |
|
|
|
Шорсткість профілю |
|
|
|
|
|
|
Хвилястість профілю |
|
|
|
|
|
|
Основний профіль |
|
|
|
|
|
|
Дефекти поверхні |
|
|
|
|
|
|
Грані |
|
|
|
|
|
|
Головні GPS стандарти
Рисунок С.1 — Позиція в моделі GPS матриці
С.З Взаємопов'язані стандарти — це ті стандарти з низки стандартів, що наведено на рисунку С.1.
БІБЛІОГРАФІЯ
ISO 5458:1998 Geometrical product specifications (GPS) — Geometrical tolerancing — Positional tolerancing
ISO/TR 5460:1985 Technical drawings — Geometrical tolerancing — Tolerancing of form, orientation, location and run-out — Verification principles and methods — Guidelines
ISO 7083:1983 Technical drawings — Symbols for geometrical tolerancing — Proportions and dimensions
ISO/TR 14638:1995 Geometrical product specifications (GPS) — Masterplan.
Код УКНД 01.100.20; 17.040.10
Ключові слова: вимога щодо взаємодії, вимога щодо максимуму матеріалу, вимога щодо мінімуму матеріалу, віртуальний розмір максимуму матеріалу, віртуальний розмір мінімуму матеріалу, максимальний розмір матеріалу, мінімальний розмір матеріалу, умова максимуму матеріалу, умова мінімуму матеріалу.Редактор М. Клименко
Технічний редактор О. Касіч
Коректор Т. Калита
Верстальник І. Барков
Підписано до друку 26.08.2014. Формат 60 х 84 1/8.
Ум. друк. арк. 4,65. Зам. М Ціна договірна.
Виконавець
Державне підприємство «Український науково-дослідний і навчальний центр
проблем стандартизації, сертифікації.та якості» (ДП «УкрНДНЦ»)
вул. Святошинська, 2, м. Київ, 03115
Свідоцтво про внесення видавця видавничої продукції до Державного реєстру видавців,
виготівників і розповсюджувачів видавничої продукції від 14.01.2006 серія ДК Ns 1647
1 Буде опубліковано (Перегляд ISO 5459'1981).
2 Буде опубліковано.