---

Х_н = V_H * А * (М_о/М)⁰’⁵ , (13)

где А — аттестованное значение СО;

М— наименьшая представительная проба СО для данного компонента.

1. 8. Пример оценивания однородности дисперсного материала приведен в приложении Б.

2. Оценивание однородности монолитных материалов

   1. Оценку характеристик однородности проводят после отработки технологии получения материала СО, исключающей регулярные изменения содержаний аттестуемого элемента, порядка приготовления материала СО и разделения его на экземпляры.

   2. Из общего количества экземпляров СО отбирают случайным образом К экземпляров СО (К> 25).

   3. Подготовляют на каждом отобранном экземпляре СО аналитические поверхности в соот­ветствии с методикой спектрального анализа, используемой для оценивания однородности.

   4. На каждой аналитической поверхности проводят два измерения со случайным выбором места возбуждения при оценивании однородности эмиссионным методом или два измерения без изменения положения СО — при оценивании однородности рентгенофлуоресцентным методом.

   5. После проведения измерений разрезают каждый экземпляр СО по плоскости, параллельной аналитической поверхности. Положение плоскости разреза на каждом экземпляре СО определяют случайным образом на всей его длине (высоте). Подготовляют на срезах аналитические поверхности и проводят измерения в соответствии с 6.4.

   6. Результаты измерений для каждого аттестуемого элемента записывают в таблицу, форма которой приведена в приложении В (таблица В.1). В таблице приняты следующие обозначения:

z — номер экземпляра СО (і = 1, 2,..., К);

j — номер аналитической поверхности ( = 1,2);

п — номер измерения (п = 1,2);

А/_/л — результат п-го измерения нау-й поверхности в z-м СО.

• сумму результатов для у-й аналитической поверхности в z-м СО

Т^+^иТ²^; (14)

• сумму результатов для z-го экземпляра СО

7

(15)

(16)

}=7h + 7h и 7’2/74;

• сумму квадратов результатов для z-ro экземпляра СО

2

SS,- = X

7=1

На основе данных в таблице результатов вычисляют следующие суммы квадратов:

S

(17)

SBL = VIII - V²/(4 * К),

SSBB = VI - VIII, (18)

..S..SIT' IX - VI, (19)

SST = IX - V²/(4 * К). (20)

Для контроля правильности вычислений проверяют соотношение между суммами квадратов. Если вычисления проведены правильно, то должно быть выполнено равенство

SSBL + SSBB + .SSIT' SST. (21)

В том случае, если суммы квадратов удовлетворяют уравнению (21), вычисляют средние квадраты:

MSBL = SSBL/(К-1), (22)

MSBB = SSBB/К, (23)

M.S'lV SSW/(2 * К). (24)

S_M = (1/3) * (MSB⁷)⁰’⁵, (25)

где S_M характеризует случайную погрешность рентгенофлуоресцентного метода анализа. При оце­нивании однородности эмиссионным методом S_M характеризует суммарную погрешность, опреде­ляемую как случайной погрешностью метода, так и различием содержания аттестуемого элемента в аналитических объемах.

SS_n = (MSBB - MSW)/2; (26)

SS_MaK = (MSBL - MSBB )/4; (27)

m — количество измерений для воспроизведения аттестованного значения СО эмиссионным методом.

Таблица 2 — Оценка характеристик S_MaK и S_m при различных соотношениях между средними квадратами MSW, MSBB, MSBL

⁼ (^мак²⁺ ^мик²)^0,5. ⁽²⁸⁾

1. 12. Пример расчета характеристики однородности СО состава монолитного материала для спектрального анализа приведен в приложении Г.

2. Учет погрешности, обусловленной неоднородностью

Характеристику погрешности, обусловленной неоднородностью, учитывают при оценивании погрешности аттестованного значения CO(D_aT) по формуле

^а_Т = (^М + 4*ХН)⁰’⁵, (29)

где D_M — погрешность метода, используемого для установления аттестованного значения СО.

ПРИЛОЖЕНИЕ А
(справочное)

Форма представления результатов измерений при оценивании однородности дисперсных материалов

Таблица А.1

Пример оценивания однородности дисперсного материала

Материал СО — черноземная почва. Аттестуемый компонент — оксид калия. Среднее квадратическое отклонение случайной погрешности 5_Мви равно 0,11 %, допускаемое значение погрешности аттестованного значения СО — 0,25 %.

Вычисляют отношение Q для расчета числа отбираемых проб:

Q = 0,25/0,11 = 2,3.

Количество многократных измерений J = 3. По этим данным в соответствии с таблицей 1 находят число отбираемых проб А =18. Масса отбираемой пробы для исследования однородности М_о = 1 г.

Результаты измерений X_nj записывают в таблицу (таблица Б.1).

Таблица Б.1

По результатам, приведенным в таблице Б.1, вычисляют по формуле (3) средние результаты по пробам Х_п и записывают их в последнюю графу таблицы. Вычисляют по формуле (4) сумму квадратов

SS_e = 0,1904.

Вычисляют по формуле (3) среднее арифметическое всех результатов X, которое составило 2,21, и сумму квадратов

SS_H = 0,2193.

Вычисляют средние квадраты отклонений результатов внутри проб

SS_e = 0,1904/[18 * (3 — 1)] = 0,005289 и средние квадраты отклонений результатов между пробами

SS_H = 0,2193/(18 — 1) = 0,0129.

Наименьшая представительная проба М для данного аттестуемого компонента равна 0,5 г. Вычисляют оценку характеристики однородности по формуле (8)

S_H = [(0,0129 — 0,005289) * (1/0,5)/3]⁰’⁵ = 0,07 %.

Форма представления результатов измерений при оценивании однородности монолитных материалов
для спектрального анализа

Таблица В.1

Пример оценивания однородности монолитного материала для спектрального анализа

Материал СО — бронза. Аттестуемый компонент — олово.

Однородность СО исследована методом эмиссионного спектрального анализа по ГОСТ 9716.2.

Результаты измерений Хд_п записывают в таблицу.

Таблица Г.1