---

при електронному бомбардуванні ......................... 4.2.5

зображення у вторинних електронах

при іонному бомбардуванні .............................. 4.2.4

зображення світлофонове ................................ 4.2.1

зображення темнофонове ................................. 4.2.2

зображення у термоелектронах ........................... 4.2.6

зображення у фотоелектронах ............................ 4.2.7

метод відбитих електронів .............................. 4.3.7.2

метод вторинних електронів ............................. 4.3.7.1

метод газової камери ................................... 4.3.6.8

метод декорування об'єкта .............................. 4.3.6.5

метод досліджень світлофоновий ......................... 4.3.4.1

метод досліджень темнофоновий .......................... 4.3.4.4

метод електронної мікроскопії .......................... 4.3.1

метод збільшення контрастності об'єкта ................. 4.3.5.7

метод іонного травлення ................................ 4.3.6.4

метод каналювання електронів ........................... 4.3.7.5

метод катодолюмінесценції .............................. 4.3.7.4

метод мікродифракції ................................... 4.3.4.5

метод Муара ............................................ 4.3.4.2

метод наведеного струму................................. 4.3.7.6

метод нагрівання об'єкта ............................... 4.3.6.7

метод охолодження об'єкта .............................. 4.3.6.6

метод увібраних електронів ............................. 4.3.7.3

метод прохідних енектронів ............................. 4.3.7.7

метод рентгенівського випромінювання ................... 4.3.7.8

метод реплік............................................ 4.3.5.2

метод стереомікроскопічний ............................. 4.3.6.2

метод ультратонких зрізів .............................. 4.3.4.6

метод модуляції .................................... 4.3.7.9

метод фазовоконтрастної мікроскопії..................... 4.3.6.3

методи досліджень непрямі .............................. 4.3.3

методи досліджень прямі ................................ 4.3.2

методи досліджень спеціальні ........................... 4.3.4

мікродифракція ......................................... 4.2.3

мікроскоп автоелектронний .............................. 4.1.6

мікроскоп електронний .................................. 4.1.1

мікроскоп електронний високотемпературний .............. 4.1.10

мікроскоп електронний відбивний ........................ 4.1.3

мікроскоп електронний дзеркальний ...................... 4.1.5

мікроскоп електронний емісійний ........................ 4.1.4

мікроскоп електронний невисокої напруги................. 4.1.9

мікроскоп електронний просвічувальний .................. 4.1.2

мікроскоп електронний растровий ........................ 4.1.11

мікроскоп електронний тіньовий ......................... 4.1.8

псевдорепліка .......................................... 4.3.5.6

репліка ................................................ 4.3.5.1

репліка двоступінчаста ................................. 4.3.5.4

репліка з екстракцією .................................. 4.3.5.5

репліка одноступінчаста ................................ 4.3.5.3

ультрамікротом ......................................... 4.3.4.7

установка вакуумна розпилювальна ....................... 4.3.5.8

- 18 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

AБETKOBИЙ ПOKAЖЧИК HІМЕЦЬКИХ TEPMIHIB

Absorbierelektronverfahren ............................. 4.3.7.3

Beugungsverfahren ...................................... 4.3.4.5

Durchgangselektronverfahren ............................ 4.3.7.7

Durchtrahlungselektronenmikroskop ...................... 4.1.2

Dunkellichtbild......................................... 4.2.2

Dunkellichtforschungsverfahren ......................... 4.3.4.4

D[u1]nnschnichttverfahren .............................. 4.3.4.6 *

Direkte Forschungsmethoden ............................. 4.3.2

Einstufentransmissionsgitter ........................... 4.3.5.3

Elektronenbeugundsapparat .............................. 4.1.7

Elektronenkanalverfahren ............................... 4.3.7.5

Flektronenmikroskop .................................... 4.1.1

Elektronenmikroskoppieverfahren ........................ 4.3.1

Fleklronenoptische Aberrationen......................... 4.2.8

Elektronenspiegelmikroskop ............................. 4.1.5

Emissionselektronenmikroskop,........................... 4.1.4

Extraktionstransmissionsgitter ......................... 4.3.5.5

Feldelektronenmikroskop ................................ 4.1.6

Fotoelektronenbild ..................................... 4.2.7

Gaskammerverfahren...................................... 4.3.6.8

Gl[u1]helektronenbild .................................. 4.2.6 *

Helllichtbild .......................................... 4.2.1

Helllichtforschungsmethode ............................. 4.3.4.1

H[o1]chstspannungelektronenmikroskop ................... 4.1.9 *

Hochtemsperaturelektronenmikroskop ..................... 4.1.10

Indirekte Forschungsmethoden ........................... 4.3.3

Influenstromverfahren .................................. 4.3.7.6

Ionen[a1]tzungverfahren ................................ 4.3.6.4 *

Katodenlumineszenz ..................................... 4.3.7.4

Kontrastanhebungsverfahren ............................. 4.3.5.7

Mihrobeugung ........................................... 4.2.3

Moiremethode ........................................... 4.3.4.2

Objektdekorierungsverfahren ............................ 4.3.6.5

Objektw[a1]rmungsverfahren ............................. 4.3.6.7 *

Objektk[u1]hlungsverfahren ............................. 4.3.6.6 *

Panoramaaufnahme ....................................... 4.3.6.1

Phasenkontrastmikroskopieverfahren ..................... 4.3.6.3

Pseudotransmissionsgitter .............................. 4.3.5.6

Rasterelektronenmikroskop .............................. 4.1.11

Reflexionselektronenmikroskop .......................... 4.1.3

Reflexionselektronverfahren ............................ 4.3.7.2

R[o1]ntgenstrahlmethode ................................ 4.3.7.8 *

Schattenmikroskop ...................................... 4.1.8

Sekund[a1]relektronenbild beim Elektronenbeschuss....... 4.2.5 *

Sekund[a1]relektronenbild beim Lonenbeschuss ........... 4.2.4 *

Sekund[a1]relektronverfahren ........................... 4.3.7.1

Sonderforschungsmethoden ............................... 4.3.4

Stereomikroskopverfahren ............................... 4.3.6 2

Transmissionsgitter .................................... 4.3.5.1

Transmissionsgitterverfahren ........................... 4.3.5.2

Ultramikrotom .......................................... 4.3.4.7

Vakuumbedampfungsanlage ................................ 4.3.5.8

Versetzung ............................................. 4.3.4.3

Zweistufentransmissionsgitter .......................... 4.3 5 4

(Y)-Modulationsverfahren ............................... 4.3.7.9

- 19 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

AЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК АНГЛІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ

bright-field analysis method ........................... 4.3.4.1

hright-field image ..................................... 4.2.1

dark-field analysis method ............................. 4.3.4.4

dark-field image ....................................... 4.2.2

diffraction method ..................................... 4.3.4.5

direct methods of analysis ............................. 4.3.2

dislocations ........................................... 4.3.4.3

electron diffractometer ................................ 4.1.7

electron microscope .................................... 4.1.1

electron-optical abberations ........................... 4.2.8

emission microscope .................................... 4.1.4

field-emission microscope .............................. 4.1.6

hight temperasture electron microscope ................. 4.1.10

mage in secondary at an eletro bombardement ............ 4.2.5

image in secondary electrons at an ion bombardement..... 4.2.4

image in thermoelectrons................................ 4.2.6

indirect methods of analysis ........................... 4.3.3

ionic etching method ................................... 4.3.6.4

method of absorbed electrons ........................... 4.3.7.3

method of cathod luminiscence .......................... 4.3.7.4

method of gaz chamber................................... 4.3.6.8

method of electron channeling .......................... 4.3.7.5

method of electron microscopy........................... 4.3.1

method of imduced current .............................. 4.3.7.6

method of object contrast range amplifcation ........... 4.3.5.7

method of passed electrons.............................. 4.3.7.7

method of reflected electrons........................... 4.3.7.2

method of replica ...................................... 4.3.5.2

method of secondary electrons .......................... 4.3.7.1

method of ultra fine cut-offs .......................... 4.3.4.6

microdefraction ........................................ 4.2.3

mirror electron microscope ............................. 4.1.5

Moire's methods ........................................ 4.3.4.2

object cooling method .................................. 4.3.6.6

object decorating method ............................... 4.3.6.5

object heating method .................................. 4.3.6.7

one stage replica ...................................... 4.3.5.3

panoramic survey........................................ 4.3.6.1

phase-contrast microscopy .............................. 4.3.6.3

photoimage.............................................. 4.2.7

pseudoreplica .......................................... 4.3.5.6

reflection electron microscope ......................... 4.1.3

replica ................................................ 4.3.5.1

replica with extraction ................................ 4.3.5.5

scanning electron microscope ........................... 4.1.11

shadow electron microscope.............................. 4.1.8

special methods of analysis ............................ 4.3.4

stereoscopie microscope method ......................... 4.3.6.2

transmission electron microscope........................ 4.1.2

two-stage replica ...................................... 4.3.5.4

ultrahigh voltage electron microscope .................. 4.1.9

ultramicrotome ......................................... 4.3.4.7

vacuum spraying ........................................ 4.3.5.8

X-ray radiation method.................................. 4.3.7.8

Y-modulation method .................................... 4.3.7.9

- 20 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК ФРАНЦУЗЬКИХ ТЕРМІНІВ

abberations [e2]lectrono-optiques ...................... 4.2.8 *

auto-[e2]lectron projecteur............................. 4.1.5 *

diffractom[e2]tre [e2]lectronique ...................... 4.1.7 *

dislocations ........................................... 4.3.4.3

dispositif de pulv[e2]rization [a4] vide ............... 4.3.5.8 *

image de champ claire .................................. 4.2.1

image de champ sombre .................................. 4.2.2

image en [e2]lectrons secondaires au bomhardement ...... 4.2.5 *

image en [e2]lectrons secondaires au bombardement *

ionique ................................................ 4.2.4

image en photo-[e2]lectrons ............................ 4.2.7 *

image en thermo-[e2]lectrons ........................... 4.2.6 *

m[e2]thode d'accentuation des contrastes d'un objet..... 4.3.5.7 *

m[e2]thode d'attaque ionique............................ 4.3.6.4 *

m[e2]thode de canalisation des [e2]lectrons ............ 4.3.7.5 *

m[e2]thode de chambre [a4] gas ......................... 4.3.6.8 *

m[e2]thode de chauffement d'un objet ................... 4.3.6.7 *

m[e2]thode de coupes ultraminces........................ 4.3.4.6 *

m[e2]thode de courant induit............................ 4.3.7.6 *

m[e2]thode de d[e2]coration d'un objet ................. 4.3.6.5 *

m[e2]thode de diffraction .............................. 4.3.4.5 *

m[e2]thode de luminiscence cathodique .................. 4.3.7.4 *

m[e2]thode de microscopie de contraste de phase ........ 4.3.6.3 *

m[e2]thode de microscopie [e2]lectronique .............. 4.3.1 *

m[e2]thode de modulation ............................ 4.3.7.9 *

m[e2]thode de Moire .................................... 4.3.4.2 *

m[e2]thode de radiation X............................... 4.3.7.8 *

m[e2]thode de retroidissement d'un objet ............... 4.3.6.6 *

m[e2]thode de repliques ................................ 4.3.5.2 *

m[e2]thode des [e2]lectrons absorb[e2]s ................ 4.3.7.3 *

m[e2]thode des [e2]lectrons pass[e2]s .................. 4.3.7.7 *

m[e2]thode des [e2]lectrons r[e2]flechis ............... 4.3.7.2 *

m[e2]thode des [e2]lectrons secondaires ................ 4.3.7.1 *

m[e2]thode d'[e2]tude de champ claire .................. 4.3.4.1 *

m[e2]thode d'[e2]tude de champ sombre................... 4.3.4.4 *

m[e2]thodes d'[e2]tude directes ........................ 4.3.2 *

m[e2]thodes d'[e2]tude indirectes ...................... 4.3.3 *

m[e2]thodes d'[e2]tude speciales ....................... 4.3.4 *

m[e2]thode stereomicroscopique ......................... 4.3.6.2 *

microdiffraction ....................................... 4.2.3

microscope [a4] [e2]mission ............................ 4.1.4 *

microscope [e2]lectronique.............................. 4.1.1 *

microscope [e2]lectronique [a4] mirroir................. 4.1.5 *

microscope [e2]lectronique [a4] trame .................. 4.1.11 *

microscope [e2]lectronique de haute temp[e2]rature ..... 4.1.1 *

microscope [e2]lectronique de tres haute tension ....... 4.1.9 *

microscope [e2]lectronique d'ombre ..................... 4.1.8 *

microscope [e2]lectronique par reflexion................ 4.1.3 *

microscope [e2]lectronique par transmission ............ 4.1.2 *

prise de vue panoramique ............................... 4.3.6.1

pseudo-r[e2]plique ..................................... 4.3.5.6 *

r[e2]plique ............................................ 4.3.5.1 *

r[e2]plique [a4] deux [e2]tages ........................ 4.3.5.4 *

r[e2]plique avec extraction ............................ 4.3.5.5 *

r[e2]plique mono[e2]tage[e2] ........................... 4.3.5.3 *

ultramicrotome ......................................... 4.3.4.7

- 21 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК РОСІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ

аберрации электронно-оптические ....................... 4.2.8

дислокации............................................. 4.3.4.3

изображение во вторичных электронах

при ионной бомбардировке .............................. 4.2.4

изображение во вторичных электронах

при электронной бомбардировке ......................... 4.2.5

изображение в термоэлектронах ......................... 4.2.6

изображение в фотоэлектронах .......................... 4.2.7

изображение светлопольное ............................. 4.2.1

изобрражение темнопольное ............................. 4.2.2

метод вторичных электронов............................. 4.3.7.1

метод газовой камеры................................... 4.3.6.8

метод декорирования обЬекта ........................... 4.3.6.5

метод ионного травления................................ 4.3.6.4

метод исследования светлопольный ...................... 4.3.4.1

метод исследования темнопольный ....................... 4.3.4.4

метод каналирования электронов ........................ 4.3.7.5

метод катодолюминесценции ............................. 4.3.7.4

метод микродифракции .................................. 4.3.4.5

метод Муара ........................................... 4.3.4.2

метод наведенного тока ................................ 4.3.7.6

метод нагревания обЬекта .............................. 4.3.6.7

метод отраженных электронов ........................... 4.3.7.2

метод охлаждения обЬекта .............................. 4.3.6.6

метод поглощенных электронов .......................... 4.3.7.3

метод прошедших электронов ............................ 4.3.7.7

метод рентгеновского излучения ........................ 4.3.7.8

метод реплик .......................................... 4.3.5.2

метод стереомикроскопический .......................... 4.3.6.2

метод ультратонких срезов ............................. 4.3.4.6

метод модуляции .................................... 4.3.7.9

метод усиления контрастности объекта .................. 4.3.5.7

метод фазовоконтрастной микроскопии ................... 4.3.6.3

метод электронной микроскопии ......................... 4.3.1

методы исследований косвенные ......................... 4.3.3

методы исследований прямые ............................ 4.3.2

методы исследований специальные ....................... 4.3.4

микродифракция ........................................ 4.2.3

микроскоп автоэлектронный ............................. 4.1.6

микроскоп электронный ................................. 4.1.1

микроскоп электронный высокотемпературный ............. 4.1.10

микроскоп электронный зеркальный ...................... 4.1.5

микроскоп электронный отражательный ................... 4.1.3

микроскоп электронный просвечивающий .................. 4.1.2

микроскоп электронный растровый ....................... 4.1.11

микроскоп электронный сверхвысокого напряжения ........ 4.1.9

микроскоп электронный теневой ......................... 4.1.8

микроскоп электронный эмиссионный...................... 4.1.4

псевдореплика ......................................... 4.3.5.6

реплика ............................................... 4.3.5.1

реплика двухступенчатая................................ 4.3.5.4

реплика одноступенчатая ............................... 4.3.5.3

реплика с экстракцией.................................. 4.3.5.5

съемка панорамная ..................................... 4.3.6.1

ультрамикротом ........................................ 4.3.4.7

установка вакуумная распылительная .................... 4.3.5.8

электронограф ......................................... 4.1.7

- 22 -

ДСТУ Б А.1.1-9-94

УДК 006.354:543.423 ТОО

Ключові слова:

абетковий покажчик, визначення, електронограф,

збільшення, зображення, камера, об'єктив, метод

дослідження, метод мікроскопії, установка,

репліка, система, ультрамікротом.

Примітка.

*/ цифри за літерами в квадратних дужках

відповідають значенням в таблиці

відповідності символів