---

мендовано наведену нижче методику.

Випробувальну таблицю у вигляді смуг формує електронний генератор тестового зображення відповідно до вимог 4.1.1 для вимірювального пристрою (згідно з EN 29241-2 і EN 29241-3). Генера­тор має бути здатним формувати вертикальні штрихи завтовшки аж до граничного значення смуги про­пускання дисплея чи процесора зображення.

Випробувальна таблиця у вигляді смуг відтворюється на дисплеї зображення. У разі контролю­вання оптичними сенсорами зчитується невелика частина (не більше ніж 10 %) загальної площі екрана дисплея. Результат оцифровується. Придатними для цього оптичними сенсорами є телевізійні камери чи лінійні камери з однорядковою розгорткою. Кратність збільшення масштабу має бути не менше ніж 10. Тому для зображення одного пікселя на екрані телевізійного монітора в кадровому бу­фері має бути не менше ніж 10 пікселів. Ефекти биття між частотами пікселів дисплея та камери мож­на компенсувати інтегруванням сигналу.

Для оцінення просторової роздільної здатності системи потрібно вимірювати наведені нижче па­раметри якості зображення.

а) Власна нерізкість

Для вимірювання власної нерізкості U, (див. формулу (2)) східчаста функція інтенсивності за­безпечується за допомогою крутого зрізу поглинального матеріалу (рисунок 4). Зображення краю тре­ба встановити в центрі вхідного екрана перпендикулярно горизонтальним лініям зчитування детектора. контрольний індикатор східчастого типу з висотою східця приблизно 1 мм (рисунок 9). Найтонший східець и/min, який дасть максимальну амплітуду вихідного сигналу S_max, буде початковою точкою ви­мірювання. Контрольний індикатор потрібно зміщувати східець за східцем у напрямі східців з більшою товщиною.

Для кожного кроку вимірюють відповідну амплітуду сигналу, доки ВСШ не стане < 2. Щоб змен­шити вплив квантового шуму, використовують усереднене значення сигналу.

Діапазон товщини стінки Aw₀— це різниця між товщиною найтоншої та найтовщої стінок w_min і w_max (формула (5)):

AW₀ = И/max -Wmin, /51

де и/max = W для ВСШ = 2; (6)

w_min = w для S = S_max. (7)

4.2.1.3 Лінійність

Для опису лінійності системи потрібно виміряти наведені нижче параметри.

1. Диференціальне й інтегральне спотворення

Для того щоб виміряти диференціальне V_d й інтегральне И спотворення, попереду вхідного екрана потрібно встановити мітки визначеного розміру з поглинального матеріалу і виміряти відповідні часові інтервали у вихідному сигналі. Вимірювання потрібно виконувати в центральному рядку рас­тра зчитування детектора по всьому діаметру вхідного екрана та у кожному куті зображення. Спочатку треба виміряти центральний масштабний коефіцієнт s_c в центрі вхідного екрана х₀ (рисунок 5).

Для обчислення локального масштабного коефіцієнта s_; (формула (8)) у точці, що перебуває на відстані гвід центра вхідного екрана, розміщують контрольний індикатор завдовжки і і вимірюють відповідний йому розмір (часовий інтервал у вихідному сигналі) Х (рисунок 10):

У цій точці визначають диференціальне спотворення у відсотках (формула (9)):

Vd = f—-1І-Ю0. (9)

Для обчислення масштабного коефіцієнта, залежного від діаметра s_d (формула (10)), перед вхідним екраном треба помістити еталонну довжину /_d, як показано на рисунку 11, і виміряти відпо­відну їй величину (часовий інтервал вихідного сигналу) X_d:

/d

Sd=—. (10)

Далі може бути обчислене інтегральне спотворення для цього діаметра екрана у відсотках (фор­мула (11)):

И

(11)

= |--1 ІЮ0.
Sc

2. Диференціальна й інтегральна однорідність зображення

Для вимірювання однорідності зображення потрібно опромінити вхідний екран радіоскопічної сис­теми випромінюванням з рівномірним радіаційним рельєфом (рисунок 12). Для зменшення впливу квантового шуму треба знайти усереднене значення вихідного сигналу. Інтегральна однорідність зоб­раження Н,(х, у) — це відношення амплітуди сигналу S(x, у) до максимальної амплітуди S_max сигналу зображення у відсотках (формула (12)):

Н(х,у) = ^^-100. (12)

Отак

Диференціальну однорідність зображення Н_а обчислюють із максимальної амплітуди електрон­ного сигналу, яку ділять на середньоквадратичне значення «просторового» шуму в локальній ділянці (приблизно 1 % розміру вхідного екрана) навколо точки (х, у) (формула (13))

:

її '-’max

^Н

⁽¹³⁾

^а~ Оскз

4.2.2 Дисплей і процесор зображення

Вимірювати якість зображення дисплея та процесора зображення потрібно відповідно до EN 29241-2 І EN 29241-3.

4.3 Подавання результатів

Результати вимірювань треба подавати у вигляді звіту за формою, наведеною в додатку А. Фор­ма бланка містить короткий опис досліджуваної системи та устатковання, використаного під час ви­пробовувань. Як визначено стандартом, документують виміряні значення нерізкості, контрастності, спотворення та однорідності зображення. Для спотворення передбачено документувати три характерні параметри. Значення контрасту як функції товщини стінки, ЧКХ й однорідності потрібно подавати у вигляді графіків.

Вхідний сигнал — рельєф випромінення

Вихідний сигнал — електронний вихідний сигнал

Познаки:

1. —джерело випромінювання;

2. — фільтр випромінення;

3. — коліматор;

4. — контрольний індикатор;

5. — пристрій перетворювання випромінення;

6. — вхідний екран з контрольним індикатором.

Національна примітка

х— просторова координата, яка лінійно пов’язана з часовою координатою І через масштабний коефіцієнт s_c.

Рисунок 4 — Вимірювання власної нерізкості

/,

Рисунок 5 — Вимірювання масштабного коефіцієнта s_c

ЧКХ(Г,)=- ■

|фРЛ(х)с/х

|фРЛ(х)е’^2чІ,'-⁾сї

хПознаки:

а — модуляція т; b — обчислення.

Рисунок 6 — Вимірювання просторової частотно-контрастної характеристик

и

Рисунок 7 — Вимірювання коефіцієнта контрастності за низьких просторових частот

Io

Рисунок 9 — Вимірювання діапазону товщини стінки

Рисунок 10 — Вимірювання диференціальних спотворень

/<

I

S

Рисунок 11 — Вимірювання інтегральних спотворень

'СКЗ

Рисунок 12 — Вимірювання диференціальної та інтегральної однорідності зображення

ДОДАТОК А
(довідковий)

ЗРАЗОК ЗВІТУ ПРО ВИПРОБУВАННЯ

ВІДПОВІДНО ДО EN 13068-1