МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ
Издание официальное
БЗ 5-99
ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва
У
Группа Э29
ДК 621.382.2.08:006.354МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
Д
ГОСТ
18986.10-74* *
Методы измерения индуктивности
Semiconductor diodes.
Methods for measuring inductance
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 27 декабря 1974 г. № 2824 дата введения установлена
01.07.76
Ограничение срока действия снято по протоколу № 5—94 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 11-12—94)
Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I — для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;
метод II — для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн.
Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 18986.0—74, ГОСТ 19656.0—74 и настоящего стандарта.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ,
ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ 2 нГн И БОЛЕЕ
Принцип, условия и режим измерений
Принцип измерения индуктивности диодов основан на измерении резонансной частоты колебательного контура куметра при подключении к нему измеряемого диода.
Постоянный прямой ток диода, при котором проводят измерение, должен быть таким, чтобы добротность контура с диодом была не менее 40.
Частота измерения, ГГц, должна удовлетворять условию
где £д — значение индуктивности, указанное в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гн.
Аппаратура
Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой указана на черт. 1.
G— блок смещения; РА — миллиамперметр; R1 — резистор подачи смещения; — катушка индуктивности, подключаемая
к куметру; Р — куметр; Ско — переменный конденсатор куметра; R2 — резистор внутри куметра,на котором создается ЭДС высокой частоты; VD — измеряемый диод; КЗ — замыкатель
Черт. 1
Индуктивность контура LK должны выбирать из условия
LK<, 20Z„.
л. Д
Индуктивность замыкателя должны выбирать из условия
Ъкз
Замыкатель рекомендуется изготовлять в виде отрезка плоской широкой шины из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте.
В необходимых случаях требования к конструкции замыкателя должны быть указаны в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
Сопротивление резистора R1 должно удовлетворять условию
R1 >102л/Гд.
Подготовка и проведение измерений
При измерении индуктивности диодов должна быть определена общая емкость колебательного контура Ск с учетом распределенной емкости катушки индуктивности £к. Общая емкость контура Ск определяется в положении переменного конденсатора С^, соответствующем настройке контура в резонанс на рабочей частоте при замыкании контактов А и Б измерительной схемы замыкателем.
Измерение общей емкости контура Ск должно проводиться в соответствии с документацией на куметр, который применяют для измерения индуктивности диода.
Измеряемый диод включают в контур последовательно с катушкой индуктивности.
Устанавливают через диод постоянный прямой ток.
Настраивают контур в резонанс и отсчитывают значение емкости С'^ .
Вместо измеряемого диода устанавливают замыкатель.
Настраивают контур в резонанс и отсчитывают значение емкости конденсатора куметра.
Обработка результатов
Значение индуктивности диода £д вычисляют по формуле
т _ Qo~ ^кО
а 4я^Ск[Ск-(Ск0-Ск0)] ’
где f — частота, на которой проводят измерение, Гн;
Ск, Ско, С ко ~ значения емкостей, Ф.
Показатели точности измерений
г 5 • ПНИ
Погрешность измерения индуктивности должна быть в пределах ± [0,1 + —у—J100 % с
"д доверительной вероятностью 0,99.
Разд. 1. (Измененная редакция, Изм. № 2).
МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ,
ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ МЕНЕЕ 2 нГн
Принцип, условия и режим измерений
Принцип измерения индуктивности диода £д основан на изменении положения узла стоячей волны при подключении в линию измеряемого диода.
Измерения проводят при протекании через диод прямого тока, значение которого выбирают таким образом, чтобы коэффициент стоячей волны по напряжению в измерительной линии был не менее 4.
Аппаратура
Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой указана на черт. 2.
G1 — генератор мощности СВЧ; WU— согласующий аттенюатор с ослаблением 20 дБ; С — разделительный конденсатор; РА1 — миллиамперметр; РК— измерительная линия; VD — измеряемый диод; U — адаптер; РА2 — микроамперметр; G2 — блок смещения
Черт. 2
Частоту измерения должны выбирать из условия где ZB — волновое сопротивление измерительной линии, Ом;
0,04
4
0,25 Аа^кор
/— частота, Гц;
£д — индуктивность, Гн, значение которой указывают в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов;
Ск — емкость корпуса диода.
Конструкция адаптера U, в котором измеряется диод, должна быть приведена в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
Замыкатель по форме и геометрическим размерам должен совпадать с корпусом диода измеряемого типа и изготовлен из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте. В необходимых случаях конструкция замыкателя должна быть указана в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
Проведение измерений и обработка результатов
В адаптер Uустанавливают замыкатель и при помощи измерительной линии определяют положение узла стоячей волны I' и длину волны X в измерительной линии.
В адаптер U вместо замыкателя устанавливают измеряемый диод и через него подают прямой ток. Определяют новое положение узла стоячей волны
Значение индуктивности £д' диода рассчитывают по формуле
Показатели точности измерений
г 5 • IO-11"]
Погрешность измерения индуктивности должна быть в пределах ± [_0,1 + ——J • 100 % с доверительной вероятностью 0,99.
Разд. 2. (Измененная редакция, Изм. № 2).
Разд. 3. (Исключен, Изм. № 2)
.Редактор Л.В. Каретникова
Технический редактор Н.С. Гришанова
Корректор М.С. Кабашова
Компьютерная верстка А.Н. Золотаревой
Изд. лиц. № 02354 от 14.07.2000. Сдано в набор 22.06.2000. Подписано в печать 23.08.2000. Усл.печл. 0,93. Уч.-издл. 0,47.
Тираж 120 экз. С 5702. Зак. 750.
ИПК Издательство стандартов, 107076, Москва, Колодезный пер., 14.
Набрано в Издательстве на ПЭВМ
Филиал ИПК Издательство стандартов — тип. “Московский печатник”, 103062, Москва, Лялин пер., 6.
Плр № 080102Издание^официальное Перепечатка воспрещена
* Издание (июль 2000 г.) с Изменениями Na 1, 2, утвержденными в феврале 1979 г., августе 1982 г.
(ИУС 4—79, 12-82)
© Издательство стандартов, 1974 © ИПК Издательство стандартов, 2000
