ПОКАЗАТЕЛИ ТРАНСПОРТАБЕЛЬНОСТИ
Температура транспортирования, — .
°С
Верхнее значение относительной —
влажности при температуре, %
Транспортная тряска при частоте —
ударов в минуту
показатели стандартизации .и унификации
Коэффициент применяемости, % Кпр
Коэффициент повторяемости, % Кп
ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ ПОКАЗАТЕЛИ
Показатель патентной защиты 77п з
Показатель патентной чистоты 77„.ч
ЭКОЛОГИЧЕСКИЙ ПОКАЗАТЕЛЬ
Мощность экспозиционной дозы — рентгеновского излучения, А/кг
ПОКАЗАТЕЛИ БЕЗОПАСНОСТИ
Время срабатывания защиты, с . —
Электрическая прочность изоля- —
ции, кВ
Электрическое сопротивление —
изоляции, Ом . -
Наличие блокирующих —
устройств
Наличие аварийных сигнализа- —
ций, световой индикации
Примеч ан и я:
Основные показатели качества набраны жирным шрифтом.
Показатель 1.24 считать основным только при отсутствии встроенного светового микроскопа.
'1.2. Показатели качества аппаратов, приведенные в табл. 1, могут быть дополнены показателями, которые отражают особенности функционального назначения, области применения и др.
ПРИМЕНЯЕМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ
АНАЛИТИЧЕСКИХ АППАРАТОВ
Перечень основных показателей качества:
дифрактометров общего назначения (прецизионных, средней ■ точности, упрощенных): диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, ус- тановочная скорость угловых перемещений блока детектирования, оснащенность дополнительными устройствами, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
дифрактометров специализированных текстурных: диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, Диапазон поворота по углу, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
дифрактометров специализированных для исследования монокристаллов: диапазон углового перемещения блока детектирования, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, угловая установка' кристалла, погрешность угловой ус- тановки кристалла, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса,-потребляемая мощность;
дифрактометров специализированных для исследования реальной структуры кристаллов (на основе детекторов телевизионного типа): рабочая площадь входного окна детектора, линейное разрешение, контрастная чувствительность, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
дифрактометров специализированных для определения макронапряжений: диапазон рабочих углов, среднее квадратическое отклонение от среднего значения измеряемых деформаций, осцил- лирование блока детектирования сцинтилляционного, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безот- . казная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
дифрактометров специализированных малоугловых: диапазон рабочих углов, разрешение, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
дифрактометров специализированных для исследования в особых условиях (низкотемпературных, высокотемпературных): интервал рабочих температур, при которых исследуется образец, погрешность регулирования заданной температуры, наличие автоматизации управления и обработки данных, наименьшее давление в рабочем объеме, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность; .
аппаратов рентгеновских для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом): удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки, нестабильность анодного напряжения и тока, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
спектрометров кристалл-дифракционных многоканальных: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наличие сканирующего канала, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
спектрометров кристалл-дифракционных сканирующих: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
спектрометров бездифракционных с полупроводниковым детектором: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, спектральное разрешение (энергетическое), установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
анализаторов рентгеновских: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, предел обнаружения, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
микроскопов рентгеновских (с фоторегистрацией, анализаторов, рентгенотелевизионных): номинальная мощность рентгеновской трубки, увеличение, линейное разрешение, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
аппаратов рентгенолюминесцентных: извлечение минерала, производительность на классе крупности, выход материала на отсечку, класс крупности обрабатываемого материала, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, Масса, потребляемая мощность;
микроанализаторов рентгеновских: максимальное количество одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, линейное разрешение, диапазон анализируемых элементов, диапазон ускоряющих напряжений, наименьшее увеличение в растровом режиме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
спектрометров рентгеноэлектронных: разрешение спектральное (энергетическое), воспроизводимость положения линии спектра, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
спектрометров оже-электронных: отношение сигнал/шум, линейное разрешение, спектральное разрешение (энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;
аппаратов для исследований тонкой структуры рентгеновских спектров: диапазон исследуемого излучения, воспроизводимость положения линии спектра, спектральное разрешение (волновое, энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность.
Применяемость показателей качества по подгруппам однородной продукции для рентгеноструктурной аппаратуры приве- дена в табл. 2, рентгеноспектральной—в табл. 3, микроскопов рентгеновских, аппаратов рентгенолюминесцентных, микроанализаторов рентгеновских — в табл. 4, приборов рентгенофизических — в табл. 5.
Применяемость показателей качества аппаратов рентгеновских аналитических, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития, ГОСТ ОТТ, в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, ТУ, КУ, ТЗ на ОКР, приведена • в табл. 6.
(Измененная редакция, Изм. № 1).Таблица 2
Применяемость по подгруппам однородной продукции
|
|
|
Дифрактометры специализированные |
|
Аппараты рентгеновские для структурного анализа •с фоторегистрацией |
|||||
Номер показателя по |
Дифрактометры общего • назначения |
|
для исследования монокристаллов |
для определения макронапряжений |
малоугловые |
для исследования в особых условиях |
для исследования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизионного типа |
|||
табл. 1 |
текстурные |
низкотем- ператур- I ные |
< Л О О. £ Я О J О Е я 2 S С. J3 >> СО е- 5- |
с. отпаянной рентгеновской трубкой |
с вращающимся анодом |
1.1 |
+ |
|||||||||||||||
1.2 |
+ |
|||||||||||||||
1.3 |
+ |
|||||||||||||||
1.4 |
— |
|||||||||||||||
1.5 |
— |
|||||||||||||||
1.6 |
— |
|||||||||||||||
1.7 |
— |
|||||||||||||||
1.8 |
± |
|||||||||||||||
1.9 |
— |
|||||||||||||||
1.10—1.14 |
—. |
|||||||||||||||
1.15 |
— |
|||||||||||||||
1.16 |
||||||||||||||||
1.17 |
||||||||||||||||
1.18 , |
||||||||||||||||
1.19—1.22 |
||||||||||||||||
1.22а |
__ |
|||||||||||||||
1.23—1.25 |
|
|||||||||||||||
1.25а |
||||||||||||||||
1.26 |
||||||||||||||||
1.28 |
||||||||||||||||
1.29 |
+ |
|||||||||||||||
1.30 |
± |
|||||||||||||||
1.31 |
± |
|||||||||||||||
1.32 |
|
|||||||||||||||
— |
— • |
± |
4- |
— |
—• |
|||||||||||
1 ++1 +11 1 1 1 1 1 1 +1 1 1 1 |
1 + 1 1 +1 + 1 1 + 1 1 1 1 1 1 1 1 |
1 1 + 1 1 ГІ 1 1 1 1 1 1 + 1 1 1 |
1 1 1 +1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +1 1 |
1 +1 1 II +1 1 1 1 11+1 1 1 1. |
1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +Н- 1 1 1-І |
|||||||||||
+1+1 1 |
1 Н- 1 |
1 +1 +1 |
1+1+ 1 |
1 Н- 1 |
— |
ГОСТ 4.198—85 С. 11
Продолжение табл. 2 г> Номер показателя по табл. 1 |
Применяемость по подгруппам однородной продукции |
|||||||||||
Дифрактометры общего назначения |
Дифрактометры специализированные |
Аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией |
||||||||||
текстурные |
для исследования монокристаллов |
для определения макронапряжений |
малоугловые |
для исследования в особых условиях |
для исследования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизионного типа |
|||||||
низкотем-, ператур- ные |
■ Л о р. м <и 3 ' О Е Д 2 2а л о >> И fl н |
с отпаянной рентгеновской трубкой |
с вращающимся анодом |
|||||||||
1.33 |
— |
— |
— |
± |
+ |
|
||||||
1.34 |
-4- |
|
|
— |
— |
— |
— |
— |
|
|
||
J.35—1.37 |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
—— |
— |
— |
— |
||
1.38 |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
+ ■ |
+ |
||
1.39 |
.— |
—— |
— |
— |
— |
— |
— |
|
— |
— |
||
1.40 |
— |
— |
— |
+ |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
||
1.41 |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
-— |
— |
+ |
||
1.42—1.43 |
— |
— |
— |
—— |
— |
— |
— |
— |
— |
—— |
||
1.45 |
4- |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
||
1.46 |
± |
± |
|
+ |
+ |
+ |
+ |
|
— |
— |
||
1.47 |
4; |
— ■ |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
||
1.48 |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
— |
||
1.49 |
|
+ |
+ |
+ |
+ |
|
XJ- |
+ |
+ |
+ |
||
1.50.1— |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
1.50.3 |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
"Г |
+ |
+ |
+ |
+ |
||
2.1.1 |
■+ |
+ |
+ |
.+ |
■ + |
_1_ |
|
+ |
+ |
+ |
||
2.1.2 |
+ |
+ |
|
+ |
+ |
• + |
_L |
+ |
+ |
+ |
||
2:2.1 |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
|
+ |
+ |
+ |
+ |
||
2.2.2 |
|
-4- |
4- |
4- |
|
-+- |
4- |
‘1 ■ |
4- |
± |
||
2.3.1 |
-4- |
+ |
|
|
± |
-4- |
4- |
± |
|
•4“ |
||
3.1—3.2 |
+ • |
+ |
+ |
_1_ |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
||
4.1—4.11 |
|
± |
4- |
4- |
zh |
4- |
± |
± |
4- |
± |
||
5.1—5.4 |
± |
± |
4- |
4- |
± |
4- |
4- |
- ± |
4- |
|
||
6.1—6.2 |
|
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
|
+ |
+ |