Страница 4: ГОСТ 28953-91. Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения параметров (77169)

Устанавливают два значения параметров облучения фоточувст­вительного прибора или его части в соответствии с ТУ на приборы конкретных типов и измеряют для них выходные сигналы прибора по разд. 2. Допускается в качестве наименьшего принимать нуле­вые значения параметров облучения.

И

нтегральную чувствительность (Sc/ ) вычисляют по одной из формул в соответствии с требованиями, установленными в ТУ на приборы конкретных типов

Su= р^Сг , В/лк;

Г1 £ 2

S_v- , В/(Вт.м-²);

е_х^ьс₂

Sy= > В/(лК'С);

Su= , В/(Дж • м-²);

Єі е₈

где U_cl, U_c2— напряжение выходного сигнала, В;

£_ь £₂ — освещенность фоточувствительного поля прибора, лк;

Е_е1> — энергетическая освещенность фоточувствительного

поля прибора, Вт-м^-2;

Hi, Н₂— световая экспозиция фоточувствительного поля прибора, лк-с;





Я_Єі, Не₂— энергетическая экспозиция фоточувствительного поля прибора, Дж-M^-2.

5. Показатели точности измерений

Погрешность определения интегральной чувствительности на­ходится в интервале ±13 % с установленной вероятностью Р = 0,95.

Закон распределения погрешности — нормальный.

8. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ СРЕДНЕГО КВАДРАТИЧЕСКОГО ЗНАЧЕНИЯ

НАПРЯЖЕНИЯ ШУМА И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКОГО

ДИАПАЗОНА

1. Принцип, условия и режим измерений

   1. Метод измерения шумов основан на измерении темновых сигналов фоточувствительных элементов прибора за два цикла счи­тывания сигналов не менее чем со 128 фоточувствительных элемен­тов прибора или за 128 считываний с одного фоточувствительного элемента прибора.

Определение динамического диапазона основано на сравнении напряжения насыщения и среднего квадратического напряжения шума.

1. 2. Условия, режим измерений и требования безопасности — по разд. 1.

2. Аппаратура — по разд. 1.

3. Подготовка и проведение измерений

   1. Измеряют напряжение насыщения по разд. 3.

   2. Затемняют фоточувствительное поле прибора и измеря­ют темновой сигнал от отдельных фоточувствительных элементов для двух циклов считывания или от одного фоточувствительного элемента по разд. 5.

4. Обработка результатов

   1. Среднее квадратическое напряжение шумов (о{/_ш ) в вольтах для двух циклов считывания вычисляют по формуле




(21)





где Ui — напряжение выходного сигнала 1-го фоточувствительно­го элемента, полученное при измерении для первого счи­тывания, В;

Ui — напряжение выходного сигнала 1-го фоточувствительно­го элемента, полученное при измерении для второго считывания, В;

N — число фоточувствительных элементов, по которым про­изводится усреднение сигнала.

Среднее квадратическое напряжение шумов (о[/_ш ) ввольтах для считывания сигнала от одного фоточувствительного

элемента вычисляют по





(21а)




ормуле




где Ui — напряжение выходного сигнала z-го фоточувствительно­го элемента, В;

N — число считываний сигнала одного фоточувствительного

элемента.

2. Динамический диапазон (Д) в относительных единицах





в

б^нас

ычисляют по формуле

(22)

где (/нас — напряжение насыщения, В.

5. Показатели точности измерений

   1. Погрешность измерения среднего квадратического на­пряжения шумов находится в интервале ±6 %.

   2. Погрешность измерения динамического диапазона нахо­дится в интервале ±12 %.

   3. Установленная вероятность для погрешностей Р=0,95.

Закон распределения погрешностей — нормальный.

8. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ПОРОГОВОЙ ОСВЕЩЕННОСТИ
   И ПОРОГОВОЙ экспозиции

   1. Принцип, условия и режим измерений

      1. Метод измерения пороговой освещенности и пороговой экспозиции основан на определении параметров облучения, при которых выходной сигнал равен среднему квадратическому напря­жению шума.

      2. Условия, режим измерений и требования безопасности— по разд. 1.

   2. Аппаратура — по разд. 1.

   3. Подготовка и проведение измерений

      1. Измеряют интегральную чувствительность прибора по разд. 10.

      2. Затемняют фоточувствительное поле прибора и измеря­ют среднее квадратическое напряжение шумов по разд. 11.

   4. Обработка результатов

      1. Пороговую освещенность (Е_гор) в люксах вычисляют по

ормуле

(

лор

?3)

где аС/_ш — среднее квадратическое напряжение шума, В

;





Su— интегральная чувствительность, В/лк.

2. Пороговую энергетическую освещенность (£_{е пор}) в люк­сах вычисляют по формуле

1

(24)

7 __ ПІДч

пср“ С J

где — среднее квадратическое напряжение шума, В;

Su— интегральная чувствительность, В/(Вт*м^-2).

3. Пороговую экспозицию (И_пор ) в люксах в секунду вы­числяют по формуле где gU_iu— среднее квадратическое напряжение шума, В;

тт

^Пп°Р“ ~ Sy ’

где oU_Ui— среднее квадратическое напряжение шума, В;
Sy — интегральная чувствительность, В/(лк*с).

12,4.4. Пороговую энергетическую экспозицию (Я_{е пор} ) лях на квадратный метр вычисляют по формуле

гг г . оL7_m

“е.пср С >




(25)




джоу-




(26)





Su — интегральная чувствительность, В/(Дж«м“²).

5. По казатели точности измерений

Погрешность измерения пороговой освещенности и пороговой экспозиции находится в интервале ±16 % с установленной вероят­ностью Р=0,95.

Закон распределения погрешности — нормальный.

13 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ТОКА УТЕЧКИ МЕЖДУ ЭЛЕКТРОДАМИ

Настоящий раздел устанавливает два метода измерения тока утечки между электродами:

метод измерения измерителем параметров полупроводниковых приборов;

метод измерения микроамперметром.

1. Метод измерения измерителем парамет­ров полупроводниковых приборов

   1. Принцип, условия и режим измерений

      1. Метод измерений состоит в прямом измерении тока между одиночным электродом и группой электродов, группами электродов, одиночными электродами при заданном напряжении между ними в статическом режиме работы прибора.

      2. Номера выводов прибора, между которыми измеряют ток утечки, полярность и разность потенциалов между электродами должны соответствовать требованиям ТУ на конкретные типы при­боров или технических инструкций (ТИ) для измерения статичес-

ких параметров приборов. Пример записи в ТУ или в ТИ приведен в приложении 4.

1. 3. Условия, режим измерений и требования безопасности— по разд. 1.

2. Аппаратура

   1. Ток утечки между электродами измеряют по одной из структурных схем, приведенных на черт. 5.

I — прибор; 2 — измеритель пара­метров полупроводниковых приборов;

3 — ЭВМ; 4 — цифропечатающее уст­ройство (ЦПУ)




1 — прибор; 2 — коммутирующее устройство;

3 - ■ измеритель статических параметров полупровод­никовых приборов; 4 — ГІПУ: 5 — ЭВМ








Черт, 5

2. Измеритель статических параметров приборов типа из­делия ХШМ 1.149.002.

3. ЭВМ — любой тип управляющих ЭВМ, например ВУМС, ДВК с устройством управления внешних приборов.

4. ЦПУ — любое цифропечатающее устройство типа «Ro- botron», Consul».

5. Коммутирующее устройство должно обеспечивать под­ключение выводов прибора к измерителю параметров полупровод­никовых приборов в заданном порядке, а при использовании ЭВМ

— в соответствии с установленной программой.

1. 6. Измеритель параметров полупроводниковых приборов обеспечивает подачу на электроды прибора постоянного напряже­ния положительной или отрицательной полярности в диапазоне от 0 до 30 В с погрешностью не более 5 % в ручном и автоматичес­ком режимах с индикацией результатов измерений на табло или с помощью ЦПУ.

2. Подготовка и проведение измерений

Выводы прибора, указанные в ТУ, ТИ через коммутирующее устройство последовательно вручную или автоматически подключа­ют к измерителю параметров полупроводниковых приборов, подают на них напряжение, указанное в ТУ, и измеряют ток утечки, кото-

рый фиксирует на табло измерителя параметров полупроводнико­

вых приборов или с помощью ЦПУ.

4. Показатели точности измерений

Относительная погрешность измерения токов утечки между электродами с установленной вероятностью Р = 0,95 находится в интервале ±15%.

Закон распределения погрешности — нормальный.

2. Метод измерения микроамперметром

   1. Принцип, условия и режим измерений —по п. 13.1.L

   2. Аппаратура

      1. Принципиальная схема включения приборов для изме­рения тока утечки между электродами приведена на черт. 6.

А7 (I⁷), X? (К) — выводы для подключения прибора; R1— ограничительный резистор; РА — микроамперметр; PV — вольтметр; ХЗ (G), Х4 (G) — выводы для подключения ис­точника питания





Черт. 6

2. Ограничительный резистор МЛТ-0,5—24 кОм±Ю°/о ОЖО.467.107 ТУ, если другой не указан в ТУ на конкретный тип прибора.

3. Класс точности измерительных приборов с учетом до­бавочных и шунтирующих сопротивлений не должен быть ниже:

1,5 — для вольтметров и микроамперметров;

4,0 — для микроамперметров, измеряющих токи менее 10 мкА.

Стрелочные электроизмерительные приборы должны обеспечи­вать измерение тока (напряжения) в последних ²/з шкалы.

3. Подготовка и проведение измерений

   1. На электродах прибора, между которыми измеряют ток утечки, создают разность потенциалов и контролируют ее вольтметром или по шкале источника калиброванных напряжений.

При подаче разности потенциалов от калиброванного источни­ка питания контроль вольтметром исключают.

1. 2. Ток утечки между электродами измеряют микроампер­метром.

2. Показатели точности измерений — по п. 13.1.4.ПРИЛОЖЕНИЕ 1

Обязательное

МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСВЕЩЕННОСТИ,
ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ОСВЕЩЕННОСТИ, НЕРАВНОМЕРНОСТИ
ОСВЕЩЕННОСТИ И ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ
ОСВЕЩЕННОСТИ

1. Принцип измерений

   1. Определение освещенности, создаваемой осветителем и оптической сис­темой в плоскости фотометрирования основано на измерении фототока фотопри- >емника, проградуированного в световых единицах, входное окно которого рас­положено в фотометрируемой плоскости перпендикулярно направлению потока излучения.

   2. Для оптических систем, имеющих нулевую оптическую плотность, осве­щенность может быть рассчитана на известной силе света осветителя.

   3. Определение энергетической освещенности основано на измерении фото-

£

тока

at

отоприемника, проградуированного в энергетических единицах, или на со­поставлении лучистого и светового потоков излучения в плоскости фотометриро-

вания.

4. Определение неравномерности освещенности и энергетической освещен­

ности в плоскости фотометрирования основано на сравнении выходных сигналов

отоприемника, располагаемого в различных участках рабочего поля в плоскости

фотометрирования.

2. Аппаратура

   1. Определение освещенности, энергетической освещенности и неравномер­ности освещенности и энергетической освещенности проводят на установке, струк­турная схема которой приведена на черт. 7.




1 — оптическая система с набором диаф­рагм; 2 — фотоприемник; 3 — измеритель фототока фотоприемника




Черт. 7

2. Оптическая система должна удовлетворять требованиям п. 1.2 настоя­щего стандарта.

3. Фотоприемник для измерения освещенности должен удовлетворять сле­дующим требованиям:

относительная спектральная характеристика чувствительности должна соот­ветствовать кривой относительной видности излучения для стандартного фото­метрического наблюдателя МКО, ординаты которой приведены в табл. 1;

погрешность калибровки фотоприемника по световой чувствительности долж­на быть в пределах ±5 %.

Погрешность калибровки фотоприемника для измерения энергетической освещенности должна быть в пределах ±18 %.

Таблица 1

Относительная видность излучения для стандартного фотометрического

наблюдателя МКО

Л, нм





Допускаемое
отклонение, %




Л, нм




Допускаемое
отклонение, %




380 390 400

410 420

430 440

450 460 470 48'0 490

Скачать бесплатно