Окончание таблицы 1


В процентах



  1. Средства измерений, вспомогательные устройства, материалы, реактивы, растворы

Спектрограф кварцевый типа ИСП-30 или аналогичные приборы.

Спектрометр типов ДФС-36 (40, 41, 51), МФС-4 (6, 8) или аналогичные приборы.

Генератор искры типов ИГ-3, ИВС-23, УГЭ-1(4) или аналогичные приборы.

Микрофотометр МФ-2, МД-100 и других типов.

Спектропроектор ПС-18, SP-2, ДСП-2 и других типов.

Станок для заточки электродов, напильник или другие приспособления для обработки анали­зируемой поверхности электродов.

Стандартные образцы состава оловянно-свинцовых припоев: ГСО 1930-80—-ГСО 1938-80, ГСО 1926-80 — ГСО 1929-80, стандартные образцы предприятий (СОП), разработанные по ГОСТ 8.315.

Угли спектральные марок ОСЧ-7-3, С-2, С-3 в виде прутков диаметром 6—7 мм.

Вольфрам по ГОСТ 19671.

Печь тигельная или муфельная любого типа с терморегулятором.

Тигли графитовые или фарфоровые по ГОСТ 9147.

Изложница для отливки электродов круглого сечения диаметром 8 мм, длиной 50—75 мм или другой формы в зависимости от типа применяемого прибора.

Спирт этиловый ректификованный технический по ГОСТ 18300.

Фотопластинки спектрографические типов ПФС-01, ПФС-02 или другого типа, обеспечиваю­щие нормальные плотности почернения аналитических линий, линий сравнения и фона по [4].

Фотокюветы или другая посуда для обработки фотопластинок.

Сушильный шкаф любого типа для сушки фотопластинок, обеспечивающий нагрев воздуха до 30 °С, или комнатный кондиционер любого типа.

Вода дистиллированная по ГОСТ 6709.

4ГОСТ 1429.14—2004

Проявитель, состоящий из двух растворов:

Раствор 1:

  • метол (параметиламинофенол сульфат) по ГОСТ 25664 — 2,3 г;

  • натрий сернистокислый (сульфит натрия) кристаллический по ГОСТ 195 — 26 г;

  • гидрохинон (парадиоксибензол) по ГОСТ 19627 — 11,5 г;

  • вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — до 1000 см3.

Раствор 2:

  • натрий углекислый безводный по ГОСТ 83 — 42 г;

  • калий бромистый по ГОСТ 4160 7 г:

  • вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — 1000 см3.

Перед проявлением растворы 1 и 2 смешивают в объемном соотношении 1:1.

Фиксажный раствор:

  • тиосульфат натрия по ГОСТ 244 — 400 г;

  • натрий сернистокислый по ГОСТ 195 — 25 г;

  • кислота уксусная по ГОСТ 61—8 см3;

  • вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — до 1000 см3.

Допускается применение проявителя и фиксажа других составов, не ухудшающих качества фотографической регистрации спектра.

  1. Подготовка к анализу

    1. Пробы для анализа должны быть в виде литых стержней диаметром 8 мм, длиной 35—70 мм. Допускается изменять форму образца пробы в зависимости от вида применяемого прибора.

    2. Пробы, поступающие на анализ в виде стружки, переплавляют в стержни, расплавляя под слоем канифоли в предварительно нагретых графитовых или фарфоровых тиглях и разливая полученный расплав в изложницу.

    3. В качестве противоэлекгродов для стандартных образцов (СО) используют соответствую­щий СО, для проб — электрод из соответствующей пробы припоя. Допускается в качестве проти- воэлектрода использовать угольный стержень, заточенный на плоскость или усеченный конус с площадкой диаметром 1—2 мм, или электрод из вольфрама по ГОСТ 19671.

    4. Перед проведением анализа торцы стержней анализируемых и стандартных образцов затачивают на плоскость и протирают спиртом. На обработанной поверхности анализируемых проб и СО не должно быть раковин, трещин и других дефектов.

  2. Проведение эняличэ

    1. Подготовку спектрографа или спектрометра к выполнению анализов проводят в соответ­ствии с инструкцией по эксплуатации и обслуживанию прибора.

Источником возбуждения спектра является искровой разряд между стержнями анализируемых образцов и противоэлекгродов, получаемый от искрового генератора, работающего в режиме высо­ковольтной искры. Режимы работы искрового генератора и параметры работы спектрографа и CHvKTpOMvTpd BJcdOMpdJtOT OHTMMdJIJbMJWIMM В ЗаВИСИМОСТИ ОТ TMIld JlipMOOpd*

Рекомендуемые условия проведения анализа и технические характеристики приборов приве­дены в приложении А.

Рекомендуемые аналитические линии и линии сравнения приведены в таблице 2.

Таблица 2 — Рекомендуемые аналитические линии и линии сравнения

В нанометрах

Наименование элемента

Длина волны аналитической линии

Длина волны линии сравнения

Сурьма

206,0

252,8

241,0 или фон 241, 0 или фон

Медь

327,3

322,3 или 321,8

Висмут

306,7

322,3 или 321,8

Железо

259,9

302,0

358,1

322,3 или 321,8

322,3 или 321,8

ГОСТ 1429.14—2004

Окончание таблицы 2

В нанометрах

Наименование элемента

Длина волны аналитической линии

Длина волны линии сравнения

Никель

305,0

341,5

352,5

322,3 или 321,8

322,3 или 321,8

322,3 или 321,8

Мышьяк

234,9

236,8 или фон

Цинк

213,9

330,2

334,5

322,3 или 321,8

322,3 или 321,8

322,3 или 321,8

Кадмий

346,7

322,3 или 321,8

Алюминий

308,2

396,1



Допускается использовать другие аналитические линии при условии получения метрологичес­ких характеристик, отвечающих требованиям настоящего стандарта.

  1. Проведение анализа с фотографической регистрацией спектра

В кассету спектрографа помещают фотопластинки двух типов.

В длинноволновую часть спектра помещают фотопластинки типа НФС-01, в коротковолновую часть спектра — типа ПФС-02.

Спектрограммы анализируемых проб и стандартных образцов должны быть получены на одной и той же пластинке.

Для каждой пробы и СО получают не менее двух спектрограмм.

Экспонированную фотопластинку проявляют, фиксируют и сушат. Полученные фотопластин­ки со спектрограммами устанавливают на микрофотометр и измеряют плотность почернения ана­литических линий определяемых элементов и линий сравнения. В качестве линии сравнения используют линию олова.

Для полуколичественного определения алюминия и цинка при массовых долях менее 0,002 % и мышьяка —- менее 0,005 % визуально сравнивают плотность почернения аналитических линий алюминия, цинка и мышьяка в стандартных образцах (СОП) и пробах.

  1. Проведение анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

Инструментальные параметры спектрометра устанавл ивают в пределах, обеспечивающих мак­симальную чувствительность определения массовых долей элементов.

Для каждого определяемого элемента с выходного измерительного устройства снимают пока­зания зарегистрированных значений величин интенсивности излучений в спектре стандартных образцов для построения градуировочного графика и проб для оценки содержания определяемых элементов по этому графику. При управлении спектрометром от ЭВМ показания зарегистрирован-

ЇЗїгГЧПСЗ’Т' ТЗ ТТІ11І4Г CFTK

кххііЛ., 'ЗІГь.СІ л.,Jt* .Шт, 1. Із.«I. *jLvJekJKI..J£». ІлжЭчХрйцХ».X X5 ^LIjKa/JLI хї Л.

Для каждой пробы и СО регистрируют не менее двух результатов измерений.

При полуколичественном определении алюминия, цинка или мышьяка сравнивают показания зарегистрированных значений интенсивности аналитических линий алюминия, цинка и мышьяка ВпплКр и гтя іі'ГіПі пгчтжі ґітіpuw ттт"ук< игя їттлітиш

  1. Jti, К/.1 dtTXfiLljCljz 1. jrlxX.IVl Сік?J. J. 1ИІ.Я JtlCJri.Kl JrlCUlll тілҐВжі

этих элементов в пробе.

  1. Обработка результатов

Массовые доли элементов в анализируемых пробах определяют по градуировочным графикам. Для построения градуировочных графиков применяют методы трех эталонов, твердого градуировоч­ного графика, контрольного эталона. При обработке результатов анализа на ЭВМ градуировочные графики могут представляться в виде полиномиальных уравнений разных степеней.

При проведении анализа фотографическим методом градуировочные графики строят в коор­динатах: АЗ’-- lg С или 1g С, где А А разность почернения аналитической линии определя­

емого элемента и линии сравнения (фона}^ С ~~ массовая доля определяемого элемента в СО: /| и /0 — интенсивность аналитической линии определяемого элемента и линии сравнения или фона вблизи линии определяемого элемента.

6

ГОСТ 1429.14—2004

При проведении анализа фотоэлектрическим методом градуировочные графики строят в ко­ординатах: X— 1g С, где АГ — среднее значение показателей выходного измерительного устройства; С — массовая доля определяемого элемента в СО.

При управлении спектрометром от ЭВМ калибровку спектрометра и получение результатов анализа проводят в соответствии с техническим описанием на прилагаемое к спектрометру про­граммное обеспечение. Результаты параллельных определений и их среднеарифметические значения считывают с экрана монитора или печатающего устройства.

За результат анализа принимают среднеарифметическое двух результатов параллельных опре­делений, если расхождение между ними не превышает значения норматива оперативного контроля сходимости d, приведенного в таблице 3.

Таблица 3 — Нормативы оперативного контроля качества результатов анализа (при доверительной вероятности Р - 0,95)

В процентах

Наименование

элемента

Диапазон массовых долей элемента

Норматив оперативного контроля

Норматив контроля погрешности К

сходимости d

воспроизводимости D

Сурьма

От 0,040 до 0,050 включ.

0,008

0,012

0,005


Св. 0,050 » 0,100 >

0,017

0,024

0,008


»■ 0,100 » 0,300 »

0,025

0,028

0,020


» 0,300 » 0,500 »

0,084

0,120

0,040


» 0,50 » 0,60 »

0,017

0,24

0,06

Медь

От 0,010 до 0,030 включ.

0,005

0,007

0,002


Св. 0,030 » 0,050 »

0,009

0,012

0,004


» 0,050 » 0,100 »

0,017

0,024

0,008


» 0,100 » 0,175 >

0,020

0,028

0,014

Висмут

От 0,030 до 0,050 включ.

0,009

0,012

0,004


Св. 0,050 » 0,100 »

0,017

0,024

0,008


» 0,100 » 0,300 »

0,020

0,028

0,020

Железо

От 0,005 до 0,010 включ.

0,002

0,003

0,001


Св. 0,010 » 0,020 »

0,005

0,007

0,002

Никель

От 0,004 до 0,010 включ.

0,002

0,003

0,001


Св. 0,010 » 0,030 »

0,005

0,007

0,002


» 0,030 » 0,050 »

0,008

0,012

0,004


» 0,050 » 0,080 »

0,017

0,024

0,008

Мышьяк

От 0,005 до 0,010 включ.

0,002

0,003

0,001


Св. 0,010 & 0,030 »

0,005

0,007

0,002


» 0,030 » 0,050 »

0,008

0,012

0,004


» 0,050 » 0,070 ■>

0,017

0,024

0,006

Цинк

От 0,0020 до 0,0030 включ.

0,0005

0,0007

0,0003


Св. 0,0030 » 0,0050 »

0,0017

0,0024

0,0004


» 0,0050 » 0,0075 »

0,0025

0,0028

0,0007

Кадмий

От 0,010 до 0,030 включ.

0,005

0,007

0,002


Св. 0,030 » 0,045 »

0,008

0,012

0,004



При получении результатов параллельных определений с расхождением более допускаемого d анализ пробы повторяют.

При повторном превышении норматива оперативного контроля сходимости d выясняют при­чины, приводящие к неудовлетворительным результатам анализа, и устраняют их.