Страница 3: ГОСТ 25369-82. Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров (75525)

Измерительные осла­бители

По п. 2.3.2 настоящего стандарта. Составляющая основной погрешности, обу­словленная нестабильнос­тью коэффициента ослаб­ления измерительных осла­бителей, не должна превы­шать погрешность осталь­ных средств измерений за время измерений парамет­ров фотоэлементов

Для измерений могут применяться другие средства измерений с аналогич­

ными или лучшими характеристиками.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное

Продолжение

Материал — доска асбестоцементная по ГОСТ 4248—78 необработанная.

Применяются'диафрагмы с размером d, равным 2, 4, 7, 10 и 12 мм.

Делительная пласі ина

□ 50-в.зч

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное

Материал — стекло рС 3 по ГОСТ 9411—81.

ПРИЛОЖЕНИЕ 4 Справочное

РАСЧЕТ
ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ
ФОТОЭЛЕМЕНТОВ

S

(4)

у п(п— 1)

где '

п — число измерений;

©1, 0_г, 0₃, 0₄, — основные относительные погрешности средств измерений — контрольного 4, с известными параметрами 5, регистриру­ющего устройства 9 на выходе исследуемого фотоэлемен­та и источника импульсов оптического излучения 1, соот­ветственно, черт. 2.

В качестве неисключенной систематической погрешности результата измере­ний 0 учитывают основную относительную погрешность средства измерений 5, . черт. 3.

Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений предела линейности в импульсном режиме оценивают по результатам измерений, полученным в п. 3.4 настоящего стандарта по формуле (4), заменив в ней Л _к па *■, a A Xi нах/ .

Неисключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле

0²= 0? + 01 + ©І, ' (5)

где 01, 0_а, ©з — основная относительная погрешность источника импульсов оптического излучения, измерительного ослабителя и средств измерений 10 (черт. 4) или 9 (черт. 5) соответст­венно. *

Относительное среднее квадратическое отклонение 5 результата измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0,5 вычисляют по результа­там, полученным в п. 3.5 настоящего стандарта по формуле (4), заменив в ней Лх на т₀₁₅, а А на т_{0 5},.

Неисключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле . 0’= 02 + 02, (6)

где ©ї-и ©а— основная относительная погрешность источника импульсов оп­тического излучения 1 и средства измерений 5 (черт. 6).1. Основную относительную погрешность измерений параметров фотоэлемен- ■ тов Д в % определяют согласно ГОСТ 8.207—76 по формуле

' А=/<]/ ₅2₊4|eJ, (1)

где Д’ — коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключенной систематической погрешности и принятой доверительной вероятности, определяется по ГОСТ 8.207—76;

5 — оценка относительного среднего квадратического отклонения результа­та измерений, %;

0 j — граница /-й составляющей неисключенной систематической погрешно­сти, %.

1.1. Для основной относительной погрешности измерений спектральной чув­ствительности на фиксированных длинах волн составляющие основной относи­тельной погрешности определяют по формулам

• S^{1 2}= ; (2)

02 = ©2₊02 ₊ 0²_{з +} 02_{1 (3)}

где — относительное среднее квадратическое отклонение результата измере­ний среднего значения спектральной чувствительности, %, оценива­ют по результатам измерений, полученным в п. 3.2 настоящего стан­дарта по формуле