J ГОСТ 27694-88


МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

УСИЛИТЕЛИ НИЗКОЙ,
ПРОМЕЖУТОЧНОЙ и высокой
ЧАСТОТЫ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

И

БЗ 12-98

здание официальное



ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва


МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ


СТАНДАРТ



Микросхемы интегральные

У

ГОСТ
27694—88

СИЛИТЕЛИ НИЗКОЙ, ПРОМЕЖУТОЧНОЙ
И ВЫСОКОЙ ЧАСТОТЫ

Методы измерения электрических параметров

Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers.
Methods of measuring electric parameters

ОКП 62 3100

Дата введения 01.01.90

Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты (далее — микросхемы) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров.

Термины и определения — по ГОСТ 19480.

Соответствие настоящего стандарта СТ СЭВ 1622—79 и СТ СЭВ 3411—81 приведено в приложе­нии 1.

  1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

    1. Условия и режим измерения

      1. Электрические параметры следует измерять в нормальных климатических условиях по ГОСТ 20.57.406 или в условиях, установленных в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.

      2. Режимы измерений электрических параметров микросхем должны соответствовать установ­ленным в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

      3. Погрешность установления и поддержания параметров режима питания микросхем при измерении должна находиться в пределах ±5 %. Нестабильность источников питания, вызванная изменением напряжения сети и температурой окружающей среды, должна быть в пределах ±1 % для источников постоянного тока и ±2 % — для источников переменного и импульсного токов.

      4. Электрические параметры микросхем измеряют в установившемся статическом, динамичес­ком и тепловом режимах работы. Время между отдельными измерениями должно быть минимальным.

      5. Во время проведения измерений предельное отклонение установленной температуры окру­жающей среды должно быть в пределах ±2 °С.

      6. Границы интервала погрешности методов измерения должны находиться в пределах:

±10 % — для измерения в статическом режиме;

±20 % » » » динамическом »

  1. Аппаратура

    1. Средства измерения должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, а также требовани­ям, установленным в настоящем стандарте.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

П

Издание официальное

ерепечатка воспрещена
  1. © Издательство стандартов, 1988 © ИПК Издательство стандартов, 1999 Переиздание с ИзменениямиЧастотный диапазон приборов должен соответствовать частотному диапазону измеряемых микросхем или быть шире. При необходимости требования к частотному диапазону приборов должны быть указаны в методах измерения конкретных параметров микросхем.

  2. В измерительных установках места подключения измерительных приборов для контроля параметров режима могут отличаться от указанных на структурных схемах. При этом погрешность установления и поддержания режимов не должна выходить за установленные пределы.

  3. В измерительных установках приборы для измерения параметров режима могут отсутство­вать, если обеспечена требуемая точность установления и поддержания режима. Допускается применять в измерительных установках дополнительные измерительные приборы и сигнальные устройства. При этом погрешность измерения параметров микросхем не должна выходить за установленные пределы.

  4. Полное входное сопротивление измерительных приборов должно превышать полное сопро­тивление микросхем между точками их подключения не менее чем в 100 раз или должно быть учтено йри определении значения нагрузки или погрешности измерения.

  5. Резисторы, значение сопротивления которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск не более 1 %. Конденсаторы, значение емкости которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск не более 5 %.

  6. Для защиты микросхем от перегрузок, возникающих под действием переходных процессов, статического электричества и паразитного самовозбуждения, измерительные установки должны быть снабжены устройствами защиты, исключающими возможность превышения предельно допустимых электрических режимов, установленных в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Применение защитных устройств не должно приводить к увеличению погрешности измерений.

    1. Характер и значение нагрузки, схема подключения нагрузки должны соответствовать уста­новленным в ТУ на микросхемы конкретных типов. Допустимое отклонение сопротивления нагрузки не должно превышать 1 %.

    2. Характер и значение элементов измерительной схемы (схемы включения микросхемы) должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

    3. Контактирующие устройства измерительных установок должны обеспечивать надежное электрическое подключение микросхем, исключающее механическое повреждение выводов.

    4. При измерениях электрических параметров микросхем на высокой частоте влияние реак­тивных составляющих элементов (резисторов, конденсаторов, монтажных проводов, кабелей, контак­тирующих устройств, переключателей и т. п.) должно быть таким, чтобы оно практически не сказыва­лось на погрешности измерения параметров микросхем или должно быть учтено при расчете показате­лей точности измерений.

  1. Требования безопасности

    1. Измерение электрических параметров микросхем относится к работам по управлению элек­троустановками с напряжением до 1000 В.

    2. Измерительные установки при эксплуатации должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, ГОСТ 12.1.019, ГОСТ 12.1.030, ГОСТ 12.2.003 и ГОСТ 12.3.019.

    3. Силовые трансформаторы измерительных установок должны соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.007.2.

    4. К измерениям электрических параметров микросхем допускаются операторы, прошедшие специальную подготовку и имеющие допуск к указанным работам.

    5. В целях обеспечения безопасности труда при выполнении измерений электрических пара­метров микросхем необходимо предусмотреть:

  • защиту изоляции наружной электропроводки измерительных установок от механических, хи­мических и термических повреждений;

  • наличие и надежность заземления элементов схемы установок;

  1. защиту контактируюущих приспособлений для подключения микросхем, исключающую воз­можность прикасания оператора к токоведущим частям установок.МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАПАЗОНА АВТОМАТИЧЕСКОЙ

РЕГУЛИРОВКИ УСИЛЕНИЯ

  1. Для микросхем без схемы управления измерение диапазона автоматической регулировки усиления по напряжению (далее — АРУ) проводят по методу 1, для микросхем со схемой управления — по методу 2.

  2. Метод 1

    1. Аппаратура

      1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.










(Измененная редакция, Изм. № 2).

    1. Генератор сигналов должен обеспечивать установление и поддержание напряжения на входе микросхемы с погрешностью в пределах ±3%. Погрешность установления частоты должна быть в пределах ±1 %. Коэффициент гармоник должен быть в пределах ±5 %.

    2. Погрешность измерителей переменного напряжения должна быть в пределах ±5 %.

  1. Подготовка и проведение измерений *

    1. Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которого установлено в ТУ на микросхемы конкретных типов.

    2. На вход микросхемы подают сигналы Un и Ц2, соответствующие минимальному и мак­симальному значению напряжения. Значение напряжения, частота (количество контролируемых то­чек) и условия выбора сигналов Ui{, Un установлены в ТУ на микросхемы конкретных типов.

    3. Измеряют выходные напряжения f701 и UQ2 микросхемы.

  2. Обработка результатов

Диапазон АРУ (AGC) вычисляют по формуле

A

(1)

GC-

где Ац тах — максимальный коэффициент усиления напряжения микросхемы, определяемый по фор­муле

(2

)Лу min — минимальный коэффициент усиления напряжения микросхемы, определяемый по формуле

А

(3)

-и°2 ^Umin-f/I2 .
  1. Показатели точности измерений

Показатели точности измерений диапазона АРУ должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения диапазона АРУ должна находиться в интервале ±20 %.

Границы интервала, в котором должна находиться погрешность измерения, определяют по фор­мулам, приведенным в приложении 2.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

  1. Метод 2

    1. Аппаратура

      1. Измерения проводят на измерительной установке, электрическая структурная схема кото­рой приведена на черт. 2.


Черт. 2


(Измененная редакция, Изм. № 2).

    1. Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать пп. 2.2.1.2 и 2.2.1.3.

    2. Погрешность измерителя постоянного напряжения должна находиться в пределах ±1 %.

  1. Подготовка и проведение измерений

    1. Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которого должно соответство­вать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

    2. От источника постоянного напряжения подают напряжение АРУ ^AGC1, значение которо­го должно соответствовать максимальному коэффициенту усиления и должно быть указано в ТУ на микросхемы конкретных типов.

    3. На вход микросхемы подают сигнал Uw значение напряжения и частота (количество контролируемых точек) которого должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конк­ретных типов.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

  1. Измеряют выходное напряжение микросхемы f/Q1.

  2. От источника постоянного напряжения подают напряжения АРУ ^AGC2, значение которо­го соответствует минимальному коэффициенту усиления и должно быть указано в ТУ на микросхемы конкретных типов, и подают сигнал на вход микросхемы.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

    1. Измеряют выходное напряжение микросхемы UQr

  1. Обработка результатов

Обработку результатов проводят в соответствии с требованиями п. 2.2.3

  1. Показатели точности измерений

Показатели точности измерений диапазона АРУ определяют в соответствии с требованиями п. 2.2.4.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

  1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА НЕРАВНОМЕРНОСТИ
    АМПЛИТУДНО-ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ

    1. Аппаратура

      1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

      2. Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать тре­бованиям пп. 2.2.1.2 и 2.2.1.3.

    2. Подготовка и проведение измерений

      1. Значение напряжения питания микросхемы должно соответствовать установленному в ТУ на микросхемы конкретных типов.

      2. На вход микросхемы подают сигнал Ц, значение напряжения которого и частота соответ­ствуют указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

      3. Плавно изменяют частоту входного сигнала в полосе пропускания усилителя или в задан­ном диапазоне и, поддерживая напряжение входного сигнала Ux постоянным, измеряют максимальное напряжение выходного сигнала f70max и минимальное напряжение выходного сигнала i70min. Скорость изменения частоты входного сигнала выбирают из условия отсутствия в измеряемой микросхеме пере­ходных паразитных процессов. Допускается дискретное изменение частоты входного сигнала. Степень дискретизации частоты должна соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

    3. Обработка результатов

Коэффициент неравномерности АЧХ (Лрм), дБ, вычисляют по формуле

а

(4)

ол ^Отах
ЛРМ = 201g тг— .

u Отт

  1. Показатели точности измерений

Показатели точности измерения коэффициента неравномерности АЧХ должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения коэффициента неравномерности АЧХ находится в интервале ±10 %.

Границы интервала, в котором должна находиться погрешность измерения, определяют по фор­мулам приложения 3.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

  1. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОСЛАБЛЕНИЯ

АМПЛИТУДНОЙ МОДУЛЯЦИИ

  1. Термин и пояснение параметра коэффициента ослабления амплитудной модуляции приведе­ны в приложении 4.

  2. Для микросхем, выполняющих функции усиления и детектирования сигналов частотной модуляции (ЧМ) промежуточной частоты (ПЧ), измерения коэффициента ослабления амплитудной модуляции проводят по двум методам: одновременному — метод 1 и поочередному — метод 2.

Метод 2 рекомендуется применять при использовании автоматизированных измерительных сис­тем.