1. ПОКАЗАТЕЛИ ТРАНСПОРТАБЕЛЬНОСТИ

  1. Температура транспортирования, — .

°С

  1. Верхнее значение относительной —

влажности при температуре, %

  1. Транспортная тряска при частоте —

ударов в минуту

  1. показатели стандартизации .и унификации

    1. Коэффициент применяемости, % Кпр

    2. Коэффициент повторяемости, % Кп

  2. ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ ПОКАЗАТЕЛИ

    1. Показатель патентной защиты 77п з

    2. Показатель патентной чистоты 77„.ч

  3. ЭКОЛОГИЧЕСКИЙ ПОКАЗАТЕЛЬ

    1. Мощность экспозиционной дозы — рентгеновского излучения, А/кг

  4. ПОКАЗАТЕЛИ БЕЗОПАСНОСТИ

  1. Время срабатывания защиты, с . —

  2. Электрическая прочность изоля- —

ции, кВ

  1. Электрическое сопротивление —

изоляции, Ом . -

  1. Наличие блокирующих —

устройств

  1. Наличие аварийных сигнализа- —

ций, световой индикации

Примеч ан и я:

  1. Основные показатели качества набраны жирным шрифтом.

  2. Показатель 1.24 считать основным только при отсутствии встроенного све­тового микроскопа.

'1.2. Показатели качества аппаратов, приведенные в табл. 1, мо­гут быть дополнены показателями, которые отражают особенности функционального назначения, области применения и др.

  1. ПРИМЕНЯЕМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ
    АНАЛИТИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

    1. Перечень основных показателей качества:

дифрактометров общего назначения (прецизионных, средней ■ точности, упрощенных): диапазон углового перемещения блока де­тектирования, основная аппаратурная погрешность, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, ус- тановочная скорость угловых перемещений блока детектирования, оснащенность дополнительными устройствами, автоматическое уп­равление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потреб­ляемая мощность;

дифрактометров специализированных текстурных: диапазон уг­лового перемещения блока детектирования, основная аппаратур­ная погрешность, Диапазон поворота по углу, наличие автоматиза­ции управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок слу­жбы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования монок­ристаллов: диапазон углового перемещения блока детектирования, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, угловая установка' кристалла, погрешность угловой ус- тановки кристалла, наличие автоматизации управления и обработ­ки данных, установленная безотказная наработка, средняя нара­ботка на отказ, полный средний срок службы, масса,-потребляе­мая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования реаль­ной структуры кристаллов (на основе детекторов телевизионного типа): рабочая площадь входного окна детектора, линейное разре­шение, контрастная чувствительность, наличие автоматизации уп­равления и обработки данных, установленная безотказная нара­ботка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для определения макро­напряжений: диапазон рабочих углов, среднее квадратическое от­клонение от среднего значения измеряемых деформаций, осцил- лирование блока детектирования сцинтилляционного, наличие авто­матизации управления и обработки данных, установленная безот- . казная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных малоугловых: диапазон рабочих углов, разрешение, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования в осо­бых условиях (низкотемпературных, высокотемпературных): интер­вал рабочих температур, при которых исследуется образец, пог­решность регулирования заданной температуры, наличие автома­тизации управления и обработки данных, наименьшее давление в рабочем объеме, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потреб­ляемая мощность; .

аппаратов рентгеновских для структурного анализа с фоторе­гистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом): удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки, нестабильность анодного напряжения и то­ка, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощ­ность;

спектрометров кристалл-дифракционных многоканальных: ос­новная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых эле­ментов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), скорость счета на линии на контрольном образце, кон­трастность, наличие сканирующего канала, автоматическое управ­ление сменой образцов, наличие автоматизации управления и об­работки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потреб­ляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных сканирующих: основ­ная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элемен­тов, скорость счета на линии на контрольном образце, контраст­ность, автоматическое управление сменой образцов, наличие авто­матизации управления и обработки данных, установленная безот­казная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров бездифракционных с полупроводниковым детек­тором: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализиру­емых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматиза­ции управления и обработки данных, спектральное разрешение (энергетическое), установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потреб­ляемая мощность;

анализаторов рентгеновских: основная аппаратурная погреш­ность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количес­тво одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, предел обнаруже­ния, автоматическое управление сменой образцов, наличие авто­матизации управления и обработки данных, установленная безот­казная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроскопов рентгеновских (с фоторегистрацией, анализаторов, рентгенотелевизионных): номинальная мощность рентгеновской трубки, увеличение, линейное разрешение, установленная безотказ­ная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгенолюминесцентных: извлечение минерала, производительность на классе крупности, выход материала на от­сечку, класс крупности обрабатываемого материала, наличие ав­томатизации управления и обработки данных, установленная бе­зотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный сред­ний срок службы, Масса, потребляемая мощность;

микроанализаторов рентгеновских: максимальное количество од­новременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, линейное разрешение, диапазон анализи­руемых элементов, диапазон ускоряющих напряжений, наимень­шее увеличение в растровом режиме, наличие автоматизации уп­равления и обработки данных, установленная безотказная нара­ботка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров рентгеноэлектронных: разрешение спектральное (энергетическое), воспроизводимость положения линии спектра, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная на­работка, средняя наработка на отказ, полный средний срок слу­жбы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров оже-электронных: отношение сигнал/шум, ли­нейное разрешение, спектральное разрешение (энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная на­работка, средняя наработка на отказ, полный средний срок служ­бы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов для исследований тонкой структуры рентгеновских спектров: диапазон исследуемого излучения, воспроизводимость положения линии спектра, спектральное разрешение (волновое, энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный сред­ний срок службы, масса, потребляемая мощность.

  1. Применяемость показателей качества по подгруппам од­нородной продукции для рентгеноструктурной аппаратуры приве- дена в табл. 2, рентгеноспектральной—в табл. 3, микроскопов рен­тгеновских, аппаратов рентгенолюминесцентных, микроанализато­ров рентгеновских — в табл. 4, приборов рентгенофизических — в табл. 5.

Применяемость показателей качества аппаратов рентгеновских аналитических, включаемых в ТЗ на НИР по определению перс­пектив развития, ГОСТ ОТТ, в разрабатываемые и пересматри­ваемые стандарты на продукцию, ТУ, КУ, ТЗ на ОКР, приведена • в табл. 6.

(Измененная редакция, Изм. № 1).Таблица 2

Применяемость по подгруппам однородной продукции




Дифрактометры специализированные


Аппараты рентгеновские для структурного анализа •с фоторегистрацией

Номер пока­зателя по

Дифракто­метры общего • назначения


для иссле­дования монокри­сталлов

для опре­деления макро­напряжений

малоугловые

для исследо­вания в осо­бых условиях

для иссле­дования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизион­ного типа

табл. 1

текстурные

низкотем- ператур-

I ные

< Л О О. £ Я О J О Е я 2 S С. J3 >> СО е- 5-

с. отпаянной рентгеновской трубкой

с вращаю­щимся анодом


1.1

+

1.2

+

1.3

+

1.4

1.5

1.6

1.7

1.8

±

1.9

1.10—1.14

.

1.15

1.16

1.17

1.18 ,

1.19—1.22

1.22а

__

1.23—1.25


1.25а

1.26

1.28

1.29

+

1.30

±

1.31

±

1.32


— •

±

4-

—•

1 ++1 +11 1 1 1 1 1 1 +1 1 1 1

1 + 1 1 +1 + 1 1 + 1 1 1 1 1 1 1 1

1 1 + 1 1 ГІ 1 1 1 1 1 1 + 1 1 1

1 1 1 +1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +1 1

1 +1 1 II +1 1 1 1 11+1 1 1 1.

1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +Н- 1 1 1-І

+1+1 1

1 Н- 1

1 +1 +1

1+1+ 1

1 Н- 1

ГОСТ 4.198—85 С. 11















Продолжение табл. 2


г>


Номер пока­зателя по табл. 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Дифракто­метры общего назначения

Дифрактометры специализированные

Аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией

текстурные

для иссле­дования монокри­сталлов

для опре­деления макро­напряжений

малоугловые

для исследо­вания в осо­бых условиях

для иссле­дования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизион­ного типа

низкотем-, ператур- ные

■ Л о р. м <и 3

' О Е Д 2 2а л о >> И fl н

с отпаянной рентгеновской трубкой

с вращаю­щимся анодом

1.33

±

+


1.34

-4-





J.35—1.37

——

1.38

+ ■

+

1.39

.—

——


1.40

+

1.41

-—

+

1.42—1.43

——

——

1.45

4-

1.46

±

±


+

+

+

+


1.47

4;

— ■

1.48

1.49


+

+

+

+


XJ-

+

+

+

1.50.1—











1.50.3

+

+

+

+

+

+

+

+

+

2.1.1

■+

+

+

.+

■ +

_1_


+

+

+

2.1.2

+

+


+

+

• +

_L

+

+

+

2:2.1

+

+

+

+

+


+

+

+

+

2.2.2


-4-

4-

4-


-+-

4-

‘1 ■

4-

±

2.3.1

-4-

+



±

-4-

4-

±


•4“

3.1—3.2

+ •

+

+

_1_

+

+

+

+

+

+

4.1—4.11


±

4-

4-

zh

4-

±

±

4-

±

5.1—5.4

±

±

4-

4-

±

4-

4-

- ±

4-


6.1—6.2


+

+

+

+

+

+


+

+